CN102426376A - 一种平板探测器的监控与校正方法 - Google Patents

一种平板探测器的监控与校正方法 Download PDF

Info

Publication number
CN102426376A
CN102426376A CN2011102304915A CN201110230491A CN102426376A CN 102426376 A CN102426376 A CN 102426376A CN 2011102304915 A CN2011102304915 A CN 2011102304915A CN 201110230491 A CN201110230491 A CN 201110230491A CN 102426376 A CN102426376 A CN 102426376A
Authority
CN
China
Prior art keywords
image
flat panel
panel detector
pixel
fluctuation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2011102304915A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102426376B (zh
Inventor
黄魁东
张定华
张华�
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Northwestern Polytechnical University
Original Assignee
Northwestern Polytechnical University
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Northwestern Polytechnical University filed Critical Northwestern Polytechnical University
Priority to CN 201110230491 priority Critical patent/CN102426376B/zh
Publication of CN102426376A publication Critical patent/CN102426376A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102426376B publication Critical patent/CN102426376B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

本发明公开了一种平板探测器的监控与校正方法，在平板探测器射线接收窗一侧安装一金属条，获取暗场图像和坏像素模板图像，采集多幅空白照射图像，合成一幅后减去暗场图像，得到图像S′(x，y)；照射被检测物体得到图像S0(x，y)；进行暗场校正得到图像S1(x，y)；进行平板探测器暗场图像波动监控的判定计算和校正计算，得到图像S2(x，y)；得到图像S3(x，y)＝ln[S′(x，y)/S2(x，y)]；利用坏像素模板图像，对图像S3(x，y)进行坏像素校正。本发明提供的方法可以监控平板探测器全使用周期中的暗场图像波动并进行简便校正，无需生成增益校正图像，并去除了常规的增益校正步骤，可直接计算得到用于后续应用的数字图像。

Description

一种平板探测器的监控与校正方法
技术领域
本发明属于射线数字成像领域，涉及一种监控与校正方法。
背景技术
平板探测器是一种高度复杂的射线数字化成像设备，可用于替代传统胶片的射线成像，也可作为锥束CT***的成像部件。由于结构特征和制造工艺的限制，平板探测器原始输出图像中存在多种瑕疵，直接影响其成像质量，因此通常需要对平板探测器进行必要的校正。
目前关注的平板探测器的不利因素主要有3个：存在暗场图像、增益系数不一致和存在坏像素，对应的校正方法分别是暗场校正、增益校正和坏像素校正。暗场图像是指没有射线照射时平板探测器的输出值，暗场图像在开启射线源时将叠加到投影图像中，并且不会随着射线强度的变化而线性变化；平板探测器大量像元的输出特性参数具有分散性，从而产生增益系数不一致的问题；坏像素是对射线强度反应异常的像元，由于平板探测器的像元数量巨大，制造工艺复杂，因而坏像素一般不可避免。这3方面的常规校正方法已比较成熟，并被平板探测器厂商广泛采用。
当平板探测器处于良好工作状态时，暗场图像能够稳定在一定范围内，而平板探测器在长期使用中容易受到射线损伤、湿气腐蚀、局部发热以及元器件老化等多种因素的影响，暗场图像可能出现较大幅度的波动并表现为随机出现波动条纹，严重时直接导致常规方法校正后的图像不可用。王苦愚、张定华、黄魁东等人在《计算机辅助设计与图形学学报》(2009，21(7)：954-961)的文章“一种锥束CT中平板探测器输出图像校正方法”中提出了一种基于局部屏蔽的暗场波动估算和校正方法，取得了较好的效果，但该方法没有考虑暗场波动是否存在，以及暗场波动量的大小，对所有图像一律进行逐行的暗场波动校正，这样处理可能导致大量的不必要的计算。
平板探测器原始输出图像经过上述校正处理后，一般还要进行对数计算，才能用于检测评判，或者用于锥束CT重建。
发明内容
为了克服现有技术存在大量不必要的计算以及需要校正后对数计算的不足，本发明提供一种平板探测器的监控与校正方法，以达到监控平板探测器全使用周期中的暗场图像波动，并简化平板探测器校正步骤、减少校正计算量的目的。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案包括以下步骤：
(1)在平板探测器射线接收窗的一侧，安装一金属条，该金属条垂直于暗场波动条纹，且可使平板探测器输出图像的若干列或行得到良好的射线屏蔽；
(2)根据检测需求选取平板探测器工作模式，按照常规的多幅叠加平均的方法获取暗场图像、基于统计信息分析的方法获取坏像素模板图像；
(3)根据检测需求选取射线照射参数，采集多幅不含被检测物体的空白照射图像，并将这些图像各个像素点对应像素灰度相加并平均，得到一幅空白照射图像，再按对应像素灰度相减的方法，从该幅空白照射图像中减去暗场图像，得到图像S′(x，y)；
(4)按选定平板探测器工作模式和射线照射参数照射被检测物体，得到图像S0(x，y)；
(5)按对应像素灰度相减的方法，从图像S0(x，y)中减去暗场图像，完成暗场校正，得到图像S1(x，y)；
(6)进行平板探测器暗场图像波动监控的判定计算和校正计算，得到图像S2(x，y)；所述平板探测器暗场图像波动监控的判定计算和校正计算步骤如下：
a)计算暗场图像像素灰度均值P和灰度标准方差T；
b)取T′＝(1.1～1.3)T，得到暗场图像波动的下限E1＝P-T′和暗场图像波动的上限E2＝P+T′；
c)将图像S0(x，y)中屏蔽的N列或N行，采用按行像素灰度累加平均或按列像素灰度累加平均的方法，平均成1列或1行，记为
Figure BSA00000552539300021
d)查找中像素灰度的最大值
Figure BSA00000552539300023
和最小值
Figure BSA00000552539300024
e)判断：若
Figure BSA00000552539300025
且
Figure BSA00000552539300026
则认为图像S0(x，y)是稳定的，无需进行暗场波动校正；否则图像S0(x，y)存在暗场异常波动，此时对
Figure BSA00000552539300027
中的像素灰度进行逐个判断，若第i个像素灰度
Figure BSA00000552539300028
超出暗场图像波动的上限或下限，设其暗场波动量
Figure BSA00000552539300029
将S1(x，y)中第i行或第i列的所有像素灰度均减去
Figure BSA000005525393000210
(7)按S3(x，y)＝ln[S′(x，y)/S2(x，y)]计算，得到图像S3(x，y)；
(8)利用坏像素模板图像，按常规的邻域正常像素平均或插值的方法对图像S3(x，y)进行坏像素校正。
本发明的有益效果是：本发明提供的方法可以监控平板探测器全使用周期中的暗场图像波动并进行简便校正，无需生成增益校正图像，并去除了常规的增益校正步骤，可直接计算得到用于后续应用的数字图像。相对于常规的平板探测器校正方法，本发明提供了一种更加可靠和简便的处理方法。
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
附图说明
图1为本发明的平板探测器监控与校正流程；
图2为实验铝件采用本发明方法和传统方法校正后的图像相同位置灰度比较图。
具体实施方式
对一铝件进行X射线平板探测器数字成像，X射线源为YXLON的Y.TU450-D02，平板探测器为Varian的PaxScan2520，应用本发明方法进行平板探测器的监控与校正，执行以下步骤：
(1)在平板探测器射线接收窗的下侧，安装一5mm厚的铅条，该铅条垂直于暗场波动条纹，且可使平板探测器输出图像的20列(该型号平板探测器的输出图像相对于其射线接收窗作了行列转置)得到良好的射线屏蔽；
(2)根据检测需求选取平板探测器工作模式为全分辨率低噪声，按照常规的多幅叠加平均的方法获取暗场图像、基于统计信息分析的方法获取坏像素模板图像；
(3)根据检测需求选取射线照射参数为170kV和1.0mA，采集8幅不含被检测物体的空白照射图像，并将这些图像各个像素点对应像素灰度相加并平均，得到一幅空白照射图像，再按对应像素灰度相减的方法，从该幅空白照射图像中减去暗场图像，得到图像S′(x，y)；
(4)按选定平板探测器工作模式和射线照射参数照射被检测物体，得到图像S0(x，y)；
(5)按对应像素灰度相减的方法，从图像S0(x，y)中减去暗场图像，完成暗场校正，得到图像S1(x，y)；
(6)进行平板探测器暗场图像波动监控的判定计算和校正计算，得到图像S2(x，y)；
所述平板探测器暗场图像波动监控的判定计算和校正计算步骤如下：
a)计算暗场图像像素灰度均值P和灰度标准方差T；
b)取T′＝1.15T，得到暗场图像波动的下限E1＝P-T′和暗场图像波动的上限E2＝P+T′；
c)将图像S0(x，y)中屏蔽的20列，采用按行像素灰度累加平均的方法，平均成1列，记为
Figure BSA00000552539300041
d)查找
Figure BSA00000552539300042
中像素灰度的最大值和最小值
Figure BSA00000552539300044
e)判断：若
Figure BSA00000552539300045
且
Figure BSA00000552539300046
则认为图像S0(x，y)是稳定的，无需进行暗场波动校正；否则图像S0(x，y)存在暗场异常波动，此时对
Figure BSA00000552539300047
中的像素灰度进行逐个判断，若第i个像素灰度
Figure BSA00000552539300048
超出暗场图像波动的上限或下限，设其暗场波动量
Figure BSA00000552539300049
将S1(x，y)中第i行或第i列的所有像素灰度均减去
Figure BSA000005525393000410
(7)按S3(x，y)＝ln[S′(x，y)/S2(x，y)]计算，得到图像S3(x，y)；
(8)利用坏像素模板图像，按常规的邻域正常像素平均或插值的方法对图像S3(x，y)进行坏像素校正。
从图2给出的实验铝件采用本发明方法和传统方法校正后的图像相同位置灰度比较可以看出，本发明提出的方法在具备平板探测器暗场监控和省略增益校正的情况下，将平板探测器输出图像校正到了与传统方法相当的水平，表明本发明方法是一种更加可靠和简便的处理方法。

