CN101958757A - 用于测试td-lte终端射频性能的方法和装置 - Google Patents
用于测试td-lte终端射频性能的方法和装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN101958757A CN101958757A CN2010102723859A CN201010272385A CN101958757A CN 101958757 A CN101958757 A CN 101958757A CN 2010102723859 A CN2010102723859 A CN 2010102723859A CN 201010272385 A CN201010272385 A CN 201010272385A CN 101958757 A CN101958757 A CN 101958757A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- lte terminal
- signal
- test
- unit
- radio
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Mobile Radio Communication Systems (AREA)
Abstract
一种用于测试TD-LTE终端射频性能的方法和装置,方法步骤为,综合测试仪设置好终端入网所需的***参数,将终端与综合测试仪进行射频连接;终端进行开机入网流程;在建立专用无线承载的信令流程中配置终端进行上行半持续调度指定终端在固定的上行子帧上传输上行PUSCH信号;综合测试仪采集并分析该PUSCH信号的射频性能。该装置包括主控单元、***模拟器、射频处理单元和功率分配单元,射频处理单元具有射频发射单元、射频接收单元和本振单元。本发明使得综合测试仪可对终端进行射频性能测试。
Description
技术领域
本发明涉及移动通信技术领域,具体涉及一种用于测试TD-LTE终端射频性能的方法和装置。
技术背景
随着现代通信行业的发展,以及TD-SCDMA制式终端的日益成熟,TD-LTE(TD-SCDMA Long term evolution)技术不断完善,TD-LTE终端生产量将会逐渐加大。为了检查TD-LTE终端的生产质量和性能指标,必须通过终端综合测试仪进行测试。目前还没有成熟的TD-LTE终端综合测试仪,这样严重限制了TD-LTE终端厂商的研发和生产效率,增加了TD-LTE终端的研发和生产成本。
发明内容
本发明的目是针对上述技术问题,提供一种可以测试TD-LTE终端射频性能的方法和装置,该方法及装置可以在信令连接的情况下对TD-LTE终端进行射频性能测试。
为实现上述目的,本发明所设计的一种用于测试TD-LTE终端射频性能的方法,其特征在于它包括如下步骤:
1)打开TD-LTE终端综合测试仪的电源并按照3GPP(3rd Generation Paratership Project,第三代合作伙伴项目)协议关于TD-LTE终端射频测试规范的参数要求,设置好TD-LTE终端入网所需的***参数;将TD-LTE终端与TD-LTE终端综合测试仪进行射频连接,给TD-LTE终端上电;
2)TD-LTE终端进行开机入网信令流程;
3)通过TD-LTE终端综合测试仪寻呼TD-LTE终端建立专用的无线承载或通过TD-LTE终端向TD-LTE终端综合测试仪发起连接建立请求并建立专用的无线承载;在建立专用的无线承载的信令流程中设置连接建立信令中的半静态调度参数,对TD-LTE终端进行半静态调度;指定TD-LTE终端在固定的上行子帧上传输上行PUSCH(Physical uplink shared channel,物理上行共享信道)信号;
4)TD-LTE终端综合测试仪采集TD-LTE终端的上行PUSCH信号,再将此采集的上行PUSCH信号传输给TD-LTE终端综合测试仪的信号处理模块计算得到TD-LTE终端的射频性能指标。
