CN101520401B - 粒子统计方法及装置 - Google Patents
粒子统计方法及装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN101520401B CN101520401B CN200810300432A CN200810300432A CN101520401B CN 101520401 B CN101520401 B CN 101520401B CN 200810300432 A CN200810300432 A CN 200810300432A CN 200810300432 A CN200810300432 A CN 200810300432A CN 101520401 B CN101520401 B CN 101520401B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- particle
- particles
- picture
- total areas
- shape coefficient
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract description 280
- 238000007619 statistical method Methods 0.000 title claims abstract description 21
- 239000004744 fabric Substances 0.000 claims description 22
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 9
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 5
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 claims description 5
- 239000011164 primary particle Substances 0.000 claims description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 3
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 3
- 238000004422 calculation algorithm Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 239000000047 product Substances 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 1
- 238000010191 image analysis Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000003550 marker Substances 0.000 description 1
- 238000012797 qualification Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/10—Image acquisition modality
- G06T2207/10024—Color image
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30148—Semiconductor; IC; Wafer
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0266—Marks, test patterns or identification means
- H05K1/0269—Marks, test patterns or identification means for visual or optical inspection
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/321—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by conductive adhesives
- H05K3/323—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by conductive adhesives by applying an anisotropic conductive adhesive layer over an array of pads
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
一种粒子统计方法,包括如下步骤:获取粒子图像;至少进行一次粒子图像的缩/放处理,以获得至少一幅缩/放后的粒子图像;分别计算缩/放前的所述粒子图像中粒子的总面积及所述至少一幅缩/放后的粒子图像中粒子的总面积,以获得至少两幅粒子图像中粒子的总面积;根据所述至少两幅粒子图像中粒子总面积以及对应的粒子图像缩/放量计算出粒子图像中粒子的数量,以判断被拍摄物质中粒子含量是否满足要求。通过上述粒子统计方法计算粒子数量时,无需识别图像中的独立的粒子,也不需要计算粒子的直径或者长宽等参数,仅利用以此图像的缩/放就能够得准确的粒子数量,使得统计速度大大提高。本发明还提供一种粒子统计装置。
Description
技术领域
本发明涉及一种图像分析技术,特别是一种统计图像中粒子数量的粒子统计方法及装置。
背景技术
在工业自动化光学检测领域,统计图像中粒子数量是很常见的应用,例如,与液晶产品制造有关的一种电路技术ACF (Anisotropic ConductiveFilm,各向异性导电薄膜)就需要根据电路中导电粒子的数量来判断产品是否质量合格。
