CN102098891A - 具测试结构的防水电子装置及漏水测试治具和测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明是有关于一种具测试结构的防水电子装置及漏水测试治具和测试方法，其中的一种具测试结构的防水电子装置，主要包含测试孔、密封结构及固定结构。测试孔设于防水电子装置的壳体，用以通入测试流体以进行漏水测试。密封结构设于壳体或漏水测试治具，可用以容置密封元件，当进行漏水测试时，让防水电子装置得以和漏水测试治具之间形成密闭。当进行漏水测试时，固定结构可用以让漏水测试治具固定至防水电子装置。本发明可适用于开发阶段、生产过程、或者贩售后等各种阶段进行漏水的测试，有效地、快速地且经济地找出漏水位置，以厘清漏水问题的发生原因，而能即时寻找补救措施，非常适于实用。

Description

具测试结构的防水电子装置及漏水测试治具和测试方法

技术领域

本发明涉及一种防水电子装置，特别是涉及一种具测试结构的防水电子装置，可配合漏水测试治具以进行漏水测试。

背景技术

数字相机或摄影机已逐渐成为人们不可或缺的工具，其应用范围愈来愈广泛，因此，人们对其规格要求也愈多。防水功能即是其中一种，因为，具防水功能的相机或摄影机可适用于恶劣天气，或者可用于水中进行照相或摄影。因此，防水相机或摄影机的最基本性能要求即是不漏水的壳体。再者，由于人们对于数字相机或摄影机普遍要求其能达到轻薄短小，这将使得相机或摄影机在结构方面变得薄弱，更不易达到防水的要求。

一台防水相机或摄影机从开发、生产一直到使用者的操作使用，都有可能碰到漏水问题。一旦发现有漏水情形，则重要且困难的部分就是找出漏水的地方。传统对于防水相机或摄影机的制造，即使在开发阶段具有漏水的测试方法，但是，一旦进入量产甚至贩卖之后，如果发现有漏水情形，则几乎没有方法可进行漏水测试，更遑论进行修改或填补。再者，传统对于相机或摄影机的漏水测试，大都属于一种破获性测试方法，因而会对相机或摄影机机壳本身造成损坏。换句话说，每作一次测试即会消耗一台相机或摄影机。因此，此种破坏性测试方法仅能适用于开发阶段，而无法使用于已经贩售后的相机或摄影机。

鉴于传统对于防水相机或摄影机缺乏一套有效的漏水测试方法及配合的治具，因此亟需提出一种新颖机制，可用于开发、生产及使用阶段中进行漏水测试。

由此可见，上述现有的防水电子装置在结构与使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品又没有适切结构能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新型的具测试结构的防水电子装置及漏水测试治具和测试方法，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前业界极需改进的目标。

有鉴于上述现有的防水电子装置存在的缺陷，本发明人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，并配合学理的运用，积极加以研究创新，以期创设一种新型的具测试结构的防水电子装置及漏水测试治具和测试方法，能够改进一般现有的防水电子装置，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经过反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本发明。

发明内容

本发明的主要目的在于，克服现有的防水电子装置存在的缺陷，而提供一种新型的具测试结构的防水电子装置及漏水测试治具和测试方法，所要解决的技术问题是使其可适用于开发阶段、生产过程、或者贩售后等各种阶段进行漏水的测试，有效地、快速地且经济地找出漏水位置，以厘清漏水问题的发生原因，而能即时寻找补救措施，非常适于实用。

本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种具测试结构的防水电子装置，其包括：一测试孔，设于该防水电子装置的壳体，用以通入测试流体以进行漏水测试；及一固定结构，当进行漏水测试时，用以让一漏水测试治具固定至该防水电子装置。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

前述的具测试结构的防水电子装置，其中所述的防水电子装置为照相机或摄影机。

前述的具测试结构的防水电子装置，其更包含一密封(sealing)结构，设于该壳体或该漏水测试治具，用以容置一密封元件，当进行漏水测试时，使得该防水电子装置得以和该漏水测试治具之间形成密闭。

前述的具测试结构的防水电子装置，其中所述的测试孔为一麦克风孔。

前述的具测试结构的防水电子装置，其中所述的测试孔未穿透该壳体，当进行漏水测试时才将该测试孔予以穿孔，使其穿透该壳体。

前述的具测试结构的防水电子装置，其更包含一防水透气布，用以覆盖该测试孔。

前述的具测试结构的防水电子装置，其包含一凹槽，设于该测试孔周围，用以容置该防水透气布。

前述的具测试结构的防水电子装置，其中所述的密封元件为一0型环(0-ring)。

前述的具测试结构的防水电子装置，其中所述的固定结构包含多个螺丝孔，可藉由多个螺丝将该漏水测试治具锁附至该防水电子装置。

本发明的目的及解决其技术问题还采用以下技术方案来实现。依据本发明提出的一种适用于防水电子装置的漏水测试治具，其包括：一通道壳体，其内提供一流体通道，该通道壳体的第一端用以输入测试流体，该通道壳体的第二端用以让该测试流体得以藉由该防水电子装置的一测试孔而通入该防水电子装置内；及一固定部件，连接于该通道壳体的第二端，当进行漏水测试时，用以让该漏水测试治具固定至该防水电子装置。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

前述的适用于防水电子装置的漏水测试治具，其中所述的通道壳体的第二端更包含至少一沟槽，当进行漏水测试时，用以置放该密封元件。

前述的适用于防水电子装置的漏水测试治具，其中所述的通道壳体的第二端更包含至少一突出尖端，当进行漏水测试时，用以穿透该测试孔。

前述的适用于防水电子装置的漏水测试治具，其更含一调节阀，设于该通道壳体的第一端，用以调节该测试流体通过该流体通道的流量。

本发明的目的及解决其技术问题另外再采用以下技术方案来实现。依据本发明提出的一种适用于防水电子装置的漏水测试方法，其特征在于其包括：提供一压力密闭室，其初始压力高于大气压力；将该防水电子装置放入该压力密闭室内并停留一预设期间；于经过该预设期间后，检测该压力密闭室的压力是否降低且低于一预设临界压力；如果低于该预设临界压力，则于该防水电子装置从该压力密闭室取出之后，藉由该防水电子装置的一测试孔而通入测试流体至该防水电子装置内；及观测该测试流体从该防水电子装置的壳体溢出的位置，以得知该防水电子装置的漏水位置。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

前述的适用于防水电子装置的漏水测试方法，其中所述的防水电子装置为照相机或摄影机。

前述的适用于防水电子装置的漏水测试方法，其中于通入该测试流体之前，更包含将该测试孔予以穿孔，使其穿透该壳体。

前述的适用于防水电子装置的漏水测试方法，其中所述的测试流体包含测试气体。

前述的适用于防水电子装置的漏水测试方法，其中于通入该测试气体时，更包含将该防水电子装置放入水中，藉以观测溢出的气泡。

前述的适用于防水电子装置的漏水测试方法，其中所述的测试流体包含感光剂。

前述的适用于防水电子装置的漏水测试方法，其中更包含使用一探测灯，藉以观测溢出的感光剂。

本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。由以上可知，为达到上述目的，本发明提供了本发明实施例之一，其揭露一种具测试结构的防水电子装置，主要包含测试孔、密封结构及固定结构。测试孔设于防水电子装置的壳体，用以通入测试流体以进行漏水测试。密封结构设于壳体或漏水测试治具，可用以容置密封元件，当进行漏水测试时，让防水电子装置得以和漏水测试治具之间形成密闭。当进行漏水测试时，固定结构可用以让漏水测试治具固定至防水电子装置。

根据本发明另一实施例，其揭露一种适用于防水电子装置的漏水测试治具，主要包含通道壳体及固定部件。通道壳体内提供一流体通道，该通道壳体的第一端用以输入测试流体，第二端则用以让测试流体得以藉由防水电子装置的测试孔而通入防水电子装置内。固定部件连接于通道壳体的第二端，当进行漏水测试时，用以让漏水测试治具固定至防水电子装置。

根据本发明又一实施例，其揭露一种适用于防水电子装置的漏水测试方法。首先，提供一压力密闭室，其初始压力高于大气压力。将防水电子装置放入压力密闭室内并停留一预设期间，并于经过预设期间后，检测压力密闭室的压力是否降低且低于一预设临界压力。如果低于预设临界压力，则于防水电子装置从压力密闭室取出之后，藉由防水电子装置的一测试孔而通入测试流体至防水电子装置内。接着，观测测试流体从防水电子装置的壳体溢出的位置，以得知防水电子装置的漏水位置。

借由上述技术方案，本发明具测试结构的防水电子装置及漏水测试治具和测试方法至少具有下列优点及有益效果：本发明可适用于开发阶段、生产过程、或者贩售后等各种阶段进行漏水的测试，有效地、快速地且经济地找出漏水位置，以厘清漏水问题的发生原因，而能即时寻找补救措施，非常适于实用。

综上所述，一种具测试结构的防水电子装置，主要包含测试孔、密封结构及固定结构。测试孔设于防水电子装置的壳体，用以通入测试流体以进行漏水测试。密封结构设于壳体或漏水测试治具，可用以容置密封元件，当进行漏水测试时，让防水电子装置得以和漏水测试治具之间形成密闭。当进行漏水测试时，固定结构可用以让漏水测试治具固定至防水电子装置。本发明在技术上有显著的进步，并具有明显的积极效果，诚为一新颖、进步、实用的新设计。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。

附图说明

图1A是本发明实施例的具测试结构的防水电子装置的俯视图。

图1B是沿图1A的剖面线B-B的侧面剖视图。

图1C是图1B中的局部放大图。

图1D至图1E是本发明其他实施例的测试结构示意图。

图2A是本发明实施例适用于防水电子装置的漏水测试治具的立体图。

图2B是将漏水测试治具固定至防水电子装置的壳体后的剖视图。

图2C至图2F是本发明其他实施例的漏水测试治具的剖视图。

图3是本发明实施例的适用于防水电子装置的漏水测试流程图。

10：壳体

11：防水透气布

12：测试孔

12A：麦克风装置

13：凹槽

14A：密封结构

14B：密封元件

16A：固定结构

16B：螺丝

20：漏水测试治具

20A：通道壳体

20B：流体通道

20C：通道壳体的第一端

20D：通道壳体的第二端

20E：固定部件

20F：螺丝孔

20G：突出尖端

20H：调节阀

21：漏水测试治具

22：漏水测试治具

23：漏水测试治具

31-35：步骤

具体实施方式

为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的具测试结构的防水电子装置及漏水测试治具和测试方法其具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。

有关本发明的前述及其他技术内容、特点及功效，在以下配合参考图式的较佳实施例的详细说明中将可清楚的呈现。为了方便说明，在以下的实施例中，相同的元件以相同的编号表示。

图1A显示本发明实施例的具测试结构的防水电子装置的俯视图，图1B显示沿剖面线B-B的侧视剖面视图，而图1C则显示图1B中的局部放大图。为显现本实施例的特征，防水电子装置的壳体10表面及内部的各结构均予以省略，仅显示与本实施例有关的结构。在本实施例中，防水电子装置为一防水相机或摄影机，然而，本实施例也可适用于各种电子装置。

在本实施例中，防水电子装置的测试结构作为漏水测试之用。测试结构主要包含一测试孔12，设于壳体10的表面。测试孔12主要用以通入测试流体(亦即，气体或液体)，以进行漏水测试。关于如何通入测试流体及如何进行漏水测试，稍后将会于本说明书详加说明。如图1B或图1C所示的测试孔12，其尚未穿透壳体10，仅在进行漏水测试时才会将测试孔12予以穿孔，使其穿透壳体10。然而，在其他实施例中，也可以于制造壳体10时，即制备已穿透壳体的测试孔12。本实施例的测试孔12的数量为一个，然而，可视需要情形使用多个测试孔。此外，测试孔12的形状不一定为圆形，其他形状也可适用。

图1D显示本发明另一实施例的测试结构。在本实施例中，测试孔12为一麦克风孔，其对应于一麦克风装置12A。另外，使用一防水透气布11，其形状大致为圆形，大小约相当于测试孔12周围的凹槽13。防水透气布11为一种可透过(较小)气体分子但不会透过(较大)水分子的一种材质。上述凹槽13可容置防水透气布11，因而得以覆盖测试孔12，使得防水电子装置于使用时不会经由测试孔12进水。然而，防水透气布11也可设于壳体10内部。

测试孔12周围设有密封(sealing)结构14A，可用以容置密封元件(未显示于图1A/图1B/图1C/图1D)，其可以为一垫圈(例如O型环(O-ring))。在本实施例中，密封结构14A为(但不限定为)闭合(close)沟槽，且形状也不限定为如图所示的圆形。藉由密封结构14A及密封元件，当进行漏水测试时，可让防水电子装置得以和一漏水测试治具(未显示于图1A/图1B/图1C/图1D)之间形成密闭。关于密封元件及漏水测试治具，稍后将会于本说明书详加说明。在另一实施例中，如图1E所示，密封结构14A不是设于壳体10，而是设于漏水测试治具上，如此可使壳体10较为平坦，增加可利用空间。

防水电子装置的测试结构还包含有固定结构16A，设于测试孔12及密封结构14A的周围。当进行漏水测试时，用以让漏水测试治具固定至防水电子装置。在本实施例中，固定结构16A为多个螺丝孔，其可配合多个螺丝将漏水测试治具锁附至防水电子装置。然而，在其他实施例中，可使用螺丝/螺丝孔以外的其他固定机制来代替。在本实施例中，固定结构16A的内壁并无螺纹，当螺丝锁附时，才会于固定结构16A的内壁留下螺纹痕迹。

当防水电子装置未进行漏水测试时，如果测试孔12为已穿孔，则可使用一防水透气布11(图1D)，覆盖已穿孔的测试孔12，使得防水电子装置于使用时不会经由测试孔12进水。

图2A显示本发明实施例的适用于防水电子装置的漏水测试治具20的立体视图，并同时显示了密封元件(例如O型环)14B，图2B则显示将漏水测试治具20固定至防水电子装置的壳体10后的剖面视图。在本实施例中，漏水测试治具20主要包含一通道壳体20A，其内提供流体通道20B。通道壳体20A的第一端20C用以输入测试流体；通道壳体20A的第二端20D用以让测试流体得以藉由防水电子装置的测试孔12而通入防水电子装置的壳体10内部。此外，漏水测试治具20还包含固定部件20E，例如垂直于流体通道20B的平板，其连接于通道壳体20A的第二端20D。当进行漏水测试时，先将测试孔12穿孔，还可使用防水透气布11覆盖测试孔12，再以螺丝16B穿过固定部件20E的螺丝孔20F而锁附于壳体10的固定结构(例如螺丝孔)16A，用以让漏水测试治具20固定至防水电子装置的壳体10。

图2C显示漏水测试治具20的另一种实施态样。在本实施例中，测试孔12为一麦克风孔，其对应于麦克风装置12A。另外，使用防水透气布11以覆盖测试孔12。

图2D显示本发明另一实施例的漏水测试治具21的剖面视图。本实施例的漏水测试治具21和图2A/图2B所示的漏水测试治具20的结构类似，不同的地方在于，密封结构14A设于漏水测试治具21上。

图2E显示本发明又一实施例的漏水测试治具22的剖面视图。本实施例的漏水测试治具22和图2A/图2B所示的漏水测试治具20的结构类似，不同的地方在于，本实施例的漏水测试治具22于通道壳体20A的第二端20D额外增加一突出尖端20G，当降行漏水测试时，以突出尖端20G将(尚未穿透之)测试孔12予以穿透。

图2F显示本发明再一实施例的漏水测试治具23的剖面视图。本实施例的漏水测试治具23和图2A/图2B所示的漏水测试治具20的结构类似，不同的地方在于，本实施例的漏水测试治具23于通道壳体20A的第一端20C额外增加一调节阀20H，用以调节测试流体通过流体通道20B的流量。

根据上述的防水电子装置的测试结构及漏水测试治具20/21/22/23，即可进行防水电子装置的漏水测试。图3显示本发明实施例的适用于防水电子装置的漏水测试流程图。首先，于步骤31中进行压降测试。将防水电子装置放置于压力密闭室内停留一段预设时间，其中，压力密闭室的初始压力高于大气压力。于经过预设期间后，检测压力密闭室内的压力是否有降低(步骤32)，例如压力低于一预设临界压力。如果没有压降，则认定防水电子装置没有漏水(步骤33)。反之，如果有降低，则将防水电子装置从压力密闭室取出，并将前述的漏水测试治具20/21/22装设于防水电子装置的测试结构。接着，从漏水测试治具20/21/22的第一端通入测试流体，其经由测试孔12而进入防水电子装置的壳体10内部(步骤34)。如果测试孔12尚未经穿孔，则可于此步骤34之前将测试孔12予以穿孔。接着，于步骤35，观测测试流体从防水电子装置的壳体10溢出的位置，以得知防水电子装置的漏水位置。针对漏水位置进行适当的填补，或者修改壳体10的设计。于填补、修改后，可再次进行压降测试(步骤31)或者直接通入测试流体(步骤34)，直到确定完全没有漏水为止。

在一实施例中，通入的测试流体为气体(例如一般的空气)(步骤34)。在此实施例中，于通入测试气体之前、同时或之后，将防水电子装置放入水中，藉以观测溢出的气泡，以得知防水电子装置的漏水位置(步骤35)。

在另一实施例中，通入的流体为感光剂(例如紫外线(UV)感光剂)(步骤34)。在此实施例中，并不需要将防水电子装置放入水中；而是使用一探测灯(例如UV探测灯)，用以观测溢出的感光剂，以得知防水电子装置的漏水位置(步骤35)。

上述各实施例可适用于开发阶段、生产过程、或者贩售后，用以厘清漏水情形的发生原因。例如，于开发阶段，可用以厘清漏水问题究竟为模具设计问题、材料问题或组装问题，可以大量节省开发时间。于生产过程中，可即时改善漏水缺陷，避免将来大量成品的修理、退货或回收。于贩售之后，则可用以了解漏水问题究竟为防水电子装置本身结构受损或者为使用者人为不当操作所造成。

以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。

Claims (20)

1.一种具测试结构的防水电子装置，其特征在于其包括：

一测试孔，设于该防水电子装置的壳体，用以通入测试流体以进行漏水测试；及

一固定结构，当进行漏水测试时，用以让一漏水测试治具固定至该防水电子装置。

2.根据权利要求1所述的具测试结构的防水电子装置，其特征在于其中所述的防水电子装置为照相机或摄影机。

3.根据权利要求1所述的具测试结构的防水电子装置，其特征在于其更包含一密封结构，设于该壳体或该漏水测试治具，用以容置一密封元件，当进行漏水测试时，使得该防水电子装置得以和该漏水测试治具之间形成密闭。

4.根据权利要求1所述的具测试结构的防水电子装置，其特征在于其中所述的测试孔为一麦克风孔。

5.根据权利要求1所述的具测试结构的防水电子装置，其特征在于其中所述的测试孔未穿透该壳体，当进行漏水测试时才将该测试孔予以穿孔，使其穿透该壳体。

6.根据权利要求1所述的具测试结构的防水电子装置，其特征在于其更包含一防水透气布，用以覆盖该测试孔。

7.根据权利要求6所述的具测试结构的防水电子装置，其特征在于其包含一凹槽，设于该测试孔周围，用以容置该防水透气布。

8.根据权利要求3所述的具测试结构的防水电子装置，其特征在于其中所述的密封元件为一O型环。

9.根据权利要求1所述的具测试结构的防水电子装置，其特征在于其中所述的固定结构包含多个螺丝孔，可藉由多个螺丝将该漏水测试治具锁附至该防水电子装置。

10.一种适用于防水电子装置的漏水测试治具，其特征在于其包括：

一通道壳体，其内提供一流体通道，该通道壳体的第一端用以输入测试流体，该通道壳体的第二端用以让该测试流体得以藉由该防水电子装置的一测试孔而通入该防水电子装置内；及

一固定部件，连接于该通道壳体的第二端，当进行漏水测试时，用以让该漏水测试治具固定至该防水电子装置。

11.根据权利要求10所述的适用于防水电子装置的漏水测试治具，其特征在于其中所述的通道壳体的第二端更包含至少一沟槽，当进行漏水测试时，用以置放该密封元件。

12.根据权利要求10所述的适用于防水电子装置的漏水测试治具，其特征在于其中所述的通道壳体的第二端更包含至少一突出尖端，当进行漏水测试时，用以穿透该测试孔。

13.根据权利要求10所述的适用于防水电子装置的漏水测试治具，其特征在于其更含一调节阀，设于该通道壳体的第一端，用以调节该测试流体通过该流体通道的流量。

14.一种适用于防水电子装置的漏水测试方法，其特征在于其包括：

提供一压力密闭室，其初始压力高于大气压力；

将该防水电子装置放入该压力密闭室内并停留一预设期间；

在经过该预设期间后，检测该压力密闭室的压力是否降低且低于一预设临界压力；

如果低于该预设临界压力，则于该防水电子装置从该压力密闭室取出之后，藉由该防水电子装置的一测试孔而通入测试流体至该防水电子装置内；及

观测该测试流体从该防水电子装置的壳体溢出的位置，以得知该防水电子装置的漏水位置。

15.根据权利要求14所述的适用于防水电子装置的漏水测试方法，其特征在于其中所述的防水电子装置为照相机或摄影机。

16.根据权利要求14所述的适用于防水电子装置的漏水测试方法，其特征在于其中于通入该测试流体之前，更包含将该测试孔予以穿孔，使其穿透该壳体。

17.根据权利要求14所述的适用于防水电子装置的漏水测试方法，其特征在于其中所述的测试流体包含测试气体。

18.根据权利要求17所述的适用于防水电子装置的漏水测试方法，其特征在于其中于通入该测试气体时，更包含将该防水电子装置放入水中，藉以观测溢出的气泡。

19.根据权利要求14所述的适用于防水电子装置的漏水测试方法，其特征在于其中所述的测试流体包含感光剂。

20.根据权利要求19所述的适用于防水电子装置的漏水测试方法，其特征在于其更包含使用一探测灯，藉以观测溢出的感光剂。

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