在步骤3)中,在建立专用的无线承载的信令流程中,将连接建立信令的半静态调度参数中的子参数上行半持续调度间隔设置为sf10,即10个子帧,半静态调度参数中的子参数SPS C-RNTI(Semi-Persistent Scheduling Cell Radio Network Temporary Identifier,半持续调度小区临时标识)设置为3GPP协议规定的参数值范围内任意一个固定值;建立专用的无线承载后,TD-LTE终端综合测试仪在无线帧中的子帧#6上以DCI(Downlink Control Information,下行控制信息)格式0传输TD-LTE终端的下行PDCCH(Physical downlink control channel,物理下行控制信道)信号,该下行PDCCH信号以TD-LTE终端的SPS C-RNTI进行加扰,并通过下行PDCCH信号携带的DCI信息指定TD-LTE终端在对应的上行子帧#2上传输上行PUSCH信号;TD-LTE终端根据SPS C-RNTI检测到PDCCH信号,解析DCI信息,并在子帧#2上传输上行PUSCH信号;由此完成了TD-LTE终端在固定子帧上传输上行PUSCH信号的过程。
所述TD-LTE终端的射频性能指标包括发射机性能指标和接收机的性能指标;其中,对于进行TD-LTE终端的发射机性能指标测试的步骤为:根据各个测试项目的参数要求设置TD-LTE终端综合测试仪的***参数,TD-LTE终端综合测试仪的射频接收单元采集TD-LTE终端的上行PUSCH信号,再将此采集的上行PUSCH信号传输给TD-LTE终端综合测试仪的信号处理模块计算得到TD-LTE终端的发射机性能指标;对于进行TD-LTE终端的接收机指标测试的流程为:根据接收机测试项目对TD-LTE终端综合测试仪的要求设置***参数;***模拟器在与终端进行数据传输的过程中获取终端的数据传输误码率和吞吐量统计参数;主控单元从***模拟器中读取数据传输误码率和吞吐量统计参数并进行处理得到接收机测试指标。
TD-LTE终端发射机性能测试需要测试的指标如下:TD-LTE终端最大输出功率,功率控制,最低输出功率,发射开/关功率,频率误差,误差矢量幅度,占用带宽,频谱辐射模板,邻道泄漏比。
TD-LTE终端的接收机性能测试需要测试的指标如下:参考灵敏度,最大输入功率,接收机误码率,吞吐量。
一种实现上述方法的用于测试TD-LTE终端射频性能的装置,它包括主控单元、***模拟器、功率分配单元和射频处理单元,其中,所述***模拟器和射频处理单元均通过PXI(PCI eXtensions for Instrumentation,面向仪器***的PCI扩展)总线连接主控单元,所述***模拟器与射频处理单元通过LDVS(Low Voltage Differential Signaling低压差分信号)数据接口连接,所述射频处理单元具有射频发射单元、射频接收单元和本振单元,所述本振单元用于给射频发射单元和射频接收单元提供载波信号以及参考时钟信号,所述功率分配单元通过射频接口连接所述射频处理单元,所述功率分配单元通过PXI总线连接到主控单元;所述功率分配单元用于实现上、下行信号的功率分配,并且将多部TD-LTE终端并联到TD-LTE终端综合测试仪。
所述***模拟器根据3GPP协议中eNodeB(Evolved Node B,演进型Node B,即TD-LTE基站)与TD-LTE终端通信的Uu接口(eNodeB与用户终端UE之间的通信接口)对应的协议规范,模拟出eNodeB的物理层协议、数据链路层协议、网络层协议和NAS(Non Access Stratum,非接入层)层协议;所述***模拟器用于建立和维持TD-LTE终端综合测试仪和被测TD-LTE终端之间的无线承载,便于进行信令连接情况下的射频性能的测试,所述***模拟器产生下行数字基带I/Q(In-phase/Quadrature,同向正交)信号,经过LVDS数据接口送到射频发射单元,所述***模拟器将来自射频接收单元的上行数字基带I/Q信号还原成信令和业务数据。
所述射频发射单元用来将***模拟器产生的下行数字基带I/Q信号进行调制和上变频处理后发射给被测TD-LTE终端。
所述射频接收模块接收被测TD-LTE终端的射频信号,并将该被测TD-LTE终端的射频信号下变频为中频信号,再转化为数字中频信号,然后经正交解调后转换为上行数字基带信号,所述上行数字基带I/Q信号一路经过LVDS接口实时传送到***模拟器中恢复为信令和数据,以保持信令的连接,另一路缓存在接收模块的数据缓冲区中并经过PXI总线送到主控单元进行射频指标分析。
所述主控单元包括人机接口单元、集成控制单元、信号处理单元和远程控制单元,所述集成控制单元用于控制***模拟器、射频处理单元和射频切换开关单元;所述信号处理单元用于分析被测TD-LTE终端的射频性能;所述远程控制单元用于TD-LTE终端综合测试仪与计算机进行远程交互,实现TD-LTE终端综合测试仪的远程控制。
