CN102313907B - 毫米波检查设备 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种毫米波检查设备，其包括光学装置(30、50、60)，用于接收被检测对象辐射的毫米波，并汇聚接收到的毫米波；辐射计接收装置(80)，用于接收经汇聚的毫米波能量，并将毫米波能量转换成电信号；和成像装置，根据所述电信号，形成被检测对象的温度图像。与现有技术相比，本发明提供的毫米波检查设备，结构简单紧凑；由于采用被动式毫米波人体安检技术对人体健康没有伤害；可以对隐藏于人体衣物内的违禁物品进行检测。
Description
技术领域
本发明涉及一种人体安检设备，尤其涉及一种用于人体检查的毫米波检查设备。
背景技术
公知的人体安检设备主要有金属探测器、痕量检查仪、X光透射设备。具体地，金属探测器只对检测金属物质敏感。痕量检查仪只对检测***物和毒品有效。X光透射设备对包括金属/非金属物品、***物、毒品等进行检测，而且可以具备较高的空间分辨率和一定的扫描速度，但是由于X光的致电离辐射对人体健康有一定伤害，因此用于人体安检受到制约。
为了实现对人体安全检查的功能的需要，实有必要提出一种毫米波检查设备，其至少能够有效减轻前述至少一个技术问题或者能够完全消除前述至少一个技术问题。
发明内容
本发明的目的旨在解决现有技术中存在的上述问题和缺陷的至少一个方面。
相应地，本发明的目的之一在于提供一种能够对人体进行安检的毫米波检查设备。
根据本发明的一方面，其提供一种毫米波检查设备，其中该毫米波检查设备包括：光学装置，用于接收被检测对象辐射的毫米波，并汇聚接收到的毫米波；辐射计接收装置，用于接收经汇聚的毫米波能量，并将毫米波能量转换成电信号；和成像装置，根据所述电信号，形成被检测对象的温度图像。
在一个实施例中，所述光学装置进一步包括：摆动反射装置，用于接收并反射来自被检测对象的毫米波；凸透镜装置，用于汇聚来自所述摆动反射装置的毫米波能量；和光路折射反射板装置，用于改变汇聚后的毫米波的传播路径。
在一个实施例中，摆动反射装置包括：支撑架；摆动反射板，所述摆动反射板转动地支撑在所述支撑架上；和第一驱动电机，所第一述驱动电机与所述摆动反射板连接，用于驱动所述摆动反射板往复摆动。
优选地，所述支撑架包括：第一支撑板；与所述第一支撑板平行且相对的第二支撑板；和多个等长的定位杆，所述多个等长的定位杆的一端与所述第一支撑板连接，另一端与所述第二支撑板连接，所述多个等长的定位杆相互平行，并且分别垂直于所述第一和第二支撑板。
在另一个实施例中，所述摆动反射装置还包括：摆动限位机构，所述摆动限位机构用于限定所述摆动反射板的摆动角度范围，其包括：摆动件，所述摆动件的一端与所述驱动电机连接；和一对限位件，所述一对限位件设置在所述第二支撑板上，所述摆动件的另一端被限制成在所述一对限位件之间摆动。
优选地，所述摆动反射板的一端形成有转轴，所述摆动反射板的转轴通过轴承转动地支撑在所述第一支撑板上；所述摆动反射板的另一端与所述摆动件连接，用以与所述摆动件同步转动。
在又一实施例中，所述光路折射反射板装置包括：反射板；角度调节机构，用于调节所述反射板的角度；和高度调节机构，用于调节所述反射板的高度。
具体地，所述高度调节机构包括：第一螺柱，所述第一螺柱固定在毫米波检查设备的机械框架上；第二螺柱，所述第二螺柱的螺旋方向与所述第一螺柱相反；螺套，所述螺套的下部与第一螺柱螺纹连接，上部与第二螺柱螺纹连接，通过转动螺套来调节所述反射板的高度；和锁定螺母，所述锁定螺母能够锁定所述高度调节机构的高度。
在一个实施例中，所述角度调节机构包括：转轴，所述反射板通过该转轴转动地连接在所述第二螺柱的顶端。
在另一实施例中，所述光路折射反射装置还包括限位机构，用于防止所述反射板随螺套一同旋转。
