CN101738251A - 自动测试***及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种自动测试***及方法，用以测试至少一发光二极管光源。自动测试***包括影像撷取装置、处理装置及指示装置。影像撷取装置用以取得至少一LED光源的一影像信息；处理装置电性连接于影像撷取装置，处理装置接收影像信息并分析各发光二极管光源的至少一光学特性，以取得一分析结果；指示装置电性连接于处理装置，用以指示分析结果。本发明的自动测试***及方法包括针对发光二极管光源的影像信息，分析发光二极管光源的光学特性，以判断发光二极管光源是否通过测试，藉此达到自动化测试的目的，提高测试效率及降低测试成本，且易于掌控此类应用发光二极管光源的电子产品的品管。
Description
技术领域
本发明涉及一种自动测试***及方法，特别是涉及一种应用于测试至少一发光二极管光源的自动测试***及方法。
背景技术
一般电子产品在出厂前均需接受严格的开机测试，将具有缺陷或故障的瑕疵品先行挑出，以维持良好的品管要求，避免这些瑕疵品流入市面后可能对厂商造成信誉受损等问题。举例来说，在电子产品上大多数都设有指示其使用状态或电源的发光二极管(LED)光源，或是由多个发光二极管光源所组成的显示面板，为确保这些发光二极管光源可正常运作，便必须通过检测来判断发光二极管光源是否因损坏而呈亮暗点状态，或其具有亮度不准的情况。目前针对电子装置的发光二极管光源多采用人工目测的方式来判断，然而这种检测方式极耗费时间及人力，将增加产品的测试成本，此外单纯以肉眼观察较容易产生疏忽，且对于发光二极管光源的颜色偏差较难以去判别。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种测试至少一发光二极管光源的自动测试***。
为达到上述的目的，本发明的自动测试***包括影像撷取装置、处理装置及指示装置。影像撷取装置用以取得至少一发光二极管光源的影像信息；处理装置电性连接于影像撷取装置，处理装置接收影像信息并分析各发光二极管光源的至少一光学特性，以取得一分析结果；指示装置电性连接于处理装置，用以输出分析结果。藉此设计，本发明的自动测试***可应用于电子产品的生产线上，以自动化检测方式来测试电子产品的发光二极管指示灯或发光二极管显示面板，判断是否有亮暗点或其他不良状态，以取代传统人工目测方式，提高测试效率及降低测试成本。
本发明的自动测试方法应用于前述的自动测试***，其方法包括以下步骤：取得至少一发光二极管光源的一影像信息；传送影像信息至处理装置，以分析至少一发光二极管光源的光学特性，以取得分析结果；指示分析结果。其中光学特性可包括发光二极管光源的亮度、颜色或亮暗点状态。
藉此设计，本发明的自动测试***及方法包括针对发光二极管光源的影像信息，分析发光二极管光源的光学特性，以判断发光二极管光源是否通过测试，藉此达到自动化测试的目的，提高测试效率及降低测试成本，且易于掌控此类应用发光二极管光源的电子产品的品管。
附图说明
图1为本发明的自动测试***的示意图。
图2为本发明的自动测试方法的流程图。
图3为本发明的自动测试***另一实施例的示意图。
主要组件符号说明：
自动测试***1、1a
影像撷取装置10
处理装置20
软件程序22、22a
数据库24、24a
指示装置30
电子装置100
发光二极管显示装置100a
发光二极管光源110、110a
测试动线120
具体实施方式
为能使审查员能更了解本发明的技术内容，特举出较佳实施例说明如下。
以下请先参考图1，图1为本发明的自动测试***1的示意图。本发明的自动测试***1可应用于测试至少一发光二极管光源110。如图1所示，在本实施例中，至少一发光二极管光源110为应用于电子装置100的指示灯。电子装置100放置于产品的测试动线120上，当电子装置100通过定点时，便可藉由本发明的自动测试***1对至少一发光二极管光源110进行自动测试。电子装置100可为一笔记本型计算机、一手机或一卫星导航***(GPS)。