一般而言,统计图像中目标数目的处理算法是比较耗时的,因为不知道粒子的半径或者长宽,而图像中粒子又通常会粘连在一起,计算机很难识别哪个才是单个粒子,也就很难得到粒子的半径或者长宽值,为此,目前的统计方法都需要经过复杂度较高的区域标记等处理过程,不仅处理时间长,而且容易受到噪声的干扰影响统计精度。
发明内容
鉴于此,有必要提供一种快速且准确的粒子统计方法。
还有必要提供一种快速且准确的粒子统计装置。
一种粒子统计方法,包括如下步骤:
获取粒子图像;
至少进行一次粒子图像的缩/放处理,以获得至少一幅缩/放后的粒子图像;
分别计算缩/放前的所述粒子图像中粒子的总面积及所述至少一幅缩/放后的粒子图像中粒子的总面积,以获得至少两幅粒子图像中粒子的总面积;
根据所述至少两幅粒子图像中粒子总面积以及对应的粒子图像缩/放量计算出粒子图像中粒子的数量,以判断被拍摄物质中粒子含量是否满足要求。
一种粒子统计装置,包括:
图像获取单元,用于获取待统计的粒子图像;
缩/放单元,用于对粒子图像进行缩/放处理以获得至少一幅缩/放后的粒子图像;
面积计算单元,用于分别计算缩/放前的所述粒子图像中粒子的总面积及所述至少一幅缩/放后的粒子图像中粒子的总面积,以获得至少两幅粒子图像中粒子的总面积;
粒子统计单元,用于根据所述面积计算单元算得的所述至少两幅粒子图像中粒子的总面积以及对应的粒子图像缩/放量计算出粒子图像中粒子的数量,以判断被拍摄物质中粒子含量是否满足要求。
通过上述粒子统计方法及装置计算粒子数量时,无需识别图像中的独立的粒子,也不需要计算粒子的直径或者长宽等参数,仅利用以此图像的缩/放就能够得准确的粒子数量,使得统计速度大大提高。
附图说明
图1为原始粒子图像示意图。
图2为二值化后的粒子图像示意图。
图3为缩放后的二值粒子图像示意图。
图4为圆形粒子缩放示意图。
图5为正方形粒子缩放示意图。
图6为长方形粒子缩放示意图。
图7为粒子统计结果数据图。
图8为一较佳实施方式的粒子统计方法步骤流程图。
图9为一较佳实施方式的粒子统计装置功能模块图。
具体实施方式
以下实施方式提出一种快速的粒子数量统计方法和装置,基本原理是通过对二值化的粒子图像进行图像缩/放获得粒子面积总和的统计值,然后根据粒子形状特征以及对应的运算公式计算出粒子数量,以判断被拍摄物质中粒子含量是否满足要求。。此技术可以对圆形、矩形或其它任意形状较统一的粒子进行数量统计计算。下面以圆形粒子为例,详细推导粒子统计的具体方 法。
请参阅图1,其为一张利用AOI(Automatic Optic Inspection,自动光学检测)设备获得的原始粒子图像示意图,图中颜色较深的黑点为需要统计的粒子。
请参阅图2,其为将图1所示的原始粒子图像进行二值化处理得到的二值粒子图像,图中白点表示粒子,有些白点面积较大且形状不规则表示该处为多个粒子的粘连。
以下以一个实例对粒子数量统计方法作详细说明,请参阅图3,其为将图2所示的二值粒子图像进行收缩处理后的收缩粒子图像,即从整个图像或每个粒子的上下左右边缘向中间压缩,使整个图像或每个粒子缩小。图3中的图像内容与图2一致,只是其中的白点(粒子)比图2中对应的白点要小。
首先,通过计算机得到图2所示的二值粒子图像中粒子总面积S0,图3所示的收缩粒子图像中粒子总面积S1。
假设图像中有M个粒子,粒子直径为D(如图2所示),图3为收缩N个单位的收缩粒子图像,那么图3中粒子的直径为D-N(如图3所示)。设X=D-N/2,则:
[0032] S0=M*(π/4)D2=M*(π/4)(X+N/2)2
[0033] S1=M*(π/4)(D-N)2=M*(π/4)(X-N/2)2
[0034] 上述两个方程中只有两个未知数,那么就可以得出M的值,本实施方式的计算方法如下:
S0-S1=M*πXN/2.............................(1)
通常缩放单位N都远小于粒子直径为D,也就远小于X,则:
S0+S1≈M*(π/2)X2...........................(2)
由公式(1)和(2)可得:
X=N*(S0+S1)/(S0-S1)
[0041] D=X+N/2=N*(S1+S2)/(S1-S2)+N/2
[0042] 最后可得到粒子数量M为:
其中:k=4/π,即为圆形粒子的形状系数,其他形状的粒子只需改变k值即可。因为S0,S1,N均为已知数,则可以很快地得出粒子数量M。为了计算方便,运算过程中,所述直径为D,收缩量N的单位都为像素。
请参阅图4、5、6,其分别为圆形粒子,正方形粒子以及长方形粒子的收缩示意图。利用上述同样的计算原理可以得出:正方形粒子的形状系数k=1,长方形粒子的形状系数k等于其长宽比,此时D为长方形宽度。
请参阅图7,其为通过上述粒子统计方法所测得的实验数据,从数据可以看出,粒子数量统计误差值保持在3%以内,这种精度的统计计算已经足以应付工业应用中许多需要粗略估计粒子数量应用的需求,如对ACF技术中导电粒子数量的检测。
因为上述计算方法中存在约等于,从而可能会增加一定误差,以下提供另一种计算方法:
S0=M*(π/4)D2.............................(3)
S1=M*(π/4)(D-N)2
那么:
[0051] S1/S0=(D-N)2/D2
由公式(3)和(4)可得:
[0055]
上述算法没有对任何数据进行省略,理论上统计结果更为准确。
为了简化算法,以下再提供一种计算方法:即对原始二值粒子图像再进行一次放大处理,放大量也为N个单位,计算机算出放大粒子图像中粒子的总面积S2。
S2=M*(π/4)(D+N)2
那么:
S2-S1=M*(π/4)*4ND
实际统计中,因为粒子形状并非完全的规则图像,所以还需要加入适当的实验修正值。
请参阅图8,其为基于上述各种运算原理的粒子统计方法流程图,包括如下步骤:
步骤S803,获取粒子图像。
步骤S805,将粒子图像作二值化处理。
