CN101957256B - 透镜检查装置 - Google Patents

透镜检查装置 Download PDF

Info

Publication number
CN101957256B
CN101957256B CN2010102258081A CN201010225808A CN101957256B CN 101957256 B CN101957256 B CN 101957256B CN 2010102258081 A CN2010102258081 A CN 2010102258081A CN 201010225808 A CN201010225808 A CN 201010225808A CN 101957256 B CN101957256 B CN 101957256B
Authority
CN
China
Prior art keywords
lens
inspection
detecting device
pallet
screen
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN2010102258081A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101957256A (zh
Inventor
金大凤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Publication of CN101957256A publication Critical patent/CN101957256A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101957256B publication Critical patent/CN101957256B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02—Testing optical properties
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
    • G01N2021/9583—Lenses
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S362/00—Illumination
    • Y10S362/80—Light emitting diode

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

本发明涉及一种透镜检查装置，其可利用一个复合图一次性连续进行对各个透镜检查图的透镜检查，本发明的透镜检查装置包括：图部，其形成有根据不同的检查标准的多个检查图；光源，其向上述图部照射光；托盘，其设置有多个检查用透镜，并以轴为中心旋转；屏幕，其用于接受形成于上述图部上的多个检查图的图像投影；多个拍摄设备，其用于拍摄投影至上述屏幕的多个检查图的图像；PC，其分析利用上述拍摄设备拍摄的影像，从而调节上述透镜的焦点，并根据相应图的检查标准一次性完成不同种类的透镜检查；及控制部，其根据上述PC的控制来调节上述图部和光源的间距，并使上述托盘旋转设定的角度。

Description

透镜检查装置
技术领域
本发明涉及一种透镜检查装置，尤其涉及一种可连续完成多个透镜检查，并可一次性完成使用不同类型检查图的透镜检查的透镜检查装置。
背景技术
一般而言，透镜检查是通过评价使照射至检查图上的光通过透镜而投影至屏幕上的检查图的图像来完成的。若以检查标准对用于透镜检查的检查图进行分类，则有调制传递函数(MTF，Modulation Transfer Function)图、空间频率响应(SFR，Spatial Frequency Response)图、光学传递函数(OTF，Optical Transfer Function)图、TVB(TV bone)图等，通常较广泛使用的有调制传递函数图，而在韩国和日本，同时使用调制传递函数图和TVB图。
如上所述，因根据检查标准所使用的检查图有所不同，因此，在现有技术中，需选用适合于相应检查标准的图进行各个单独的透镜检查，从而较为繁琐。另外，结束相应透镜的检查之后，需重新设置新的透镜进行检查，从而使透镜检查消耗较长时间。
发明内容
所要解决的技术问题
本发明的目的在于提供一种透镜检查装置，其不仅可连续完成多个透镜检查，并可一次性完成使用不同类型检查图单独进行的透镜检查。
解决问题的技术方案
为达到上述目的，本发明的透镜检查装置包括：图部，其形成有多个检查图；光源，其向上述图部照射光；托盘，其设置有多个检查用透镜，并以轴为中心旋转；屏幕，其用于接受形成于上述图部上的多个检查图的图像投影；多个拍摄设备，其用于拍摄投影至上述屏幕的多个检查图的图像；PC，其分析利用上述拍摄设备拍摄的影像，从而调节上述透镜的焦点，并根据相应图的检查标准进行透镜检查；及控制部，根据上述PC的控制来调整上述图部和光源的上下位置，并使上述托盘旋转设定的角度。
有益效果
根据上述构成的本发明透镜检查装置可连续检查多个透镜，且可同时进行调制传递函数检查和TVB检查，从而提高了检查效率。
附图说明
图1为本发明透镜检查装置的结构示例图；
图2为形成于图1的图部上的多个图设置情况示意图；
图3为结合调制传递函数图和TVB图的图的示例图。
*附图标记*
100：透镜检查装置    110：光源
111：聚光透镜        120：图部
121：检查图          130：托盘
131：透镜            140：屏幕
150：拍摄设备        160：控制部
170：PC
具体实施方式
应当理解，前述一般的说明及如下的详细说明都属于示例性的，是所要申请的发明的附加说明。在本发明较佳实施例中详细标记了附图标记，而这些标记表示在附图之中。在可能的任何情况之下，相同的附图标记为表示相同或类似的部分而用于说明书及附图中。为使本发明所属技术领域的技术人员容易实施本发明的技术思想，将结合附图对本发明实施例进行详细说明。
图1为本发明透镜检查装置的结构示例图。如图1所示，本发明透镜检查装置100包括，光源110、图部120、托盘130、屏幕140、多个拍摄设备150、控制部160及PC170。
光源110用于向位于上部的图部120照射光，可使用卤素灯或LED灯。若光源110选用LED灯，则还可包括聚光透镜111，用于聚光从LED放射的光，并使其具备与光轴平行的直进性。
图部120由透光材料构成，并形成有多个透镜检查图121。设置于图部120上的多个透镜检查图121，如图2(a)所示，可设置成各自的间距均等的形式，或如图2(b)所示，设置成同心圆的形式。根据检查标准的不同，透镜检查图121可选用调制传递函数图、SFR图、OTF图及TVB图中的一种。或如图3所示，可结合调制传递函数图和TVB图来形成一个图，并将其设置于图部120。此时，可同时进行调制传递函数检查和TVB检查。
托盘130设置有多个检查用透镜131，并以轴为中心旋转，从而可连续进行对所设置的多个透镜131的检查。具体而言，托盘130通过以轴为中心旋转，使所设置的多个透镜131中待检查的透镜位于图部120的相向面，从而使照射至图部120的光通过相应透镜投影至屏幕140，完成对相应透镜的检查。结束对相应透镜的检查之后，通过以轴为中心旋转，使下一个透镜位于图部120的相向面，从而可连续对所设置的多个透镜131进行检查。
另外，虽然未图示，但托盘130还可包括透镜投入部和透镜取出部，透镜投入部把持待检查的透镜131的中心，以使其准确地设置于托盘130上。透镜取出部从托盘130取出结束检查的透镜的同时，根据相应透镜的检查结果自动分离装载良品和不良品。当透镜取出部从托盘130取出结束检查的透镜之后，透镜投入部准确地将待检查的透镜设置于托盘130，从而可连续对多个透镜进行检查。
从光源110照射的光通过图部120之后，通过透镜131投影至屏幕140上，从而显示形成于图部120上的多个检查图121的图像。屏幕140由透光性材料构成，因此，通过检查用透镜投影至屏幕140前面的多个检查图121的图像可在屏幕140的后面观察。
拍摄设备150用于在屏幕140后面拍摄通过透镜投影至屏幕140的多个检查图121的图像。具体而言，拍摄设备150的设置对应于形成于图部120上的多个检查图121的图像投影至屏幕140时的位置。因此，若形成于图部120上的多个检查图121，如图2(a)所示，均等设置时，则拍摄设备150也可在屏幕的对应位置均等设置；而若形成于图部120上的多个检查图121，如图2(b)所示，设置成同心圆的形式时，则拍摄设备150也同样可在屏幕的对应位置以同心圆的形式设置。拍摄设备150拍摄投影至屏幕140的对应位置的相应检查图121的图像，并传送至PC170。
控制部160根据PC170的控制，利用驱动设备(未图示)来调整光源110和图部120的上下位置，从而调节投影至屏幕140上的图像的焦点。另外，虽然未图示，但还可在图部120和托盘130之间具备焦点调节用透镜，并通过控制部160调整上述焦点调节用透镜的上下位置，从而调节投影至屏幕140上的图像的焦点。另外，在结束对相应透镜的检查之后，控制部160按所设定的角度旋转托盘130，从而可连续进行对下一个透镜的检查。如上所述，本发明与通过调整检查用透镜的上下位置来调节检查用透镜焦点的现有透镜检查装置不同，通过调整光源110和图部120或上述焦点调节用透镜的上下位置，从而可简便调节检查用透镜的焦点。另外，在光源110选用卤素灯的情况下，控制部160通过控制卤素灯的辉度，使卤素灯维持一定的辉度。
PC170通过处理并分析从拍摄设备150传送的相应检查图121的影像之后，通过控制部160调整光源110和图部120的上下位置或调整上述焦点调节用透镜的上下位置，以调节透镜131的焦点。结束透镜131的焦点调节之后，从拍摄设备150接收焦点调节之后的检查图121的影像，根据相应检查标准检查透镜131，并通过显示设备(未图示)显示检查结果。
上述如图1至图3所示的本发明透镜检查装置的具体运行过程如下：首先，在托盘130上设置多个检查用透镜131。之后，以轴为中心旋转托盘130，使待检查的透镜131位于图部120的相向面上。
接着，利用光源110将光照射至图部120，从而使形成于图部120上的多个检查图121的图像通过透镜131投影至屏幕140上。投影至屏幕140上的多个检查图121的图像，通过设置于屏幕140后面对应位置的多个拍摄设备150分别拍摄并传送至PC170。
PC170处理分析所传送的相应于多个图121的影像之后，通过控制部160调节光源110和图部120的上下位置，以调节透镜131的焦点。结束透镜131的焦点调节之后，从多个拍摄设备150接收完成焦点调节之后的相应于检查图121的影像，根据相应图的检查标准检查透镜131，并通过显示设备(未图示)显示检查结果。
通过上述过程结束相应透镜的检查之后，PC170通过控制部160以设定角度旋转托盘130，从而可连续对下一个透镜进行检查。
根据上述本发明的透镜检查装置，可连续检查多个透镜，且可同时进行调制传递函数检查和TVB检查。
上述实施例仅用以说明本发明而非限制，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明进行修改、变形或者等同替换，而不脱离本发明的精神和范围，其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。