Claims (1)

1.一种平板探测器的监控与校正方法，其特征在于包括下述步骤：
(1)在平板探测器射线接收窗的一侧，安装一金属条，该金属条垂直于暗场波动条纹，且可使平板探测器输出图像的若干列或行得到良好的射线屏蔽；
(2)根据检测需求选取平板探测器工作模式，按照多幅叠加平均的方法获取暗场图像，按照基于统计信息分析的方法获取坏像素模板图像；
(3)根据检测需求选取射线照射参数，采集多幅不含被检测物体的空白照射图像，并将这些图像各个像素点对应像素灰度相加并平均，得到一幅空白照射图像，再按对应像素灰度相减的方法，从该幅空白照射图像中减去暗场图像，得到图像S′(x，y)；
(4)按选定平板探测器工作模式和射线照射参数照射被检测物体，得到图像S0(x，y)；
(5)按对应像素灰度相减的方法，从图像S0(x，y)中减去暗场图像，完成暗场校正，得到图像S1(x，y)；
(6)进行平板探测器暗场图像波动监控的判定计算和校正计算，得到图像S2(x，y)；所述平板探测器暗场图像波动监控的判定计算和校正计算步骤如下：
a)计算暗场图像像素灰度均值P和灰度标准方差T；
b)取T′＝(1.1～1.3)T，得到暗场图像波动的下限E1＝P-T′和暗场图像波动的上限E2＝P+T′；
c)将图像S0(x，y)中屏蔽的N列或N行，采用按行像素灰度累加平均或按列像素灰度累加平均的方法，平均成1列或1行，记为
Figure FSA00000552539200011
d)查找中像素灰度的最大值
Figure FSA00000552539200013
和最小值
Figure FSA00000552539200014
e)判断：若且则认为图像S0(x，y)是稳定的，无需进行暗场波动校正；否则图像S0(x，y)存在暗场异常波动，此时对中的像素灰度进行逐个判断，若第i个像素灰度
Figure FSA00000552539200018
超出暗场图像波动的上限或下限，设其暗场波动量
Figure FSA00000552539200019
将S1(x，y)中第i行或第i列的所有像素灰度均减去
Figure FSA000005525392000110
(7)按S3(x，y)＝ln[S′(x，y)/S2(x，y)]计算，得到图像S3(x，y)；
(8)利用坏像素模板图像，按邻域正常像素平均或插值的方法对图像S3(x，y)进行坏像素校正。
CN 201110230491 2011-08-11 2011-08-11 一种平板探测器的监控与校正方法 Active CN102426376B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 201110230491 CN102426376B (zh) 2011-08-11 2011-08-11 一种平板探测器的监控与校正方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 201110230491 CN102426376B (zh) 2011-08-11 2011-08-11 一种平板探测器的监控与校正方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102426376A true CN102426376A (zh) 2012-04-25
CN102426376B CN102426376B (zh) 2013-05-08

Family

ID=45960378

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN 201110230491 Active CN102426376B (zh) 2011-08-11 2011-08-11 一种平板探测器的监控与校正方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN102426376B (zh)

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104240218A (zh) * 2013-06-09 2014-12-24 南京普爱射线影像设备有限公司 一种基于ccd dr探测器影像不均匀性实时校正方法
CN105982683A (zh) * 2015-02-15 2016-10-05 北京纳米维景科技有限公司 一种同时消除射线硬化影响的x射线探测器综合校正方法
CN106131463A (zh) * 2016-08-25 2016-11-16 上海奕瑞光电子科技有限公司 非晶硅平板探测器及其图像处理方法、dr设备
CN106204498A (zh) * 2016-07-22 2016-12-07 上海联影医疗科技有限公司 图像校正方法及装置
CN106296595A (zh) * 2015-06-08 2017-01-04 上海奕瑞光电子科技有限公司 一种平板探测器以及降低平板探测器图像残影的方法
CN106551701A (zh) * 2015-09-18 2017-04-05 上海奕瑞光电子科技有限公司 一种无线平板探测器及其图像校正方法
CN108172659A (zh) * 2017-12-20 2018-06-15 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 平板探测器及其残影数据表的生成方法、残影补偿校正方法
CN108510462A (zh) * 2018-04-12 2018-09-07 福州英迪格成像技术有限公司 一种校正摄像头曝光响应的方法及终端
CN108918559A (zh) * 2018-07-28 2018-11-30 北京纳米维景科技有限公司 一种实现图像自校正的x射线图像探测器及其方法
CN109709597A (zh) * 2018-11-13 2019-05-03 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 平板探测器的增益校正方法
CN109712084A (zh) * 2018-12-10 2019-05-03 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 一种图像修复方法、图像修复***及平板探测器
CN110109174A (zh) * 2018-02-01 2019-08-09 上海西门子医疗器械有限公司 平板探测器的漂移校正方法、装置、***和存储介质
CN110118990A (zh) * 2018-02-07 2019-08-13 上海西门子医疗器械有限公司 X光探测器坏点的在线侦测方法、装置、***及存储介质
CN110703309A (zh) * 2019-09-29 2020-01-17 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 线阵探测器图像拼接实时校正方法、装置、设备和介质
WO2020192755A1 (zh) * 2019-03-28 2020-10-01 上海易孛特光电技术有限公司 生物样品膜上的自发光物体的成像方法及装置

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040200969A1 (en) * 2003-04-08 2004-10-14 Jibril Odogba Method and apparatus for identifying composite defective pixel map
CN101126724A (zh) * 2007-09-30 2008-02-20 西北工业大学 锥束ct***中平板探测器图像的抗干扰校正方法
US20080049900A1 (en) * 2005-02-24 2008-02-28 Canon Kabushiki Kaisha Radiography apparatus, radiography system, and control method thereof
JP2008229194A (ja) * 2007-03-23 2008-10-02 Hitachi Medical Corp Ｘ線画像診断装置
CN101509879A (zh) * 2009-03-17 2009-08-19 西北工业大学 一种ct快速批量扫描与校正方法
CN101510298A (zh) * 2009-03-17 2009-08-19 西北工业大学 一种ct伪影的综合校正方法
JP2009219691A (ja) * 2008-03-17 2009-10-01 Fujifilm Corp 放射線画像撮影装置および画像欠陥識別方法
CN101975965A (zh) * 2010-10-27 2011-02-16 江苏康众数字医疗设备有限公司 平板探测器及其温度校准方法与图像校正方法

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040200969A1 (en) * 2003-04-08 2004-10-14 Jibril Odogba Method and apparatus for identifying composite defective pixel map
US20080049900A1 (en) * 2005-02-24 2008-02-28 Canon Kabushiki Kaisha Radiography apparatus, radiography system, and control method thereof
JP2008229194A (ja) * 2007-03-23 2008-10-02 Hitachi Medical Corp Ｘ線画像診断装置
CN101126724A (zh) * 2007-09-30 2008-02-20 西北工业大学 锥束ct***中平板探测器图像的抗干扰校正方法
JP2009219691A (ja) * 2008-03-17 2009-10-01 Fujifilm Corp 放射線画像撮影装置および画像欠陥識別方法
CN101509879A (zh) * 2009-03-17 2009-08-19 西北工业大学 一种ct快速批量扫描与校正方法
CN101510298A (zh) * 2009-03-17 2009-08-19 西北工业大学 一种ct伪影的综合校正方法
CN101975965A (zh) * 2010-10-27 2011-02-16 江苏康众数字医疗设备有限公司 平板探测器及其温度校准方法与图像校正方法

Non-Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
J.STARMAN等: "Investigation into the optimal linear time-invariant lag correction for radar artifact removal", 《MEDICAL PHYSICS》, vol. 38, no. 5, 31 May 2011 (2011-05-31), pages 2398 - 2411, XP012145239, DOI: doi:10.1118/1.3574873 *
于清超等: "一种锥束CT散射场检测优化方法", 《仪器仪表学报》, vol. 32, no. 04, 30 April 2011 (2011-04-30), pages 781 - 786 *
王苦愚等: "一种锥束CT中平板探测器输出图像校正方法", 《计算机辅助设计与图形学学报》, vol. 21, no. 07, 31 July 2009 (2009-07-31), pages 954 - 961 *
胡栋材等: "基于平板探测器的锥束CT散射校正方法", 《CT理论与应用研究》, vol. 18, no. 01, 31 March 2009 (2009-03-31), pages 16 - 22 *

Cited By (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104240218A (zh) * 2013-06-09 2014-12-24 南京普爱射线影像设备有限公司 一种基于ccd dr探测器影像不均匀性实时校正方法
CN105982683A (zh) * 2015-02-15 2016-10-05 北京纳米维景科技有限公司 一种同时消除射线硬化影响的x射线探测器综合校正方法
CN105982683B (zh) * 2015-02-15 2019-12-31 北京纳米维景科技有限公司 一种同时消除射线硬化影响的x射线探测器综合校正方法
CN106296595B (zh) * 2015-06-08 2019-01-01 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 一种平板探测器以及降低平板探测器图像残影的方法
CN106296595A (zh) * 2015-06-08 2017-01-04 上海奕瑞光电子科技有限公司 一种平板探测器以及降低平板探测器图像残影的方法
CN106551701B (zh) * 2015-09-18 2020-04-10 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 一种无线平板探测器及其图像校正方法
CN106551701A (zh) * 2015-09-18 2017-04-05 上海奕瑞光电子科技有限公司 一种无线平板探测器及其图像校正方法
CN106204498A (zh) * 2016-07-22 2016-12-07 上海联影医疗科技有限公司 图像校正方法及装置
CN106204498B (zh) * 2016-07-22 2020-03-31 上海联影医疗科技有限公司 图像校正方法及装置
CN106131463B (zh) * 2016-08-25 2019-05-28 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 非晶硅平板探测器及其图像处理方法、dr设备
CN106131463A (zh) * 2016-08-25 2016-11-16 上海奕瑞光电子科技有限公司 非晶硅平板探测器及其图像处理方法、dr设备
CN108172659B (zh) * 2017-12-20 2019-08-09 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 平板探测器及其残影数据表的生成方法、残影补偿校正方法
CN108172659A (zh) * 2017-12-20 2018-06-15 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 平板探测器及其残影数据表的生成方法、残影补偿校正方法
CN110109174A (zh) * 2018-02-01 2019-08-09 上海西门子医疗器械有限公司 平板探测器的漂移校正方法、装置、***和存储介质
CN110109174B (zh) * 2018-02-01 2024-01-23 上海西门子医疗器械有限公司 平板探测器的漂移校正方法、装置、***和存储介质
CN110118990A (zh) * 2018-02-07 2019-08-13 上海西门子医疗器械有限公司 X光探测器坏点的在线侦测方法、装置、***及存储介质
CN108510462A (zh) * 2018-04-12 2018-09-07 福州英迪格成像技术有限公司 一种校正摄像头曝光响应的方法及终端
CN108918559A (zh) * 2018-07-28 2018-11-30 北京纳米维景科技有限公司 一种实现图像自校正的x射线图像探测器及其方法
CN108918559B (zh) * 2018-07-28 2021-08-17 北京纳米维景科技有限公司 一种实现图像自校正的x射线图像探测器及其方法
CN109709597A (zh) * 2018-11-13 2019-05-03 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 平板探测器的增益校正方法
CN109709597B (zh) * 2018-11-13 2023-10-03 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 平板探测器的增益校正方法
CN109712084A (zh) * 2018-12-10 2019-05-03 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 一种图像修复方法、图像修复***及平板探测器
WO2020192755A1 (zh) * 2019-03-28 2020-10-01 上海易孛特光电技术有限公司 生物样品膜上的自发光物体的成像方法及装置
US12032149B2 (en) 2019-03-28 2024-07-09 Shanghai E-Blot Photoelectric Technology Co., Ltd. Imaging method and apparatus for self-luminous object on biological sample film
CN110703309A (zh) * 2019-09-29 2020-01-17 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 线阵探测器图像拼接实时校正方法、装置、设备和介质
CN110703309B (zh) * 2019-09-29 2021-09-17 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 线阵探测器图像拼接实时校正方法、装置、设备和介质

Also Published As

Publication number Publication date
CN102426376B (zh) 2013-05-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102426376B (zh) 一种平板探测器的监控与校正方法
US7863575B2 (en) Radiographic imaging method and radiographic imaging system
US7822178B2 (en) Radiographic imaging system
CN106204498B (zh) 图像校正方法及装置
EP1723781B1 (en) Imaging system with adjusted dark floor correction
CN103335721B (zh) 基于场景匹配的红外焦平面阵列动态盲元检测方法
CN110458827B (zh) 医学影像坏点的检测方法、装置、设备及介质
US20100232725A1 (en) Temperature artifact correction
US20140056536A1 (en) Method and system for substantially removing dot noise
JP2013123589A (ja) 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム
CN111553960B (zh) 一种基于投影均值图像的环状伪影快速校正方法
CN104166971A (zh) 一种ct图像重建的方法
CN104094313A (zh) 利用频率分解来进行图像增强中的边缘适应性增益调整
US20190231293A1 (en) Image processing apparatus, radiation imaging apparatus, image processing method, and storage medium
CN103124334B (zh) 一种镜头畸变校正的方法
US8198596B2 (en) Imaging system and image defect correcting method
US8160202B2 (en) Radiographic apparatus
EP3144882B1 (en) Method for reducing image disturbances caused by reconstructed defective pixels in direct radiography
JP2023514944A (ja) Ｃｔ画像内のリングアーチファクトの補正の方法及びデバイス並びにコンピュータプログラム媒体
CN102859993A (zh) 图像处理设备、图像处理方法和程序
JP6325939B2 (ja) 放射線撮影装置およびゲイン画像作成方法
JP4991258B2 (ja) Ｘ線画像診断装置
US20070058848A1 (en) Method of determining and correcting non-linear detector pixels
US20050243334A1 (en) Image processing method, image processing apparatus and image processing program
US7583830B2 (en) Method for correcting image artifacts due to detector overexposure in computed tomography

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant