CN101908357A - 数据恢复的校正电路与方法 - Google Patents

Abstract

一种数据恢复的校正电路与方法，该校正电路包括振幅检测电路、周期检测电路及补偿电路。振幅检测电路根据零交越点信号对数据信号的多个振幅进行取样，而输出振幅信号。周期检测电路根据零交越点信号对时钟信号进行取样，而输出周期信号。补偿电路接收振幅信号、周期信号及数据信号，通过计算振幅信号及周期信号与标准信号的差异，调整数据信号的相位，并输出校准数据信号。据此，本发明可即时修正此数据信号，可增加数据信号的可辨识率。

Description

数据恢复的校正电路与方法

技术领域

本发明涉及一种数据恢复的校正电路与方法，且特别涉及一种适用于光学存储***的数据恢复的校正电路与方法。

背景技术

一般光学存储***，例如包括光盘(compact disks，CDs)或数字多样化光盘(digital versatile disks，DVDs)等雷射光盘，使用光盘驱动机(optical disc drive，ODD)，再生其存储数据的操作期间，光盘驱动机会发出雷射光于雷射光盘表面，并读取由雷射光盘表面所反射的信号。雷射光盘表面所读出的信号为射频(radio frequency，RF)信号，因此其中包括具有去焦时的非线性通道、符码间干扰(inter-symbol interference，ISI)、电气延迟、大量生产后射出成型于记录介质上的凹坑类型、记录介质上染料的老化或者记录介质的表面刮伤等，而导致辨识不良，而读取出失真数据。

详细来说，将自雷射光盘所反射的光转换为电信号，且经由信号处理而以二进位数据的形式来再生电信号。根据记录于雷射光盘上的各种长度的标记或空间来再生射频信号，且必须精确地检测射频信号的相位以及电平以获得可靠的二进位数据。

为了自失真数据恢复原始存储的数字数据，一般而言，已知的PRML(partial response maximum likelihood)技术为一种主要的手段。其中部分响应(partial response，PR)方法校正电平误差以形成其上可执行数据操作的数字数据。由使用最大似然(maximum likelihood，ML)方法的维特比(Viterbi)解码机制将所形成的数字数据解码为原始存储的数字数据，且因此其在一比特基础上经误差校正。此方法可用以增加射频信号的可靠性，但此方法将增加设计上的困难以及实现此硬件的复杂度，同时更耗费许多***资源。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种数据恢复的校正电路，通过分析数据信号的振幅与周期，并将其比对振幅与周期的参考值，可即时修正此数据信号，可增加数据信号的可辨识率，其中此数据信号可为一个经过切割器(slicer)的射频信号。

本发明提供一种数据恢复的校正方法，通过分析数据信号的振幅与周期，并将其比对振幅与周期的参考值，可即时修正此数据信号，可增加数据信号的可辨识率。

本发明提出一种数据恢复的校正电路，包括振幅检测电路、周期检测电路及补偿电路。振幅检测电路接收数据信号与零交越点(zero-cross)信号，并根据零交越点信号对数据信号的多个振幅进行取样，而输出振幅信号。周期检测电路接收零交越点信号与时钟信号，并根据零交越点信号对时钟信号进行取样，而输出周期信号。补偿电路接收振幅信号、周期信号及数据信号，通过计算振幅信号及周期信号与标准信号的差异，调整数据信号的相位，并输出校准数据信号。

在本发明的一示范实施例中，上述的补偿电路包括统计单元及修正单元。其中，统计单元耦接振幅检测电路，且统计单元预设一个标准信号，此标准信号包括多个振幅参考值与多个周期参考值，用以从这些振幅参考值中选择与振幅信号最相近的振幅参考值，并间插输出这些周期参考值中与该振幅信号相对应的周期参考值。修正单元耦接统计单元与周期检测电路，接收周期信号与周期参考值，藉以产生第一补偿参数，使用第一补偿参数调整数据信号的相位，并输出校准数据信号。

在本发明的一示范实施例中，上述的修正单元包括计算单元及相位调整单元。其中，计算单元耦接统计单元与周期检测电路，用以接收周期信号与周期参考值，并计算周期信号与周期参考值的差异值，将差异值乘以预设倍数，藉以产生第一补偿参数。相位调整单元耦接计算单元，使用第一补偿参数调整周期信号的起始时间与结束时间，藉以调整数据信号的相位，输出校准数据信号。

在本发明的一示范实施例中，上述的补偿电路包括统计单元及修正单元。其中，统计单元耦接周期检测电路，且统计单元预设一个标准信号，此标准信号包括多个振幅参考值与多个周期参考值，用以从这些周期参考值中选择与周期信号最相近的周期参考值，以间插输出这些振幅参考值中与该周期信号相对应的振幅参考值。修正单元耦接统计单元与振幅检测电路，接收振幅信号与振幅参考值，藉以产生第二补偿参数，使用第二补偿参数调整数据信号的相位，并输出校准数据信号。

在本发明的一示范实施例中，上述的修正单元包括计算单元及相位调整单元。其中，计算单元耦接统计单元与振幅检测电路，用以接收振幅信号与振幅参考值，并计算振幅信号与振幅参考值的差异值，将差异值乘以预设倍数，藉以产生第二补偿参数。相位调整单元耦接计算单元，使用第二补偿参数调整周期信号的起始时间与结束时间，藉以调整数据信号的相位，输出校准数据信号。

在本发明的一示范实施例中，上述数据恢复的校正电路，还包括切割电路及锁相回路。其中，切割电路接收射频信号与切割电平，依据切割电平切割射频信号，而输出数据信号及零交越点信号。锁相回路耦接切割电路，接收及根据数据信号而输出时钟信号。

在本发明的一示范实施例中，上述数据恢复的校正电路，还包括比特串流产生器。比特串流产生器耦接补偿电路，接收校准数据信号并转换成比特串流后输出。

本发明提出一种数据恢复的校正方法。此方法根据零交越点信号对数据信号的振幅进行取样，而获得振幅信号。另外，根据零交越点信号计数时钟信号，而获得周期信号。接着，通过计算振幅信号及周期信号与标准信号的差异，调整数据信号的相位而获得校准数据信号。

在本发明的一示范实施例中，上述获得校准数据信号的步骤包括提供标准信号，标准信号包括多个振幅参考值与多个周期参考值；从这些振幅参考值中选择与振幅信号最相近的振幅参考值；依据被选择的该振幅参考值查找或间插出这些周期参考值中相对应的周期参考值。接着，计算周期信号与所查找或间插出的周期参考值，以产生第一补偿参数，然后使用第一补偿参数调整数据信号的相位，以获得校准数据信号。

在本发明的一示范实施例中，上述产生第一补偿参数的步骤包括计算周期信号与所查找或间插出的周期参考值的差异值，以及将差异值乘以预设倍数以产生第一补偿参数。在本发明的一示范实施例中，上述使用第一补偿参数调整数据信号的相位而获得校准数据信号的步骤包括：使用第一补偿参数调整周期信号的起始时间与结束时间，藉以调整数据信号的相位，获得校准数据信号。

在本发明的一示范实施例中，上述获得校准数据信号的步骤包括提供标准信号，标准信号包括多个振幅参考值与多个周期参考值；从这些周期参考值中选择与周期信号最相近的周期参考值；依据被选择的该周期参考值查找或间插出这些振幅参考值中相对应的振幅参考值。接着，计算振幅信号与所查找或间插出的振幅参考值，以产生第二补偿参数；以及使用第二补偿参数调整数据信号的相位，以获得校准数据信号。

在本发明的一示范实施例中，上述产生第二补偿参数的步骤包括计算振幅信号与所查找或间插出的振幅参考值的差异值；以及将差异值乘以预设倍数，以产生第二补偿参数。在本发明的一示范实施例中，上述使用第二补偿参数调整数据信号的相位以获得校准数据信号的步骤包括：使用第二补偿参数调整周期信号的起始时间与结束时间，藉以调整数据信号的相位，获得校准数据信号。

