CN102621070A - 一种二维太赫兹成像***及其成像方法 - Google Patents
一种二维太赫兹成像***及其成像方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN102621070A CN102621070A CN2012101081401A CN201210108140A CN102621070A CN 102621070 A CN102621070 A CN 102621070A CN 2012101081401 A CN2012101081401 A CN 2012101081401A CN 201210108140 A CN201210108140 A CN 201210108140A CN 102621070 A CN102621070 A CN 102621070A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- terahertz
- terahenz
- imaging
- dimensional
- lens
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims abstract description 61
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 8
- 230000003760 hair shine Effects 0.000 claims description 6
- 238000003491 array Methods 0.000 abstract 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 11
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000012634 optical imaging Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 239000010985 leather Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- -1 pottery Substances 0.000 description 1
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
Claims (4)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN 201210108140 CN102621070B (zh) | 2012-04-13 | 2012-04-13 | 一种二维太赫兹成像***及其成像方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN 201210108140 CN102621070B (zh) | 2012-04-13 | 2012-04-13 | 一种二维太赫兹成像***及其成像方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN102621070A true CN102621070A (zh) | 2012-08-01 |
CN102621070B CN102621070B (zh) | 2013-09-18 |
Family
ID=46561116
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN 201210108140 Active CN102621070B (zh) | 2012-04-13 | 2012-04-13 | 一种二维太赫兹成像***及其成像方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN102621070B (zh) |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103454255A (zh) * | 2013-09-02 | 2013-12-18 | 中国科学院上海微***与信息技术研究所 | 一种太赫兹波扫描成像***及方法 |
WO2015014129A1 (zh) * | 2013-07-29 | 2015-02-05 | 南开大学 | 太赫兹超分辨率二维成像方法和*** |
CN105548080A (zh) * | 2016-01-15 | 2016-05-04 | 北京工业大学 | 一种连续太赫兹波空间扫描相干衍射成像***及方法 |
CN106645015A (zh) * | 2016-11-16 | 2017-05-10 | 上海理工大学 | 一种基于金属微纳结构的太赫兹波超分辨成像***及方法 |
CN107631995A (zh) * | 2016-07-18 | 2018-01-26 | 华中科技大学 | 一种三维太赫兹层析成像***及扫描和图像重建方法 |
CN108303709A (zh) * | 2018-01-17 | 2018-07-20 | 深圳翠博微***有限公司 | 一种太赫兹头盔式成像仪 |
CN108680500A (zh) * | 2018-03-30 | 2018-10-19 | 莆田学院 | 一种小型化的太赫兹时域光谱仪装置及分析方法 |
CN111879722A (zh) * | 2020-08-03 | 2020-11-03 | 中电科仪器仪表有限公司 | 一种提高太赫兹波无损检测分辨率的***及方法 |
CN113008172A (zh) * | 2021-03-03 | 2021-06-22 | 北京理工大学 | 一种基于太赫兹波的冰雪赛道检查装置和方法 |
CN113267823A (zh) * | 2021-05-14 | 2021-08-17 | 南开大学 | 一种用于太赫兹频段的大景深成像透镜 |
CN114486804A (zh) * | 2021-12-29 | 2022-05-13 | 江南大学 | 一种宽带太赫兹波图像重建*** |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6723991B1 (en) * | 2000-10-20 | 2004-04-20 | Imra America, Inc. | Single-shot differential spectroscopy and spectral-imaging at submillimeter wavelengths |
CN101526464A (zh) * | 2008-03-05 | 2009-09-09 | 清华大学 | 相衬成像方法及设备 |
WO2010006440A1 (en) * | 2008-07-18 | 2010-01-21 | T-Ray Science Inc. | Terahertz photoconductive antennas having transparent conductor electrodes and methods of making same |
CN101663575A (zh) * | 2007-08-31 | 2010-03-03 | 佳能株式会社 | 使用太赫辐射的成像方法和装置 |
WO2011144480A1 (fr) * | 2010-05-18 | 2011-11-24 | Centre National De La Recherche Scientifique | Dispositif de production de tres hautes frequences par battement de frequences lumineuses |
CN102272578A (zh) * | 2009-01-05 | 2011-12-07 | 佳能株式会社 | 太赫兹检查装置 |
CN102331403A (zh) * | 2011-09-02 | 2012-01-25 | 东南大学 | 近场太赫兹THz时域光谱表征方法及其测试装置 |
CN202614666U (zh) * | 2012-04-13 | 2012-12-19 | 吴周令 | 一种二维太赫兹成像*** |
-
2012
- 2012-04-13 CN CN 201210108140 patent/CN102621070B/zh active Active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6723991B1 (en) * | 2000-10-20 | 2004-04-20 | Imra America, Inc. | Single-shot differential spectroscopy and spectral-imaging at submillimeter wavelengths |
CN101663575A (zh) * | 2007-08-31 | 2010-03-03 | 佳能株式会社 | 使用太赫辐射的成像方法和装置 |
CN101526464A (zh) * | 2008-03-05 | 2009-09-09 | 清华大学 | 相衬成像方法及设备 |
WO2010006440A1 (en) * | 2008-07-18 | 2010-01-21 | T-Ray Science Inc. | Terahertz photoconductive antennas having transparent conductor electrodes and methods of making same |
CN102272578A (zh) * | 2009-01-05 | 2011-12-07 | 佳能株式会社 | 太赫兹检查装置 |
WO2011144480A1 (fr) * | 2010-05-18 | 2011-11-24 | Centre National De La Recherche Scientifique | Dispositif de production de tres hautes frequences par battement de frequences lumineuses |
CN102331403A (zh) * | 2011-09-02 | 2012-01-25 | 东南大学 | 近场太赫兹THz时域光谱表征方法及其测试装置 |
CN202614666U (zh) * | 2012-04-13 | 2012-12-19 | 吴周令 | 一种二维太赫兹成像*** |
Non-Patent Citations (4)
Title |
---|
K. MAKI ET. AL.: "Terahertz beam steering and frequency tuning by using the spatial dispersion of ultrafast laser pulses", 《OPTICS EXPRESS》 * |
K. MAKI ET. AL.: "Terahertz Beam Steering via Tilted-Phase Difference-Frequency Mixing", 《APPLIED PHYSICS EXPRESS》 * |
张蕾等: "太赫兹射线成像的进展概况", 《首都师范大学学报(自然科学版)》 * |
赵尚弘等: "THz射线产生技术及应用最新进展", 《激光技术》 * |
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015014129A1 (zh) * | 2013-07-29 | 2015-02-05 | 南开大学 | 太赫兹超分辨率二维成像方法和*** |
CN103454255B (zh) * | 2013-09-02 | 2016-04-13 | 中国科学院上海微***与信息技术研究所 | 一种太赫兹波扫描成像***及方法 |
CN103454255A (zh) * | 2013-09-02 | 2013-12-18 | 中国科学院上海微***与信息技术研究所 | 一种太赫兹波扫描成像***及方法 |
CN105548080A (zh) * | 2016-01-15 | 2016-05-04 | 北京工业大学 | 一种连续太赫兹波空间扫描相干衍射成像***及方法 |
CN105548080B (zh) * | 2016-01-15 | 2018-07-31 | 北京工业大学 | 一种连续太赫兹波空间扫描相干衍射成像***及方法 |
CN107631995B (zh) * | 2016-07-18 | 2020-02-14 | 华中科技大学 | 一种三维太赫兹层析成像***及扫描和图像重建方法 |
CN107631995A (zh) * | 2016-07-18 | 2018-01-26 | 华中科技大学 | 一种三维太赫兹层析成像***及扫描和图像重建方法 |
CN106645015A (zh) * | 2016-11-16 | 2017-05-10 | 上海理工大学 | 一种基于金属微纳结构的太赫兹波超分辨成像***及方法 |
CN108303709A (zh) * | 2018-01-17 | 2018-07-20 | 深圳翠博微***有限公司 | 一种太赫兹头盔式成像仪 |