本发明的方法通过模拟TD-LTE基站的功能,使TD-LTE终端综合测试仪与终端建立专用无线承载和数据传输,并通过射频接收单元采集终端的信号进行分析,使得TD-LTE终端综合测试仪可以在信令连接的情况下对TD-LTE终端进行射频性能测试。本发明的装置根据上述方法设计出一种用于在信令连接条件下测试TD-LTE终端射频性能的TD-LTE终端综合测试仪。
附图说明
图1为TD-LTE终端的时域资源分配图;
图2为本发明的TD-LTE综测仪的***功能原理图;
图3为TD-LTE终端射频指标测试流程图
其中,图1中S子帧表示同步子帧,向上的箭头表示上行子帧,向下的箭头表示下行子帧。
具体实施方式
以下结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明:
如图5所示的一种用于测试TD-LTE终端射频性能的装置即TD-LTE终端综合测试仪,它包括主控单元、***模拟器、射频处理单元和功率分配单元,其中,***模拟器、射频处理单元和功率分配单元均通过PXI总线连接主控单元,***模拟器与射频处理单元通过LDVS(低压差分信号)数据接口连接,射频处理单元具有射频发射单元、射频接收单元和本振单元,本振单元用于给射频发射单元和射频接收单元提供载波信号以及10MHZ的参考时钟信号。该装置具备简化的TD-LTE基站的功能,可以与TD-LTE终端进行信令连接和数据传输等业务,并且可以对TD-LTE终端进行信令连接条件下的射频测试。
上述技术方案中,***模拟器主要运行协议栈软件,根据3GPP协议中eNodeB(即TD-LTE基站)与TD-LTE终端通信的Uu接口对应的协议规范,模拟出eNodeB的物理层协议、数据链路层协议、网络层协议和NAS层协议;***模拟器用于建立和维持TD-LTE终端综合测试仪和被测TD-LTE终端之间的无线承载,便于进行信令连接情况下的射频性能的测试,***模拟器产生下行数字基带I/Q信号,经过LVDS数据接口送到射频发射单元,***模拟器将来自射频接收单元的上行数字基带I/Q信号还原成信令和业务数据。***模拟器可模拟出基站的***环境。
上述技术方案中,射频发射模块用来将***模拟器产生的下行数字基带I/Q信号进行调制和上变频处理后发射给被测TD-LTE终端。
上述技术方案中,射频接收模块接收被测TD-LTE终端的射频信号,并将该被测TD-LTE终端的射频信号下变频为中频信号,再转化为数字中频信号,然后经正交解调后转换为上行数字基带信号,上行数字基带I/Q信号一路经过LVDS接口实时传送到***模拟器中恢复为信令和数据,以保持信令的连接,另一路缓存在接收模块的数据缓冲区中并经过PXI总线送到主控单元进行射频指标分析。
上述技术方案中,它还包括功率分配单元,所述功率分配单元通过射频接口连接所述射频处理单元,所述功率分配单元通过PXI总线连接到主控单元;所述功率分配单元用于实现上、下行信号的功率分配,并且将多部TD-LTE终端并联到TD-LTE终端综合测试仪。
上述技术方案中,主控单元包括人机接口单元、集成控制单元、信号处理单元和远程控制单元,集成控制单元用于控制***模拟器、射频处理单元和射频切换开关单元;信号处理单元用于分析被测TD-LTE终端的射频性能;远程控制单元用于TD-LTE终端综合测试仪与计算机进行远程交互,实现TD-LTE终端综合测试仪的远程控制。
上述TD-LTE终端的开机入网信令流程为:1.TD-LTE终端发送前导码,2.***模拟器返回随机接入响应,3.TD-LTE终端请求连接,4.***模拟器连接建立,5.TD-LTE终端连接建立完成(包含附着请求和PDN连接请求的NAS信令),6.***模拟器下行信息(包含查询TD-LTE终端身份的NAS信令),7.TD-LTE终端上行信息(包含反馈身份响应的NAS信令),8.***模拟器下行信息(包含鉴权请求的NAS信令),9.TD-LTE终端上行信息(包含鉴权响应的NAS信令),10.***模拟器下行信息(包含激活NAS安全模式的NAS信令),11.TD-LTE终端上行信息(包含安全模式完成的NAS信令),12.***模拟器下行信息(包含ESM信息请求的NAS信令),13.TD-LTE终端上行信息(包含ESM信息响应的NAS信令),14.***模拟器下行信息激活测试模式,15.TD-LTE终端上行信息测试模式激活完成,16.***模拟器激活AS(Access Stratum,接入层)安全模式,17.TD-LTE终端安全模式完成,18***模拟器激对TD-LTE终端能力查询,19.TD-LTE终端提供其能力信息,20.***模拟器连接重配(包含附着接受和激活默认的无线承载请求的NAS信令),21.TD-LTE终端连接重配完成,22.TD-LTE终端上行信息传输(包含附着流程完成和接受激活默认的无线承载请求的NAS信令),23.***模拟器连接释放。完成上述入网信令流程后,TD-LTE终端进入测试模式下的空闲状态。