步骤S807,至少进行一次粒子图像的缩/放处理。
步骤S809,计算缩/放前后至少两幅粒子图像中粒子的总面积。
步骤S811,根据所述至少两个粒子总面积以及对应的粒子图像缩/放量计算出粒子图像中粒子的数量,以判断被拍摄物质中粒子含量是否满足要求。因为粒子的数量等于其总面积除以单个粒子的面积,则可以列出两个面积(已知数)与粒子数量(未知数)和粒子半径或边长(未知数)的关系式,两个关系式两个未知数即可求得到两个未知数的值,即可以得到粒子的数量。多种求解运算方法如下:
若,缩/放前粒子的总面积等于S0;缩/放后粒子的总面积等于S1;缩/放量为N(放大时N为正值,缩小时N为负值),粒子的数量为M,则:
或
其中k为形状系数,圆形粒子的形状系数k=4/π;正方形粒子的形状系数k=1;长方形粒子的形状系数k等于其长宽比。
若,缩/放前粒子的总面积等于S0;放大后粒子的总面积等于S1;缩小后粒子的总面积等于S2;缩/放量均为N,粒子的数量为M,则:
其中k为形状系数:圆形粒子的形状系数k=4/π,正方形粒子的形状系数k=1,长方形粒子的形状系数k等于其长宽比。
步骤S813,输出粒子数量,如通过显示器显示数据或传输数据给其他设备。
通过上述粒子统计方法计算粒子数量时,无需识别图像中的独立的粒子,也不需要计算粒子的直径或者长宽等参数,仅利用以此图像的缩/放就能够得准确的粒子数量,使得统计速度大大提高。
请参阅图9,其为基于上述运算原理的粒子统计装置10的功能模块图,包括:图像获取单元102、图像处理单元104、缩/放单元106、面积计算单元108、粒子统计单元110以及输出单元112。
图像获取单元102用于获取待统计的粒子图像,如通过AOI设备拍摄的导电粒子图像。
图像处理单元104用于对粒子图像进行二值化处理,得到二值粒子图像。
缩/放单元106用于对二值粒子图像进行收缩/放大处理。
面积计算单元108用于计算缩/放前后粒子图像中粒子的总面积。
粒子统计单元110用于根据所述面积计算单元算得的至少两个粒子总面积以及对应的粒子图像缩/放量计算出粒子图像中粒子的数量,以判断被拍摄物质中粒子含量是否满足要求。所述粒子的数量的计算是根据所述至少两个面积与粒子数量和粒子半径或边长的关系式求得。
若,缩/放前粒子的总面积等于S0;缩/放后粒子的总面积等于S1;缩/放量为N(放大时N为正值,缩小时N为负值),粒子的数量为M,则:
或
其中k为形状系数,圆形粒子的形状系数k=4/π;正方形粒子的形状系数k=1;长方形粒子的形状系数k等于其长宽比。
若,缩/放前粒子的总面积等于S0;放大后粒子的总面积等于S1;缩小后粒子的总面积等于S2;缩/放量均为N,粒子的数量为M,则:
其中k为形状系数:圆形粒子的形状系数k=4/π,正方形粒子的形状系数k=1,长方形粒子的形状系数k等于其长宽比。
输出单元112用于输出粒子数量。
通过上述粒子统计装置计算粒子数量时,无需识别图像中的独立的粒子,也不需要计算粒子的直径或者长宽等参数,仅利用以此图像的缩/放就能够得准确的粒子数量,使得统计速度大大提高。
本技术领域的普通技术人员应当认识到,以上的实施方式仅是用来说明本发明,而并非用作为对本发明的限定,只要在本发明的实质精神范围之内,对以上实施例所作的适当改变和变化都落在本发明要求保护的范围之内。
Claims (10)
1.一种粒子统计方法,包括如下步骤:
获取粒子图像;
至少进行一次粒子图像的缩/放处理,以获得至少一幅缩/放后的粒子图像;
分别计算缩/放前的所述粒子图像中粒子的总面积及所述至少一幅缩/放后的粒子图像中粒子的总面积,以获得至少两幅粒子图像中粒子的总面积;
根据所述至少两幅粒子图像中粒子总面积以及对应的粒子图像缩/放量计算出粒子图像中粒子的数量,以判断被拍摄物质中粒子含量是否满足要求。
2.如权利要求1所述的粒子统计方法,其特征在于:所述粒子的数量的计算是根据所述至少两幅粒子图像中粒子总面积与粒子数量和粒子半径,或根据所述至少两幅粒子图像中粒子总面积与粒子数量和边长的关系式求得。
3.如权利要求1所述的粒子统计方法,其特征在于:若,缩/放前粒子的总面积等于S0;缩/放后粒子的总面积等于S1;缩/放量为N,粒子的数量为M,则:
或
其中k为形状系数,圆形粒子的形状系数k=4/π;正方形粒子的形状系数k=1;长方形粒子的形状系数k等于其长宽比。
4.如权利要求1所述的粒子统计方法,其特征在于:若,缩/放前粒子的总面积等于S0;放大后粒子的总面积等于S1;缩小后粒子的总面积等于S2;缩/放量均为N,粒子的数量为M,则:
其中k为形状系数:圆形粒子的形状系数k=4/π,正方形粒子的形状系数k=1,长方形粒子的形状系数k等于其长宽比。
5.如权利要求1所述的粒子统计方法,其特征在于:所述粒子统计方法在“获取”步骤与“缩/放处理步骤”之间还包括“将粒子图像作二值化处理”的步骤。
6.一种粒子统计装置,包括:图像获取单元,用于获取待统计的粒子图像,其特征在于:所述粒子统计装置还包括:
缩/放单元,用于对粒子图像进行缩/放处理以获得至少一幅缩/放后的粒子图像;
面积计算单元,用于分别计算缩/放前的所述粒子图像中粒子的总面积及所述至少一幅缩/放后的粒子图像中粒子的总面积,以获得至少两幅粒子图像中粒子的总面积;
粒子统计单元,用于根据所述面积计算单元算得的所述至少两幅粒子图像中粒子的总面积以及对应的粒子图像缩/放量计算出粒子图像中粒子的数量。
7.如权利要求6所述的粒子统计装置,其特征在于:所述粒子的数量的计算是根据所述至少两幅粒子图像中粒子总面积与粒子数量和粒子半径,或根据所述至少两幅粒子图像中粒子总面积与粒子数量和边长的关系式求得。
8.如权利要求6所述的粒子统计装置,其特征在于:若,缩/放前粒子的总面积等于S0;缩/放后粒子的总面积等于S1;缩/放量为N,粒子的数量为M,则:
或
其中k为形状系数,圆形粒子的形状系数k=4/π;正方形粒子的形状系数k=1;长方形粒子的形状系数k等于其长宽比。