具体地，所述限位机构包括：第一限位板，所述第一限位板的上端与所述反射板连接，下端具有插槽；和第二限位板，所述第二限位板下部固定在毫米波检查设备的机械框架上，上部***第一限位板的下端插槽中。
在一个实施例中，所述凸透镜装置为双面凸透镜。
在还一实施例中，所述辐射计接收装置包括：呈线性排列的辐射计；第一定位夹板和第二定位夹板，所述第一定位夹板和所述第二定位夹板通过第一紧固件将所述辐射计固定到它们之间；和支撑架，所述支撑架设置用于调节所述辐射计的角度。
在又一实施例中，所述毫米波检查设备还包括辐射计温度校准装置，所述辐射计温度校准装置包括常温校准机构，所述常温校准机构的校准温度等于当前环境温度，用于校准辐射计的初值；和高温校准机构，所述高温校准机构的校准温度高于当前环境温度，用于与常温校准机构一起校准辐射计的增益。
具体地，所述常温校准机构包括：可转动的常温校准镂空转筒组件；和第二驱动电机，所述第二驱动电机安装在支架上，用于驱动常温校准镂空转筒组件围绕所述辐射计连续转动。
优选地，所述高温校准机构包括：高温校准半圆板组件；和第三驱动电机，所述第三驱动电机安装在支架上，用于驱动高温校准半圆板组件围绕所述辐射计摆动。
在另一实施例中，所述常温校准镂空转筒组件和所述高温校准半圆板组件绕同一轴线运动，所述常温校准镂空转筒组件的一端与转轴连接，所述转轴与所述第二驱动电机的输出轴连接；所述转轴的轴端设置有带键的轴孔，所述第二驱动电机的输出轴***所述转轴的轴孔中，从而实现两者之间的直接对接。
在一个实施例中，所述毫米波检查设备还包括控制装置，用于控制所述毫米波检查设备的操作。
在又一个实施例中，所述毫米波检查设备还包括机架，所述光学装置和所述辐射计接收装置安装到所述机架上。
在还一个实施例中，所述毫米波检查设备还包括用于获取被检测对象的光学图像的摄像机。
与现有技术相比，在本发明的上述各个实施例中，由于采用毫米波进行安检，具有以下有益技术效果：采用被动式毫米波人体安检技术对人体健康没有伤害；可以对隐藏于人体衣物内的违禁物品进行检测。此外，由于采用了光路折射方式的设计，从而使得设备更为紧凑。
附图说明
本发明的这些和/或其他方面和优点从下面结合附图对优选实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
图1A和1B分别是根据本发明一个实施例的毫米波检查设备的立体结构示意图；
图1C是根据本发明一个实施例的在对人体进行安检时图1A和图1B中的毫米波检查设备的立体结构示意图；
图2是根据本发明一个实施例的毫米波检查设备中的摆动反射装置的立体结构示意图；
图3是根据本发明一个实施例的毫米波检查设备中的光路折射反射板装置的立体结构示意图；
图4是根据本发明一个实施例的毫米波检查设备中的辐射计接收装置的立体结构示意图；
图5是沿图4的线A-A切割获得的剖视图；
图6是根据本发明一个实施例的毫米波检查设备中的高低温校准装置的立体结构示意图；和
图7是图6中的高低温校准装置的俯视局部剖视图。
具体实施方式
以下是根据特定的具体实例说明本发明的具体实施方式，熟悉本领域的技术人员可由以下实施例中所揭示的内容轻易地了解本发明的构造，优点与功效。
本发明亦可藉由其它不同的具体实例加以施行或应用，本说明书中的各项细节亦可基于不同观点与应用，在不背离本发明的创作之精神下进行各种修改与变更。
再者，以下图式均为简化的示意图式，而仅以示意方式说明本发明的基本构想，故图式中仅显示与本发明有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可作随意的变更，且其组件布局形态可能更为复杂。
下面结合实施例进一步说明本发明的具体实施方式。
参见图1A和图1B，根据本发明的一个实施例，提供了一种毫米波检查设备，其中该毫米波检查设备包括：光学装置30、50、60，用于接收被检测对象辐射的毫米波，并汇聚接收到的毫米波；辐射计接收装置80，用于接收经汇聚的毫米波能量，并将毫米波能量转换成电信号；和成像装置(未示出)，根据所述电信号，形成被检测对象的温度图像。另外，所述毫米波检查设备还包括辐射计温度校准装置110，将在下文对其进行更详细的描述。
