CN102419648B - 触摸点坐标获取方法及***、触摸屏校准方法及*** - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种用于触摸屏校准的触摸点坐标获取方法，包括以下步骤：触摸触摸屏上校准点位置，调整至触摸点与校准点基本重合后抬起；采集触摸过程中N个触摸点坐标；根据所述触摸点坐标获取最优触摸点坐标。本发明还涉及一种用于触摸屏校准的触摸点坐标获取***，包括用于在触摸操作过程中采集N个触摸点坐标的采集装置，所述触摸操作过程是指触摸触摸屏上校准点位置、调整至触摸点与校准点基本重合后抬起的过程；用于根据所述触摸点坐标获取最优触摸点坐标的获取装置。本发明还涉及利用上述触摸点坐标获取方法及***对触摸屏进行校准的方法及***。本发明所述方法及***不仅提高了触摸屏校准的准确性，而且提高了触摸屏校准的抗干扰能力。
Description
技术领域
本发明涉及一种触摸屏校准方法及***，尤其是涉及一种用于触摸屏校准的触摸点坐标获取方法及***。
背景技术
随着触摸技术的发展，触摸屏作为一种简单方便的人机交互设备得到广泛应用。在触摸屏应用中，触摸屏与显示屏往往是分离的。为了在显示屏上实现触摸功能，需要将触摸屏安装到显示屏上。由于触摸屏的物理坐标与显示屏的像素坐标采用的坐标系不同，因此需要建立触摸屏坐标与显示屏坐标之间的对应关系，即需要对触摸屏进行校准。而且在某些情况下，由于触摸屏安装位置有误差等原因，也需要对触摸屏进行校准。
如图1所示，触摸屏12通常采用如下方式进行校准：首先在触摸屏11的四个角上设置4个校准点12；在校准过程中，用户触摸触摸屏上这4个校准点12的位置，采集4个触摸点的显示屏坐标，根据采集到的4个触摸点的显示屏坐标计算触摸屏坐标与显示屏坐标之间的对应关系，实现对触摸屏12的校准。由此可见，在触摸屏校准过程中，触摸点坐标的选取是一个关键的步骤，如果选取的不准确，则会直接影响到触摸屏校准的准确性。
在采集4个触摸点的显示屏坐标时，主要有如下两种方式：一种是落笔方式，另一种是抬笔方式。落笔方式是指在用户触摸触摸屏上校准点的位置时，将收到的第一个数据包(包含第一个触摸点的坐标)作为校准点的显示屏坐标。这种方式存在如下缺点：由于触摸屏有触摸高度，因此收到的第一个数据包与实际触摸点的坐标是有误差的，进而使得校准结果不理想。而且在采集过程中没有微调的机会，如果存在干扰，则会造成校准错误。抬笔方式是指在用户触摸触摸屏上校准点的位置时，将离开触摸屏之前收到的最后一个数据包作为校准点的显示屏坐标。这种方式由于在采集触摸点坐标时有微调的机会，因此较好地解决了落笔方式的一些缺点，但是在采集坐标时如有干扰，同样会造成校准错误。
发明内容
针对现有技术中存在的缺陷，本发明所要解决的技术问题是提供一种准确性高、抗干扰能力强的用于触摸屏校准的触摸点坐标获取和触摸屏校准方法及***。
为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案如下：
一种用于触摸屏校准的触摸点坐标获取方法，包括以下步骤：
触摸触摸屏上校准点位置，调整至触摸点与校准点基本重合后抬起；
采集触摸过程中N个触摸点坐标；优选的，N≥3；
根据所述触摸点坐标获取最优触摸点坐标。
如上所述的用于触摸屏校准的触摸点坐标获取方法，在获取最优触摸点坐标之前还包括在所述N个触摸点坐标中排除干扰触摸点坐标的步骤。优选的，排除干扰触摸点坐标的方法如下：
将以位置相邻的多个触摸点中任一个触摸点的坐标为中心、R为半径的圆形或矩形范围内的触摸点坐标视为有效的触摸点坐标，排除所述圆形或矩形范围外的触摸点坐标。优选的，1毫米≤R≤5毫米。
如上所述的用于触摸屏校准的触摸点坐标获取方法，其中，最优触摸点坐标的获取方法为：计算N个触摸点坐标中排除干扰触摸点坐标后剩余的触摸点坐标的平均坐标，将所述平均坐标作为最优触摸点坐标。
如上所述的用于触摸屏校准的触摸点坐标获取方法，其中，最优触摸点坐标的获取方法为：在排除干扰触摸点坐标后的剩余触摸点坐标中，将横坐标中相同数量最多的横坐标作为最优触摸点的横坐标，将纵坐标中相同数量最多的纵坐标作为最优触摸点的纵坐标，如果相同数量相等，则任意选择其中一个。
一种触摸屏校准方法，包括以下步骤：
采用上述的触摸点坐标获取方法，获取与校准点相应的触摸点坐标；
根据所述触摸点坐标与校准点坐标对所述触摸屏进行校准。
一种用于触摸屏校准的触摸点坐标获取***，包括用于在触摸操作过程中采集N个触摸点坐标的采集装置，所述触摸操作过程是指触摸触摸屏上校准点位置、调整至触摸点与校准点基本重合后抬起的过程；
用于根据所述触摸点坐标获取最优触摸点坐标的获取装置。
如上所述的用于触摸屏校准的触摸点坐标获取***，还包括用于在所述N个触摸点坐标中排除干扰触摸点坐标的排除装置。
如上所述的用于触摸屏校准的触摸点坐标获取***，其中，获取装置包括计算单元，用于计算N个触摸点坐标中排除干扰触摸点坐标后剩余的触摸点坐标的平均坐标，或者计算排除干扰触摸点坐标后剩余的触摸点坐标中横坐标相同的数量和纵坐标相同的数量。
一种触摸屏校准***，包括上述触摸点坐标获取***；以及用于根据最优触摸点坐标与校准点坐标对触摸屏进行校准的校准装置。
本发明所述方法及***，通过从采集到的多个触摸点坐标获取最优触摸点坐标的方式，提高了触摸屏校准的准确性；通过在采集到的多个触摸点坐标中排除干扰触摸点坐标的方式，提高了触摸屏校准的抗干扰能力。
附图说明
图1是现有技术中触摸屏校准点分布示意图；
图2是实施例1中用于触摸屏校准的触摸点坐标获取***的结构图；
图3是实施例1中用于触摸屏校准的触摸点坐标获取方法的流程图；
图4是实施例1中排除干扰触摸点坐标的示意图；
图5是实施例2中触摸屏校准***的结构图；
图6是实施例2中触摸屏校准方法的流程图。
具体实施方式
下面结合具体实施方式和附图对本发明进行详细描述。
实施例1
本实施例提供了一种用于触摸屏校准的触摸点坐标获取***及方法。如图2所示，该***包括采集装置21、排除装置22和获取装置23。其中，获取装置23包括计算单元231。
采集装置21用于在如下触摸操作过程中采集N个触摸点坐标：触摸触摸屏上校准点位置，调整至触摸点与校准点基本重合后抬起。排除装置22用于在采集装置21采集的N个触摸点坐标中排除干扰的触摸点坐标。获取装置23用于根据所述触摸点坐标获取最优触摸点坐标，其中计算单元231用于计算N个触摸点坐标中排除干扰触摸点坐标后剩余的触摸点坐标的平均坐标，或者计算排除干扰触摸点坐标后剩余的触摸点坐标中横坐标相同的数量和纵坐标相同的数量。
如图3所示，采用图2所示***获取用于触摸屏校准的触摸点坐标的方法，包括以下步骤：
(1)触摸触摸屏上校准点位置，调整至触摸点与校准点基本重合后抬起(301)。
(2)采集装置21采集触摸过程中N个触摸点坐标(302)。优选的，所述N≥3。
(3)排除装置22在N个触摸点坐标中排除干扰触摸点坐标。
