CN101782631B - 主板电源兼容性测试装置 - Google Patents

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Abstract

一种主板电源兼容性测试装置，包括一用于连接一主板的电源插头、若干用于分别连接若干电源的电源插座及一微处理器，当所述微处理器接收到所述主板发送的开机信号时，发送一低电平控制信号开启若干电源中的一电源，当所述处于开启状态的电源工作正常时，所述电源反馈一电源正常信号给所述微处理器，并给所述主板供电，所述微处理器将接收到的电源正常信号输出给所述主板，使所述主板对所述处于开启状态的电源进行测试，测试完成后，所述主板重启，所述微处理器再次接收到所述主板发送的开机信号时，发送一高电平控制信号以关闭所述处于开启状态的电源，并再次发送一低电平控制信号开启若干电源中的另一电源，以对另一电源进行测试。

Description

主板电源兼容性测试装置
技术领域
本发明涉及一种测试装置，特别涉及一种主板电源兼容性测试装置。
背景技术
主板与电源的兼容性是衡量电子设备(如个人计算机、工作站、服务器和交换机等)性能的重要指标之一。为了确保电子设备的品质，制造厂商需对主板与电源的兼容性进行严格地测试。
为了保证主板对电源的良好兼容，需采用尽可能多的电源与之进行测试。传统的测试方法是先将一电源的电源插头***一主板的电源插座，按下开机键后，主板开机并自动运行相应的测试软件(如3DMark软件)，以对所述电源进行测试，测试完成后，主板关机。测试人员从所述主板上拔下所述电源的电源插头，并将另一电源的电源插头***所述主板的电源插座，以对另一电源进行测试。整个测试过程主要是人工手动完成，由于每次只能测试所述主板与一种电源的兼容性，故需要反复插拔电源插头及开关机，从而使得测试过程繁琐，且耗费的人力和时间较多，进而影响了测试效率。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种能配合主板对若干电源进行自动测试的主板电源兼容性测试装置，以提高测试效率。
一种主板电源兼容性测试装置，包括一用于连接一主板的电源插头、若干用于分别连接若干电源的电源插座及一微处理器，当所述微处理器接收到所述主板发送的开机信号时，发送一低电平控制信号开启若干电源中的一电源，当所述处于开启状态的电源工作正常时，所述处于开启状态的电源反馈一电源正常信号给所述微处理器，并给所述主板供电，所述微处理器将接收到的电源正常信号输出给所述主板，使所述主板对所述处于开启状态的电源进行测试，测试完成后，所述主板重启，所述微处理器再次接收到所述主板发送的开机信号时，发送一高电平控制信号以关闭所述处于开启状态的电源，并再次发送一低电平控制信号开启若干电源中的另一电源，以对另一电源进行测试。
上述主板电源兼容性测试装置利用所述电源插头来连接所述主板及所述若干电源插座来连接所述若干电源，并通过所述微处理器根据接收到的信号来开启和关闭所述若干电源，以配合所述主板完成对所述若干电源的自动测试，节省了人力和时间，提高了测试效率。
附图说明
下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述：
图1是本发明主板电源兼容性测试装置较佳实施方式的示意图。
图2是本发明主板电源兼容性测试装置配合主板测试第一电源及第二电源较佳实施方式的电路图。
图3是本发明主板电源兼容性测试装置配合主板测试第一电源及第二电源较佳实施方式的示意图。
具体实施方式
请共同参考图1至图3，本发明主板电源兼容性测试装置100用于配合一主板200完成对若干电源兼容性的自动测试，其较佳实施方式包括一用于连接所述主板200的电源插头110、若干用于连接所述若干电源的电源插座、一存储有预定程序以根据接收到的信号来开启和关闭所述若干电源的微处理器130、一显示所述微处理器130及所述若干电源能否正常工作的显示单元150及一通过一开关K与所述微处理器130相连的装置电源160。在本实施方式中，仅以所述主板电源兼容性测试装置100配合所述主板200对一第一电源310及一第二电源320的兼容性进行测试为例来进行说明。在其他实施方式中，可根据实际需要增加电源的数目。
所述第一电源310通过所述若干电源插座中的一电源插座122与所述微处理器130相连，所述第二电源320通过所述若干电源插座中的另一电源插座124与所述微处理器130相连，所述主板200通过所述电源插头110与所述微处理器130相连，以实现所述第一电源310、所述第二电源320及所述主板200与所述微处理器130之间的通讯。所述电源插座122、124均与所述电源插头110相连，以将所述第一电源310或第二电源320输出的电压信号传输给所述主板200。所述显示单元150包括三个发光二极管D1-D3及三个电阻R1-R3。所述发光二极管D1-D3的阳极分别通过所述电阻R1-R3与所述微处理器130的引脚P1.1-P1.3相连，所述发光二极管D1-D3的阴极均接地。所述开关K用于控制所述主板电源兼容性测试装置100的开启和关闭，其一端与所述微处理器130的电源引脚Vcc相连，其另一端与所述装置电源160相连。在其他施方式中，所述发光二极管及电阻的具体数目可根据所述电源插座的数目而进行相应调整。
进行测试时，先将所述电源插头110***所述主板200的电源插座，并将所述第一电源310及第二电源320的电源插头分别***所述电源插座122、124。再闭合所述开关K，所述装置电源160开始为所述微处理器130供电，若发光二极管D1发光，则表明所述微处理器130能正常工作，反之，则证明所述微处理器130出现异常，需更换所述微处理器130。待所述发光二极管D1发光后，按下开机键，所述主板200上发出的开机信号PSON经所述电源插头110传送给所述微处理器130，所述微处理器130接收到所述开机信号PSON后发送一低电平控制信号PS1给所述电源插座122，以开启所述第一电源310。所述第一电源310反馈一信号PG1给所述微处理器130，并开始向所述主板200供电。所述微处理器130接收到所述信号PG1后输出一电源正常信号PG给所述主板200，且其引脚P1.2发出高电平信号，所述发光二极管D2发光，以告诉测试人员所述第一电源310正常。所述主板200接收到所述电源正常信号PG后正式进入开机状态，并在开机后自动运行相应的测试软件(如3DMark软件)，以对所述第一电源310进行测试。
所述测试软件运行完后，所述主板200自动重启，并再次发送一开机信号PSON给所述微处理器130。所述微处理器130接收到所述开机信号PSON后发送一高电平控制信号PS1给所述电源插座122，以关闭所述第一电源310，并发送一低电平控制信号PS2给所述电源插座124，以开启所述第二电源320。所述第二电源320反馈一信号PG2给所述微处理器130，并开始向所述主板200供电。所述微处理器130接收到所述信号PG2后输出一电源正常信号PG给所述主板200，且其引脚P1.3发出高电平信号，所述发光二极管D3发光，以告诉测试人员所述第二电源320正常。所述主板200接收到所述电源正常信号PG后正式进入开机状态，并在开机后自动运行所述测试软件，以对所述第二电源310进行测试。
上述主板电源兼容性测试装置100利用所述电源插头110来连接所述主板200及所述若干电源插座来连接所述若干电源，并通过所述微处理器130根据接收到的信号来开启和关闭所述若干电源，以配合所述主板200来完成对所述若干电源兼容性的自动测试，节省了人力和时间，提高了测试效率。所述测试装置还通过所述显示单元150来显示测试时所述微处理器130及所述若干电源是否正常工作，从而避免了因所述微处理器130及所述若干电源的异常而造成的测试误差，进而使测试结果更加准确。

Claims (4)

1.一种主板电源兼容性测试装置，包括一用于连接一主板的电源插头、若干用于分别连接若干电源的电源插座及一微处理器，当所述微处理器接收到所述主板发送的开机信号时，发送一低电平控制信号开启若干电源中的一电源，当所述处于开启状态的电源工作正常时，所述处于开启状态的电源反馈一电源正常信号给所述微处理器，并给所述主板供电，所述微处理器将接收到的电源正常信号输出给所述主板，使所述主板对所述处于开启状态的电源进行测试，测试完成后，所述主板重启，所述微处理器再次接收到所述主板发送的开机信号时，发送一高电平控制信号以关闭所述处于开启状态的电源，并再次发送一低电平控制信号开启若干电源中的另一电源，以对另一电源进行测试。
2.如权利要求1所述的主板电源兼容性测试装置，其特征在于：所述微处理器还与一显示单元相连，所述显示单元包括若干用于分别显示所述微处理器及所述若干电源是否工作正常的发光二极管。
3.如权利要求2所述的主板电源兼容性测试装置，其特征在于：每一所述发光二极管的阳极分别通过一电阻与所述微处理器一相应的引脚相连，阴极接地。
4.如权利要求1所述的主板电源兼容性测试装置，其特征在于：所述微处理器还通过一开关与一装置电源相连，所述装置电源为所述微处理器供电，所述开关用于控制所述主板电源兼容性测试装置的开启和关闭。
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