CN108680500A (zh) * | 2018-03-30 | 2018-10-19 | 莆田学院 | 一种小型化的太赫兹时域光谱仪装置及分析方法 |
CN111879722A (zh) * | 2020-08-03 | 2020-11-03 | 中电科仪器仪表有限公司 | 一种提高太赫兹波无损检测分辨率的***及方法 |
CN111879722B (zh) * | 2020-08-03 | 2023-06-27 | 中电科思仪科技股份有限公司 | 一种提高太赫兹波无损检测分辨率的***及方法 |
CN113008172A (zh) * | 2021-03-03 | 2021-06-22 | 北京理工大学 | 一种基于太赫兹波的冰雪赛道检查装置和方法 |
CN113267823A (zh) * | 2021-05-14 | 2021-08-17 | 南开大学 | 一种用于太赫兹频段的大景深成像透镜 |
CN114486804A (zh) * | 2021-12-29 | 2022-05-13 | 江南大学 | 一种宽带太赫兹波图像重建*** |
CN114486804B (zh) * | 2021-12-29 | 2024-04-05 | 江南大学 | 一种宽带太赫兹波图像重建*** |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN102621070B (zh) | 2013-09-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN102621070B (zh) | 一种二维太赫兹成像***及其成像方法 | |
CN102175662B (zh) | 一种便携式太赫兹遥感探测器及远程探测方法 | |
US7557348B2 (en) | Method and system for imaging an object using multiple distinguishable electromagnetic waves transmitted by a source array | |
CN202614666U (zh) | 一种二维太赫兹成像*** | |
US20130146770A1 (en) | Terahertz continuous wave system and method of obtaining three-dimensional image thereof | |
CN103411891A (zh) | 太赫兹超分辨率成像方法和*** | |
CN103091255A (zh) | 太赫兹时空分辨成像***、成像方法及其应用 | |
CN106353834A (zh) | 一种太赫兹成像***及太赫兹安检装置 | |
US9544510B2 (en) | Three-dimensional reconstruction of a millimeter-wave scene by optical up-conversion and cross-correlation detection | |
CN102721673B (zh) | 多光束阵列光诱导反射率成像装置及方法 | |
CN1996029A (zh) | THz信号高灵敏度探测器与摄像头 | |
CN102692394A (zh) | 一种基于热透镜效应的二维成像方法及装置 | |
US20230137266A1 (en) | Quantum electromagnetic field sensor and imager | |
CN101308211B (zh) | 激光差分扫描探测方法及*** | |
CN114858314B (zh) | 一种基于nv色心的金刚石应力测量***及方法 | |
KR20130064684A (ko) | 테라헤르츠 연속파 시스템 및 그것의 3차원 영상 획득 방법 | |
CN103901335A (zh) | 一种半导体少数载流子寿命分布的红外偏振光学成像检测方法与*** | |
CN102914525A (zh) | 基于光学加法外差调制的新型荧光寿命显微成像装置及方法 | |
CN103149217A (zh) | 光学元件表面及亚表面缺陷检测红外锁相成像方法及装置 | |
Sher et al. | Low intensity LiDAR using compressed sensing and a photon number resolving detector | |
CN102721664A (zh) | 一种多光束激光诱导红外辐射成像装置及方法 | |
CN105891214A (zh) | 检测结构部件中的缺陷的***和方法 | |
Liu et al. | Photon counting correction method to improve the quality of reconstructed images in single photon compressive imaging systems | |
CN109557070A (zh) | 一种基于空间编码光的拉曼成像*** | |
CN206876569U (zh) | 一种太赫兹成像*** |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
ASS | Succession or assignment of patent right |
Owner name: HEFEI LIFO MOER INSTRUMENT SCIENCE AND TECHNOLOGY Free format text: FORMER OWNER: WU ZHOULING Effective date: 20150902 |
|
C41 | Transfer of patent application or patent right or utility model | ||
TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20150902 Address after: 230088, building C4, building 800, anime base, No. 206 Wangjiang West Road, Anhui, Hefei Patentee after: Hefei Zhichang Photoelectric Technology Co.,Ltd. Address before: 230031, 2 floor, floor 208, C4 building, 800 Wangjiang West Road, Wangjiang hi tech Zone, Anhui, Hefei Patentee before: Wu Zhouling |