CN102577179B - 光时域反射仪及其获取测试信号的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种光时域反射仪及其获取测试信号的方法，通过使半导体光放大器(SOA)处于开关状态，使得当被测无源光网络返回的测试信号为大信号时，能够通过关闭SOA而不被APD接收，基本消除大信号对后续小信号的干扰屏蔽，之后通过打开SOA接收大信号后的小信号，从而基本消除了测试信号的盲区；并且通过在密集反射的区域的不同位置打开SOA，接收测试信号，从而实现了该区域的所有反射信号的区分。
Description
技术领域
本发明涉及光网络测试技术，尤其涉及一种光时域反射仪及其仪获取测试信号的方法。
背景技术
光时域反射仪(Optical Time-Domain Reflectometer，OTDR)是利用光在光纤中的瑞利散射所产生的背向散射，以及光在光纤中不连续点产生的菲涅尔反射，制成的光电一体化仪表。
随着PON(Passive Optical Network，无源光网络)网络的大量应用，OTDR越来越多的被应用于PON的铺设验收，以及后期的监控。
OTDR放在局端(Central Office，CO)机房，通过OLT(optical lineterminal，光缆终端设备)的光纤输出端加装的WDM(Wavelength DivisionMultiplexing，波分复用)接入光纤网络，实现监控波段的光信号的上下载。其中，实现监控波段的光信号的上下载，即OTDR发出的测试光信号通过WDM进入光信号(即上载)，之后从测试光信号在光纤中产生的后向散射光信号及菲涅尔反射光信号，通过WDM返回到OTDR(即下载)。测试光信号的波长与ODN(Optical Distribution Network，光配线网络)中的业务光信号的波长不同，一般为1650nm，因而，OTDR的监控不会影响光网络的正常运营。
通常，OTDR包括数字处理器(Digital Signal processor，DSP)、脉冲发生器(pulse)、激光驱动器(driver)、激光器(Laser)、环形器(circulator)、光电探测器(APD)、跨阻抗放大器(TIA)、放大器(Amplifier)及模数转换器(ADC)。
工作时，数字处理器产生周期触发脉冲，通过脉冲发生器后调整为固定脉宽和占空比的信号，之后由激光驱动器完成大功率驱动。激光器产生监控波段的脉冲激光。
激光器发送重复的高功率光脉冲，通过环形器进入被测光纤的主干、分光器及分光器后的各个支路。
每个支路的后向瑞利散射和菲涅尔反射光信号都会通过光纤主干返回，最后通过光环行器进入APD。后向瑞利散射和菲涅尔反射光信号的强度与OTDR发出的测试光信号的脉冲宽度和光强相关。一般光功率越大，返回的光信号也越大。
APD将接收到的光信号转变为和光信号的光强成比例的电流信号，该电流信号经过TIA变为电压信号，经过放大器放大后进入ADC，转换为数字信号，之后送到数字处理器，得到测试曲线。在数字处理器内部完成每个重复脉冲测试得到的信号累加，以提高信噪比，更清楚地得到测试曲线中的反射信号。
由于光纤的主干和分光器的连接处有不连续点产生，因此，当测试光信号到达后会产生一个很大的反射信号，并且，测试光信号在分光器后产生的散射信号会非常微弱，导致了测试光信号产生的散射信号和反射信号幅度的剧烈变化。而OTDR中APD及电路的响应带宽较窄，使得OTDR获得的测试曲线中分光器处的反射光信号产生了很长的拖尾，掩盖掉了分光器后比较近的衰减和反射等光信号，也即掩盖了接头、不连续点等事件。当分光器后的光纤长度很短时，OTDR基本上无法探测到分支的事件，如：光纤弯曲或者熔接接头或者PC(Physical Contact，端面为球面)连接器及APC(Angled Physical Contact，端面为倾斜的球面)连接器等，造成了很大的测试盲区。加上在分光器处会有信号的双向衰减，更加剧了盲区的长度。并且，当分光器后的各分支光纤的长度非常接近时，反射信号之间的距离较短，会产生密集反射信号，但是由于OTDR中APD及电路的响应带宽较窄，使得OTDR得到的测试曲线很难区分这些反射，特别对于幅度相差很大的相邻反射信号，通过测试曲线基本无法区分出来。
