CN101650655A - 芯片测试数据的分析方法 - Google Patents

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薛魏伟
章国平
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Abstract

本发明涉及一种测试芯片数据的分析方法，其通过测试机台生成的数据最终实现测试结果的分析，该测试分析方法中利用了一种分析软件，该分析软件中包括所有测试机台所对应的库函数。本发明所述的分析方法，不但方法步骤简单，而且由于不需要重复编程，因此可有效的节约测试者的大量时间和精力，缩短工程周期，故此很大程度上降低了人力成本。

Description

芯片测试数据的分析方法
技术领域
本发明涉及诸如IC测试芯片的分析方法，尤其是指IC测试芯片数据的分析方法。
背景技术
在半导体制造工业中，一般在使用之前会对其产品进行测试，其目的在于控制测试***硬件以一定的方式保证被测器件达到或超越它的那些被具体定义在器件规格书里的设计指标；其测试程序通常分为几个部分，如DC测试、功能测试、AC测试等。DC测试验证电压及电流参数；功能测试验证芯片内部一系列逻辑功能操作的正确性；AC测试用以保证芯片能在特定的时间约束内完成逻辑操作；其中程序还要有控制***测试设备比如手柄Handler和探测器Probe的能力；还要搜集和提供摘要性质(或格式)的测试结果或数据，这些结果或数据提供有价值的信息给测试或生产工程师，用于良率(Yield)分析和控制。现以芯片测试为例，目前现有的半导体设计公司和测试厂在分析大量的IC测试数据时，各自都有自己的测试分析方法，整个芯片测试行业并没有一个统一的模式，这样就造成每开发一款新的芯片，都需要再根据测试机台生成的数据文件格式再利用某种语言去开发对应的测试分析程式，由于开发测试程序不是一件简单的正确或者错误的事情，它是一个在给定的状况下寻找最佳解决方案的过程，所以比较费时，比如对一款新开发的芯片，选择一特定的数量，在选择好对应的机台后，再根据该机台生成的数据文件格式选中某种语言来编写相应程序以得出数据分析结果，这样每变更一次不同类别的芯片，就得花大量的时间通常至少一个月的时间进行一次编程，这样务必浪费了编程人员大量的时间，而且行业之间就很可能不断的做重复动作，所以无形中浪费了大量的人力和物力。
因此需要为广大用户提供一种更加简便的方法来解决以上问题。
发明内容
本发明实际所要解决的技术问题是如何提供一种不需要重复编程的可使用所有规格芯片的数据的分析方法。
为了实现本发明的上述目的，本发明提供了一种新的数据分析方法，其通过测试机台生成的数据最终实现测试结果的分析，其特征在于：该测试分析方法中利用了一种分析软件，该分析软件中包括所有测试机台所对应的库函数。
本发明所述的芯片数据的分析方法，不但方法步骤简单，而且由于不需要重复编程，因此可有效的节约测试者的大量时间和精力，缩短工程周期，故此很大程度上降低了人力成本。
附图说明
图1是根据本发明操作时的一个具体实施例；
图2是根据本发明芯片测试数据的分析***流程图；
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的说明。
所谓测试***称为ATE，由电子电路和机械硬件组成，是由同一个主控制器指挥下的电源、计量仪器、信号发生器、模式生成器和其他硬件项目的集合体，用于模仿被测器件将会在应用中体验到的操作条件，以发现不合格的产品。该测试***包括测试***硬件和测试***软件。其中测试***硬件由运行一组指令(测试程序)的计算机控制，在测试时提供合适的电压、电流、时序和功能状态给被测器件并监测被测器件的响应，对比每次测试的结果和预先设定的界限，做出pass或fail的判断。其中对程序控制测试***的硬件进行测试，对每个测试项给出pass或fail的结果。Pass指器件达到或者超越了其设计规格；Fail则相反，器件没有达到设计要求，不能用于最终应用。测试程序要充分利用测试***的性能以获得良好的测试覆盖率，故一些测试方法会受到测试***硬件或软件性能的限制。
由于现有的芯片测试需要先选中特定型号的机台，然后由该测试机台生成相应的数据，测试工程师根据该生成的数据再利用某种语言来编写程序，以得出需要的如方差，平均值等各种测试结果，以便于测试工程师根据该数据结果对芯片进行分析，为了节约测试人员的精力，可将现有的如V50、6700、V77等各种型号的所有IC测试机台整合在一起，利用某一款语言开发出一种测试分析软件，该分析软件由于包括了现有所有型号的测试机台，所以在测试芯片时，需要选择好对应的测试机台，然后再调用该所选择的测试机台所对应的库函数，这样就实现了对该测试机台的生成数据进行分析，即可对任何型号的芯片进行分析，因此不再需要测试工程师再另外编写程序就可直接得到测试结果，这样不但节约了测试工程师的时间，而且缩短了整个工程周期。
现以这种新的分析软件的应用为例举例说明，请结合参阅图1和图2所示，现如有一定数量的一种芯片需要测试分析，由于各款芯片的测试项目是变量，测试人员首先需要根据测试项目去编写符合该款软件的测试项目文档，即需要利用测试项目转化器，使其测试项目转化成测试***能够识别的文本，再将其导入测试数据分析软件***中，然后在开启的人机界面上，从多种不同类型的测试机台中选择好相对应的机台，以便于调用分析软件中对应的库函数，所述库函数是指由***建立的具有一定功能的函数的集合的函数库中存放的函数，其中每个库函数对应一种相应的机台，再根据其生成的测试项目在生成的文本上设置所述测试项目的上、下限范围，再选择出所要分析数据的路径，确认后即开始进入芯片测试报告生成器，将其转换成一个数据文档，然后就进入了数据报告分析生成器，开始分析数据，最终生成一个分析数据的文档，这样测试工程师就可以很直观分析所有数据，保存生成分析数据的文档，最后关闭整个分析软件，需要补充的是，整个测试数据的分析***还包括一些其他***组件，用于支持该数据分析***的相关软件及安装文件。
以上分析软件的方法是以一个具体实施例来体现该操作的一种方法，该种分析测试芯片的方法利用了一个测试数据的分析软件，其中包括了现有机台所有对应的库函数，用户在测试芯片时，只需要导出该分析软件中对应机台的函数即可对芯片进行数据分析，这样就不再需要测试工程师重复编写程序，这样无疑减少了工程人员的工作量。换句话说，针对所有不同的类型机台做一个分析软件，即该分析软件适用于现有的所有机台，这样当选中好对应的机台后，将其中的分析软件中对应的该机台的程序导出，这样测试工程师就不必再专门针对芯片或者机台分别编写程序，而只需要导出这个分析软件既可，这样即可完成后续的数据分析动作。
以上这种新的分析测试芯片的方法，利用了一个分析软件就整合了整个测试行业中的测试数据的分析方法，不但方法趋于更加简单，而且节省了测试人员的时间，缩短了工程周期，也很大程度上降低了人力成本。

Claims (6)

1.一种芯片测试数据的分析方法，其通过测试机台生成的数据最终实现测试结果的分析，其特征在于：该测试分析方法中利用了一种分析软件，该分析软件中包括所有测试机台所对应的库函数。
2.如权利要求1所述的分析方法，其特征在于：所述分析软件可以是由任何某一款语言开发而成。
3.如权利要求1所述的分析方法，其特征在于：在该方法中，在选择好所对应的测试机台后，然后再调用该所选择的测试机台所对应的库函数。
4.如权利要求1或3所述的分析方法，其特征在于：所述库函数是指由***建立的具有一定功能的函数的集合的函数库中存放的函数。
5.如权利要求1、3、4中任意一项权利要求所述的分析方法，其特征在于：所述每个库函数对应一种相应的机台。
6.如权利要求1所述的分析方法，其特征在于：所述芯片测试数据的分析方法中，在选择了测试机台所对应的库函数后，通过分析即可得出该芯片的最终测试分析数据。
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