由于干扰触摸点一般距离真正触摸点较远，因此可以采用但不限于下述方法排除干扰触摸点：如图4所示，将以位置相邻的多个触摸点中的任一个触摸点坐标为中心、R为半径的圆形或矩形范围内的触摸点坐标视为有效的触摸点坐标，排除圆形或矩形范围外的触摸点a的坐标。优选的，1毫米≤R≤5毫米。
(4)获取装置23根据剩余触摸点坐标获取最优触摸点坐标。
获取最优触摸点坐标可以采用但不限于下述方法：①计算N个触摸点坐标中排除干扰触摸点坐标后剩余的触摸点坐标的平均坐标，将所述平均坐标作为最优触摸点坐标；②在排除干扰触摸点坐标后的剩余触摸点坐标中，将横坐标中相同数量最多的横坐标作为最优触摸点的横坐标，将纵坐标中相同数量最多的纵坐标作为最优触摸点的纵坐标，如果相同数量相等，则任意选择其中一个。例如，在如下坐标中：(1，2)、(1、3)、(1，4)、(2、3)、(2、4)，横坐标“1”的相同数量为3，横坐标“2”的相同数量为2，因此将横坐标“1”作为最优触摸点的横坐标；纵坐标“2”的相同数量为1，纵坐标“3”的相同数量为2，纵坐标“4”的相同数量为2，在3和4之间任意选择一个作为最优触摸点的纵坐标。
实施例2
基于实施例1，本实施例提供了一种触摸屏校准***及方法。如图5所示，该***包括实施例1中所述的触摸点坐标获取***20，以及用于根据所述触摸点坐标与校准点坐标对所述触摸屏进行校准的校准装置50。
如图6所示，采用图5所示***对触摸屏进行校准的方法包括以下步骤：
(1)触摸点坐标获取***20采用实施例1所述的触摸点坐标获取方法获取与校准点相应的最优触摸点坐标(601)。例如，如果校准点为4个，则获取与4个校准点相应的4个最优触摸点坐标。
(2)校准装置50根据最优触摸点坐标与校准点坐标对触摸屏进行校准(602)。
利用获取的最优触摸点坐标与已知的校准点坐标对触摸屏进行校准，可以采用现有技术中的任意一种方法，本实施例不对其进行限定。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其同等技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (4)
1.一种用于触摸屏校准的触摸点坐标获取方法，包括以下步骤：
触摸触摸屏上校准点位置，调整至触摸点与校准点基本重合后抬起；
采集触摸过程中N个触摸点坐标；
根据所述触摸点坐标获取最优触摸点坐标；所述方法在获取最优触摸点坐标之前还包括在所述N个触摸点坐标中排除干扰触摸点坐标的步骤；
所述排除干扰触摸点坐标的方法如下：
将以位置相邻的多个触摸点中任一个触摸点的坐标为中心、R为半径的圆形或矩形范围内的触摸点坐标视为有效的触摸点坐标，排除所述圆形或矩形范围外的触摸点坐标；所述最优触摸点坐标的获取方法为：在排除干扰触摸点坐标后的剩余触摸点坐标中，将横坐标中相同数量最多的横坐标作为最优触摸点的横坐标，将纵坐标中相同数量最多的纵坐标作为最优触摸点的纵坐标，如果相同数量相等，则任意选择其中一个。
2.如权利要求1所述的用于触摸屏校准的触摸点坐标获取方法，其特征在于：1毫米≤R≤5毫米。
3.如权利要求1～2中任一项所述的用于触摸屏校准的触摸点坐标获取方法，其特征在于：所述N≥3。
4.一种触摸屏校准方法，包括以下步骤：
采用权利要求1～3中任一项所述的触摸点坐标获取方法，获取与校准点相应的最优触摸点坐标；
根据所述最优触摸点坐标与校准点坐标对所述触摸屏进行校准。
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