Claims (9)

1.一种利用检查图的透镜检查装置，包括：
图部，其设置有多个检查图；
光源，其向所述图部照射光；
托盘，其设置有多个检查用透镜，并以轴为中心旋转；
屏幕，其用于接受形成于所述图部上的多个检查图的图像投影；
多个拍摄设备，其用于拍摄投影至所述屏幕的多个检查图的图像；
PC，其用于分析利用所述拍摄设备分别拍摄的影像，从而调节所述透镜的焦点，并根据相应图的检查标准进行透镜检查；及
控制部，其根据所述PC的控制来调整所述图部和光源的上下位置，并使所述托盘以设定角度旋转。
2.根据权利要求1所述的透镜检查装置，其特征在于：
形成于所述图部上的多个检查图设置成各自的间距均等的形式，或设置成同心圆的形式。
3.根据权利要求1所述的透镜检查装置，其特征在于：
所述检查图是从调制传递函数图、空间频率响应图、光学传递函数图、及TVB图中选择的一种。
4.根据权利要求1所述的透镜检查装置，其特征在于：
所述检查图是结合调制传递函数图和TVB图的图。
5.根据权利要求1所述的透镜检查装置，其特征在于：
所述光源为卤素灯，并通过所述控制部控制所述卤素灯的辉度。
6.根据权利要求1所述的透镜检查装置，其特征在于：
所述光源为LED灯，而且还包括聚光透镜，所述聚光透镜聚集从所述LED灯射出的光。
7.根据权利要求1所述的透镜检查装置，其特征在于：
所述多个拍摄设备固定设置于与各个投影至所述屏幕的多个检查图对应的位置。
8.根据权利要求1所述的透镜检查装置，其特征在于：
在所述图部和托盘之间还包括焦点调节用透镜，并通过所述控制部调整所述焦点调节用透镜的上下位置，以调节所述检查用透镜的焦点。
9.根据权利要求1所述的透镜检查装置，其特征在于：
所述托盘包括透镜投入部与透镜取出部，所述透镜投入部能将待检查的透镜准确设置于所述托盘，所述透镜取出部能从所述托盘取出结束检查的透镜，并分离装载良品和不良品。
CN2010102258081A 2009-07-15 2010-07-12 透镜检查装置 Expired - Fee Related CN101957256B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2009-0064309 2009-07-15
KR1020090064309A KR100924117B1 (ko) 2009-07-15 2009-07-15 렌즈 검사 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101957256A CN101957256A (zh) 2011-01-26
CN101957256B true CN101957256B (zh) 2012-10-10

Family

ID=41562561

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2010102258081A Expired - Fee Related CN101957256B (zh) 2009-07-15 2010-07-12 透镜检查装置

Country Status (2)

