CN102294332A - 金刚石线切割硅晶片的清洗方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了金刚石线切割硅晶片的清洗方法,先将硅晶片放入超声波清洗机中脱胶,再将硅晶片放入30-50℃的纯水中使用超声波进行清洗,然后将硅晶片放入加有乳酸且温度为60-80℃的的纯水槽中清洗并去除硅晶片表面残胶,而后将硅晶片放入插片机进行插片,再将硅晶片放入纯水中用超声波清洗,再将硅晶片放入温度为40-60℃的硅片清洗剂、氢氧化钠和水的混合液中用超声波清洗,再将硅晶片放入温度为20-30℃的纯水中用超声波清洗,再将硅晶片放入温度为100-140℃的甩干机中甩干。本发明能有效去除硅晶片表面脏污,达到太阳能电池用硅晶片表面要求;对金刚石线切割硅晶片进行类制绒,可提高后续电池片制绒效果,清洗废水经简单处理后可达标排放。
Description
技术领域
本发明涉及用金刚石线切割的硅晶片清洗方法。
背景技术
硅晶片清洗是指在氧化、光刻、外延、扩散和引线蒸发等工序前采用物理或化学的方法去除硅片表面沾污,以得到符合清洁度要求的硅片表面的过程。硅片表面沾污指硅片表面沉积有粒子、金属、有机物、湿气分子和自然氧化物等的一种或几种。硅晶片的真实表面由于暴露在环境气氛中发生氧化及吸附,其表面往往有一层很薄的自然氧化层,厚度为几个埃、几十个埃甚至上百埃,并且自然氧化层与环境气氛形成的外表面,也存在一些表面能级,并吸附一些污染杂质原子。完好的硅片清洗总是去除沾污在硅片表面的微粒和有害膜层,代之以氧化物的、氟化物的或其他挥发元素(或分子)的连续无害膜层,即具有原子均质的膜层。硅片表面达到原子均质的程度越高,洁净度越高。目前人们已研制了很多种可用于硅晶片清洗的工艺方法,常见的有:湿法化学清洗、超声清洗法、兆声清洗法、鼓泡清洗法、擦洗法、高压喷射法、离心喷射法、流体力学法、流体动力学法、干法清洗、微集射束流法、激光束清洗、冷凝喷雾技术、气相清洗、非浸润液体喷射法、硅晶片在线真空清洗技术、RCA标准清洗、等离子体清洗、原位水冲洗法等。上述清洗方法虽然较多,但均仅适用于使用游离式砂浆切割工艺生产的硅片。在游离式砂浆切割过程中,作为磨料的碳化硅混合在冷却液中,通过钢线的快速运动将磨料带入切割缝隙中产生切割作用,这个过程需使用大量的砂浆,切割后砂浆混合有大量的固体微粒(钢线粉末、碳化硅微粉、硅粉),比较粘稠。清洗方法存在以下问题:
一是需使用大量的有机制剂作为清洗液,用于去除硅片表面沾污,不仅增加了清洗成本,而且造成大量的水污染,影响周边环境的COD;二是工序较复杂,一般要进行预清洗和清洗两道工序,预清洗须经喷淋、快排、漂洗/溢流、脱胶、整料等5-9个槽,清洗须经纯水、有机类清洗剂、纯水等6-7个槽。
发明内容
针对上述现有技术中硅晶片清洗方法所存在的上述问题,本发明提供一种不仅清洗效果好,清洗方便,清洗液消耗少,而且不污染环境,适用于金刚石线切割的硅晶片的清洗方法。
本发明所述清洗方法是:先将硅晶片放入超声波清洗机中脱胶,再将硅晶片放入30-50℃的纯水中使用超声波进行清洗,然后将硅晶片放入加有乳酸且温度为60-80℃的的纯水槽中清洗并去除硅晶片表面残胶,而后将硅晶片放入插片机进行插片,再将硅晶片放入纯水中用超声波清洗,再将硅晶片放入温度为40-60℃的硅片清洗剂、氢氧化钠和纯水的混合液中用超声波清洗,再将硅晶片放入温度为20-30℃的纯水中用超声波清洗,再将硅晶片放入温度为100-140℃的甩干机中甩干。
所述纯水与氢氧化钠的重量比为:100公斤纯水中含有10-300克 NaOH,所述硅片清洗剂与氢氧化钠重量比最好为110~220︰1,当清洗硅晶薄片160μm或以下时,所述超声波频率为20-50KHZ;当清洗其它硅晶片(大于160μm)时,所述超声波频率不小于27 KHZ,所述硅片清洗剂密度为1.05-1.1g/ml。
本发明所述清洗方法的具体步骤是:
(1)将硅晶片放入超声波清洗机中进行脱胶,再将脱胶后的硅晶片放入温度为30-50℃的纯水中使用超声波清洗10-20分钟;然后将硅晶片放入加有3-8%wt乳酸且温度为60-80℃的纯水槽中清洗20-30分钟,再用百洁布去除硅晶片表面残胶,
(2)使用自动插片机进行插片,将叠在一起的硅晶片分开插在花篮内,
(3)将上述装有硅晶片的花篮放入纯水中,用超声波清洗5分钟,
(4)再将上述硅晶片放入温度为40-60℃的硅片清洗剂、氢氧化钠和与纯水的混合液中用超声波清洗5分钟,所述硅片清洗剂与氢氧化钠重量比为220︰1,所述100公斤纯水中氢氧化钠重量为10-150克,
(5)再将上述硅晶片放入温度为40-60℃的硅片清洗剂、氢氧化钠与纯水的混合液中用超声波清洗5分钟,所述硅片清洗剂与氢氧化钠重量比为110︰1,所述100公斤纯水中氢氧化钠重量为150-300克,用超声波清洗5分钟,
(6)再将上述硅晶片放入温度为20-30℃的纯水中,用超声波清洗5分钟,清洗3次,
(7)再将上述硅晶片放入温度为100-140℃的甩干机中甩干5-10分钟。
本发明的有益效果是;
(1)能有效去除硅晶片表面脏污,达到太阳能电池用硅晶片表面要求;
(2)对金刚石线切割硅晶片进行类制绒,可提高后续电池片制绒效果。
(3)清洗后的废水经简单处理后可达标排放。
具体实施方式
实施例1,先将用金刚石线加工的硅晶片放入超声波清洗机中进行脱胶,脱胶后将硅晶片放入温度为45℃的纯水中使用超声波清洗15分钟,超声波频率设为35 KHZ,然后将硅晶片放入在温度设定在70℃的加有4%wt乳酸的水槽中清洗25分钟,酸洗后用用百洁布去除硅晶片表面残胶,再使用自动插片机将硅晶片进行插片分开装在花篮内,每篮装25片,片厚为200μm,再将篮装硅晶片硅晶片放入纯水中用超声波清洗5分钟,超声波频率设为35KHZ。再将篮装硅晶片放入温度设定在50℃的硅片清洗剂、氢氧化钠与纯水的混合液中用超声波清洗5分钟,所述硅片清洗剂与氢氧化钠重量比为220︰1,所述100公斤纯水中含氢氧化钠重量为160克,超声波频率设为30KHZ;而后再将篮装硅晶片放入温度设定在55℃的硅片清洗剂、氢氧化钠与纯水的混合液中用超声波清洗5分钟,所述硅片清洗剂与氢氧化钠重量比为110︰1,所述100公斤纯水中含氢氧化钠重量是为260克,超声波频率设为35 KHZ,而后再将篮装硅晶片放入温度设定在25℃的纯水中,每次用超声波清洗5分钟,连续清洗3次,超声波频率设为30 KHZ;再将篮装硅晶片放入温度为120-130℃的甩干机中甩干6-8分钟制成硅晶片。
实施例2,先将用金刚石线加工的硅晶片放入超声波清洗机中进行脱胶,脱胶后将硅晶片放入温度为50℃的纯水中使用超声波清洗10分钟,超声波频率设为35 KHZ,然后将硅晶片放入在温度设定在60℃的加有7%wt乳酸的水槽中清洗20分钟,酸洗后用用百洁布去除硅晶片表面残胶,再使用自动插片机将硅晶片进行插片分开装在花篮内,每篮装25片,片厚为200μm,再将篮装硅晶片硅晶片放入纯水中用超声波清洗5分钟,超声波频率设为35KHZ。再将篮装硅晶片放入温度设定在60℃的硅片清洗剂、氢氧化钠与纯水的混合液中用超声波清洗5分钟,所述硅片清洗剂与氢氧化钠重量比为180︰1,所述100公斤纯水中含氢氧化钠重量为20克,超声波频率设为30KHZ;而后再将篮装硅晶片放入温度设定在55℃的硅片清洗剂、氢氧化钠与纯水的混合液中用超声波清洗5分钟,所述硅片清洗剂与氢氧化钠重量比为140︰1,所述100公斤纯水中含氢氧化钠重量是为140克,超声波频率设为35 KHZ,而后再将篮装硅晶片放入温度设定在25℃的纯水中,每次用超声波清洗5分钟,连续清洗3次,超声波频率设为30 KHZ;再将篮装硅晶片放入温度为120-130℃的甩干机中甩干6-8分钟制成硅晶片。
另外,当清洗硅晶薄片(薄片厚度为160μm或以下)时,其清洗方法与实施例1或实施例2相同,只是所述超声波频度调整为20-50KHZ。
Claims (2)
1. 金刚石线切割硅晶片的清洗方法,其特征在于:先将硅晶片放入超声波清洗机中脱胶,再将硅晶片放入30-50℃的纯水中使用超声波进行清洗,然后将硅晶片放入加有乳酸且温度为60-80℃的的纯水槽中清洗并去除硅晶片表面残胶,而后将硅晶片放入插片机进行插片,再将硅晶片放入纯水中用超声波清洗,再将硅晶片放入温度为40-60℃的硅片清洗剂、氢氧化钠和水的混合液中用超声波清洗,再将硅晶片放入温度为20-30℃的纯水中用超声波清洗,再将硅晶片放入温度为100-140℃的甩干机中甩干。
2.根据权利要求所述的金刚石线切割硅晶片的清洗方法,其特征在于:所述方法步骤是:
(1) 将硅晶片放入超声波清洗机中进行脱胶,再将脱胶后的硅晶片放入温度为30-50℃的纯水中使用超声波清洗10-20分钟;然后将硅晶片放入加有3-8%wt的乳酸且温度为60-80℃的纯水槽中清洗20-30分钟,再用百洁布去除硅晶片表面残胶,
(2)使用自动插片机进行插片,将叠在一起的硅晶片分开插在花篮内,
(3)将上述装有硅晶片的花篮放入纯水中,用超声波清洗5分钟,
(4)再将上述硅晶片放入温度为40-60℃的硅片清洗剂、氢氧化钠和与纯水的混合液中用超声波清洗5分钟,所述硅片清洗剂与氢氧化钠重量比为220︰1,所述100公斤纯水中含氢氧化钠重量为10-300克,
(5)再将上述硅晶片放入温度为40-60℃的硅片清洗剂、氢氧化钠与纯水的混合液中用超声波清洗5分钟,所述硅片清洗剂与氢氧化钠重量比为110︰1,所述100公斤纯水中含氢氧化钠重量为10-300克,
(6)再将上述硅晶片放入温度为20-30℃的纯水中,用超声波清洗5分钟,清洗3次,
(7)再将上述硅晶片放入温度为100-140℃的甩干机中甩干5-10分钟。
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