CN102621087A - 大平片光谱测试仪 - Google Patents

大平片光谱测试仪 Download PDF

Info

Publication number
CN102621087A
CN102621087A CN2012100814176A CN201210081417A CN102621087A CN 102621087 A CN102621087 A CN 102621087A CN 2012100814176 A CN2012100814176 A CN 2012100814176A CN 201210081417 A CN201210081417 A CN 201210081417A CN 102621087 A CN102621087 A CN 102621087A
Authority
CN
China
Prior art keywords
sample
slit assembly
plain film
test
base plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2012100814176A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102621087B (zh
Inventor
冯迈东
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
XINMAO INSTRUMENT CO Ltd SHANGHAI
Original Assignee
XINMAO INSTRUMENT CO Ltd SHANGHAI
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by XINMAO INSTRUMENT CO Ltd SHANGHAI filed Critical XINMAO INSTRUMENT CO Ltd SHANGHAI
Priority to CN201210081417.6A priority Critical patent/CN102621087B/zh
Publication of CN102621087A publication Critical patent/CN102621087A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102621087B publication Critical patent/CN102621087B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

一种大平片光谱测试仪，包括外壳(1)、底板(2)、光源灯室(3)、单色器(4)、出射光狭缝组件(5)、入射光狭缝组件(6)、样品室(7)、检测装置(8)、测试平台(9)、按键(10)、显示器(11)、仪器面板(12)和通讯接口(13)，其特征在于：所述出射光狭缝组件(5)和入射光狭缝组件(6)各有四组狭缝，光谱带宽依次分别为3nm、5nm、6.6nm、10nm。本发明通过对传统大平片光谱测试仪中光路传输方向的改变，缩小测试光斑，实现了大尺寸待测样品的小通光孔测试，使待测样品可以直接放在工作台上测试，保证了测试精度和测试准确性，操作简便，又可以不破坏测试样品，节约了成本。

Description

大平片光谱测试仪
技术领域
本发明涉及用于物质成分分析的光谱仪器领域，具体讲就是涉及一种可以对大尺寸样品小通光孔进行垂直测试的大平片光谱测试仪。 
背景技术
大平片光谱测试仪的基本工作原理是溶液中的物质在光的照射激发下，产生了对光的吸收效应，物质对光的吸收是具有选择性的，各种不同的物质都具有其各自的吸收光谱，因此当某单色光通过溶液时，其能量就会被吸收而减弱，光能量减弱的程度和物质的浓度有一定的比例关系，大平片光谱测试仪就是利用这一原理来对被分析样品和标样光强度的对比来分析物质成分的。 
大平片光谱测试仪在农产品、食品、卫生、医药、化工、人民生活等各个领域都有着广泛的应用，是现代工业、农业、科学研究不可缺少的分析仪器。大平片光谱测试仪基本结构由光源、单色器、样品室、光电检测装置和信号指示装置五部分组成。
大平片光谱测试仪有一个超大样品室是放置被检测样品的地方，传统的测试仪器样品室体积较小，一旦待测试样品为板型样品时，样品只能竖立在测试平台上，不利于样品的定位，严重地的影响了测试精度和测试准确性，如果需要测试尺寸大于80mm×100mm的样品时，还需要将大块样品进行破坏，裁剪成小于80mm×100mm的尺寸才能测试，操作复杂，无法测试尺寸较大且不允许破坏的样品。 
同时目前传统的测试仪器在测试过程中，测试光斑较大，不适用于现有越来越多科学技术领域对测试光斑的要求。 
发明内容
本发明的目的提供一种大平片光谱测试仪，通过对传统测试仪器中光路传输方向的改变，同时设计了超大的样品室，以及可选择不同大小的四档测试光斑，缩小测试光斑，实现了大尺寸待测样品的小通光孔测试，使待测样品可以直接放在工作台上测试，保证了测试精度和测试准确性，操作简便，又可以不破坏测试样品，节约了成本。 
技术方案 
为了实现上述的技术目的，本发明设计一种大平片光谱测试仪，包括外壳、底板、光源灯室、单色器、出射光狭缝组件、入射光狭缝组件、样品室、检测装置、测试平台、按键、显示器、仪器面板和通讯接口，所述光源灯室装在底板内，底板上光源灯室下方装有单色器，出射光出狭缝组件和入射光狭缝组件分别安装在单色器底座上互成90°垂直的相邻二侧面上，样品室装在底板的右侧，检测装置和测试平台都设置在样品室内，外壳罩在底板上，外壳的正面上还设有仪器面板，仪器面板上设有显示器和按键，外壳后侧下部设有通讯接口，其特征在于： 
所述出射光狭缝组件和入射光狭缝组件各有四组狭缝，光谱带宽依次分别为3nm、5nm、6.6nm、10nm。 
所述外壳由工程塑料制成。 
所述底板由2.0mm钣金材料制成。 
所述光源灯室中光源为钨灯。 
所述样品室由1.0mm钣金材料制成，尺寸规格为300mm×400mm。 
有益效果 
本发明大平片光谱测试仪进行了新的设计，单色光经透镜再经45°的反射镜将单色光垂直穿透过样品再射到光电接收器，从而实现了样品可以直接平放在放在工作台上进行测试，确保了小孔径样品的定位，同时采用可调狭缝，减小了测试光斑，实现对大尺寸样品小通光孔进行垂直测试，保证了测试精度和准 确性。 
附图说明
附图1是发明的立体结构图。 
附图2是本发明的俯视方向示意图。 
附图3是本发明的外形示意图。 
具体实施方式
下面结合附图和实施例，对本发明做进一步说明。 
如附图1、2和3所示，一种大平片光谱测试仪，包括工程塑料制成的外壳1、2.0mm钣金材料制成底板2、光源灯室3、单色器4、出射光狭缝组件5、入射光狭缝组件6、样品室7、检测装置8、测试平台9、按键10、显示器11、仪器面板12和通讯接口13，所述光源灯室3装在底板2内，底板2上光源灯室3下方装有单色器4，出射光出狭缝组件5和入射光狭缝组件6分别安装在单色器4底座上互成90°垂直的相邻二侧面上，样品室7装在底板2的右侧，检测装置80和测试平台90都设置在样品室7内，外壳1罩在底板2上，外壳1的正面上还设有仪器面板12，仪器面板12上设有显示器11和按键10，外壳1后侧下部设有通讯接口13，其特征在于： 
所述出射光狭缝组件5和入射光狭缝组件6各有四组狭缝，光谱带宽依次分别为3nm、5nm、6.6nm、10nm。 
所述光源灯室3中光源为钨灯。 
所述超大样品室由1.0mm钣金材料制成，尺寸规格为300mm×400mm。 
首先启动大平片光谱测试仪，预热20分钟后仪器自动自检完毕，接着开启控制***，联机工作，仪器狭缝位置调至光谱带宽为3nm，成像光斑小于直径1mm位置，建立基线，根据需要输入波长范围，波长自动回到540nm；打开样品室盖，将样品的通光孔对准光斑，仪器扫描，通过显示器11即得测量 结果。 
本发明大平片光谱测试仪进行了新的设计，单色光经透镜再经45°的反射镜将单色光垂直穿透过样品再射到光电接收器，从而实现了样品可以直接平放在放在工作台上进行测试，确保了小孔径样品的定位，同时采用可调狭缝，减小了测试光斑，实现对大尺寸样品小通光孔进行垂直测试，保证了测试精度和准确性。 

Claims (5)

1.一种大平片光谱测试仪，包括外壳(1)、底板(2)、光源灯室(3)、单色器(4)、出射光狭缝组件(5)、入射光狭缝组件(6)、样品室(7)、检测装置(8)、测试平台(9)、按键(10)、显示器(11)、仪器面板(12)和通讯接口(13)，所述光源灯室(3)装在底板(2)内，底板(2)上光源灯室(3)下方装有单色器(4)，出射光出狭缝组件(5)和入射光狭缝组件(6)分别安装在单色器(4)底座上互成90°垂直的相邻二侧面上，样品室(7)装在底板(2)的右侧，检测装置(8)和测试平台(9)都设置在样品室(7)内，外壳(1)罩在底板(2)上，外壳(1)的正面上还设有仪器面板(12)，仪器面板(12)上设有显示器(11)和按键(10)，外壳(1)后侧下部设有通讯接口(13)，其特征在于：
所述出射光狭缝组件(5)和入射光狭缝组件(6)各有四组狭缝，光谱带宽依次分别为3nm、5nm、6.6nm、10nm。
2.如权利要求1所述的一种大平片光谱测试仪，其特征在于：所述外壳(1)由工程塑料制成。
3.如权利要求1所述的一种大平片光谱测试仪，其特征在于：所述底板(2)由2.0mm钣金材料制成。
4.如权利要求1所述的一种大平片光谱测试仪，其特征在于：所述光源灯室(3)中光源为钨灯。
5.如权利要求1所述的一种大平片光谱测试仪，其特征在于：所述样品室由1.0mm钣金材料制成，尺寸规格为300mm×400mm。
CN201210081417.6A 2012-03-23 2012-03-23 大平片光谱测试仪 Active CN102621087B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201210081417.6A CN102621087B (zh) 2012-03-23 2012-03-23 大平片光谱测试仪

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201210081417.6A CN102621087B (zh) 2012-03-23 2012-03-23 大平片光谱测试仪

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102621087A true CN102621087A (zh) 2012-08-01
CN102621087B CN102621087B (zh) 2014-03-26

Family

ID=46561132

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201210081417.6A Active CN102621087B (zh) 2012-03-23 2012-03-23 大平片光谱测试仪

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN102621087B (zh)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1598658A2 (en) * 2004-05-21 2005-11-23 Hitachi High-Technologies Corporation Sample analyzer
US7649633B2 (en) * 2003-11-20 2010-01-19 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology Method and instrument for measuring complex dielectric constant of a sample by optical spectral measurement
CN101660994A (zh) * 2008-08-26 2010-03-03 上海欣茂仪器有限公司 可变光谱带宽和形状的可见分光光度计
CN102374898A (zh) * 2010-08-10 2012-03-14 陈建钢 一种单色仪
CN202512054U (zh) * 2012-03-23 2012-10-31 上海欣茂仪器有限公司 大平片光谱测试仪

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7649633B2 (en) * 2003-11-20 2010-01-19 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology Method and instrument for measuring complex dielectric constant of a sample by optical spectral measurement
EP1598658A2 (en) * 2004-05-21 2005-11-23 Hitachi High-Technologies Corporation Sample analyzer
CN101660994A (zh) * 2008-08-26 2010-03-03 上海欣茂仪器有限公司 可变光谱带宽和形状的可见分光光度计
CN102374898A (zh) * 2010-08-10 2012-03-14 陈建钢 一种单色仪
CN202512054U (zh) * 2012-03-23 2012-10-31 上海欣茂仪器有限公司 大平片光谱测试仪

Also Published As

Publication number Publication date
CN102621087B (zh) 2014-03-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5207462B2 (ja) 液体の検査方法および液体検査装置
JP2016522880A5 (zh)
CN107532992B (zh) 光学测定装置
WO2014130857A1 (en) A device for evaluation of fluids using electromagnetic energy
KR20130123411A (ko) 양자수율 측정장치
JP6517193B2 (ja) アレイベースの試料特性評価
WO2010041082A3 (en) Apparatus for high-throughput suspension measurements
CN106053404A (zh) 一种便携式多波段荧光检测微量物质分析仪
CN103499391A (zh) 光谱测量***
CN107884368A (zh) 一种光学测试***和测试方法
CN204374086U (zh) 激光拉曼光谱仪固体及液体样品对焦微动平台装置
CN109444082A (zh) 漫反射光谱测量装置及测量方法
CN103018214B (zh) 一种反射式光路瞬态吸收光谱仪
Knauer et al. Investigation of CO2 sorption in molten polymers at high pressures using Raman line imaging
EP3770580A1 (en) Fine particle measurement device
CN202512053U (zh) 大平片光谱测试仪的光学***
CN101261218A (zh) 基于双积分球的纺织品光学性能参数测试仪
CN202512054U (zh) 大平片光谱测试仪
CN202149877U (zh) 一种拉曼光谱仪的聚焦测试台
CN102621087B (zh) 大平片光谱测试仪
CN204694628U (zh) 一种比例双光束分光光度计装置
CN207689358U (zh) 一种可切换测试方式的多功能暗箱
CN207850914U (zh) 一种基于太赫兹波的检测装置及检测***
CN204514811U (zh) 便携激光拉曼光谱传感探头
CN101592594A (zh) 农畜产品品质无损检测用多功能样品架

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant