CN101769723B - 电子装置及其物体形状参数测量方法 - Google Patents

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Abstract

一种电子装置的测量物体形状参数的方法，包括下列步骤：拍摄包括有待测物体的图像并通过触摸屏进行显示；通过电子装置上设置的测距单元测量待测物体与电子装置的距离；接收用户在触摸屏上针对待测物体的图像进行的触摸操作，得到触摸区域；计算出触摸区域的形状参数；根据待测物体与电子装置的距离、预设的距离与物像比例的对应关系以及触摸区域的形状参数，计算出待测物体的实际形状参数。本发明还提供一种对应的电子装置。

Description

电子装置及其物体形状参数测量方法
技术领域
本发明涉及电子测量领域，尤其涉及一种能够测量物体形状参数的电子装置及其测量方法。
背景技术
在我们日常生活中测量物体一些参数是必不可少的。大到建筑物，小到精密零件在进行一些操作时都需要进行测量工作。通常我们会采用手工测量，这种方式需要携带一些较重的测量工具因此会使得操作不方便，而且十分耗时。
现在也有采用计算机视觉图像进行分析测量，虽然精准度很高，但通常需要专业的分析人员与专业分析软件，在日常生活中很难普及，普通人很难实施。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种方便测量物体形状参数的电子装置及其测量方法。
一种电子装置，其包括：触摸显示单元和摄像单元，所述触摸显示单元用于显示摄像单元拍摄的待测物体的图像，并接收用户的触摸操作，产生触摸区域，所述电子装置还包括测距单元和处理单元，所述测距单元用于测量待测物体与电子装置的距离；所述处理单元用于计算用户在触摸显示单元上触摸而产生的触摸区域的形状参数，再根据待测物体与电子装置的距离、预设的距离与物像比例的对应关系以及触摸区域的形状参数，计算出该待测物体的实际形状参数。
一种摄像装置的测量物体形状参数的方法，包括下列步骤：
拍摄包括有待测物体的图像并通过触摸屏进行显示；
通过摄像装置上设置的测距单元测量待测物体与摄像装置的距离；
接收用户在触摸屏上针对待测物体的图像进行的触摸操作，得到触摸区域；
计算出触摸区域的形状参数；
根据待测物体与摄像装置的距离、预设的距离与物像比例的对应关系以及触摸区域的形状参数，计算出待测物体的实际形状参数。
一种测量物体形状参数的方法，包括下列步骤：
拍摄包括有待测物体的图像并通过触摸屏进行显示；
测量待测物体与电子装置的距离；
接收用户在触摸屏上针对图像中对待测物体的图像进行的触摸操作得到触摸区域；
计算出被选取图像的形状参数；
根据待测物体与电子装置的距离、预设的距离与物像比例的对应关系以及触摸区域的形状参数，计算出该待测物体的形状参数。
利用上述电子装置及其测量方法进行物体参数测量时，只需要对着物体拍摄图像，并在显示的图像中圈出或者选出需要测量的物体，便可以得到物体的形状参数，都不用接触或者近距离靠近物体，操作十分方便。
附图说明
图1是一较佳实施方式的具有物体形状参数测量功能的电子装置的功能模块图。
图2a是图1所示的电子装置拍摄到的图像示意图。
图2b是用户在图2a所示的图像中勾勒的待测物体的轮廓示意图。
图3是一较佳实施方式的电子装置测量物体形状参数的方法流程图。
具体实施方式
请参阅图1，电子装置100包括：触摸显示单元101、摄像单元103、处理单元105和测距单元107。
所述触摸显示单元101用于显示摄像单元103拍摄待测物体的图像，并接收用户的触摸操作，产生对应的触摸区域。
测距单元107用于以无线形式测量待测物体与电子装置100的距离。如通过红外线发射和接收时间差计算得到距离，也可以是激光、超声波和发射和接收时间差计算得到距离。
所述处理单元105用于计算用户在触摸显示单元101上触摸而产生的触摸区域的形状参数，再根据待测物体与电子装置100的距离、预设的距离与物像比例（图像上物体的尺寸与实际被拍摄物体的尺寸比例）的对应关系以及触摸区域的形状参数，计算出待测物体的实际形状参数，并通过触摸显示单元101显示待测物体的实际形状参数。所述触摸区域包括用户触摸的轨迹和轨迹围成的区域。所述形状参数包括：二维的长度、周长以及面积等。所述触摸区域的形状参数可以根据触摸区域在触摸显示单元101上的横纵坐标计算得到，也可以直接通过触摸区域所涉及的触摸显示单元101上触摸点的数量得到。
如图2a所示，触摸显示单元101显示有图像200，假设用户需要测量图像200中窗户A的形状参数，那么用户就可以用手指在触摸显示单元101上沿着窗户A的轮廓画一圈，产生图2b中所示的触摸区域B。先通过触摸区域B在触摸显示单元101的X轴和Y轴上的位置得到触摸区域B的长、宽以及面积等参数，然后乘以窗户A与电子装置100的距离对应的物象比例就得到了窗户A的实际长、宽以及面积等参数。用户的触摸动作（触摸区域）可根据需要测量的参数不同而不同，如测量长度或者宽度可以只画直线轨迹或者仅仅触摸几个端点即可。测量面积则有必要圈出其轮廓或者触摸待测物体的图像对应的所有区域。
可见，利用上述电子装置100进行待测物体的实际参数测量时，只需要对着物体拍摄图像，并在显示的图像中圈出或者划出需要测量的物体，便可以得到物体的实际形状参数，都不用接触或者近距离靠近物体，操作十分方便。
请参阅图3，为一种电子装置的待测物体形状参数测量方法，包括下列步骤：
步骤S301，拍摄包括有待测物体的图像并通过触摸屏进行显示。
步骤S303，通过电子装置上设置的测距单元测量待测物体与电子装置的距离。
步骤S305，接收用户在触摸屏上针对待测物体的图像进行的触摸操作，得到触摸区域。
步骤S307，计算出触摸区域的形状参数。
步骤S309，根据待测物体与电子装置的距离、预设的距离与物像比例的对应关系以及触摸区域的形状参数，计算出该触摸区域对应的图像上指示的待测物体的实际形状参数。
步骤S311，通过触摸屏显示待测物体的实际形状参数。
本技术领域的普通技术人员应当认识到，以上的实施方式仅是用来说明本发明，而并非用作为对本发明的限定，只要在本发明的实质精神范围之内，对以上实施例所作的适当改变和变化都落在本发明要求保护的范围之内。

Claims (7)

1.一种电子装置，其包括：触摸显示单元和摄像单元，所述触摸显示单元用于显示摄像单元拍摄的待测物体的图像，并接收用户的触摸操作，产生触摸区域，其特征在于：所述电子装置还包括测距单元和处理单元，所述测距单元用于测量待测物体与电子装置的距离；所述处理单元用于计算用户在触摸显示单元上触摸而产生的触摸区域的形状参数，再根据待测物体与电子装置的距离、预设的距离与物像比例的对应关系以及触摸区域的形状参数，计算出该待测物体的实际形状参数。
2.如权利要求1所述的电子装置，其特征在于，所述处理单元还用于通过触摸显示单元显示待测物体的实际形状参数。
3.如权利要求1所述的电子装置，其特征在于，所述测距单元是通过红外发射和接收的时间差来测量距离。
4.一种摄像装置的测量物体形状参数的方法，包括下列步骤：
拍摄包括有待测物体的图像并通过触摸屏进行显示；
通过摄像装置上设置的测距单元测量待测物体与摄像装置的距离；
接收用户在触摸屏上针对待测物体的图像进行的触摸操作，得到触摸区域；
计算出触摸区域的形状参数；
根据待测物体与摄像装置的距离、预设的距离与物像比例的对应关系以及触摸区域的形状参数，计算出待测物体的实际形状参数。
5.如权利要求4所述的摄像装置的测量物体形状参数的方法，其特征在于，还包括通过触摸屏显示待测物体的实际形状参数的步骤。
6.一种测量物体形状参数的方法，包括下列步骤：
拍摄包括有待测物体的图像并通过触摸屏进行显示；
测量待测物体与电子装置的距离；
接收用户在触摸屏上针对图像中对待测物体的图像进行的触摸操作得到触摸区域；
计算出被选取图像的形状参数；
根据待测物体与电子装置的距离、预设的距离与物像比例的对应关系以及触摸区域的形状参数，计算出该待测物体的形状参数。
7.如权利要求6所述的测量物体形状参数的方法，其特征在于，所述形状参数包括长度、周长和面积中的至少一种。
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