CN102043104B - 单片测试装置及其测试方法 - Google Patents

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Abstract

一种单片测试装置及其测试方法，所述单片测试装置用于对单片基板上的面板进行测试，其中所述测试装置和方法能够执行单片测试，而不考虑形成在所述单片基板上的面板的数目。所述单片测试装置包括信号供应器和连接板。所述信号供应器用于产生对所述面板进行测试的多个信号组和多个假信号。所述连接板用于将所述信号组中的第一信号组传输至所述面板中与所述第一信号组相对应的第一面板，并且当所述面板的数目大于所述信号组的数目时，将所述多个信号组中至少一个信号组的一信号传输至所述面板中的至少两个。所述单片测试装置可以包括用于控制所述连接板的连接控制器。

Description

单片测试装置及其测试方法
技术领域
本发明的方面涉及单片测试装置及其测试方法。
背景技术
一般而言，在一个基板(下文称为“单片基板”)上形成多个有机发光显示器的面板之后，对面板进行划片以分成独立的面板。在从单片基板切割或分离面板之前，对片结构执行诸如面板单元的发光、测试过程、面板单元的老化过程等等的诊断。在以上提及的过程中，通过使用单片基板侧面的公共导线给单片基板提供信号，以便驱动每个面板。
然而，随着产品开发模型改变，形成在单片基板上的面板的尺寸和数目也改变。由于已知的单片测试装置被设计成测试具有有限尺寸和数目的面板的单片基板，因此当面板的尺寸和数目改变时，可能很难对单片基板进行测试。进一步，通过改进或重新设计测试装置来解决该问题会增加制造成本。
在此背景部分中公开的上述信息仅仅用于增强对本发明的背景的理解，因此它可以包含不构成本国本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
发明内容
本发明的实施例提供一种单片测试装置及其测试方法，可以对单片基板进行测试，而不考虑形成在单片基板上的面板的数目。
根据本发明的一个实施例，提供一种单片测试装置。所述单片测试装置被配置为对包括多个面板的单片基板进行测试。所述单片测试装置包括信号供应器和连接板。所述信号供应器用于产生对所述多个面板进行测试的多个信号组和多个假信号。所述连接板用于将所述多个信号组中的第一信号组传输至所述多个面板中与所述第一信号组相对应的第一面板，并且当所述多个面板的数目大于所述多个信号组的数目时，将所述多个信号组中至少一个信号组的一信号传输至所述多个面板中的至少两个面板。
所述多个信号组中的每一个可以包括红色数据信号、绿色数据信号、蓝色数据信号、栅极信号以及电源信号。
所述多个假信号可以与所述红色数据信号、所述绿色数据信号、所述蓝色数据信号以及所述栅极信号相对应。
所述连接板可以进一步用于将所述多个假信号传输至所述至少两个面板中的一个，用于将所述至少一个信号组的红色数据信号、绿色数据信号、蓝色数据信号以及栅极信号传输至所述至少两个面板中的另外一个，并且用于将所述至少一个信号组的电源信号传输至所述至少两个面板中的所述一个和所述另外一个。
所述连接板可以在所述多个面板的数目不大于所述多个信号组的数目时，仅仅输出所述多个信号组中与所述多个面板相对应的信号组。
根据本发明的另一个实施例，提供一种单片测试装置的测试方法。所述测试方法包括：产生多个信号组和多个假信号，用于对包括多个面板的单片基板进行测试；将所述多个信号组中的第一信号组传输至所述多个面板中与所述第一信号组相对应的第一面板；以及当所述多个面板的数目大于所述多个信号组的数目时，将所述多个信号组中至少一个信号组的一信号传输至所述多个面板中的至少两个面板。
所述多个信号组中的每一个可以包括红色数据信号、绿色数据信号、蓝色数据信号、栅极信号以及电源信号。
所述测试方法可以进一步包括以与所述红色数据信号、所述绿色数据信号、所述蓝色数据信号以及所述栅极信号相对应的电平产生所述多个假信号。
将所述至少一个信号组的一信号传输至所述多个面板中的至少两个面板可以包括：将所述多个假信号传输至所述至少两个面板中的一个；将所述至少一个信号组的红色数据信号、绿色数据信号、蓝色数据信号以及栅极信号传输至所述至少两个面板中的另外一个；以及将所述至少一个信号组的电源信号传输至所述至少两个面板中的所述一个和所述另外一个。
