CN101526585B - 自动开关机测试***及方法 - Google Patents

Abstract

一种自动开关机测试***，可广泛应用于电源设备的电子产品的开关机测试中，该自动开关机测试***包括一处理模块，其用于设置测试参数，接收、储存并且实时监控待测物体的测试信息，以及控制待测物体的测试状态；一显示模块，其用于提供设置测试参数界面，并且显示***设定的测试信息；一电源控制模块，其包括一直流电源控制模块和一交流电源控制模块，一复位控制模块连接；其用于测试前，对***所有的计数电路重置归零；一开关机控制模块，其包括一开机控制模块和一关机控制模块，利用上述自动开关机测试***有效提升测试结果的可靠性及控制设备的简单化，而且使得测试时间大幅减少。

Description

自动开关机测试***及方法 

【技术领域】

本发明涉及一种开关机测试***及方法，且特别是涉及一种自动开关机测试***及方法。 

【背景技术】

很多相关的电子产品，如收录机、电视机、录象机、数码相机等，以及目前的个人计算机、工作站、服务器、便携式计算机及计算机***设备等等，都必须要有电源设备，而有电源就会有电源开关部件，因而我们可利用电源开关在打开电源的瞬间对产品所造成的冲击，来进行产品“开/关”机强度测试，无论是在新产品的开发涉及阶段、纠错阶段或产品质量可靠性方面都是一个很重要的测试项目，尤其是目前数字电子产品如个人计算机的开/关机强度测试，更是一项必须的测试，可以发现***供电稳定度及BIOS初始化***内各个组件匹配时潜在的问题：例如主机板各个IC的工作时序；时间脉冲的上升、下降及其形状，准确度与干扰等，都会影响产品的工作稳定度。 

因此，为了使新产品能顺利开发成功并避免产品潜在的问题，现有技术针对此项开关循环测试的方式，是将硬件及软件分开独立进行，硬件上的测试装置是单方面的设定开机时间和开关次数，并无法得知失效时间和失效点。因软件测试部份被独立分隔开来，其时间上已然增加了一倍以上，此方法也同时忽略了软硬件开关机间的相互关系，将造成部分可能的潜在失效因子无法被测试出来。后来虽有结合软硬件同时测试的装置，但因需通过另外另一台计算机主机来控制开关机装置，在使用上增加了***复杂度与不方便性。 

因此，实有必要提供一种自动开关机测试***及方法，该自动开关机测试***及方法不仅***设备简单，而且同时测试效率较高、测试结果可靠性高。 

【发明内容】

鉴于这种问题，本发明的目的在于提供一种自动开关机测试***及方法，该自动开关机测试***及方法能大大提高了测试效率和测试结果的可靠性，而且***设备简单。 

为实现上述目的，本发明提供一种自动开关机测试***，该自动开关机测试***包括一待测物体，该待测物体用于存储一计数控制程序，且自动开关机测试***除了待测物体外，其还包括： 

译码模块，该译码模块与待测物体相互通信，用于对待测物体反馈的测试信息进行译码，并传送该译码信息给一处理模块； 

处理模块，其用于设置测试参数，接收、储存并且实时监控待测物体的测 试信息，以及控制待测物体的测试状态，且该处理模块传送接收的测试信息给一显示模块； 

显示模块，其用于提供设置测试参数界面，并且显示***设定的测试信息； 

电源控制模块，其包括一交流电源控制模块，该交流电源控制模块用于进行交流供电***的测试，且该电源控制模块与一复位控制模块相互通信； 

复位控制模块，该复位控制模块与处理模块相互通信，以用于测试前，对***所有的计数电路重置归零；且该复位控制模块与一开关机控制模块相互通信； 

开关机控制模块，其包括一开机控制模块和一关机控制模块，该开机控制模块用于控制待测物体的开机动作，关机控制模块用于控制待测物体的关机动作； 

其中，所述待测物体为具有电源设备的开关机电子设备； 

其中，所述存储于待测物体的计数控制程序用于储存测试过程中每次开关机的测试信息，以便调试人员参考； 

其中，所述译码模块通过USB接口和待测物体进行通信； 

其中，所述处理模块为写入控制程序的CPLD单芯片； 

其中，所述电源控制模块还包括一直流电源控制模块，该直流电源控制模块用于进行直流供电***的测试； 

其中，所述显示模块上设置有开关机时间、开关机次数、测试时间等显示单元； 

其中，所述显示模块上的每个显示单元均可以独立使用0到9的循环式数字开关； 

其中，所述显示模块上的测试时间可设定为99小时59分，可设定开关机次数为9999次，符合长时间的测试作业。 

为达上述目的，本发明还提供一种自动开关机的测试方法，该自动开关机方法包括步骤： 

a储存一计数控制程序于待测物体的任一目录下， 

b执行该计数控制程序，并填入执行时间以及执行次数，等跑完第一次初始开机时间，待测物体自动关机； 

c通过自动开关机测试***设定开关机时间以及开关机次数； 

d***开始测试，复位控制模块重置***所有的计数电路为零，并由开机控制模块开机计数，当开机控制模块计数至设定时间，发送一高电位给处理模块； 

e处理模块接收到该高电位，开机控制模块计数一次，同时处理模块发送一控制信号给关机控制模块； 

f关机控制模块收到关机控制信号后，执行控制待测物体关机，并由关机控 制模块开机计数，等计数至设定的关机时间时，关机控制模块发送一低电位给处理模块； 

g处理模块接收到该低电位，关机控制模块计数一次，同时处理模块发送一控制信号给开机控制模块； 

h依此循环测试，当执行到设定的开关机次数时，处理模块发出一高电位给开机控制模块，待测物体处于开机状态，计数控制程序以及显示模块显示测试结果； 

其中，所述储存于待测物体上的计数控制程序提供一操作界面给测试人员，测试人员可通过该操作界面设定测试参数以及重置测试参数。 

本发明提供的自动开关机测试***能大大提高了测试效率和测试结果的可靠性，而且***设备简单。 

为使对本发明的结构及其功能有进一步的了解，兹配合图示详细说明如下： 

【附图说明】

图1为本发明一较佳实施例的***方块图； 

图2为本发明的一较佳实施例的电路方块图； 

图3为本发明设定开关机时间的具体电路图； 

图4为本发明设定测试时间的具体电路图； 

图5为本发明显示实际测试次数的具体电路图； 

图6为本发明一较佳实施例具体测试的流程图。 

【具体实施方式】

图1为本发明一较佳实施例的***方块图，该自动开关机测试***10包括一待测物体20，该待测物体20为具有电源设备的开关机电子设备，于本实施例中，该待测物体20可为一笔记本计算机，该待测物体20用于存储一计数控制程序，该计数控制程序用于储存测试过程中每次开关机的测试信息，以便调试人员参考，且该计数控制程序提供一操作界面给测试人员，测试人员可通过该操作界面设定测试参数以及重置测试参数，该自动开关机测试***10除了待测物体20外还包括一译码模块101，于本实施例中，该译码模块101通过USB接口与待测物体20通信，用于对待测物体20反馈的测试信息进行译码，并传送该译码信息给一处理模块102；该处理模块102用于设置测试参数，接收、储存并且实时监控待测物体20的测试信息，以及控制待测物体20的测试状态，且该处理模块102传送接收的测试信息给一显示模块103；该显示模块103用于提供设置测试参数界面，这些测试参数包括有开关机时间、开关机次数、测试时间等显示单元；且用于显示***设定的测试信息；另外，所述处理模块102还可与一开关机控制模块104相互通信，该开关机控制模块104包括一开机控制模块105和一关机控制模块106，该开机控制模块105用于控制待测物体20的开机动作，关机控制模块106用于控制待测物体20的关机动作；且该开关机控 制模块104还与一复位控制模块30相连接，该复位控制模块30用于测试前，对***所有的计数电路重置归零，该复位控制模块30连接一电源控制模块107，该电源控制模块107包括一直流电源控制模块108和一交流电源控制模块109，该直流电源控制模块108用于进行直流供电***的测试，交流电源控制模块109用于进行交流供电***的测试。 

请参阅图2，图3及图4所示，图2为本发明的一较佳实施例的电路方块图，其包括一设定开关机时间电路501、测试时间设定电路502、测试次数显示电路503以及电源电路504，其中设定开关机时间电路501包括一CPLD芯片U4，该芯片U4的型号为EPM7128SLC84-10，且该芯片U4上设置有若干电源引脚(V1～V8)和接地引脚(G1～G8)，其中电源引脚(V1～V8)串联一保险装置RP1分别与芯片U4的第一输入引脚(01～08)和第二输入引脚(09～16)电性连接，且第一输入引脚(01～08)和第二输入引脚(09～16)还分别串联若干接地的时间设定按钮(SW1～SW4)；且时间设定按钮(SW1～SW4)用于设定关机时间，所述电源引脚(V1～V8)还串联一保险装置RP2与芯片U4的第三输入引脚(17～24)和第四输入引脚(24～31)电性连接，第三输入引脚(17～24)和第四输入引脚(25～32)还分别串联若干接地的时间设定按钮(SW5～SW8)，该时间设定按钮(SW5～SW8)用于设定开机时间，所述芯片U4还设置有第一输出引脚(a～h)和第二输出引脚(W1～W4)，且第一输出引脚(a～h)均串联一电阻R0连接一显示芯片U6的一端，第二输出引脚(W1～W4)均串联一NPN型三极管与显示芯片U6的另一端连接，另外，所述芯片U4还设置有功能引脚(35～39)。 

其中，上述引脚37串联一接地重置按钮SW21，该重置按钮SW21用于对设定开关机时间电路501复位，且该重置按钮SW21并联一接地电容C1，该接地电容C1的另一端串联一电阻R1，该电阻R1连接***电源Vcc-5V； 

其中，上述引脚38串联一开关按钮SW22，且该开关按钮SW22并联一接地电容C2，接地电容C2的另一端串联一电阻R2，该电阻R2连接***电源Vcc-5V； 

其中，上述引脚35、引脚36以及引脚39均与测试时间设定电路502连接，且引脚39还串联一晶体震荡器U2，该晶体震荡器U2连接***电源Vcc-5V。 

所述测试时间设定电路502包括一CPLD芯片U5，该芯片U5的型号也为EPM7128SLC84-10，且该芯片U5上设置有若干电源引脚(V1～V8)接地引脚(G1～G8)，其中电源引脚(V1～V8)串联一保险装置RP4分别与芯片U5的第一输入引脚(01～08)和第二输入引脚(09～116)电性连接，且第一输入引脚(01～08)和第二输入引脚(09～16)还分别串联若干接地的时间设定按钮(SW9～SW12)；该时间设定按钮(SW9～SW12)用于设定测试时间，芯片U5还设置有第一输出引脚(a～h)和第二输出引脚(W1～W4)，且第一输出引脚(a～h)均串联一电阻R9连接显示芯片U7的一端，第二输出引脚(W1～W4)均串联 一NPN型三极管与显示芯片U7的另一端连接，另外，所述芯片U5还设置有功能引脚(35～39)，其中引脚35、引脚36、引脚38和引脚39分别与芯片U4的引脚35、引脚36、引脚38，引脚39相连接；另外，功能引脚37串联一接地重置按钮SW23，该重置按钮SW23用于对测试时间设定电路502复位，且该重置按钮SW23并联一接地电容C3，该接地电容C3的另一端串联一电阻R3，该电阻R3连接***电源Vcc-5V。 

请参阅图5所示，图5为本发明显示实际测试次数的具体电路图，其包括一芯片U8，于本实施例中，该芯片U8为MCS-51处理芯片，芯片U8设置有一连接***电源Vcc-5V的电源引脚40和一接地引脚20，且该芯片U8的(P10～P17)I/O端口均串联一电阻R9，所述电阻R9均连接一PNP型三极管且与一显示芯片U7的一端连接，芯片U8的12引脚、13引脚、10引脚以及11引脚分别连接一接地PNP型三极管与显示芯片U7的另一端连接，另外，芯片U8的18引脚作为外部振荡信号的输入端串联电容C7，C8连接一光耦合触发器U10，且有一晶体振荡器M1与电容C7，C8并联，另外，所述芯片U8的9引脚串联一接地重置按钮SW24，该重置按钮SW24用于对测试次数显示电路503复位，且该重置按钮SW24并联一电解电容C4，该接地电解电容C4的另一端串联一接地电阻R5，且所述芯片U8的17引脚串联一电阻R17连接一光耦合触发器U10，该光耦合触发器U10连接一USB接口。 

请参阅图6所示，图6为本发明一较佳实施例具体测试的流程图，其具体步骤如下： 

步骤401，首先待测物体20储存计数控制程序于其任一目录下； 

步骤402，执行该计数控制程序，并填入执行时间以及执行次数，等跑完第一次初始开机时间，待测物体20自动关机； 

步骤403，通过自动开关机测试***10设定开关机时间以及开关机次数； 

步骤404，***开始测试，复位控制模块30重置***所有的计数电路为零，并由开机控制模块105开机计数，等计数至设定的开机时间时，开机控制模块105由低电位变为高电位，并传送该高电位给处理模块102； 

步骤405，处理模块102接收到该高电位，开机控制模块105计数一次，同时处理模块102发送一控制信号给关机控制模块106； 

步骤406，关机控制模块106收到关机控制信号后，执行控制待测物体20关机，并由关机控制模块106开机计数，等计数至设定的关机时间时，关机控制模块106由高电位变为低电位，并传送该低电位给处理模块102； 

步骤407，处理模块102接收到该低电位，关机控制模块106计数一次，同时处理模块102发送一控制信号给开机控制模块105； 

步骤408，依此循环测试，当执行到设定的开关机次数时，处理模块102发出一高电位给开机控制模块105，待测物体20处于开机状态，计数控制程序以 及显示模块103显示测试结果。 

本发明自动开关机测试***与现有技术相比具备以下优点： 

1.将控制程序写入CPLD及单芯片中，无须再使用另一台计算机主机来控制，有效提升测试结果的可靠性及控制设备的简单化。 

2.改善先前针对硬件与软件的测试上需分开进行，使得测试时间大幅减少并且大大提升硬件与软件间的可靠度。 

Claims (11)

1.一种自动开关机测试***，应用于具有电源设备的电子产品的开关机测试中，该自动开关机测试***包括一待测物体，该待测物体用于存储一计数控制程序，且自动开关机测试***除了待测物体外，其特征在于：该自动开关机测试***还包括：

译码模块，该译码模块与待测物体相互通信，用于对待测物体反馈的测试信息进行译码，并传送该译码信息给一处理模块；

处理模块，其用于设置测试参数，接收、储存并且实时监控待测物体的测试信息，以及控制待测物体的测试状态，且该处理模块传送接收的测试信息给一显示模块；

显示模块，其用于提供设置测试参数界面，并且显示***设定的测试信息；

电源控制模块，其包括一交流电源控制模块，该交流电源控制模块用于进行交流供电***的测试，且该电源控制模块与一复位控制模块相互通信；

复位控制模块，该复位控制模块与处理模块相互通信，其用于测试前，对***所有的计数电路重置归零；且该复位控制模块与一开关机控制模块通信；

开关机控制模块，其包括一开机控制模块和一关机控制模块，该开机控制模块用于控制待测物体的开机动作，关机控制模块用于控制待测物体的关机动作。

2.如权利要求1所述的自动开关机测试***，其特征在于：所述待测物体为具有电源设备的开关机电子设备。

3.如权利要求1所述的自动开关机测试***，其特征在于：所述存储于待测物体的计数控制程序用于储存测试过程中每次开关机的测试信息，以便调试人员参考。

4.如权利要求1所述的自动开关机测试***，其特征在于：所述译码模块可通过USB接口和待测物体进行通信。

5.如权利要求1所述的自动开关机测试***，其特征在于：所述电源控制模块还包括一直流电源控制模块，该直流电源控制模块用于进行直流供电***的测试。

6.如权利要求1所述的自动开关机测试***，其特征在于：所述处理模块为写入控制程序的CPLD及单芯片。

7.如权利要求1所述的自动开关机测试***，其特征在于：所述显示模块上设置有开关机时间、开关机次数、测试时间的显示单元。

8.如权利要求4所述的自动开关机测试***，其特征在于：所述显示模块上的每个显示单元均可以独立使用0到9的循环式数字开关。 

9.如权利要求4所述的自动开关机测试***，其特征在于：所述显示模块上的测试时间可设定为99小时59分，可设定开关机次数为9999次，符合长时间的测试作业。 

10.一种自动开关机测试方法，应用于具有电源设备的电子产品的开关机测试中，其特征在于：该自动开关机测试方法包括以下步骤： 

a储存一计数控制程序于待测物体的任一目录下， 

b执行该计数控制程序，并填入执行时间以及执行次数，等跑完第一次初始开机时间，待测物体自动关机； 

c通过自动开关机测试***设定开关机时间以及开关机次数； 

d***开始测试，复位控制模块重置***所有的计数电路为零，并由开机控制模块开机计数，当开机控制模块计数至设定时间，发送一高电位给处理模块； 

e处理模块接收到该高电位，开机控制模块计数一次，同时处理模块发送一控制信号给关机控制模块； 

f关机控制模块收到关机控制信号后，执行控制待测物体关机，并由关机控制模块开机计数，等计数至设定的关机时间时，关机控制模块发送一低电位给处理模块； 

g处理模块接收到该低电位，关机控制模块计数一次，同时处理模块发送一控制信号给开机控制模块； 

h依此循环测试，当执行到设定的开关机次数时，处理模块发出一高电位给开机控制模块，待测物体处于开机状态，计数控制程序以及显示模块显示测试结果。 

11.如权利要求10所述的自动开关机测试方法，其特征在于：所述储存于待测物体上的计数控制程序提供一操作界面给测试人员，测试人员可通过该操作界面设定测试参数以及重置测试参数。 

Images