上述TD-LTE终端建立无线承载的信令流程为:1.***模拟器寻呼TD-LTE终端,2.TD-LTE终端连接请求,3.***模拟器连接建立,4.TD-LTE终端连接建立完成(包含服务请求的NAS信令),5.***模拟器激活AS安全模式,6.TD-LTE终端AS安全模式完成,7.***模拟器连接重配(包含激活专用无线承载的NAS信令),8.TD-LTE终端连接重配完成,9.TD-LTE终端建立专用EPS(Evolved Packet System,演进分组***)承载(包含接受激活专用无线承载的NAS信令),10.***模拟器连接释放。
上述TD-LTE终端进入环回测试模式的信令流程为:1.***模拟器下行信息传输(包含的打开环回测试模式NAS信令),2.TD-LTE终端上行信息传输(包含打开环回测试模式完成的NAS信令)。
一种用于测试TD-LTE终端射频性能的方法,其特征在于它包括如下步骤:
1)打开TD-LTE终端综合测试仪的电源并按照3GPP协议关于TD-LTE终端射频测试规范的参数要求,设置好TD-LTE终端入网所需的***参数;将TD-LTE终端与TD-LTE终端综合测试仪进行射频连接,给TD-LTE终端上电;
2)TD-LTE终端进行开机入网信令流程;
3)通过TD-LTE终端综合测试仪寻呼TD-LTE终端建立专用的无线承载或通过TD-LTE终端向TD-LTE终端综合测试仪发起连接建立请求并建立专用的无线承载;在建立专用的无线承载的信令流程中设置连接建立信令中的半静态调度参数,对TD-LTE终端进行半静态调度;指定TD-LTE终端在固定的上行子帧上传输上行PUSCH信号;
4)TD-LTE终端综合测试仪采集TD-LTE终端的上行PUSCH信号,再将此采集的上行PUSCH信号传输给TD-LTE终端综合测试仪的信号处理模块计算得到TD-LTE终端的射频性能指标。
上述步骤3)中,在建立专用的无线承载的信令流程中,将连接建立信令(RRCConnectionSetup)的半静态调度参数中的子参数semiPersistSchedIntervalUL(Semi-persistent scheduling interval in uplink,上行半持续调度间隔)设置为sf10,即10个子帧,半静态调度参数中的子参数SPS C-RNTI(Semi-Persistent Scheduling Cell Radio Network Temporary Identifier,半持续调度小区临时标识)设置为3GPP协议规定的参数值范围内任意一个固定值;建立专用的无线承载后,TD-LTE终端综合测试仪在无线帧中的子帧#6上以DCI格式0传输TD-LTE终端的下行PDCCH信号,该下行PDCCH信号以TD-LTE终端的SPS C-RNTI进行加扰,并通过下行PDCCH信号携带的DCI信息指定TD-LTE终端在对应的上行子帧#2上传输上行PUSCH信号;TD-LTE终端根据SPS C-RNTI检测到PDCCH信号,解析DCI信息,并在子帧#2上传输上行PUSCH信号;由此完成了TD-LTE终端在固定子帧上传输上行PUSCH信号的过程。
上述技术方案中,所述TD-LTE终端的射频性能指标包括发射机性能指标和接收机的性能指标;其中,对于进行TD-LTE终端的发射机性能指标测试的步骤为:根据各个测试项目的参数要求设置TD-LTE终端综合测试仪的***参数,TD-LTE终端综合测试仪的射频接收单元采集TD-LTE终端的上行PUSCH信号,再将此采集的上行PUSCH信号传输给TD-LTE终端综合测试仪的信号处理模块计算得到TD-LTE终端的发射机性能指标;对于进行TD-LTE终端的接收机指标测试的流程为:根据接收机测试项目对TD-LTE终端综合测试仪的要求设置***参数;***模拟器在与终端进行数据传输的过程中获取终端的数据传输误码率和吞吐量统计参数;主控单元从***模拟器中读取数据传输误码率和吞吐量统计参数并进行处理得到接收机测试指标。
TD-LTE终端发射机性能测试需要测试的指标如下:TD-LTE终端最大输出功率,功率控制,最低输出功率,发射开/关功率,频率误差,误差矢量幅度,占用带宽,频谱辐射模板,邻道泄漏比。TD-LTE终端的接收机性能测试需要测试的指标如下:参考灵敏度,最大输入功率,接收机误码率,吞吐量。
下面结合图3对TD-LTE终端射频指标测试流程做进一步详细说明,如图3所示的TD-LTE终端综合测试仪对TD-LTE终端的射频指标进行测试的测试流程为:TD-LTE终端综合测试仪硬件启动和初始化;设置入网所需的***参数;TD-LTE终端进行手机开机入网信令流程;建立TD-LTE终端综合测试仪与TD-LTE终端间的专用无线承载,即建立连接和数据传输;配置测试项目所需的环境***参数环境;TD-LTE终端综合测试仪进行数据采集与信息收集;TD-LTE终端综合测试仪进行信号处理和射频指标分析;根据需要切换频点或测试项目并执行射频性能测试;测试完毕,释放无线连接;判断是否还需要进行下一部TD-LTE终端的测试,执行前述测试过程;所有测试项目完成则关闭硬件,结束测试。
本说明书未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。
Claims (10)
1.一种用于测试TD-LTE终端射频性能的方法,其特征在于它包括如下步骤:
1)打开TD-LTE终端综合测试仪的电源并按照3GPP协议关于TD-LTE终端射频测试规范的参数要求,设置好TD-LTE终端入网所需的***参数;将TD-LTE终端与TD-LTE终端综合测试仪进行射频连接,给TD-LTE终端上电;
2)TD-LTE终端进行开机入网信令流程;
3)通过TD-LTE终端综合测试仪寻呼TD-LTE终端建立专用的无线承载或通过TD-LTE终端向TD-LTE终端综合测试仪发起连接建立请求并建立专用的无线承载;在建立专用的无线承载的信令流程中设置连接建立信令中的半静态调度参数,对TD-LTE终端进行半静态调度;指定TD-LTE终端在固定的上行子帧上传输上行PUSCH信号;
4)TD-LTE终端综合测试仪采集TD-LTE终端的上行PUSCH信号,再将此采集的上行PUSCH信号传输给TD-LTE终端综合测试仪的信号处理模块计算得到TD-LTE终端的射频性能指标。
2.根据权利要求1所述的用于测试TD-LTE终端射频性能的方法,其特征在于:在步骤3)中,在建立专用的无线承载的信令流程中,将连接建立信令的半静态调度参数中的子参数上行半持续调度间隔设置为sf10,即10个子帧,半静态调度参数中的子参数SPS C-RNTI设置为3GPP协议规定的参数值范围内任意一个固定值;建立专用的无线承载后,TD-LTE终端综合测试仪在无线帧中的子帧#6上以DCI格式0传输TD-LTE终端的下行PDCCH信号,该下行PDCCH信号以TD-LTE终端的SPS C-RNTI进行加扰,并通过下行PDCCH信号携带的DCI信息指定TD-LTE终端在对应的上行子帧#2上传输上行PUSCH信号;TD-LTE终端根据SPS C-RNTI检测到PDCCH信号,解析DCI信息,并在子帧#2上传输上行PUSCH信号;由此完成了TD-LTE终端在固定子帧上传输上行PUSCH信号的过程。
3.根据权利要求1所述的用于测试TD-LTE终端射频性能的方法,其特征在于:所述TD-LTE终端的射频性能指标包括发射机性能指标和接收机的性能指标;其中,对于进行TD-LTE终端的发射机性能指标测试的步骤为:根据各个测试项目的参数要求设置TD-LTE终端综合测试仪的***参数,TD-LTE终端综合测试仪的射频接收单元采集TD-LTE终端的上行PUSCH信号,再将此采集的上行PUSCH信号传输给TD-LTE终端综合测试仪的信号处理模块计算得到TD-LTE终端的发射机性能指标;对于进行TD-LTE终端的接收机指标测试的流程为:根据接收机测试项目对TD-LTE终端综合测试仪的要求设置***参数;***模拟器在与终端进行数据传输的过程中获取终端的数据传输误码率和吞吐量统计参数;主控单元从***模拟器中读取数据传输误码率和吞吐量统计参数并进行处理得到接收机测试指标。
4.根据权利要求3所述的用于测试TD-LTE终端射频性能的方法,其特征在于:TD-LTE终端发射机性能测试需要测试的指标如下:TD-LTE终端最大输出功率,功率控制,最低输出功率,发射开/关功率,频率误差,误差矢量幅度,占用带宽,频谱辐射模板,邻道泄漏比。
5.根据权利要求3所述的用于测试TD-LTE终端射频性能的方法,其特征在于:TD-LTE终端的接收机性能测试需要测试的指标如下:参考灵敏度,最大输入功率,接收机误码率,吞吐量。
6.一种实现权利要求1所述方法的用于测试TD-LTE终端射频性能的装置,其特征在于:它包括主控单元、***模拟器、功率分配单元和射频处理单元,其中,所述***模拟器和射频处理单元均通过PXI总线连接主控单元,所述***模拟器与射频处理单元通过LDVS数据接口连接,所述射频处理单元具有射频发射单元、射频接收单元和本振单元,所述本振单元用于给射频发射单元和射频接收单元提供载波信号以及参考时钟信号,所述功率分配单元通过射频接口连接所述射频处理单元,所述功率分配单元通过PXI总线连接到主控单元;所述功率分配单元用于实现上、下行信号的功率分配,并且将多部TD-LTE终端并联到TD-LTE终端综合测试仪。
7.根据权利要求6所述的用于测试TD-LTE终端射频性能的装置,其特征在于:所述***模拟器根据3GPP协议中eNodeB与TD-LTE终端通信的Uu接口对应的协议规范,模拟出eNodeB的物理层协议、数据链路层协议、网络层协议和NAS层协议;所述***模拟器用于建立和维持TD-LTE终端综合测试仪和被测TD-LTE终端之间的无线承载,便于进行信令连接情况下的射频性能的测试,所述***模拟器产生下行数字基带I/Q信号,经过LVDS数据接口送到射频发射单元,所述***模拟器将来自射频接收单元的上行数字基带I/Q信号还原成信令和业务数据。
8.根据权利要求7所述的用于测试TD-LTE终端射频性能的装置,其特征在于:所述射频发射单元用来将***模拟器产生的下行数字基带I/Q信号进行调制和上变频处理后发射给被测TD-LTE终端。
9.根据权利要求8所述的用于测试TD-LTE终端射频性能的装置,其特征在于:所述射频接收模块接收被测TD-LTE终端的射频信号,并将该被测TD-LTE终端的射频信号下变频为中频信号,再转化为数字中频信号,然后经正交解调后转换为上行数字基带信号,所述上行数字基带I/Q信号一路经过LVDS接口实时传送到***模拟器中恢复为信令和数据,以保持信令的连接,另一路缓存在接收模块的数据缓冲区中并经过PXI总线送到主控单元进行射频指标分析。
10.根据权利要求9所述的用于测试TD-LTE终端射频性能的装置,其特征在于:所述主控单元包括人机接口单元、集成控制单元、信号处理单元和远程控制单元,所述集成控制单元用于控制***模拟器、射频处理单元和射频切换开关单元;所述信号处理单元用于分析被测TD-LTE终端的射频性能;所述远程控制单元用于TD-LTE终端综合测试仪与计算机进行远程交互,实现TD-LTE终端综合测试仪的远程控制。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201010272385.9A CN101958757B (zh) | 2010-09-02 | 2010-09-02 | 用于测试td-lte终端射频性能的方法和装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201010272385.9A CN101958757B (zh) | 2010-09-02 | 2010-09-02 | 用于测试td-lte终端射频性能的方法和装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN101958757A true CN101958757A (zh) | 2011-01-26 |
CN101958757B CN101958757B (zh) | 2014-08-20 |
Family
ID=43485885
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201010272385.9A Expired - Fee Related CN101958757B (zh) | 2010-09-02 | 2010-09-02 | 用于测试td-lte终端射频性能的方法和装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN101958757B (zh) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102751983A (zh) * | 2012-07-30 | 2012-10-24 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种td-lte综测仪的多环合成本振装置 |
CN102882615A (zh) * | 2012-09-24 | 2013-01-16 | 广东欧珀移动通信有限公司 | 一种td-scdma射频性能自动化测试方法 |
CN103346850A (zh) * | 2013-07-11 | 2013-10-09 | 深圳供电局有限公司 | 一种基于lte230***的终端测试装置 |
CN104333876A (zh) * | 2013-07-22 | 2015-02-04 | 成都鼎桥通信技术有限公司 | 移动终端测试***及方法 |