所述测试方法可以进一步包括当所述多个面板的数目不大于所述多个信号组的数目时，仅仅输出所述多个信号组中与所述多个面板相对应的信号组。
根据本发明的又一个实施例，提供一种单片测试装置。所述单片测试装置被配置为对包括多个面板的单片基板进行测试。所述单片测试装置包括：信号供应器、连接板和连接控制器。所述信号供应器用于产生对所述多个面板进行测试的多个信号组和多个假信号。所述连接板用于将所述多个信号组和所述多个假信号传输至所述多个面板。所述连接控制器用于控制所述连接板。所述连接控制器被配置为控制所述连接板以将所述多个信号组中的第一信号组传输至所述多个面板中与所述第一信号组相对应的第一面板，并且在所述多个面板的数目大于所述多个信号组的数目时，将所述多个信号组中至少一个信号组的一信号传输至所述多个面板中的至少两个面板。
所述多个信号组中的每一个可以包括红色数据信号、绿色数据信号、蓝色数据信号、栅极信号以及电源信号。
所述多个假信号可以与所述红色数据信号、所述绿色数据信号、所述蓝色数据信号以及所述栅极信号对应。
所述连接控制器可以进一步被配置为控制所述连接板以将所述多个假信号传输至所述至少两个面板中的一个，将所述至少一个信号组的红色数据信号、绿色数据信号、蓝色数据信号以及栅极信号传输至所述至少两个面板中的另外一个，以及将所述至少一个信号组的电源信号传输至所述至少两个面板中的所述一个和所述另外一个。
所述连接控制器可以进一步被配置为在所述多个面板的数目不大于所述多个信号组的数目时，控制所述连接板以仅仅输出所述多个信号组中与所述多个面板对应的信号组。
如上所述，根据本发明的实施例，可以对单片基板进行测试，而不考虑形成在所述单片基板上的面板的数目。
附图说明
附图与说明书一起图示说明本发明的示例性实施例，并且与描述一起用于解释本发明的原理。
图1是示出根据本发明实施例的单片测试装置的图；以及
图2至5是用于图示说明根据本发明实施例的单片测试装置的测试方法的图。
具体实施方式
在以下描述中，仅通过图示说明的方式示出并参照附图描述本发明的某些示例性实施例。本领域技术人员会认识到，可以在不背离本发明的精神或范围的情况下，以各种不同的方式对所描述的实施例进行改进。相应地，附图和描述在本质上被认为是示例性的而不是限制性的。在整个说明书中，相同的附图标记表示相同的元件。
在此说明书和接下来的权利要求书中，当描述一元件被“连接”至另一元件时，该元件可以“直接连接”至另一元件，或者通过第三元件“电连接”至另一元件。另外，除非明确地做相反的描述，否则单词“包括”及其变体应当被理解为暗指包含所列出的元件，但不排除任何其它的元件。
图1是示出根据本发明实施例的单片测试装置的图。
参见图1，根据本发明实施例的单片测试装置包括用于测试单片基板300的信号供应器100、连接板200以及连接控制器400。信号供应器100产生多个测试信号，用于测试构成单片基板300的多个单元(面板)。信号供应器100的输出引脚的数目在信号供应器100的设计阶段确定。从信号供应器100的每个输出引脚输出一个信号，并且在本发明的实施例中，为了描述方便起见，示出具有28个输出引脚的信号供应器100，但本发明并不限于此。
信号供应器100产生多个数据信号。在一个实施例中，信号供应器100用于测试彩色显示面板，并且信号包括多个数据信号VR1至VR4、VG1至VG4和VB1至VB4、第一电源信号ELVDD、多个第二电源信号ELVSS1至ELVSS4以及多个栅极信号VGATE1至VGATE4。当对单片基板进行测试时，第一电源信号ELVDD选择性地被供应给单片基板300的多个单元之一。可以通过检测第一电源信号ELVDD被传输至其中的线路的电流，来确定被供应有第一电源信号ELVDD的单元是否错误。
多个数据信号VR1至VR4、VG1至VG4和VB1至VB4包括：供应给构成单片基板300的多个单元中相应单元的多个红色子像素的红色数据信号VR1至VR4，供应给构成单片基板300的多个单元中相应单元的多个绿色子像素的绿色数据信号VG1至VG4，以及供应给构成单片基板300的多个单元中相应单元的多个蓝色子像素的蓝色数据信号VB1至VB4。多个第二电源信号ELVSS1至ELVSS4是用于驱动构成单片基板300的多个单元中相应单元的多个像素的信号。多个栅极信号VGATE1至VGATE4是用于将相应的数据信号传输至构成单片基板300的多个单元中相应单元的多个像素的信号。
信号供应器100进一步可以输出多个假信号，例如图1中的假信号VDM1至VDM4。在本发明的实施例中，可以通过使用多个假信号VDM1至VDM4，来测试包括比信号供应器100输出的测试信号的组数更多的单元的单片基板300。下文中，通过将信号供应器100输出的多个测试信号中用于测试一个单元(下文称为“面板”)的多个测试信号定义为一个信号组来描述。例如，第一信号组包括红色数据信号VR1、绿色数据信号VG1、蓝色数据信号VB1、第二电源信号ELVSS1以及栅极信号VGATE1，而第二信号组包括红色数据信号VR2、绿色数据信号VG2、蓝色数据信号VB2、第二电源信号ELVSS2以及栅极信号VGATE2。也就是说，根据本发明实施例的信号供应器100产生四个信号组(例如，第一信号组包括红色数据信号VR1、绿色数据信号VG1、蓝色数据信号VB1、第二电源信号ELVSS1以及栅极信号VGATE1，并且第二信号组、第三信号组和第四信号组分别包括相应的类似信号)和四个假信号VDM1至VDM4。
连接板200由连接控制器400控制，以向构成单片基板300的多个面板中的相应面板传输多个信号组。连接控制器400根据多个信号组的数目和构成单片基板300的多个面板的数目，确定连接板200输出的信号组。其详细的描述将参照图2至图5给出。
图2至图5是用于图示说明根据本发明实施例的单片测试装置的测试方法的图，在此情况下，对包括彩色显示面板的片进行测试。这里，图2是用于图示说明当在单片基板300上形成4个面板时连接板200与单片基板300之间的连接关系的示意图，并且图3是图2所示第一面板300_1中包括的红色子像素的等效电路图。图4示出在单片基板300′上形成三个面板的情况，并且图5示出在单片基板300″上形成五个面板的情况。为了描述方便起见，仅示出图2至图5所示的一个阵列(例如，一列)的面板，但本发明并不限于此，而且可以包括多个阵列(例如，多列)。
首先，参见图2，在单片基板300上形成第一面板300_1至第四面板300_4以及用于向第一面板300_1至第四面板300_4传输信号的多个焊盘。第一面板300_1至第四面板300_4各自包括多个像素PX。像素PX中的每一个包括3个子像素，即红色子像素PX_R、绿色子像素PX_G以及蓝色子像素PX_B。
第一面板300_1中包括的像素PX中的每个子像素，例如红色子像素PX_R，均包括有机发光二极管(OLED)、驱动晶体管M1、电容器Cst以及开关晶体管M2，如图3所示。子像素还可以包括位于驱动晶体管M1与OLED之间的发光控制晶体管。驱动晶体管M1在其源极端接收第一电源信号ELVDD，并且在其漏极端连接至OLED的阳极端。驱动晶体管M1在其栅极端连接至开关晶体管M2的漏极端。驱动晶体管M1允许电流IOLED(其幅度依赖于施加在栅极端与源极端之间的电压而改变)流向OLED。
开关晶体管M2在其栅极端接收第一栅极信号VGATE1，并且在其源极端接收第一红色数据信号VR1。开关晶体管M2响应于第一栅极信号VGATE1执行开关操作。当开关晶体管M2导通时，与第一红色数据信号VR1相对应的电压被传输至驱动晶体管M1的栅极端。
电容器Cst连接在驱动晶体管M1的源极端与栅极端之间。电容器Cst充有施加到驱动晶体管M1的栅极端的数据电压，并且即使在开关晶体管M2断开之后仍然维持该电压。OLED在其阴极端接收第二电源信号ELVSS1。OLED发出强度依赖于驱动晶体管M1所供应的电流IOLED而改变的光。
当构成单片基板300的面板的数目与信号组的数目相对应时，连接控制器400(图1所示)控制连接板200输出第一至第四信号组，如图2所示。更具体地说，连接控制器400控制连接板200将第一信号组，即红色数据信号VR1、绿色数据信号VG1、蓝色数据信号VB1、第二电源信号ELVSS1以及栅极信号VGATE1，从连接板200传输至与第一面板300_1相连的多个焊盘P1至P5。采用这种配置，连接控制器400控制连接板200以将第二至第四信号组分别传输至与第二面板300_2至第四面板300_4相连的多个焊盘，其中第二面板300_2至第四面板300_4与第二至第四信号组相对应。图2中，连接控制器400(图1所示)控制连接板200不向任何焊盘传输多个假信号VDM1至VDM4。