在本发明的一示范实施例中，上述数据恢复的校正方法，还包括依据切割电平切割射频信号，以获得数据信号及零交越点信号。接着，根据数据信号的相位而产生时钟信号。

在本发明的一示范实施例中，上述数据恢复的校正方法，还包括将校准数据信号转换成比特串流。

基于上述，本发明可用以增加射频信号的可靠性，并增加射频信号的可辨识率，此外，也可通过即时修正射频信号，减少因噪声产生相位以及振幅等的失真信号的影响。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。

附图说明

图1是依照本发明的第一示范实施例的一种数据恢复的校正电路的方块图。

图2是依照本发明的第一示范实施例所提供的一种数据恢复的校正方法的流程图。

图3是依照本发明的第二示范实施例的一种数据恢复的校正电路的方块图。

图4是依照本发明的第二示范实施例所提供的一种数据恢复的校正方法的流程图。

图5是依照本发明的第二示范实施例所提供的一种数据恢复的校正方法的波形图。

图6是依照本发明的第三示范实施例的一种数据恢复的校正电路的方块图。

图7是依照本发明的第三示范实施例所提供一种数据恢复的校正方法的流程图。

图8是依照本发明的第二示范实施例所提供的一种数据恢复的校正方法的波形图。

图9是依照本发明的第四示范实施例的一种数据恢复的校正电路的方块图。

图10是依照本发明的第四示范实施例所提供的一种数据恢复的校正方法的波形图。

【主要元件符号说明】

100、300、600、900：数据恢复的校正电路

110：振幅检测电路

120：周期检测电路

130：补偿电路

330、630：补偿电路

340、640：统计单元

350、650：修正单元

351、651：计算单元

352、652：相位调整单元

960：切割电路

970：锁相回路

980：比特串流产生器

S21～S23、S41～S46、S71～S76：数据恢复的校正方法的步骤

A_k、A_k+1：最大振幅信号

A_k’、A_k+1’：振幅参考值

W_k、W_k+1：周期信号

W_k’、W_k+1’：周期参考值

Z_k-2、Z_k-1、Z_k、Z_k+1、Z_k+2：零交越点

D1：数据信号

Δ1、Δ2、Δ3、Δ4：相位误差

具体实施方式

在已知的光学存储***中，使用PRML技术校准由雷射光盘表面所反射的射频信号。然而，此作法也需要采用较多的记忆单元，不但会使芯片的面积增大，并且增加芯片制造的成本。此外，使用PRML技术将增加设计上的困难以及实现此硬件的复杂度。

有鉴于此，在本发明的实施例中，当接收到数据信号时，参考零交越点信号与时钟信号，可用振幅检测电路以及周期检测电路取得数据信号的多个振幅与多个周期，其中，数据信号、零交越点信号与时钟信号可以由射频信号经过分割电路以及锁相回路之后取得。接着可由补偿电路，通过比对振幅与周期，调整上述的数据信号在相邻的零交越点之间的相位，据以校准上述的数据信号。由于校准后的数据信号经过相位的补偿，可减少失真的现象，并可增加射频信号的可靠性，而且硬件的设计也不会过于复杂。下面将参考附图详细阐述本发明的实施例，附图举例说明了本发明的示范实施例。在以下说明中，为呈现对本发明的说明的一贯性，故在不同的实施例中，如果有功能与结构相同或相似的元件会用相同的元件符号与名称。

[第一示范实施例]

图1是依照本发明的第一示范实施例的一种数据恢复的校正电路的方块图。参照图1，在本示范实施例之中，数据恢复的校正电路100包括振幅检测电路110、周期检测电路120及补偿电路130。其中，补偿电路130耦接振幅检测电路110与周期检测电路120。以下将介绍上述各个元件的详细功能。

振幅检测电路110用以接收零交越点信号Z与数据信号D1，其中零交越点信号Z为多个零交越点Z_k-2、Z_k-1、Z_k、Z_k+1、Z_k+2、...的串流，振幅检测电路110可依据此零交越点信号Z将数据信号D1分成m段，m为正整数，并且振幅检测电路110对此数据信号D1进行取样。举例来说，振幅检测电路110可以测量每一段的最大振幅，可得到此m段的射频信号中每一段的振幅，输出振幅信号A，其中振幅信号A为最大振幅A_k-2、A_k-1、A_k、A_k+1、A_k+2、...的串流。