当然，本领域技术人员应当理解，毫米波检查设备还包括控制装置150，用于控制所述毫米波检查设备的操作。具体地，控制***150发出控制毫米波检查设备中的各个部件的控制指令。成像装置基于辐射计接收装置80获得的电信号，将其转换成图像信息以供检测和识别。显然，其可以采用各种具体实现形式，例如计算机、微处理器和显示单元等。
毫米波检查设备还包括机架20，该机架20用于保护和支撑毫米波检查设备的各个部件，例如光学装置30、50、60和辐射计接收装置80可以被安装到所述机架20上。成像装置可以结合到机架20以与机架20形成一个整体装置，也可以与其它部件电气相连，以实现远程成像。可以理解，所述成像装置可以一体地形成在机架20上，以便于直接观测所获得的温度图像。当然，如本领域技术人员可以想到的，也可以根据各种实际需要将成像装置形成在毫米波检查设备的其它部件中或设置成与毫米波检查设备分离开。
在一种具体实施例中，例如参见图1C，毫米波检查设备还包括获取被检测对象的光学图像的摄像机10。通过摄像机10获取的被检测对象光学图像可以与毫米波检查设备获取的被检测对象的温度图像关联，以作为人体安全检查的参考信息。
具体地，光学装置30、50、60进一步包括：摆动反射装置30，用于接收并反射来自被检测对象的毫米波；凸透镜装置50，用于汇聚来自所述摆动反射装置30的毫米波能量；和光路折射反射板装置60，用于改变汇聚后的毫米波的传播路径。
在一个实施例中，凸透镜装置50为双面凸透镜。
以下将参考图2和图3分别说明本发明的毫米波检查设备中的摆动反射装置30和光路折射反射板装置60。
参考图2，在本发明中，图示的摆动反射装置30用于毫米波检查设备。但是，需要说明的是，该摆动反射装置30还能够适用于其它设备或其它用途。
图2显示根据本发明的一个示例性的实施例的摆动反射装置30的立体结构示意图。如图所示，在该实施例中，摆动反射装置30主要包括支撑架31、摆动反射板32，所述摆动反射板32转动地支撑在所述支撑架31上；和驱动电机35，所述驱动电机35与所述摆动反射板32连接，用于驱动所述摆动反射板32往复摆动。
支撑架31包括第一支撑板40和第二支撑板42。第一支撑板40和第二支撑板42设置成平行且相对。第一支撑板40和第二支撑板42均通过螺钉等螺纹连接件固定在毫米波检查设备的机架20上。
在一个优选实施例中，为了确保第一支撑板40和第二支撑板42之间相互平行的位置关系，还提供多个等长的定位杆41。如图2所示，多个等长的定位杆41的一端与第一支撑板40连接，其另一端与第二支撑板42连接。
如图2所示，在该优选实施例中，一共设置了三个等长的定位杆41，三个等长的定位杆41相互平行并且分别垂直于第一和第二支撑板40、42。但是，需要说明的是，也可以设置两个、四个或更多个等长的定位杆41。第一支撑板40上开设有一个轴承孔(未示出)，在该轴承孔中安装有轴承39。摆动反射板32的一端具有转轴(未示出)，该转轴支撑在轴承39中，从而转动地支撑在第一支撑板40上。
为了防止灰尘等进入轴承39中，在图示的优选实施例中，在第一支撑板40的外侧设置有端盖38，该端盖38通过螺钉固定在第一支撑板40上，用于覆盖安装轴承39的轴承孔。
在一个优选实施例中，摆动反射装置还包括摆动限位机构36、37，用于限定所述摆动反射板32的摆动角度范围。在图2所示的优选实施例中，摆动限位机构包括摆动件36和一对限位件37。
如图2所示，驱动电机35通过螺钉等螺纹连接件直接固定在第二支撑板42的内侧。当然，驱动电机35也可以嵌入并固定在第二支撑板42中。这有利于减小整个摆动反射装置30的体积。
在一个优选实施例中，摆动件36的一端与驱动电机35直接连接。
参见图2，一对限位件37设置在第二支撑板42上，摆动件36的另一端被限制成在一对限位件37之间摆动。
更优选地，一对限位件37为一对凸起的限位柱。
更优选地，在一对限位件37和/或摆动件36上套设有弹性套，用于防止冲击和噪声。
在一个优选实施例中，如图2所示，摆动件36包括位于摆动件36的一端的圆盘36b和位于摆动件36的另一端的摆动杆36a。
如图2所示，在该优选实施例中，驱动电机35的转子上形成有转动盘。摆动件36的圆盘36b通过螺钉与驱动电机35的转动盘直接刚性连接，从而实现与所述摆动件同步转动。
如图2所示，摆动反射板32的另一端形成有连接圆盘。摆动反射板32的连接圆盘通过螺钉与摆动件36的圆盘36b直接刚性连接，从而实现与驱动电机35的直接刚性连接。
在上述优选实施例中，由于摆动反射板32与驱动电机35直接刚性连接，不需要其它任何传动机构，因此结构简单。而且，驱动电机35能够驱动摆动反射板32高速往复运动。
在另一个优选实施例中，前述驱动电机35采用扭矩电机。但是，本发明不局限于此，也可以采用其它类型的电机，例如步进电机等。
另外，具体地参见图3，其显示出了根据本发明的一个实施例的用于毫米波检查设备中的光路反射板装置60的立体结构示意图。
具体地，光路折射反射板装置60包括：反射板61；角度调节机构64，用于调节所述反射板61的角度；和高度调节机构65、67、68，用于调节所述反射板61的高度。
进一步地，高度调节机构65、67、68包括：第一螺柱68，所述第一螺柱68固定在毫米波检查设备的机架20上；第二螺柱65，所述第二螺柱65的螺旋方向与所述第一螺柱68相反；螺套67，所述螺套67的下部与第一螺柱68螺纹连接，上部与第二螺柱65螺纹连接，通过转动螺套67来调节所述反射板61的高度；和锁定螺母66，所述锁定螺母66能够锁定所述高度调节机构的高度。
另外，角度调节机构64包括：转轴64，所述反射板61通过该转轴64转动地连接在所述第二螺柱65的顶端。具体地，转轴64带有螺纹，松开时，反射板61可以在一定范围内被调整角度。
在一个优选的实施例中，光路折射反射装置60还包括限位机构62、63，用于防止所述反射板61随螺套67一同旋转。具体地，限位机构62、63包括：第一限位板62，所述第一限位板62的上端与所述反射板61连接，下端具有插槽；和第二限位板63，所述第二限位板63下部固定在毫米波检查设备的机架20上，上部***第一限位板62的下端插槽中。具体地，第二限位板63嵌入到第一限位板62的插槽中，用于防止在转动螺套67时，反射板61与之一起转动。
可以理解，转动螺套67时，第一螺柱68和第二螺柱65同时向相反方向移动，从而获得了双倍的上升或下降速度。
参考图4，其显示出根据本发明的一个实施例的用于毫米波检查设备中的辐射计接收装置80。所述辐射计接收装置80包括：呈线性排列的辐射计83；第一定位夹板82和第二定位夹板84，所述第一定位夹板82和所述第二定位夹板84通过第一紧固件(未示出，例如螺钉)将所述辐射计83固定到它们之间；和支撑架81，所述支撑架81设置用于调节所述辐射计83的角度。
具体地，所述支撑架81上设置有滑孔810，所述辐射计接收装置80还包括第二紧固件811，所述第二紧固件811穿过所述滑孔810将支撑架81与所述第一定位夹板82的弯板相连接并能够在所述滑孔810中滑动以调整所述第一定位夹板82的角度并且因此调节辐射计83相对于所述支撑架81的方位。
更进一步地，所述第一定位夹板82的弯板内侧设置有风扇91，所述弯板上设有与所述风扇91相对应的排风孔97。
另外，参考图5，其是沿图4的线A-A切割获得的剖视图。
第一定位夹板82和所述第二定位夹板84的表面上分别设置有多个散热翼板95。所述辐射计接收装置80还包括风道隔板89、90，所述风道隔板89、90用于封闭所述散热翼板95，从而形成风道。所述辐射计接收装置80还包括屏蔽筒92，所述屏蔽筒92包围所述第一定位夹板82、第二定位夹板84及辐射计83，并在所述辐射计83的接收方向上留有间隙。