在图4中，单片基板300′的面板的数目小于信号组的数目。相应地，连接控制器400(图1所示)控制连接板200仅仅输出与面板的数目相对应的信号组。更具体地说，连接控制器400控制连接板200将第一信号组的每个信号从连接板200传输至与第一面板300_1相连的多个焊盘P11至P15。另外，连接控制器400控制连接板200将第二信号组和第三信号组的信号分别传输至与第二信号组和第三信号组相对应的第二面板300_2和第三面板300_3的多个焊盘。这里，连接控制器400(图1所示)控制连接板200不向任何焊盘传输第四信号组和多个假信号VDM1至VDM4。
在图5中，单片基板300″的面板的数目大于信号组的数目。也就是说，在图5的实施例中有五个面板300_1至300_5。相应地，连接控制器400控制连接板200将第一至第四信号组分别传输至单片基板300″的面板300_1至300_4中的各个面板。另外，第一至第四信号组中至少之一(在该例子中是第四信号组)的一个或多个信号以及多个假信号VDM1至VDM4，被传输至面板300_5。更具体地说，连接控制器400控制连接板200将第一信号组的每个信号传输至与第一面板300_1相连的多个焊盘P21至P25。同样地，连接控制器400控制连接板200将第二信号组和第三信号组的信号分别传输至与第二信号组和第三信号组相对应的第二面板300_2和第三面板300_3的多个焊盘。
另外，连接控制器400控制连接板200将第四信号组的第二电源信号ELVSS4传输至第四面板300_4和第五面板300_5。这里，第四信号组的红色数据信号VR4、绿色数据信号VG4、蓝色数据信号VB4和栅极信号VGATE4分别被传输至与第四面板300_4相连的多个焊盘，并且多个假信号VDM1至VDM4分别被传输至与第五面板3005相连的多个焊盘。在图5中，多个假信号VDM1至VDM4分别以红色数据信号VR5、绿色数据信号VG5、蓝色数据信号VB5以及栅极信号VGATE5的电平产生。另外，第四信号组的第二电源信号ELVSS4共用地传输至与第四面板300_4和第五面板300_5相连的多个焊盘。
相应地，根据本发明的实施例，可以不依赖于单片基板300上形成的面板数目而增加或减少信号供应器100的输出引脚数目或连接板200的输入引脚数目的情况下，对各种数目的面板执行单片测试。
尽管本发明的方面已结合现今被认为是可实现的示例性实施例进行了描述，但应当明白，本发明并不限于所公开的实施例，而是相反地，本发明旨在覆盖包括在所附权利要求及其等同物中的精神和范围内的各种改进和等同布置。

Claims (6)

1.一种单片测试装置，被配置为对包括多个面板的单片基板进行测试，所述单片测试装置包括：
信号供应器，用于产生对所述多个面板进行测试的多个信号组和多个假信号，其中所述多个信号组中的每一个包括红色数据信号、绿色数据信号、蓝色数据信号、栅极信号以及电源信号，并且其中所述多个假信号分别与所述红色数据信号、所述绿色数据信号、所述蓝色数据信号以及所述栅极信号相对应；以及
连接板，用于：
将所述多个信号组中的第一信号组传输至所述多个面板中与所述第一信号组相对应的第一面板，并且
在所述多个面板的数目大于所述多个信号组的数目时，将所述多个信号组中至少一个信号组的电源信号传输至所述多个面板中的至少两个面板，将所述多个假信号传输至所述至少两个面板中的一个，并将所述至少一个信号组的红色数据信号、绿色数据信号、蓝色数据信号以及栅极信号传输至所述至少两个面板中的另外一个。
2.根据权利要求1所述的单片测试装置，其中所述连接板在所述多个面板的数目不大于所述多个信号组的数目时，仅仅输出所述多个信号组中与所述多个面板相对应的信号组。
3.一种单片测试装置的测试方法，包括：
产生多个信号组和多个假信号，用于对包括多个面板的单片基板进行测试，其中所述多个信号组中的每一个包括红色数据信号、绿色数据信号、蓝色数据信号、栅极信号以及电源信号，并且其中所述多个假信号分别与所述红色数据信号、所述绿色数据信号、所述蓝色数据信号以及所述栅极信号相对应；
将所述多个信号组中的第一信号组传输至所述多个面板中与所述第一信号组相对应的第一面板；以及
当所述多个面板的数目大于所述多个信号组的数目时，将所述多个信号组中至少一个信号组的电源信号传输至所述多个面板中的至少两个面板，将所述多个假信号传输至所述至少两个面板中的一个，并将所述至少一个信号组的红色数据信号、绿色数据信号、蓝色数据信号以及栅极信号传输至所述至少两个面板中的另外一个。
4.根据权利要求3所述的单片测试装置的测试方法，进一步包括当所述多个面板的数目不大于所述多个信号组的数目时，仅仅输出所述多个信号组中与所述多个面板相对应的信号组。
5.一种单片测试装置，被配置为对包括多个面板的单片基板进行测试，所述单片测试装置包括：
信号供应器，用于产生对所述多个面板进行测试的多个信号组和多个假信号，其中所述多个信号组中的每一个包括红色数据信号、绿色数据信号、蓝色数据信号、栅极信号以及电源信号，并且其中所述多个假信号分别与所述红色数据信号、所述绿色数据信号、所述蓝色数据信号以及所述栅极信号相对应；
连接板，用于将所述多个信号组和所述多个假信号传输至所述多个面板；以及
连接控制器，用于控制所述连接板，
其中所述连接控制器被配置为控制所述连接板以：
将所述多个信号组中的第一信号组传输至所述多个面板中与所述第一信号组相对应的第一面板；以及
在所述多个面板的数目大于所述多个信号组的数目时，将所述多个信号组中至少一个信号组的电源信号传输至所述多个面板中的至少两个面板，将所述多个假信号传输至所述至少两个面板中的一个，并将所述至少一个信号组的红色数据信号、绿色数据信号、蓝色数据信号以及栅极信号传输至所述至少两个面板中的另外一个。
6.根据权利要求5所述的单片测试装置，其中所述连接控制器进一步被配置为在所述多个面板的数目不大于所述多个信号组的数目时，控制所述连接板以仅仅输出所述多个信号组中与所述多个面板相对应的信号组。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105788501B (zh) 2016-05-20 2019-12-10 京东方科技集团股份有限公司 有机电致发光显示面板、老化测试装置、方法及显示装置
CN106959381A (zh) * 2017-03-22 2017-07-18 京东方科技集团股份有限公司 一种面板测试装置
KR102411706B1 (ko) * 2017-09-11 2022-06-23 삼성디스플레이 주식회사 에이징 시스템 및 이의 동작방법
CN109994042B (zh) * 2019-04-11 2024-05-03 武汉华星光电技术有限公司 驱动芯片及显示面板
CN111724723B (zh) * 2020-07-23 2022-09-16 武汉天马微电子有限公司 老化装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6281701B1 (en) * 1999-06-04 2001-08-28 Chi Mei Optoelectronics Corporation Apparatus for testing flat panel display
CN1722452A (zh) * 2004-06-24 2006-01-18 三星Sdi株式会社 薄膜晶体管阵列基板、使用该基板的显示器及其制造方法

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0933874A (ja) * 1995-07-14 1997-02-07 Sharp Corp 液晶表示装置およびその製造方法
US6246250B1 (en) * 1998-05-11 2001-06-12 Micron Technology, Inc. Probe card having on-board multiplex circuitry for expanding tester resources
JP3481465B2 (ja) * 1998-07-14 2003-12-22 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板の集合基板
JP2004301658A (ja) * 2003-03-31 2004-10-28 Shimadzu Corp 基板検査装置
JPWO2004109376A1 (ja) * 2003-06-04 2006-07-20 東芝松下ディスプレイテクノロジー株式会社 アレイ基板の検査方法
US7355418B2 (en) * 2004-02-12 2008-04-08 Applied Materials, Inc. Configurable prober for TFT LCD array test
TWI244553B (en) * 2004-08-04 2005-12-01 Chunghwa Picture Tubes Ltd Testing method for LCD panel
KR100673749B1 (ko) 2005-06-29 2007-01-24 삼성에스디아이 주식회사 원장단위 검사가 가능한 유기 발광표시장치의 어레이 기판및 그 검사 방법
WO2007013210A1 (ja) * 2005-07-29 2007-02-01 Sharp Kabushiki Kaisha 表示装置
KR100636502B1 (ko) * 2005-08-31 2006-10-18 삼성에스디아이 주식회사 원장단위 검사가 가능한 유기 전계발광표시장치 및 그검사방법
KR100721954B1 (ko) 2005-09-16 2007-05-25 삼성에스디아이 주식회사 원장 단위 검사가 가능한 유기 이엘 어레이 기판
JP4748392B2 (ja) * 2006-03-31 2011-08-17 株式会社島津製作所 Ｔｆｔアレイ基板検査装置
JP4800381B2 (ja) * 2006-04-19 2011-10-26 シャープ株式会社 液晶表示装置およびその駆動方法、テレビ受像機、液晶表示プログラム、液晶表示プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、並びに駆動回路
US7602199B2 (en) * 2006-05-31 2009-10-13 Applied Materials, Inc. Mini-prober for TFT-LCD testing
KR100766946B1 (ko) 2006-07-14 2007-10-17 삼성에스디아이 주식회사 유기 발광셀의 검사장치 및 그 방법
KR100812023B1 (ko) 2006-08-23 2008-03-10 삼성에스디아이 주식회사 유기전계발광 표시장치 및 그 모기판
JP2008122362A (ja) * 2006-10-20 2008-05-29 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体検査装置および半導体検査手法
KR100833755B1 (ko) * 2007-01-15 2008-05-29 삼성에스디아이 주식회사 원장검사 장치 및 방법
KR101068364B1 (ko) * 2007-07-11 2011-09-28 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치 검사장비 및 그 검사방법
KR100858610B1 (ko) 2007-08-28 2008-09-17 삼성에스디아이 주식회사 유기전계발광 표시장치 및 모기판과 그의 제조방법
TWI379116B (en) * 2008-05-30 2012-12-11 Chimei Innolux Corp Liquid crystal display high-voltage testing circuit and method of testing liquid crystal display
CN101359024B (zh) * 2008-09-23 2012-05-30 友达光电（苏州）有限公司 电子装置显示面板的测试电路和显示面板

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6281701B1 (en) * 1999-06-04 2001-08-28 Chi Mei Optoelectronics Corporation Apparatus for testing flat panel display
CN1722452A (zh) * 2004-06-24 2006-01-18 三星Sdi株式会社 薄膜晶体管阵列基板、使用该基板的显示器及其制造方法

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