发明内容
本发明实施例提出一种光时域反射仪及其获取测试信号的方法，以尽可能消除OTDR测试信号的盲区，使测试信号中的反射信号易于区分。
本发明实施例提供了一种光时域反射仪，包括：
激光器，用于向被测光纤网络发射测试光；
驱动器，与所述脉冲发生器相连，用于将所述脉冲发生器生成的脉冲信号转换为用来驱动半导体光放大器的控制信号；
半导体光放大器，与所述驱动器相连，用于在所述驱动器的控制信号控制下，选择性地对来自所述被测光纤网络的测试信号进行吸收或放大，其中所述测试信号是所述测试光在所述被测光纤网络发生反射而形成的反射信号；
光电探测器，与所述半导体光放大器相连，用于将所述半导体光放大器放大后的测试信号转变为电流信号。
本发明实施例还提供了一种采用上述光时域反射仪获取测试信号的方法，包括：
数字信号处理器控制脉冲发生器生成脉冲信号，以使半导体光放大器工作在开关状态；
半导体光放大器在所述脉冲信号的控制下处于开关状态；
所述半导体光放大器处于打开状态下时，光电探测器接收来自被测无源光网络的测试信号。
本发明实施例提供的光时域反射仪及其获取测试信号的方法，通过使半导体光放大器(SOA)处于开关状态，使得当被测无源光网络返回的测试信号为大信号时，能够通过关闭SOA而不被APD接收，基本消除大信号对后续小信号的干扰屏蔽，之后通过打开SOA接收大信号后的小信号，从而基本消除了测试信号的盲区；并且通过在密集反射的区域的不同位置打开SOA，接收测试信号，从而实现了该区域的所有反射信号的区分。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种光时域反射仪获取测试信号的方法的流程图；
图2A为本发明实施例提供的另一种光时域反射仪获取测试信号的方法的流程图；
图2B为本发明实施例提供的OTDR与被测无源光网络的连接示意图；
图3为本发明实施例提供的另一种光时域反射仪获取测试信号的方法的流程图；
图4为本发明实施例提供的又一种光时域反射仪获取测试信号的方法的流程图；
图5为本发明实施例提供的OTDR的结构示意图；
图6为本发明实施例提供的OTDR中SOA的控制时序图；
图7为本发明实施例的实验仿真图形；
图8为传统方式得到的测试曲线图；
图9为本发明实施例提供的OTDR工作时的内部时序关系图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供的OTDR包括：激光器、脉冲发生器、驱动器、半导体光放大器(SOA)及光电探测器(APD)。本领域技术人员可以理解，除此之外，OTDR还包括数字处理器(DSP)、光环行器、激光器的驱动器、激光器的脉冲发生器、放大器及模数转换器(ADC)等基本功能器件，由于不是本发明的重点，这里不再赘述。
其中，激光器用于向被测光纤网络发射测试光，可采用传统OTDR中的激光器，由DSP触发激光器的脉冲发生器生成脉冲信号，并通过激光器的驱动器转换为激光器的控制信号，使激光器发光，即生成测试光进入被测无源光网络，通过测试光在被测无源光网络中产生的散射信号和反射信号来获知分光器、连接点等事件。
数字处理器用于产生使脉冲发生器生成脉冲信号的指令，该指令可包含脉宽、周期等信息。本领域技术人员应理解为，该数字处理器还可产生使激光器的脉冲发生器及SOA的脉冲发生器生成重复脉冲信号的指令，用于获取无源光网络的全景图。该全景图即一个完整的无源光网络的测试信号。
光环行器用于接收来自被测无源光网络的测试信号；本领域技术人员应理解为，光环行器还可将激光器产生的光信号发送到被测无源光网络中。
脉冲发生器与DSP相连，用于在接收到DSP的指令时，生成相应的脉冲信号，如在一个测试周期内生成一个脉冲信号，或者如在一个测试周期内生成固定脉宽和占空比的多个重复脉冲信号。