周期检测电路120用以接收零交越点信号Z与时钟信号PCLK，其中时钟信号PCLK为多个时钟间隔的串流，周期检测电路120可依据时钟信号PCLK计算相邻的零交越点之间的时钟间隔，可得到此m段的射频信号中每一段的周期，输出周期信号W，其中周期信号W为每一段周期W_k-2、W_k-1、W_k、W_k+1、W_k+2、...的串流。举例来说，周期检测电路120可以根据该零交越点信号Z计数该时钟信号PCLK，因此可以获得相邻的零交越点之间的时钟次数，以此计数结果作为周期信号W。

承接上述，补偿电路130接收振幅信号与周期信号，通过m段振幅信号中的第k段的振幅A_k以及周期信号中的第k段的周期W_k，计算上述第k段的振幅A_k与周期W_k二者与标准信号的差异，调整数据信号D1的相位，并输出校准数据信号。以下配合流程图作更详细的说明。

请同时参照图1及图2，图2是依照本发明的第一示范实施例所提供的一种数据恢复的校正方法的流程图。首先，在步骤S21中，振幅检测电路110接收数据信号D1与零交越点信号Z，并根据零交越点信号Z对数据信号D1的振幅进行取样，而输出振幅信号。在步骤S22中，周期检测电路120接收零交越点信号Z与时钟信号PCLK，并根据零交越点信号Z对时钟信号PCLK进行取样，而输出周期信号。在步骤S23中，补偿电路130接收振幅信号、周期信号及数据信号D1，通过计算振幅信号及周期信号与标准信号的差异，调整数据信号D1的相位，并输出校准数据信号。

综上所述，本示范实施例可用以增加数据信号的可靠性，并增加数据信号的可辨识率，此外，也可通过即时修正数据信号，减少因噪声产生相位以及振幅等的失真信号的影响。

[第二示范实施例]

图3是依照本发明的第二示范实施例的一种数据恢复的校正电路的方块图。请参照图1以及图3，第二示范实施例与第一示范实施例的主要区别在于补偿电路330。

具体地讲，在本示范实施例中，数据恢复的校正电路300包括振幅检测电路110、周期检测电路120以及补偿电路330。其中，补偿电路330包括统计单元340以及修正单元350，更进一步来说，修正单元350包括计算单元351以及相位调整单元352。

在此，统计单元340耦接振幅检测电路110，计算单元351耦接统计单元340以及周期检测电路120，相位调整单元352耦接计算单元351。以下将介绍上述各个元件的详细功能。

统计单元340可被预先输入(或设定)一个标准信号，此标准信号用以指示振幅参考值与周期参考值的对应关系，可以由振幅参考值找出对应的周期参考值，反之，也可通过参考周期参考值找出对应的振幅参考值。在某些实施例中，前述振幅参考值与周期参考值的对应关系可以被制作成「查找表」(look-up table)，且预先将查找表存放在统计单元340中。

在本实施例中，统计单元340接收振幅检测电路110所输出的振幅信号A_k，用以从标准信号的这些振幅参考值中选择或间插出一个与振幅信号A_k相对应的周期参考值W_k’。修正单元350接收上述的周期参考值W_k’，更详细来说，修正单元350中的计算单元351接收上述的周期参考值W_k’，并且接收周期检测电路120输出的周期信号W_k，计算周期信号W_k与周期参考值W_k’的差异值，即W_k-W_k’。将差异值乘以预设倍数K，即K(W_k-W_k’)，藉以产生第一补偿参数。相位调整单元352使用第一补偿参数调整周期信号的起始时间与结束时间，藉以调整数据信号D1的相位，输出校准数据信号。以下配合流程图作更详细的说明。

请同时参照图3及图4，图4是依照本发明的第二示范实施例所提供的一种数据恢复的校正方法的流程图。首先，在步骤S41中，振幅检测电路110接收数据信号D1与零交越点信号Z，并根据零交越点信号Z对数据信号D1的振幅进行取样，而输出振幅信号A_k。在步骤S42中，周期检测电路120接收零交越点信号Z与时钟信号PCLK，并根据零交越点信号Z对时钟信号PCLK进行取样，而输出周期信号W_k。在步骤S43中，统计单元340预设标准信号，标准信号包括多个振幅参考值与多个周期参考值。在步骤S44中，统计单元340选择或间插出与振幅信号A_k相对应的周期参考值W_k’，输出相对应的周期参考值W_k’。在步骤S45中，计算单元351接收周期信号W_k与周期参考值W_k’，计算周期信号W_k与周期参考值W_k’的差异值，将差异值乘以预设倍数，藉以产生第一补偿参数。在步骤S46中，相位调整单元352使用第一补偿参数调整周期信号的起始时间与结束时间，藉以调整数据信号D1的相位，输出校准数据信号。

举例来说，图5是依照本发明的第二示范实施例所提供的一种数据恢复的校正方法的波形图。参照图3与图5，振幅检测电路110接收数据信号D1以及零交越点信号Z，其中，零交越点信号Z为多个零交越点Z_k-2、Z_k-1、Z_k、Z_k+1以及Z_k+2的串流。振幅检测电路110依据零交越点信号Z可取样数据信号D1，其中零交越点Z_k至Z_k+1之间的数据信号D1表示为第k段的数据信号D1，且振幅检测电路110可取样在第k段的数据信号D1中的最大振幅A_k输出至统计单元340。而统计单元340参考其中预设的标准信号，用以选择或间插出与振幅信号A_k相对应的周期参考值W_k’，然后统计单元340输出相对应的周期参考值W_k’至计算单元351。

承接上述，周期检测电路120可取样在第k段的数据信号D1中的周期W_k输出至计算单元351。而计算单元351接收周期信号W_k以及周期参考值W_k’，计算周期信号W_k与周期参考值W_k’的误差，使用算式(1)产生第一补偿参数C1，其中，算式(1)表示如下：

C1＝K₁*(W_k-W_k’)                  (1)

在此，K₁为一个权重参数。接着，相位调整单元352使用第一补偿参数C1调整第k段的数据信号D1中的相位。简单原理为，以相同振幅而言，如果周期参考值较所量得的周期长，即表示所量得的周期较短，可以予以调长作为补偿。举例来说，当所量得的周期较短，将第k段的数据信号D1的起始时间提前，其中第一补偿参数C1可做为调整起始时间的依据，减少相位误差Δ1，将第k段的数据信号D1的结束时间延后，其中第一补偿参数C1可做为调整结束时间的依据，减少相位误差Δ2，也就是说，调整第k段的数据信号D1的周期信号W_k，使周期信号W_k更接近周期参考值W_k’，减少第k段的数据信号D1的相位误差。同理可得，本示范实施例也可调整第k+1段的数据信号D1，通过最大振幅A_k+1对照取得周期参考值W_k+1’，计算周期信号W_k+1与周期参考值W_k+1’的误差，减少相位误差Δ3与相位误差Δ4，即可减少第k+1段的数据信号D1的误差。

如此一来，通过调整数据信号D1中每一段的周期信号，可增加数据信号D1的可靠性。

[第三示范实施例]

图6是依照本发明的第三示范实施例的一种数据恢复的校正电路的方块图。请参照图3以及图6，第二示范实施例与第三示范实施例的主要区别在于补偿电路630。

具体地讲，在本示范实施例中，第二示范实施例与第三示范实施例的区别是周期检测电路120耦接统计单元640，振幅检测电路110耦接修正单元650。

详细来说，统计单元640参考其中预设的标准信号，用以选择或间插出与周期信号W_k相对应的振幅参考值A_k’，输出相对应的振幅参考值A_k’至计算单元651。计算单元651接收上述的振幅参考值A_k’，并且接收振幅检测电路120输出的振幅信号A_k，计算振幅信号A_k与振幅参考值A_k’的差异值，将差异值乘以预设倍数，藉以产生第二补偿参数C2，将第二补偿参数C2输出至相位调整单元652。接着，相位调整单元652使用第二补偿参数C2调整周期信号W_k的起始时间与结束时间，藉以调整数据信号D1的相位，输出校准数据信号。以下配合流程图作更详细的说明。

图7是依照本发明的第三示范实施例所提供的一种数据恢复的校正方法的流程图。首先，在步骤S71中，振幅检测电路110接收数据信号D1与零交越点信号Z，并根据零交越点信号Z对数据信号D1的振幅进行取样，而输出振幅信号A_k。在步骤S72中，周期检测电路120接收零交越点信号Z与时钟信号PCLK，并根据零交越点信号Z对时钟信号PCLK进行取样，而输出周期信号W_k。在步骤S73中，统计单元640预设标准信号，标准信号包括多个振幅参考值与多个周期参考值。在步骤S74中，统计单元640选择或间插出与周期信号W_k相对应的振幅参考值A_k’，因此统计单元640可以输出相对应的振幅参考值A_k’给计算单元651。在步骤S75中，计算单元651接收振幅信号A_k与振幅参考值A_k’，计算振幅信号A_k与振幅参考值A_k’的差异值，将差异值乘以预设倍数，藉以产生第二补偿参数C2。在步骤S76中，相位调整单元652使用第二补偿参数C2调整周期信号W_k的起始时间与结束时间，藉以调整数据信号D1的相位，输出校准数据信号。

其简单原理为，以相同周期而言，如果振幅参考值较所量得的振幅大，即表示所量得的振幅较小，可以予以调短作为补偿。举例来说，图8是依照本发明的第三示范实施例所提供的一种数据恢复的校正方法的波形图。参照图6与图8，周期检测电路120可取样在第k段的数据信号D1中的周期W_k输出至统计单元640，而统计单元640参考其中预设的标准信号，用以选择或间插出与周期信号W_k相对应的振幅参考值A_k’，输出相对应的振幅参考值A_k’至计算单元651。振幅检测电路110接收数据信号D1以及零交越点信号Z，取样在第k段的数据信号D1中的最大振幅A_k输出至计算单元651。

承接上述，计算单元651接收第k段的数据信号D1中的最大振幅A_k以及振幅参考值A_k’，计算振幅信号A_k与振幅参考值A_k’的误差，使用算式(2)产生第二补偿参数C2，其中，算式(2)表示如下：

C2＝K₂*(A_k-A_k’)                (1)

在此，K₂为一个权重参数。接着，使用第二补偿参数C2调整第k段的数据信号D1中的相位，如此一来，通过调整数据信号中每一段的周期信号，可增加数据信号的可靠性。

[第四示范实施例]

图9是依照本发明的第四示范实施例的一种数据恢复的校正电路的方块图。请参照图3以及图9，第四示范实施例与第二示范实施例的主要区别在于切割电路960、锁相回路970以及比特串流产生器980。

具体地讲，在本示范实施例中，请参照图9，数据恢复的校正电路900除上述图3所包括的电路之外，还可包括切割电路(slicer)960、锁相回路(phase-locked loop，PLL)970以及比特串流产生器(bit stream generator)980。其中，切割电路960耦接锁相回路970、振幅检测电路110以及补偿电路330。锁相回路970耦接于切割电路960与周期检测电路120之间。比特串流产生器980耦接补偿电路330。

详细来说，切割电路960可接收射频信号RF与切割电平，并且依据切割电平切割射频信号RF，输出数据信号D1至锁相回路970、振幅检测电路110以及补偿电路330，并输出零交越点信号Z给振幅检测电路110以及周期检测电路120。前述射频信号RF例如由光学存储***的读取头所读取提供。锁相回路970可接收及根据数据信号D1的相位而输出时钟信号PCLK至周期检测电路120。比特串流产生器980可接收补偿电路330的校准数据信号并转换成比特串流后输出。

举例来说，图10是依照本发明的第四示范实施例所提供的一种数据恢复的校正方法的波形图。切割电路960可接收射频信号RF与切割电平，并使用切割电平切割射频信号RF，在此，切割过的射频信号为上述的数据信号D1。锁相回路970可接收上述数据信号D1的相位，输出时钟信号PCLK至周期检测电路120。在图10中，锁相回路970输出的时钟信号PCLK与射频信号RF的零交越点二者间的相位差异则以φ_e表示。当φ_e为正值时表示射频信号RF的零交越点领先时钟信号PCLK，而当φ_e为负值时表示射频信号RF的零交越点落后时钟信号PCLK。其中，φ_e例如但不限于为选择射频信号RF的零交越点与相邻两个时钟信号PCLK相位误差绝对值中的较小者，此相位误差绝对值较小的时钟点同时也是比特信号周期的对齐点。CLK表示***时钟，LVL表示在零值交叉前的射频电平(表示射频信号RF为高电平或低电平)，TCLK表示一零值交叉信号，周期信号W表示在零值交叉前的射频周期(表示其周期长度为几个T，例如3T或2T)，而振幅信号A表示在零值交叉前的射频振幅。

此外，振幅检测电路110取样在数据信号D1其中一段的最大振幅A_k，输出振幅信号A_k至统计单元340，产生一个对应的周期参考值W_k’输出至计算单元351。而周期检测电路120取样在数据信号D1其中一段的周期W_k，输出周期信号W_k至计算单元351。计算单元351接收周期信号W_k与周期参考值W_k’，计算周期信号W_k与周期参考值的差异值W_k’，将差异值乘以预设倍数，藉以产生第一补偿参数C1。相位调整单元352使用第一补偿参数C1调整周期信号W_k的起始时间与结束时间，藉以调整数据信号D1的相位，输出校准数据信号。最后通过比特串流产生器980可将校准数据信号转换成比特串流后输出。此比特串流可做为后续的数据处理之用，惟当后续的数据处理可以使用校准数据信号的数据格式时，该比特串流产生器980则可以省略。

综上所述，本发明通过比对振幅与周期和标准信号的振幅与周期，即时调整上述的数据信号在相邻的零交越点之间的相位，据以校准上述的数据信号。由于校准后的数据信号经过相位的补偿，减少失真的现象，因此可用以增加数据信号的可靠性，并增加数据信号的可辨识率，此外，也可通过即时修正数据信号，减少因噪声产生相位以及振幅等的失真信号的影响。

虽然本发明已以实施例公开如上，然其并非用以限定本发明，本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，故本发明的保护范围当视所附权利要求书所界定者为准。

Claims (16)

1.一种数据恢复的校正电路，包括：

一振幅检测电路，接收一数据信号与一零交越点信号，根据该零交越点信号对该数据信号的多个振幅进行取样，而输出一振幅信号；

一周期检测电路，接收该零交越点信号与一时钟信号，根据该零交越点信号计数该时钟信号，而输出一周期信号；以及

一补偿电路，耦接该振幅检测电路及该周期检测电路，接收该振幅信号、该周期信号及该数据信号，通过计算该振幅信号及该周期信号与一标准信号的差异，调整该数据信号的相位，并输出一校准数据信号。

2.如权利要求1所述的数据恢复的校正电路，其中该补偿电路包括：

一统计单元，耦接该振幅检测电路，其中该统计单元预设该标准信号，而该标准信号包括多个振幅参考值与多个周期参考值，用以从这些振幅参考值中间插输出这些周期参考值中与该振幅信号相对应的该周期参考值；以及

一修正单元，耦接该统计单元与该周期检测电路，接收该周期信号与该周期参考值，藉以产生一第一补偿参数，使用该第一补偿参数调整该数据信号的相位，并输出该校准数据信号。

3.如权利要求2所述的数据恢复的校正电路，其中该修正单元包括：

一计算单元，耦接该统计单元与该周期检测电路，接收该周期信号与该周期参考值，计算该周期信号与该周期参考值的一差异值，将该差异值乘以一预设倍数，藉以产生该第一补偿参数；以及

一相位调整单元，耦接该计算单元，使用该第一补偿参数调整该周期信号的一起始时间与一结束时间，藉以调整该数据信号的相位，输出该校准数据信号。

4.如权利要求1所述的数据恢复的校正电路，其中该补偿电路包括：

一统计单元，耦接该周期检测电路，其中该统计单元预设该标准信号，该标准信号包括多个振幅参考值与多个周期参考值，用以间插输出这些振幅参考值中与该周期信号相对应的该振幅参考值；以及

一修正单元，耦接该统计单元与该振幅检测电路，接收该振幅信号与该振幅参考值，藉以产生一第二补偿参数，使用该第二补偿参数调整该数据信号的相位，并输出该校准数据信号。

5.如权利要求4所述的数据恢复的校正电路，其中该修正单元包括：

一计算单元，耦接该统计单元与该振幅检测电路，接收该振幅信号与该振幅参考值，计算该振幅信号与该振幅参考值的一差异值，将该差异值乘以一预设倍数，藉以产生该第二补偿参数；以及

一相位调整单元，耦接该计算单元，使用该第二补偿参数调整该周期信号的一起始时间与一结束时间，藉以调整该数据信号的相位，输出该校准数据信号。

6.如权利要求1所述的数据恢复的校正电路，还包括：

一切割电路，接收一射频信号与一切割电平，依据该切割电平切割该射频信号，而输出该数据信号及该零交越点信号；以及

一锁相回路，耦接该切割电路，接收及根据该数据信号而输出该时钟信号。

7.如权利要求1所述的数据恢复的校正电路，还包括一比特串流产生器，耦接该补偿电路，接收该校准数据信号并转换成一比特串流后输出。

8.一种数据恢复的校正方法，包括：

a.根据一零交越点信号对一数据信号的振幅进行取样，而获得一振幅信号；

b.根据该零交越点信号计数一时钟信号，而获得一周期信号；以及

c.通过计算该振幅信号及该周期信号与一标准信号的差异，调整该数据信号的相位而获得一校准数据信号。

9.如权利要求8所述的数据恢复的校正方法，其中步骤c包括：

d.提供该标准信号，该标准信号包括多个振幅参考值与多个周期参考值；

e.从这些振幅参考值中查找或间插出这些周期参考值中相对应的该周期参考值；

f.计算该周期信号与所查找或间插出的该周期参考值，以产生一第一补偿参数；以及

g.使用该第一补偿参数调整该数据信号的相位，以获得该校准数据信号。

10.如权利要求9所述的数据恢复的校正方法，其中步骤g包括：

计算该周期信号与所查找或间插出的该周期参考值的一差异值；以及

将该差异值乘以一预设倍数，以产生该第一补偿参数。

11.如权利要求9所述的数据恢复的校正方法，其中步骤h使用该第一补偿参数调整该周期信号的一起始时间与一结束时间，藉以调整该数据信号的相位，获得该校准数据信号。

12.如权利要求8所述的数据恢复的校正方法，其中步骤c包括：

i.提供该标准信号，该标准信号包括多个振幅参考值与多个周期参考值；

j.从这些周期参考值中查找或间插出这些振幅参考值中相对应的该振幅参考值；

k.计算该振幅信号与所查找或间插出的该振幅参考值，以产生一第二补偿参数；以及

l.使用该第二补偿参数调整该数据信号的相位，以获得该校准数据信号。

13.如权利要求12所述的数据恢复的校正方法，其中步骤I包括：

计算该振幅信号与所查找或间插出的该振幅参考值的一差异值；以及

将该差异值乘以一预设倍数，以产生该第二补偿参数。

14.如权利要求12所述的数据恢复的校正方法，其中步骤m使用该第二补偿参数调整该周期信号的一起始时间与一结束时间，藉以调整该数据信号的相位，获得该校准数据信号。

15.如权利要求8所述的数据恢复的校正方法，还包括：

依据一切割电平切割一射频信号，以获得该数据信号及该零交越点信号；以及

根据该数据信号的相位而产生该时钟信号。

16.如权利要求8所述的数据恢复的校正方法，还包括将该校准数据信号转换成一比特串流。

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