9.如权利要求6所述的粒子统计装置,其特征在于:若,缩/放前粒子的总面积等于S0;放大后粒子的总面积等于S1;缩小后粒子的总面积等于S2;缩/放量均为N,粒子的数量为M,则:
其中k为形状系数:圆形粒子的形状系数k=4/π,正方形粒子的形状系数k=1,长方形粒子的形状系数k等于其长宽比。
10.如权利要求6所述的粒子统计装置,其特征在于:所述粒子统计装置还包括图像处理单元,用于对粒子图像进行二值化处理以方便所述面积计算单元获得所述至少两幅粒子图像中粒子的总面积。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN200810300432A CN101520401B (zh) | 2008-02-29 | 2008-02-29 | 粒子统计方法及装置 |
US12/353,983 US8229175B2 (en) | 2008-02-29 | 2009-01-15 | System and method for quality checking of anisotropic conductive film |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN200810300432A CN101520401B (zh) | 2008-02-29 | 2008-02-29 | 粒子统计方法及装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN101520401A CN101520401A (zh) | 2009-09-02 |
CN101520401B true CN101520401B (zh) | 2012-08-29 |
Family
ID=41012949
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN200810300432A Expired - Fee Related CN101520401B (zh) | 2008-02-29 | 2008-02-29 | 粒子统计方法及装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8229175B2 (zh) |
CN (1) | CN101520401B (zh) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8518304B1 (en) | 2003-03-31 | 2013-08-27 | The Research Foundation Of State University Of New York | Nano-structure enhancements for anisotropic conductive material and thermal interposers |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN85202399U (zh) * | 1985-06-17 | 1986-07-16 | 吉林市科学技术研究所 | 输液微粒检测仪 |
US5262302A (en) * | 1987-03-13 | 1993-11-16 | Coulter Corporation | Method for screening white blood cells |
US5585246A (en) * | 1993-02-17 | 1996-12-17 | Biometric Imaging, Inc. | Method for preparing a sample in a scan capillary for immunofluorescent interrogation |
CN1826521A (zh) * | 2003-07-19 | 2006-08-30 | 数字生物技术公司 | 用于对微粒计数的装置 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5858806A (en) * | 1995-03-24 | 1999-01-12 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of bonding IC component to flat panel display |
US5851644A (en) * | 1995-08-01 | 1998-12-22 | Loctite (Ireland) Limited | Films and coatings having anisotropic conductive pathways therein |
US6402876B1 (en) * | 1997-08-01 | 2002-06-11 | Loctite (R&D) Ireland | Method of forming a monolayer of particles, and products formed thereby |
US6977025B2 (en) * | 1996-08-01 | 2005-12-20 | Loctite (R&D) Limited | Method of forming a monolayer of particles having at least two different sizes, and products formed thereby |
US7411211B1 (en) * | 1999-07-22 | 2008-08-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Contact structure and semiconductor device |
US6627118B2 (en) * | 2000-04-26 | 2003-09-30 | Hitachi Metals, Ltd. | Ni alloy particles and method for producing same, and anisotropic conductive film |
JP3910527B2 (ja) * | 2002-03-13 | 2007-04-25 | シャープ株式会社 | 液晶表示装置およびその製造方法 |
-
2008
- 2008-02-29 CN CN200810300432A patent/CN101520401B/zh not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-01-15 US US12/353,983 patent/US8229175B2/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN85202399U (zh) * | 1985-06-17 | 1986-07-16 | 吉林市科学技术研究所 | 输液微粒检测仪 |
US5262302A (en) * | 1987-03-13 | 1993-11-16 | Coulter Corporation | Method for screening white blood cells |
US5585246A (en) * | 1993-02-17 | 1996-12-17 | Biometric Imaging, Inc. | Method for preparing a sample in a scan capillary for immunofluorescent interrogation |
CN1826521A (zh) * | 2003-07-19 | 2006-08-30 | 数字生物技术公司 | 用于对微粒计数的装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20090219532A1 (en) | 2009-09-03 |
US8229175B2 (en) | 2012-07-24 |
CN101520401A (zh) | 2009-09-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8406510B2 (en) | Methods for evaluating distances in a scene and apparatus and machine readable medium using the same | |
JPH04268477A (ja) | 2フレーム減算を使用した運動目標検出方法および装置 | |
CN104215179B (zh) | 使用激光位移传感器动态测量钢坯宽度的方法 | |
CN104089697A (zh) | 一种基于线程池并发技术的实时在线的视觉振动测量方法 | |
JP5643918B2 (ja) | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 | |
CN101694363A (zh) | 一种基于摄像机的报靶方法及*** | |
CN113405530B (zh) | 冲压工艺板料偏移视觉测量***、方法、设备、生产线、终端 | |
CN102982537A (zh) | 一种检测场景变换的方法和*** | |
CN104185019A (zh) | 一种检测摄像头污点的方法和装置 | |
CN103544524A (zh) | 棒材复核计数方法和装置 | |
CN101520401B (zh) | 粒子统计方法及装置 | |
EP1484919A3 (en) | Method and apparatus for processing image motion information | |
EP1298012A3 (de) | Verfahren zur Erkennung und Verfolgung von Objekten | |
JP2009210489A (ja) | 振動計測システム及びコンピュータプログラム | |
CN115690747B (zh) | 车辆盲区检测模型测试方法、装置、电子设备及存储介质 | |
CN110751055B (zh) | 一种智能制造*** | |
CN107271446A (zh) | 一种发动机正时齿轮室胶线的视觉检测方法 | |
Kim et al. | A leak detection and 3D source localization method on a plant piping system by using multiple cameras | |
CN106705874A (zh) | 基于机器视觉技术的材料变形非接触测量*** | |
CN114827429A (zh) | 一种微小目标的大面积图像识别检测方法 | |
CN103630547B (zh) | 具有周期性结构的光学薄膜的瑕疵检测方法及其检测装置 | |
Çöpoğlu et al. | Measuring Product Dimensions with Computer Vision in Ceramic Sanitary Ware Sector | |
CN105787925A (zh) | 推扫型光学遥感载荷原始图像坏线的自动检测方法和*** | |
CN102062579A (zh) | 一种用线阵ccd测量激光束位置与线宽的检测方法及其装置 | |
CN110773969A (zh) | 空调两器的处理方法及装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
C17 | Cessation of patent right | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20120829 Termination date: 20140229 |