驱动器与脉冲发生器相连，用于将上述脉冲发生器生成的脉冲信号转变为电流信号，并进行功率放大，得到SOA的控制信号。
SOA的驱动端与驱动器相连，输入端与上述光环行器相连，用于在上述驱动器的控制信号控制下，选择性地对上述光环行器接收的测试信号进行吸收或放大，其中所述测试信号是所述测试光在所述被测光纤网络发生反射或散射而形成的光信号。
APD与上述SOA的输出端相连，用于将上述SOA放大后的测试信号转变为电流信号。
本实施例中，OTDR在传统OTDR的基础上增加了一个光器件SOA，不仅可以对通过其内部的光信号产生高信噪比的增益，并且由于SOA可以达到纳秒级的驱动速度，因此还可以通过控制SOA的开关来解决接收到的大信号造成的盲区问题，以及密集反射难以区分的问题，获得很高的事件分辨率。
图1为本发明实施例提供的一种光时域反射仪获取测试信号的方法的流程图，包括：
步骤11、数字信号处理器控制脉冲发生器生成脉冲信号，以使半导体光放大器工作在开关状态；
步骤12、半导体光放大器在所述脉冲信号的控制下处于开关状态；
步骤13、所述半导体光放大器处于打开状态下时，光电探测器接收光环行器接收的来自被测无源光网络的测试信号。
本实施例中，OTDR通过使半导体光放大器(SOA)处于开关状态，使得当被测无源光网络返回的测试信号为大信号时，能够通过关闭SOA而不被APD接收，基本消除大信号对后续小信号的干扰屏蔽，之后通过打开SOA接收大信号后的小信号，从而基本消除了测试信号的盲区；并且通过在密集反射的区域的不同位置打开SOA，接收测试信号，从而实现了该区域的所有反射信号的区分。
具体地，图2A为本发明实施例提供的一种光时域反射仪获取测试信号的方法的流程图。本实施例中，SOA工作在开关状态，OTDR获取测试信号的方法包括：
步骤21、DSP根据无源光网络的全景图产生指令，使脉冲发生器生成用于吸收上述全景图中大信号的脉冲信号。
其中，大信号即OTDR发出的光信号在被测无源光网络中分光器处产生的反射光信号。全景图即被测无源光网络的一个完整的测试信号曲线图，如图2B所示，OTDR通过WDM接入被测无源光网络，对光网络进行测试，得到无源光网络的测试曲线图。该测试曲线图可通过传统的OTDR测试获得，也可采用本发明实施例提供的OTDR测试得到。
当采用本发明实施例提供的OTDR测试获得时，SOA工作在常态，其驱动脉冲如图9所示的中间的脉冲信号，使SOA在每个测试周期均处于打开状态，接收所有返回的测试信号，并进行放大，从而进一步提高全景图的信噪比。DSP在一个测试周期内发出重复的指令，并且激光器的脉冲发生器产生固定脉宽和占空比的脉冲信号，并触发SOA的脉冲发生器产生一个持续的高电平，使SOA在该测试周期内保持打开状态，即对光环行器接收的测试信号进行整体放大。
步骤22、脉冲发生器根据上述步骤21中的指令生成脉冲信号。
步骤23、上述脉冲信号通过驱动器转变为大功率的电流信号；
步骤24、当光环行器接收大信号时，SOA关闭，也即SOA处于吸收态，大信号不能被传递到APD，避免对后面的小信号产生影响，而形成盲区。
步骤25、当光环行器接收大信号之后的小信号时，半导体光放大器在上述电流信号的控制下打开。此时由于步骤24中已排除了大信号对后续小信号的影响，因而能够得到分光器后的反射光信号，即基本消除了大信号后的盲区。
图3为本发明实施例提供的另一种光时域反射仪获取测试信号的方法的流程图。本实施例中，SOA工作在开关状态，OTDR获取测试信号的方法包括：
步骤31、DSP根据无源光网络的全景图产生指令，使脉冲发生器生成单脉冲信号，用于对上述全景图中的密集反射的区域进行单点采样。
即在一个测试周期内，DSP发出一个指令，使脉冲发生器仅产生一个脉冲信号。而产生的脉冲信号位于全景图中的密集反射的区域内，从而使SOA在光环行器接收密集反射光信号时打开一个时段，采集到其中一个反射光信号。
在下一个测试周期内，DSP发出一个指令，使脉冲发生器也仅产生一个脉冲信号，该脉冲信号位于上一个测试周期的脉冲信号之后，从而使SOA在光环行器接收密集反射光信号时打开一个时段，该时段位于上一个测试周期的打开时段之后，使SOA采集到该时段内的反射信号。也即DSP对全景图中的密集反射的区域，分多个测试周期进行单点采样，每个测试周期获取其中的一个反射光信号，以此解决现有技术中密集反射光信号无法区分的问题。具体通过产生单脉冲信号，使SOA在相应的时段打开，接收其中的一个反射光信号来实现。
其中，全景图详见上述图2A所示实施例中的说明。
步骤32、脉冲发生器根据上述指令生成单脉冲信号。
步骤33、上述单脉冲信号通过驱动器转变为大功率的电流信号。
步骤34、SOA接收到上述电流信号时打开，对光环行器接收到的信号进行放大。
图4为本发明实施例提供的又一种光时域反射仪获取测试信号的方法的流程图。本实施例中，SOA工作在开关状态，OTDR获取测试信号的方法包括：
步骤41、DSP在每个测试周期产生一个指令，使脉冲发生器生成一个单脉冲信号，每个测试周期的单脉冲信号生成时间依次往后顺延。
步骤42、脉冲发生器根据上述指令生成单脉冲信号；
步骤43、上述单脉冲信号通过驱动器转变为大功率的电流信号；
步骤44、SOA接收到上述电流信号时打开，对光环行器接收到的信号进行放大。
本实施例中，OTDR直接分多个测试周期对被测无源光网络进行单点采样，每次获得一个时段的光信号，从而既消除了盲区，又解决了反射光信号密集而难以区分的问题
可选地，本发明实施例提供的OTDR中，上述APD与SOA之间还连接有WDM滤波器，用于滤除所述SOA的ASE噪声，以避免影响APD的灵敏度，进一步提高测试信号的精确度。
下面以图5为例，对OTDR的结构进行详细说明。
OTDR包括DSP 51、第一脉冲发生器521、第一驱动器522、激光器520、光环行器53、第二脉冲发生器541、第二驱动器542、SOA 540、WDM滤波器55、APD 56、TIA 57、放大器58及ADC 59。其中，APD 56连接有高电平(HV)，SOA 540、WDM滤波器55都是双端口器件。
DSP 51产生周期触发脉冲的指令，通过第一脉冲发生器521后调整为固定脉宽和占空比的数字信号，之后由第一驱动器522完成大功率驱动，使激光器520产生监控波段的脉冲激光。
脉冲激光通过光环行器53进入被测无源光网络，包括光纤主干及分光器和各个支路。
每个支路的后向瑞利散射光信号和菲涅尔反射光信号都会通过光纤主干返回到光环行器53。
DSP 51还产生指令，触发第二脉冲发生器541生成脉冲，经过第二驱动器542后，使SOA 540获得合适的工作电流。SOA 540对返回的光信号进行放大。
SOA 540的驱动脉冲可在激光器520重复周期的不同位置采样，从而获得完整的一个周期的信号，SOA 540的驱动脉冲也可为一个持续的高电平，时SOA 540在一个测试周期内完全处于打开状态。
SOA 540无工作电流时，处于吸收态，返回的光信号不会进入APD 56，从而避免了前面大信号对小信号的影响，消除了盲区效应。
激光器520及SOA 540的时序关系如图6所示。其中，激光器520的驱动脉冲为单脉冲，图6示出了四个测试周期的激光器520的驱动脉冲，可以看出，每个测试周期激光器520的驱动脉冲均相同。SOA 540的驱动脉冲也为单脉冲，且每个测试周期，脉冲信号的位置都不相同，可看作是对激光器520的重复周期的不同位置采样，这样，SOA 540可取脉冲信号所在位置处的测试信号，达到区分反射信号的目的。
当有驱动脉冲电流加在SOA 540时，SOA 540工作在低噪声放大状态，光信号会放大通过。
SOA 540输出的光信号，经过WDM滤波器55，滤除波长很宽的SOA540的ASE噪声，只允许激光器的波长通过。
之后光信号进入APD 56，APD 56将光信号转变为和光强成比例的电流信号。
APD 56输出的电流信号经过TIA 57变为电压信号，经过放大器58放大后进入ADC 59，转换为数字信号，最后送到DSP 51进行储存、分析及合成等处理。
当SOA 540处于完全打开状态时，DSP 51将多个测试周期的全景图，在内部完成每个重复脉冲的累加，也即将多个全景图进行累加，以提高全景图的信噪比。
本实施例提供的OTDR可通过使SOA 540工作于脉冲状态，类似于单点采样，即在某一时刻或某一很短的时段内SOA 540处于打开状态。无脉冲驱动电流时，SOA 540工作于吸收状态，此时从光纤通过光环行器53进入SOA 540的光信号被高度隔离，不会有分光器的反射光信号进入APD56，从而消除了APD 56由于接收分光器的反射光信号而产生的盲区。
由于SOA 540的开关速度在ns(纳秒)级以下，通过提高驱动脉冲电流的速度，可以采集到密集反射的区域中的反射光信号，经过DSP 51处理后得到传统OTDR无法提供的高分辨率的测试信号曲线图。
图7为本发明实施例的实验仿真图形，相对于图8所示的传统方式得到的测试曲线。可以看到，图7中分光器反射光信号后的盲区有很大缩短，基本消除盲区。由于是单点采样，反射时间取决于开关速度，达到了较高的分辨率。
对于典型的PON网络在线测试，时间比较关键。在一个CO局点，可能有多大几百个PON口需要遍历测试，因此，为了提高测试效率，可首先使用传统模拟测试，得到一个无源光网络的全景图，包括主干光纤的长度。各个分光器的大概位置等信息。然后再针对分光器及之后的光纤进行采样测试，以达到把此段的盲区和分辨率提高的目的，从而优化测试时间。
具体地，测试过程包括：
启动激光器520，发送重复的测试光脉冲。
设置SOA 540的驱动为常态驱动，提供合适的工作电流，此时SOA540工作于直通放大状态，使得连续的光信号进入后面的APD 56，也即使光环行器53接收的光信号都能够进入APD 56。
APD 56将接收的光信号转变为和光强成比例的电流信号，经过TIA57变为电压信号，经过放大后入ADC转换为数字信号，最后送到DSP 51，得到全景图。在DSP 51内部完成每个重复脉冲的累加，以提高全景图的信噪比。
关闭激光器，DSP 51通过计算分析得到的波形数据即全景图，给出具体的需要采样测试的测试区间。
重新启动激光器520，发送重复的测试光脉冲。
DSP 51给出在特定采样区间内的驱动脉冲，送入SOA 540。
SOA 540工作于采样(sampling)状态，提供光信号的通路；驱动脉冲过后SOA 540无工作电流时，处于吸收态，返回的光信号不会进入APD56。
DSP 51将两次测试的数据重新组合为一个完整的波形图。
具体的时序关系如图9所示，四个测试周期中，每个测试周期的激光器的驱动脉冲信号均相同，也即激光器的驱动脉冲为重复的脉冲信号；中间为SOA的常态驱动脉冲信号，在所有测试周期中，SOA的驱动为持续高电平信号，即SOA中保持有工作电流；最下面为SOA的开关状态驱动脉冲信号，可以看出在测试周期的不同位置，DSP触发第二脉冲发生器生成脉冲信号，驱动SOA打开，从而实现单点采用，获取单点反射信号，解决了传统OTDR在PON网应用的盲区及密集反射信号难以区分等问题，且实现的成本较低。
上述实施例中，OTDR通过SOA及对SOA的状态进行控制，解决了现有技术中分光器造成大反射和大的衰减同时存在，而传统OTDR技术的盲区会覆盖掉大部分分支的事件的问题，以及传统OTDR技术带宽较低，对分光器之后的密集反射光信号难以区分的问题。
本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
Claims (11)
1.一种光时域反射仪，其特征在于，包括：
激光器，用于向被测光纤网络发射测试光；
数字处理器，用于产生脉冲信号生成指令并将所述脉冲信号生成指令输出给脉冲发生器；
所述脉冲发生器，用于在从所述数字处理器接收到所述脉冲信号生成指令时生成脉冲信号；
驱动器，与所述脉冲发生器相连，用于将所述脉冲发生器生成的脉冲信号转换为用来驱动半导体光放大器的控制信号；