可以理解，所述辐射计接收装置80还包括高频放大器85以及用于固定高频放大器85的高频放大器托架86和托架压板87，所述高频放大器托架86具有栅格结构，每一栅格安装一高频放大器85。
另外地，所述辐射计接收装置80还包括数据采集电路板88，所述数据采集电路板88安装于所述第二定位夹板84上。
可以理解，需要根据光路设计，按一定角度布置辐射计83。带散热翼板95的第一定位夹板82、第二定位夹板84与风道隔板89、90一起限定了散热风道，并通过风扇91将辐射计83产生的热量带走，从而保证辐射计83不受外界温度的影响。
参见图6是根据本发明一个实施例的毫米波检查设备中的高低温校准装置的立体结构示意图，图7是图6中的高低温校准装置的俯视局部剖视图。
如图6和图7所示，在图示优选实施例中，辐射计温度校准装置110包括常温校准机构和高温校准机构。因此，在本文中，也可以将这种辐射计温度校准装置称之为高低温校准装置。具体地，常温校准机构具有等于当前环境温度的校准温度，用于校准辐射计83的初值。高温校准机构具有高于当前环境温度的校准温度，用于与常温校准机构一起校准辐射计83的增益。
如图6和图7所示，在一个示例性的优选实施例中，常温校准机构主要包括可转动的常温校准镂空转筒组件111和第二驱动电机118。如图7所示，第二驱动电机118安装在支架129上，用于驱动常温校准镂空转筒组件111围绕辐射计83连续转动。
参见图6和图7，高温校准机构主要包括高温校准半圆板组件130和第三驱动电机142。
如图7所示，第三驱动电机142安装在支架129上，用于驱动高温校准半圆板组件130围绕辐射计83摆动。
如图6和图7所示，高温校准半圆板组件130设置在常温校准镂空转筒组件111的外侧，并与常温校准镂空转筒组件111之间具有预定的空气间隔，用于防止相互之间的热传导。当然，也可以在常温校准机构和高温校准机构之间通过绝热材料相互热隔离。
如图7所示，在另一个优选实施例中，常温校准镂空转筒组件111和高温校准半圆板组件130绕同一轴线I运动。
如图6所示，在图示的优选实施例中，支架129具有前壁和与前壁相对的后壁。前壁与后壁的一端相互连接，从而形成U形支架。
如图7所示，支架129的前壁上形成有轴承座128，转轴116通过轴承117转动地支撑在轴承座128的通孔中，用挡圈139定位所述轴承117。
在图示的优选实施例中，常温校准镂空转筒组件111的一端与一个带有法兰盘的转轴116连接。转轴116与第二驱动电机118的输出轴连接。优选地，转轴116的轴端钻有带键的轴孔，第二驱动电机118的输出轴***转轴116的轴孔中，从而实现两者之间的直接对接。
如图6所示，在一个优选实施例中，常温校准机构还包括温度传感器120，用于检测常温校准镂空转筒组件111的温度。优选地，该温度传感器120固定在支架129的顶部上。更优选地，该温度传感器120为红外温度传感器，当然，也可以为适用于本发明的其它类型的温度传感器。
如图6所示，常温校准机构还包括位置传感器121，用于检测常温校准镂空转筒组件111的初始位置。优选地，该位置传感器121为接近开关，并安装在支架129上。同时，在常温校准镂空转筒组件111上设置有与位置传感器121相对应的凸起。当常温校准镂空转筒组件111位于初始位置时，位置传感器121与所述凸起直接相对，从而来检测常温校准镂空转筒组件111的初始位置。
如图7所示，常温校准镂空转筒组件111主要包括镂空转筒112和设置在镂空转筒112内侧的吸波材料113。
如图7所示，在一个优选实施例中，常温校准机构还包括隔热器件114、115。该隔热器件114、115设置在转轴116与常温校准镂空转筒组件111的一端103之间，用于防止第二驱动电机118产生的热量经转轴116传导至常温校准镂空转筒组件111。
如图6和图7所示，高温校准半圆板组件130的一端通过扇形支架137固定在第一同步齿形带轮138上，第一同步齿形带轮138通过轴承转动地支撑在转轴116上，第一同步齿形带轮138通过同步齿形带140与第三驱动电机142的输出轴上的第二同步齿形带轮141相连接。
如图7所示，在一个优选实施例中，高温校准半圆板组件130从内向外依次包括：隔热套131、吸波材料113、导热板133、电阻加热膜134、保温材料135和隔热板136。
如图7所示，在一个优选实施例中，高温校准机构还包括温度传感器132。该温度传感器132设置在所述高温校准半圆板组件130的内部，与电阻加热膜134接触，用于检测所述高温校准半圆板组件130的温度。
如图7所示，在一个优选实施例中，高温校准机构还包括两个限位检测器122，用来限制高温校准半圆板组件130的摆动范围，使高温校准半圆板组件130在一对限位检测器122所限定的范围内摆动。优选地，限位检测器122为限位接近开关。
如图6所示，在一个优选实施例中，高温校准机构还包括张紧轮143，用于调节同步齿形带140的张力。如图6所示，张紧轮143固定在支架129上，并压在同步齿形带140上，使同步齿形带140保持绷紧的状态。
虽然结合附图对本发明进行了说明，但是附图中公开的实施例旨在对本发明优选实施方式进行示例性说明，而不能理解为对本发明的一种限制。
虽然本总体发明构思的一些实施例已被显示和说明，本领域普通技术人员将理解，在不背离本总体发明构思的原则和精神的情况下，可对这些实施例做出改变，本发明的范围以权利要求和它们的等同物限定。
Claims (17)
1.一种毫米波检查设备，其中该毫米波检查设备包括：
光学装置（30、50、60），用于接收被检测对象辐射的毫米波，并汇聚接收到的毫米波；
辐射计接收装置（80），用于接收经汇聚的毫米波能量，并将毫米波能量转换成电信号；和
成像装置，根据所述电信号，形成被检测对象的温度图像，
其中，所述毫米波检查设备还包括辐射计温度校准装置（110），所述辐射计温度校准装置（110）包括常温校准机构，所述常温校准机构的校准温度等于当前环境温度，用于校准辐射计的初值；和高温校准机构，所述高温校准机构的校准温度高于当前环境温度，用于与常温校准机构一起校准辐射计的增益，其中，
所述常温校准机构包括：围绕所述辐射计连续转动的可转动的常温校准镂空转筒组件（111），和
第二驱动电机（118），所述第二驱动电机（118）安装在支架（129）上，用于驱动常温校准镂空转筒组件（111）围绕所述辐射计连续转动；
所述高温校准机构包括：围绕所述辐射计摆动的高温校准半圆板组件（130）和第三驱动电机（142），所述第三驱动电机（142）安装在支架（129）上，用于驱动高温校准半圆板组件（130）围绕所述辐射计摆动。
2.根据权利要求1所述的毫米波检查设备，其中，所述光学装置（30、50、60）进一步包括：
摆动反射装置（30），用于接收并反射来自被检测对象的毫米波；凸透镜装置（50），用于汇聚来自所述摆动反射装置（30）的毫米波能量；和光路折射反射板装置（60），用于改变汇聚后的毫米波的传播路径。
3.根据权利要求2所述的毫米波检查设备，其中所述摆动反射装置（30）包括：
支撑架（31）；摆动反射板（32），所述摆动反射板（32）转动地支撑在所述支撑架（31）上；和第一驱动电机（35），所述第一驱动电机（35）与所述摆动反射板（32）连接，用于驱动所述摆动反射板（32）往复摆动。
4.根据权利要求3所述的毫米波检查设备，其中所述支撑架（31）包括：
第一支撑板（40）；与所述第一支撑板（40）平行且相对的第二支撑板（42）；和多个等长的定位杆（41），所述多个等长的定位杆（41）的一端与所述第一支撑板（40）连接，另一端与所述第二支撑板（42）连接，所述多个等长的定位杆（41）相互平行，并且分别垂直于所述第一和第二支撑板（40、42）。
5.根据权利要求4所述的毫米波检查设备，其中所述摆动反射装置（30）还包括：
摆动限位机构，所述摆动限位机构用于限定所述摆动反射板（32）的摆动角度范围，其包括：
摆动件（36），所述摆动件（36）的一端与所述驱动电机（35）连接；和
一对限位件（37），所述一对限位件（37）设置在所述第二支撑板（42）上，所述摆动件（36）的另一端被限制成在所述一对限位件（37）之间摆动。
6.根据权利要求5所述的毫米波检查设备，其中所述摆动反射板（32）的一端形成有转轴，所述摆动反射板（32）的转轴通过轴承（39）转动地支撑在所述第一支撑板（40）上；所述摆动反射板（32）的另一端与所述摆动件（36）连接，用以与所述摆动件同步转动。
7.根据权利要求2所述的毫米波检查设备，其中所述光路折射反射板装置（60）包括：
反射板（61）；
角度调节机构（64），用于调节所述反射板（61）的角度；和
高度调节机构（65、67、68），用于调节所述反射板（61）的高度。
8.根据权利要求7所述的毫米波检查设备，其中，所述高度调节机构（65、67、68）包括：
第一螺柱（68），所述第一螺柱（68）固定在毫米波检查设备的机械框架上；
第二螺柱（65），所述第二螺柱（65）的螺旋方向与所述第一螺柱（68）相反；
螺套（67），所述螺套（67）的下部与第一螺柱（68）螺纹连接，上部与第二螺柱（65）螺纹连接，通过转动螺套（67）来调节所述反射板（61）的高度；和
锁定螺母（66），所述锁定螺母（66）能够锁定所述高度调节机构的高度。
9.根据权利要求8所述的毫米波检查设备，其中，所述角度调节机构（64）包括：
转轴（64），所述反射板（61）通过该转轴（64）转动地连接在所述第二螺柱（65）的顶端。
10.根据权利要求8所述的毫米波检查设备，所述光路折射反射装置（60）还包括限位机构（62、63），用于防止所述反射板（61）随螺套（67）一同旋转。
11.根据权利要求10所述的毫米波检查设备，其中，所述限位机构（62、63）包括：
第一限位板（62），所述第一限位板（62）的上端与所述反射板（61）连接，下端具有插槽；和
第二限位板（63），所述第二限位板（63）下部固定在毫米波检查设备的机械框架上，上部***第一限位板（62）的下端插槽中。
12.根据权利要求2所述的毫米波检查设备，其中，所述凸透镜装置（50）为双面凸透镜。
13.根据权利要求1所述的毫米波检查设备，其中，所述辐射计接收装置（80）包括：
呈线性排列的辐射计（83）；
第一定位夹板（82）和第二定位夹板（84），所述第一定位夹板（82）和所述第二定位夹板（84）通过第一紧固件将所述辐射计（83）固定到它们之间；和
支撑架（81），所述支撑架（81）设置用于调节所述辐射计（83）的角度。
14.根据权利要求1所述的毫米波检查设备，其中，
所述常温校准镂空转筒组件（111）和所述高温校准半圆板组件（130）绕同一轴线运动，所述常温校准镂空转筒组件（111）的一端与转轴（116）连接，所述转轴（116）与所述第二驱动电机（118）的输出轴连接；所述转轴（116）的轴端设置有带键的轴孔，所述第二驱动电机（118）的输出轴***所述转轴（116）的轴孔中，从而实现两者之间的直接对接。
15.根据权利要求1所述的毫米波检查设备，其中所述毫米波检查设备还包括控制装置（150），用于控制所述毫米波检查设备的操作。
16.根据权利要求1所述的毫米波检查设备，其中所述毫米波检查设备还包括机架（20），所述光学装置（30、50、60）和所述辐射计接收装置（80）安装到所述机架（20）上。
17.根据权利要求1所述的毫米波检查设备，其中所述毫米波检查设备还包括用于获取被检测对象的光学图像的摄像机(10)。
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