CN101551423A - 用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准*** - Google Patents

用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准*** Download PDF

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differential amplifier
amplifier circuit
resistance simulation
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李新育
李红词
陈冰
朱蕴
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Abstract

本发明公开了用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准***，它包括DSP控制器、恒流源电路、热电阻、热电阻模拟电路、第一差分放大电路、第二差分放大电路和第三差分放大电路，所述的热电阻和热电阻模拟电路与所述的恒流源电路串联。本发明可以完全校准传感器布线和计算测量造成的误差，提高温度检测精度，保证器件老化筛选的准确性。

Description

用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准***
技术领域
本发明涉及热电阻模拟校准***，尤其涉及一种用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准***。
技术背景
器件老化筛选车是大批量电子控制产品制作生产过程，用于对各种器件进行老化筛选的设备，使用该设备可以提高器件老化筛选的效率，保证器件老化筛选的质量，避免了人工筛选的各种缺陷。
由于器件老化筛选车的老化筛选是在不同温度条件下进行的，各个环节的温度检测是至关重要。由传感器布线和计算测量造成的误差，将严重影响温度检测精度，降低器件老化筛选的准确性。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，而提供一种用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准***，它可以完全校准传感器布线和计算测量造成的误差，提高温度检测精度，保证器件老化筛选的准确性。
实现上述目的的技术方案是：用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准***，其中，它包括DSP控制器、恒流源电路、热电阻、热电阻模拟电路、第一差分放大电路、第二差分放大电路和第三差分放大电路，所述的热电阻和热电阻模拟电路与所述的恒流源电路串联，其中：
所述的恒流源电路从电源Vcc取得电能，并根据DSP控制器提供的给定电流数值，产生流过热电阻和热电阻模拟电路的相应恒定电流；
所述的热电阻接收来自恒流源电路的输出信号，并且输出信号给热电阻模拟电路，该热电阻两端并联有所述的第一差分放大电路；
所述的热电阻模拟电路根据DSP控制器提供的给定电阻值，模拟出相应的电阻RS，该热电阻模拟电路两端并联有所述的第二差分放大电路；
所述的第三差分放大电路的输入端分别与所述的第一差分放大电路以及第二差分放大电路的输出端相连；
所述的DSP控制器输出给定电流值给恒流源电路，并且根据标准温度输出相应的电阻值给热电阻模拟电路，该DSP控制器分别采集第一差分放大电路以及第三差分放大电路的输出信号。
上述的用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准***，其中，所述的热电阻为PT100热电阻。
上述的用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准***，其中，所述的热电阻模拟电路为与热电阻对应的PT100热电阻模拟电路。
上述的用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准***，其中，所述的热电阻上下两端形成的电压为V2，V1，第一差分放大电路将热电阻上的电压进行放大，输出电压VA＝K(V2-V1)，K为放大倍数，电压VA由DSP控制器进行采样并且获得相应的温度T。
上述的用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准***，其中，所述的热电阻模拟电路上下两端形成的电压为V1，V0，第二差分放大电路将热电阻模拟电路上的电压进行放大，输出电压VB＝K(VI-VO)，K为放大倍数，第三差分放大电路的输出电压VO＝VA-VB。
上述的用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准***，其中，所述的DSP控制器采集第三差分放大电路的输出信号VO后，获得对应的温度TΔ，实测温度为TO-TΔ。
本发明的有益效果是：本发明由于VA，VB的差异在于热电阻的误差和引线的误差引起的，第三差分放大电路将这部分误差取出，然后通过DSP控制器采样第三差分放大电路的输出VO以后自动补偿校正这部分误差。校准传感器布线和计算测量造成的误差，提高温度检测精度，保证器件老化筛选的准确性。
附图说明
图1是本发明的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明作进一步说明。
请参阅图1，图中示出了本发明的用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准***，它包括DSP控制器1、恒流源电路2、热电阻3、热电阻模拟电路4、第一差分放大电路5、第二差分放大电路6和第三差分放大电路7，热电阻3和热电阻模拟电路4与恒流源电路2串联，两者流过的电流是完全一致的，其中：
恒流源电路2从电源Vcc取得电能，并根据DSP控制器1提供的给定电流数值，产生流过热电阻3和热电阻模拟电路1的相应恒定电流，电流值不超过0.75mA；
热电阻3接收来自恒流源电路2的输出信号，并且输出信号给热电阻模拟电路4，该热电阻3两端并联有第一差分放大电路5，热电阻3上下两端形成的电压为V2，V1，第一差分放大电路5将热电阻3上的电压进行放大，输出电压VA＝K(V2-V1)，K为放大倍数，电压VA由DSP控制器1进行采样并且获得相应的温度T；
热电阻模拟电路4根据DSP控制器1提供的给定电阻值，模拟出相应的电阻RS，该热电阻模拟电路4两端并联有第二差分放大电路6，热电阻模拟电路4上下两端形成的电压为V1，V0，第二差分放大电路6将热电阻模拟电路4上的电压进行放大，输出电压VB＝K(VI-VO)，K为放大倍数，；
第三差分放大电路7的输入端分别与第一差分放大电路5以及第二差分放大电路6的输出端相连，第三差分放大电路的输出电压VO＝VA-VB，由于VA，VB的放大倍数是一致的，温度、电阻转换表也是一致的，VA，VB的差异在于热电阻3的误差和引线的误差；
DSP控制器1输出给定电流值给恒流源电路2，并且根据标准温度输出相应的电阻值给热电阻模拟电路4，该DSP控制器1分别采集第一差分放大电路5以及第三差分放大电路7的输出信号，DSP控制器1采集第三差分放大电路7的输出信号VO后，获得对应的温度TΔ，实测温度为TO-TΔ。
本实施例中，热电阻3为PT100热电阻，热电阻模拟电路为与热电阻3对应的PT100热电阻模拟电路。
下面将举例说明，例如：恒流源电路2由场效应管3DJ8和运放LM324组成，DSP控制器1采用型号为DSP2801，给出1V的电压，对应恒流源电路2输出电流为0.5mA，热电阻3采用PT100电阻。
在室温25℃时，PT100电阻上流过0.5mA的电流时产生了电压V2-V1＝51mV。
第一差分放大电路5由LM324组成，VA＝K(V2-V1)，k＝20，则VA＝1020mV。DSP2801，采样并记录VA，并根据电压温度表，获得相应的温度25.5℃。
DSP2801根据室温25℃，将此数值经由场效应管3DJ8组成的PT100热电阻模拟电路，产生100Ω的电阻，则PT100热电阻模拟电路产生的电压VI-VO＝50mV。
第二差分放大电路6由LM324组成，VB＝K(VI-VO)，k＝20，则VB＝1000mV。
第三差分放大电路7由LM324组成，VO＝VA-VB＝20mV。
DSP2801采样到20mV的差值，对应的ΔT＝0.5℃，则实测25.5℃-0.5℃＝25℃，实测温度校正到标准室温。
以上实施例仅供说明本发明之用，而非对本发明保护范围的限制。有关本技术领域的技术人员，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，还可以作出各种变换或变型，而所有等同的技术方案也应归属于本发明保护的范畴之内，由各权利要求所限定。

Claims (6)

1.用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准***，其特征在于，它包括DSP控制器、恒流源电路、热电阻、热电阻模拟电路、第一差分放大电路、第二差分放大电路和第三差分放大电路，所述的热电阻和热电阻模拟电路与所述的恒流源电路串联，其中：
所述的恒流源电路从电源Vcc取得电能，并根据DSP控制器提供的给定电流数值，产生流过热电阻和热电阻模拟电路的相应恒定电流；
所述的热电阻接收来自恒流源电路的输出信号，并且输出信号给热电阻模拟电路，该热电阻两端并联有所述的第一差分放大电路；
所述的热电阻模拟电路根据DSP控制器提供的给定电阻值，模拟出相应的电阻RS，该热电阻模拟电路两端并联有所述的第二差分放大电路；
所述的第三差分放大电路的输入端分别与所述的第一差分放大电路以及第二差分放大电路的输出端相连；
所述的DSP控制器输出给定电流值给恒流源电路，并且根据标准温度输出相应的电阻值给热电阻模拟电路，该DSP控制器分别采集第一差分放大电路以及第三差分放大电路的输出信号。
2.根据权利要求1所述的用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准***，其特征在于，所述的热电阻为PT100热电阻。
3.根据权利要求2所述的用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准***，其特征在于，所述的热电阻模拟电路为与热电阻对应的PT100热电阻模拟电路。
4.根据权利要求1所述的用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准***，其特征在于，所述的热电阻上下两端形成的电压为V2，V1，第一差分放大电路将热电阻上的电压进行放大，输出电压VA＝K(V2-V1)，K为放大倍数，电压VA由DSP控制器进行采样并且获得相应的温度T。
5.根据权利要求1或4所述的用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准***，其特征在于，所述的热电阻模拟电路上下两端形成的电压为V1，V0，第二差分放大电路将热电阻模拟电路上的电压进行放大，输出电压VB＝K(VI-VO)，K为放大倍数，第三差分放大电路的输出电压VO＝VA-VB。
6.根据权利要求1所述的用于器件老化筛选车的热电阻模拟校准***，其特征在于，所述的DSP控制器采集第三差分放大电路的输出信号VO后，获得对应的温度TΔ，实测温度为TO-TΔ。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102749520A (zh) * 2012-06-19 2012-10-24 北京康拓科技有限公司 一种基于pxi总线的多通道高精度铂热电阻模拟板
CN103158576A (zh) * 2011-12-16 2013-06-19 李尔公司 电池电流测量校准的方法及***
CN105068450A (zh) * 2015-08-25 2015-11-18 西北工业大学 用于硬件在回路仿真***的热电阻模拟装置及方法
CN105320021A (zh) * 2014-07-30 2016-02-10 北京国电智深控制技术有限公司 模拟热电阻输出装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103158576A (zh) * 2011-12-16 2013-06-19 李尔公司 电池电流测量校准的方法及***
CN103158576B (zh) * 2011-12-16 2015-10-28 李尔公司 电池电流测量校准的方法及***
US9234943B2 (en) 2011-12-16 2016-01-12 Lear Corporation Method and system for battery current measurement calibration
CN102749520A (zh) * 2012-06-19 2012-10-24 北京康拓科技有限公司 一种基于pxi总线的多通道高精度铂热电阻模拟板
CN105320021A (zh) * 2014-07-30 2016-02-10 北京国电智深控制技术有限公司 模拟热电阻输出装置
CN105068450A (zh) * 2015-08-25 2015-11-18 西北工业大学 用于硬件在回路仿真***的热电阻模拟装置及方法
CN105068450B (zh) * 2015-08-25 2017-09-26 西北工业大学 用于硬件在回路仿真***的热电阻模拟装置及方法

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PB01 Publication
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

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