如图1所示，自动测试***1包括影像撷取装置10、处理装置20及指示装置30。影像撷取装置10用以取得至少一发光二极管光源110的影像信息。处理装置20电性连接于影像撷取装置10，经由前述影像撷取装置10所取得的影像信息可传送至处理装置20接收，藉由处理装置20对影像信息中各发光二极管光源110的至少一光学特性进行分析，以取得一分析结果。其中处理装置20包括软件程序22及数据库24，软件程序22用以分析影像信息中各发光二极管光源110的至少一光学特性，以取得至少一分析数据；数据库24用以比对至少一分析数据，以取得分析结果。指示装置30电性连接于处理装置20，用以指示分析结果。
请参考图2，图2为本发明的自动测试方法的流程图。需注意的是，以下虽以图1所示的自动测试***1为例说明本发明的自动测试方法，但本发明并不以适用于自动测试***1为限，任何其他具类似体系结构的自动测试***亦可适用本发明的自动测试方法。如图2所示，本发明的自动测试方法包括步骤210至步骤240。以下将详细说明本发明的自动测试方法的各个步骤。
首先进行步骤210：取得至少一发光二极管光源110的一影像信息。如图1所示，本发明的自动测试方法应用于前述的自动测试***1。自动测试***1包括影像撷取装置10，在本实施例中，影像撷取装置10为一摄像机，但亦可使用具有影像撷取功能的感光传感装置或其他类似装置所取代，不以本实施例为限。将影像撷取装置10设置于测试动线120上的定点，通过程序控制或外接电源等方式启动至少一发光二极管光源110，或使得电子装置100呈开机状态，因此当电子装置100随着测试动线120经过定点时，即可藉由影像撷取装置10取得至少一发光二极管光源110的一影像信息。
在步骤210后进行步骤220：传送影像信息至处理装置20，以分析各发光二极管光源110的至少一光学特性，以取得分析结果。如图1所示，自动测试***1包括处理装置20，在前述步骤210所取得的影像信息可传送至处理装置20，藉由处理装置20针对此影像信息加以分析处理，以取得一分析结果。所取得的分析结果可储存于处理装置20中。其中处理装置20包括软件程序22及数据库24，藉由软件程序22可找出影像信息中各发光二极管光源110的位置，依设定及需求不同而选择欲分析的发光二极管光源110，并针对单一或多个发光二极管光源110的至少一光学特性进行数据分析，以取得至少一分析数据；将前述所取得的至少一分析数据与数据库24内建的多个光学特性数据资料加以比对，即可取得分析结果。其中光学特性包括发光二极管光源的一亮度、一颜色或一亮暗点状态，依据软件程序22的设定不同来针对不同光学特性进行分析。举例而言，当本发明的自动测试方法应用于电子装置100的指示灯测试时，由于指示灯依不同状态可能会呈现不同色彩，因此软件程序22可设定颜色及亮暗点等光学特性，针对指示灯亮起时颜色是否正确，或指示灯是否未亮起等状态进行分析。此外数据库24亦可依据不同发光二极管光源的测试，而变更其内建的多个光学特性数据资料。
在步骤220后进行步骤230：指示分析结果。如图1所示，自动测试***1包括指示装置30，藉由指示装置30可指示出前述步骤220所取得的分析结果，且依据指示装置30的不同可运用不同方式呈现分析结果。在本实施例中，指示装置30为一显示装置，通过显示装置可利用视觉方式呈现分析结果，例如可依据发光二极管光源通过测试与否，在显示装置上显示对应的文字或图形，以辅助现场测试人员进行判别。此外指示装置30亦可为一警报装置，当未通过测试时，可通过警报装置发出警示声或闪光等效果，同样具有辅助判别的功能。
此外，在步骤220后还可进行步骤240：传送分析结果至服务器40中储存。藉由前述步骤220所取得的分析结果除了可藉由指示装置30加以指示外，处理装置20亦可将分析结果传送至服务器40中储存。服务器40可供存入大量发光二极管光源110的分析结果，其可供测试人员查询同一次进行测试的所有电子装置100的测试结果，或比对不同次的测试结果，以掌控相关产品的品管状态。
请参考图3，图3为本发明的自动测试***1a另一实施例的示意图。如图3所示，在本实施例中，至少一发光二极管光源110a为应用于发光二极管显示装置100a的面板光源。本发明的自动测试***1a亦可应用前述自动测试方法，经由前述步骤针对发光二极管显示装置100a进行测试。由于显示装置100a的面板光源由多个发光二极管光源110a所构成，容易出现有亮暗点的情况，因此通过软件程序22a设定针对亮暗点进行分析，且在数据库内建对应发光二极管显示装置100a的亮暗点特性的数据资料，藉由自动测试***1a以检测发光二极管显示装置100a是否具有亮暗点或所具有的亮暗点数量，并通过指示装置30指示所取得的分析结果。
藉此设计，本发明的自动测试***及方法包括针对发光二极管光源的影像信息，分析发光二极管光源的光学特性，以判断发光二极管光源是否通过测试，藉此达到自动化测试的目的，提高测试效率及降低测试成本，且易于掌控此类应用发光二极管光源的电子产品的品管。
综上所陈，本发明无论就目的、手段及功效，处处均显示其迥异于公知技术的特征，为一大突破，恳请审查员明察，早日赐准专利，使嘉惠社会，实感德便。惟须注意，上述实施例仅为例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明的范围。任何本领域技术人员均可在不违背本发明的技术原理及精神下，对实施例作修改与变化。本发明的权利保护范围应如所附的权利要求书范围所述。
Claims (21)
1.一种自动测试***，用以测试至少一发光二极管光源，所述自动测试***包括：
一影像撷取装置，用以取得所述至少一发光二极管的一影像信息；
一处理装置，电性连接于所述影像撷取装置，所述处理装置接收所述影像信息并分析各所述发光二极管光源的至少一光学特性，以取得一分析结果；以及
一指示装置，电性连接于所述处理装置，用以指示所述分析结果。
2.如权利要求1所述的自动测试***，其中所述处理装置包括：
一软件程序，用以分析所述影像信息中各所述发光二极管光源的至少一光学特性，以取得至少一分析数据；
一数据库，用以比对所述至少一分析数据，以取得所述分析结果。
3.如权利要求1所述的自动测试***，其中所述光学特性包括所述发光二极管光源的一亮度、一颜色或一亮暗点状态。
4.如权利要求1所述的自动测试***，其中所述处理装置可储存所述分析结果。
5.如权利要求1所述的自动测试***，其中所述指示装置为一显示装置。
6.如权利要求1所述的自动测试***，其中所述指示装置为一警报装置。
7.如权利要求1所述的自动测试***，还包括一服务器，电性连接于所述处理装置，所述处理装置可将所述分析结果传送至所述服务器储存。
8.如权利要求1所述的自动测试***，其中所述发光二极管光源为应用于一电子装置的指示灯。
9.如权利要求1所述的自动测试***，其中所述发光二极管光源为应用于一发光二极管显示装置的面板光源。
10.一种自动测试方法，用以测试至少一发光二极管光源，所述方法包括：
取得所述至少一发光二极管光源的一影像信息；
传送所述影像信息至一处理装置，以分析各所述发光二极管光源的至少一光学特性，以取得一分析结果；以及
指示所述分析结果。
11.如权利要求10所述的自动测试方法，其中藉由一影像撷取装置以取得所述影像信息。
12.如权利要求10所述的自动测试方法，其中所述处理装置包括一软件程序，用以对所述影像信息进行数据分析，以取得至少一分析数据。
13.如权利要求12所述的自动测试方法，其中所述处理装置包括一数据库，藉由所述数据库与所述至少一分析数据进行比对，以取得所述分析结果。
14.如权利要求10所述的自动测试方法，其中藉由所述处理装置可储存所述分析结果。
15.如权利要求10所述的自动测试方法，其中所述光学特性包括所述发光二极管光源的一亮度、一颜色或一亮暗点状态。
16.如权利要求10所述的自动测试方法，其中藉由一指示装置指示所述分析结果。
17.如权利要求10所述的自动测试方法，其中所述指示装置为一显示装置。
18.如权利要求10所述的自动测试方法，其中所述指示装置为一警报装置。
19.如权利要求10所述的自动测试方法，还包括以下步骤：
传送所述分析结果至一服务器中储存。
20.如权利要求10所述的自动测试方法，其中所述发光二极管光源为应用于一电子装置的指示灯。
21.如权利要求10所述的自动测试方法，其中所述发光二极管光源为应用于一发光二极管显示装置的面板光源。
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