CN107919139A (zh) * | 2017-11-21 | 2018-04-17 | 北京华力创通科技股份有限公司 | 卫星终端测试仪、测试***和测试方法 |
CN108040345A (zh) * | 2018-01-18 | 2018-05-15 | 深圳信息通信研究院 | 一种4g移动终端lte传导发射功率自动化检测*** |
CN111934788A (zh) * | 2020-10-14 | 2020-11-13 | 歌尔光学科技有限公司 | 一种头戴设备的射频指标测试方法、***及相关组件 |
CN112203296A (zh) * | 2019-07-08 | 2021-01-08 | 普天信息技术有限公司 | 一种230Mhz终端EVM测试方法、终端及测试仪表 |
CN113132178A (zh) * | 2020-01-15 | 2021-07-16 | 普天信息技术有限公司 | 一种协议一致性测试方法及装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101309134A (zh) * | 2008-06-23 | 2008-11-19 | 中兴通讯股份有限公司 | 一种下行数据接收状态的通知方法 |
CN101478371A (zh) * | 2009-02-03 | 2009-07-08 | 中兴通讯股份有限公司 | 上行半静态调度释放的反馈信息发送方法 |
CN101534515A (zh) * | 2008-03-13 | 2009-09-16 | 展讯通信(上海)有限公司 | Td-scdma终端发射信号信噪比的测量方法和*** |
-
2010
- 2010-09-02 CN CN201010272385.9A patent/CN101958757B/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101534515A (zh) * | 2008-03-13 | 2009-09-16 | 展讯通信(上海)有限公司 | Td-scdma终端发射信号信噪比的测量方法和*** |
CN101309134A (zh) * | 2008-06-23 | 2008-11-19 | 中兴通讯股份有限公司 | 一种下行数据接收状态的通知方法 |
CN101478371A (zh) * | 2009-02-03 | 2009-07-08 | 中兴通讯股份有限公司 | 上行半静态调度释放的反馈信息发送方法 |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102751983B (zh) * | 2012-07-30 | 2014-10-22 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种td-lte综测仪的多环合成本振装置 |
CN102751983A (zh) * | 2012-07-30 | 2012-10-24 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种td-lte综测仪的多环合成本振装置 |
CN102882615A (zh) * | 2012-09-24 | 2013-01-16 | 广东欧珀移动通信有限公司 | 一种td-scdma射频性能自动化测试方法 |
CN103346850B (zh) * | 2013-07-11 | 2015-10-21 | 深圳供电局有限公司 | 一种基于lte230***的终端测试装置 |
CN103346850A (zh) * | 2013-07-11 | 2013-10-09 | 深圳供电局有限公司 | 一种基于lte230***的终端测试装置 |
CN104333876B (zh) * | 2013-07-22 | 2018-01-12 | 成都鼎桥通信技术有限公司 | 移动终端测试***及方法 |
CN104333876A (zh) * | 2013-07-22 | 2015-02-04 | 成都鼎桥通信技术有限公司 | 移动终端测试***及方法 |
CN107919139A (zh) * | 2017-11-21 | 2018-04-17 | 北京华力创通科技股份有限公司 | 卫星终端测试仪、测试***和测试方法 |
CN108040345A (zh) * | 2018-01-18 | 2018-05-15 | 深圳信息通信研究院 | 一种4g移动终端lte传导发射功率自动化检测*** |
CN108040345B (zh) * | 2018-01-18 | 2023-08-04 | 深圳信息通信研究院 | 一种4g移动终端lte传导发射功率自动化检测*** |
CN112203296A (zh) * | 2019-07-08 | 2021-01-08 | 普天信息技术有限公司 | 一种230Mhz终端EVM测试方法、终端及测试仪表 |
CN113132178A (zh) * | 2020-01-15 | 2021-07-16 | 普天信息技术有限公司 | 一种协议一致性测试方法及装置 |
CN111934788A (zh) * | 2020-10-14 | 2020-11-13 | 歌尔光学科技有限公司 | 一种头戴设备的射频指标测试方法、***及相关组件 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101958757B (zh) | 2014-08-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN101958757B (zh) | 用于测试td-lte终端射频性能的方法和装置 | |
CN101944962B (zh) | 同时测试多部td-lte终端射频性能的方法和装置 | |
CN103200615B (zh) | 一种在通信网络中进行数据传输的方法及装置 | |
CN102204393B (zh) | 灵活频谱使用无线通信***中基于优先级的公平性和干扰信令技术 | |
CN108024267B (zh) | 一种参考信号传输的方法及装置 | |
CN105101438A (zh) | 多数据通道的数据分配方法及装置 | |
CN101895908A (zh) | 测量时隙配置方法及通信装置 | |
CN106455092A (zh) | 信道探测参考信号的发送方法、装置、终端和基站 | |
US20190149993A1 (en) | System and method of providing ue capability for support of security protection on bearers | |
WO2014181176A1 (en) | Method of constructing data unit in mobile communication uplink system supporting multi-connectivity | |
CN106160898B (zh) | 用于测试具有d2d能力的移动通信终端设备的高频测试仪和方法 | |
CN110350954A (zh) | 一种被用于无线通信的用户设备、基站中的方法和装置 | |
CN101668228A (zh) | 接口测试装置及方法 | |
CN111726770B (zh) | 通信方法及其装置 | |
CN104521261A (zh) | 用于使得在电信网络中能够合法侦听的方法、用户装置、基站收发台、程序与计算机程序产品 | |
CN114143243B (zh) | 一种射频测试方法及*** | |
CN106686616B (zh) | 一种宽带集群基站及宽带集群终端 | |
CN107113638A (zh) | 小区测量方法、信号接收和测量方法及用户设备 | |
CN102264139A (zh) | Lte-a载波聚合***上行参考信号传输方法以及基站和终端 | |
CN103987026A (zh) | 一种设备到设备通信数据传输方法、***和用户设备 | |
CN103067146B (zh) | 一种数据传输方法及装置 | |
CN107071162A (zh) | 休眠控制***及其休眠控制方法 | |
CN104079386B (zh) | 非周期信道质量信息上报的方法、装置及终端 | |
CN101330699A (zh) | 一种基站测试装置和测试方法 | |
US10263742B2 (en) | Coordinated communication method and system and apparatus |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20140820 Termination date: 20150902 |
|
EXPY | Termination of patent right or utility model |