半导体光放大器，与所述驱动器相连，用于在所述驱动器的控制信号控制下，选择性地对来自所述被测光纤网络的测试信号进行吸收或放大，其中所述测试信号是所述测试光在所述被测光纤网络发生反射而形成的反射信号；
光电探测器，与所述半导体光放大器相连，用于将所述半导体光放大器放大后的测试信号转变为电流信号；
所述选择性地对来自所述被测光纤网络的测试信号进行吸收或放大具体包括：当所述被测光纤网络返回的测试信号为大信号时，关闭所述半导体光放大器以进行吸收，当所述测试信号为所述大信号后的小信号打开所述半导体光放大器并接收所述测试信号。
2.根据权利要求1所述的光时域反射仪，其特征在于，所述半导体光放大器与所述光电探测器之间还连接有WDM滤波器，用于滤除所述半导体光放大器的ASE噪声。
3.根据权利要求1或2所述的光时域反射仪，其特征在于，还包括：
环行器，用于将所述激光器发射的测试光输出到所述被测光纤网络，并将从所述被测光纤网络输入的测试信号输出给所述半导体光放大器。
4.一种采用上述权利要求1至3中任一项的所述的光时域反射仪获取测试信号的方法，其特征在于，包括：
数字信号处理器控制脉冲发生器生成脉冲信号，以使半导体光放大器工作在开关状态；
半导体光放大器在所述脉冲信号的控制下处于开关状态，具体包括：当所述被测光纤网络返回的测试信号为大信号时，关闭所述半导体光放大器以进行吸收，当所述测试信号为所述大信号后的小信号打开所述半导体光放大器并接收所述测试信号；
所述半导体光放大器处于打开状态下时，光电探测器接收来自被测无源光网络的测试信号。
5.根据权利要求4所述的光时域反射仪获取测试信号的方法，其特征在于，数字信号处理器控制脉冲发生器生成脉冲信号，以使半导体光放大器工作在开关状态，包括：
数字处理器根据无源光网络的全景图产生指令，使脉冲发生器生成用于吸收所述全景图中大信号的脉冲信号；
脉冲发生器根据所述指令生成脉冲信号；
所述脉冲信号通过驱动器转变为大功率的电流信号。
6.根据权利要求5所述的光时域反射仪获取测试信号的方法，其特征在于，半导体光放大器在所述脉冲信号的控制下处于开关状态，包括：
当光环行器接收大信号时，半导体光放大器关闭；
当光环行器接收大信号之后的小信号时，半导体光放大器在所述电流信号的控制下打开。
7.根据权利要求4所述的光时域反射仪获取测试信号的方法，其特征在于，数字信号处理器控制脉冲发生器生成脉冲信号，以使半导体光放大器工作在开关状态，包括：
数字处理器根据无源光网络的全景图产生指令，使脉冲发生器生成单脉冲信号，用于对所述全景图中的密集反射的区域进行单点采样；
脉冲发生器根据所述指令生成单脉冲信号；
所述单脉冲信号通过驱动器转变为大功率的电流信号。
8.根据权利要求7所述的光时域反射仪获取测试信号的方法，其特征在于，半导体光放大器在所述脉冲信号的控制下处于开关状态，包括：
半导体光放大器接收到所述电流信号时打开，对光环行器接收到的信号进行放大。
9.根据权利要求4所述的光时域反射仪获取测试信号的方法，其特征在于，数字信号处理器控制脉冲发生器生成脉冲信号之前，还包括：
数字信号处理器控制脉冲发生器生成另一脉冲信号，以使所述半导体光放大器处于常态；
所述半导体光放大器在所述另一脉冲信号的作用下保持打开状态。
10.根据权利要求4所述的光时域反射仪获取测试信号的方法，其特征在于，数字信号处理器控制脉冲发生器生成脉冲信号，以使半导体光放大器工作在开关状态，包括：
数字处理器在每个测试周期产生一个指令，使脉冲发生器生成一个单脉冲信号，每个测试周期的单脉冲信号生成时间依次往后顺延；
脉冲发生器根据所述指令生成单脉冲信号；
所述单脉冲信号通过驱动器转变为大功率的电流信号。
11.根据权利要求10所述的光时域反射仪获取测试信号的方法，其特征在于，半导体光放大器在所述脉冲信号的控制下处于开关状态，包括：半导体光放大器接收到所述电流信号时打开，对光环行器接收到的信号进行放大。
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