Country Link
KR (1) KR100924117B1 (zh)
CN (1) CN101957256B (zh)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101192331B1 (ko) 2012-08-23 2012-10-17 함상민 에어리어 카메라를 이용한 렌즈의 비전 검사장치 및 검사방법
KR101427534B1 (ko) 2013-08-19 2014-08-07 박용준 렌즈 검사 장치
KR101467927B1 (ko) 2013-09-05 2014-12-02 주식회사 세코닉스 광각렌즈 테스트 장치
CN103611688B (zh) * 2013-10-28 2016-05-11 临海市锦铮机械有限公司 镜片自动分检机
KR101587560B1 (ko) * 2014-03-27 2016-01-21 주식회사 나오텍 차량용 광각 렌즈 모듈의 검사 장치
KR101626089B1 (ko) 2014-04-17 2016-05-31 주식회사 퓨런티어 렌즈 틸트 보정 장치 및 렌즈 틸트 보정 방법
KR20160149883A (ko) 2015-06-19 2016-12-28 티클로버(주) 렌즈 결함 검사 장치
KR101867589B1 (ko) 2017-12-27 2018-06-15 주식회사 세코닉스 투명체 검사장치
CN109916279B (zh) * 2019-03-04 2020-09-22 Oppo广东移动通信有限公司 终端盖板的平整度检测方法、装置、测试机台及存储介质
CN112090785A (zh) * 2020-08-27 2020-12-18 宁波丞达精机有限公司 一种光学镜头分选设备
CN111929039A (zh) * 2020-09-18 2020-11-13 宁波丞达精机有限公司 一种光学镜头mtf检测机构

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1401982A (zh) * 2001-08-22 2003-03-12 精工爱普生株式会社 透镜检查装置及检查片
JP2008128770A (ja) * 2006-11-20 2008-06-05 Olympus Corp レンズ性能検査装置及びレンズ性能検査方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09133514A (ja) * 1995-11-10 1997-05-20 Hitachi Koki Co Ltd 画像測定装置
JPH11304652A (ja) 1998-04-17 1999-11-05 Asahi Optical Co Ltd レンズ検査装置
JP2002048677A (ja) 2000-08-01 2002-02-15 Olympus Optical Co Ltd カメラのレンズ性能評価装置
JP2004101213A (ja) 2002-09-05 2004-04-02 Canon Inc 光学系のｍｔｆを測定する装置及び方法
JP2006145849A (ja) * 2004-11-19 2006-06-08 Inter Action Corp 検査用光学装置及び当該光学装置を備えた検査装置
CN101191995A (zh) * 2006-11-27 2008-06-04 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 光学镜头测试装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1401982A (zh) * 2001-08-22 2003-03-12 精工爱普生株式会社 透镜检查装置及检查片
JP2008128770A (ja) * 2006-11-20 2008-06-05 Olympus Corp レンズ性能検査装置及びレンズ性能検査方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN101957256A (zh) 2011-01-26
KR100924117B1 (ko) 2009-10-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101957256B (zh) 透镜检查装置
CN203965344U (zh) 用于探测表面不连续缺陷的光学检查设备
JP5911865B2 (ja) 照明システム
AU2016225885A1 (en) Particle imaging device and particle imaging method
CN101959080B (zh) 相机模块检查装置及方法
TWI274183B (en) Macro illumination apparatus
KR102373287B1 (ko) 이음새없이 형성된 텔레센트릭 명시야 및 환형 암시야 조명
CN106289323A (zh) 星敏感器抗杂散光测试用的光学结构工装及测试方法
CN103018909B (zh) 用于日冕观测实验的高效太阳模拟装置
CN101617262B (zh) 利用镭射的液晶显示器的黑化装置及方法
CN103185726B (zh) 照明装置、照明方法以及检查装置
CN104460006A (zh) 多功能太阳光模拟装置
JP2009288121A (ja) レンズの検査装置および方法
KR101138221B1 (ko) 쉐이딩 및 칼라 밸랜싱을 테스트하는 카메라 테스트 시스템
CN103940829B (zh) 棉花异纤在线检测照明均匀性调节方法
JP2007322348A (ja) 照明装置、及び顕微鏡システム
CN108712616A (zh) 侧光吊笼侧光检测机构
EP2169591A3 (en) Imaging apparatus for reading information
JP2012173725A (ja) 画像生成装置、顕微鏡装置
CN105744262A (zh) 可校正光源的检测***及其光源校正方法
CN105308492B (zh) 光观察装置、用于其的摄像装置以及光观察方法
CN109937360B (zh) 一种用于检测可透光光学部件的装置和方法
KR102129239B1 (ko) 다중 초점식 광학 검사장치
CN205754673U (zh) 一种投影仪的自动对焦装置
JP2008506144A (ja) 顕微鏡用照明システム

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20121010

Termination date: 20190712

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee