具体实施方式
现在将详细参考本发明的优选实施例,其例子示例在附图中。为了方便描述,作为例子,将说明一次写入型蓝光光盘(BD-WO)的情形。
在此过程中,尽管到目前为止,发明人在本发明的描述中尽最大可能选择了广泛使用的通用术语,但当术语的含义在本申请的有关说明书部分被详细描述时,发明人是在发明人的判断力上来选择特殊的情况的术语的。因此,如果出现的话,应该通过如发明人所定义的术语的含义来理解本发明。
<光盘定义和光盘管理信息>
图2示出了根据本发明实施例的一次写入型光盘如BD-WO的结构。图2的盘是具有一个记录层的单层盘,但本发明是可应用于如双层BD-WO的多层一次写入型光盘的。
参考图2,盘的记录层包括导入区、数据区和导出区。数据区包括内备用区ISA0和外备用区OSA0,用于替换缺陷区,以进行物理缺陷管理。导入区包括第一和第二DMA(DMA1和DMA2),而导出区包括第三和第四DMA(DMA3和DMA4)。还提供临时缺陷管理区(TDMA)用于临时性地存储和管理缺陷区信息。当不再有数据要写入该一次写入型光盘或响应来自主机或***的命令时,存储在TDMA中的数据就被转移到DMA中进行永久性的储存。通常,鉴于缺陷管理的重要性,出于冗余的目的,每个DMA都载有相同的管理数据。
通常,就可重写光盘来说,由于能够根据需要反复写入/擦除很多次,所以不需要大的DMA。然而,这不是一次写入型光盘的情况。就一次写入型光盘来说,一旦数据被写入到一个可记录区域,这个区域就不能再写入数据。由此,缺陷管理需要更大的管理区和/或有效的管理区结构和方法。
如图2所示,TDMA包括分配给导入区并且具有固定大小的TDMA1,以及分配给外备用区OSA0的并且大小可根据该备用区的大小而变化的TDMA2。例如,如果OSA0的大小为N*256簇,则TDMA2的大小(P簇)为:P=(N*256)/4。
一个或多个临时缺陷列表(TDFL)和一个或多个临时盘定义结构(TDDS),作为盘管理信息,被写入到每个TDMA1和TDMA2中。因此,根据本发明的盘管理信息,在狭义上讲,是指写入到TDFL和TDDS中的信息。
如果在数据区或备用区中发现缺陷区,则执行将数据从缺陷区转移到备用区域的处理过程。该TDFL就是用于通过利用缺陷区列表来管理这样一系列处理过程的信息,且依据缺陷区列表的大小用1~4簇的大小写出(在该盘是单层盘的情况)。该TDDS用一簇大小写出,且如图3所示,在狭义上讲,包括盘定义结构(DDS)信息和盘使用状态信息(轨迹信息或空间位图(SBM))。
在本申请中,术语“TDDS”和“TDDS信息”是可互换使用的,且术语“TDFL”和“TDFL信息”也是可互换使用的。
最佳功率校准区(OPC区)被分配给导入区,用于搜索最佳写入功率,且其结构和用途与现有技术的光盘相同。
通过参考图3,将更详细地描述每个TDDS的内容并与相关技术的可重写光盘的结构进行对比。
如图3所示,在可重写光盘的情况,DDS占用大约60字节,一簇(具有32个扇区)中很小的一部分,且一簇中剩余的部分用零填充。然而,在本发明中,除了用作与现有技术的可重写光盘中的DDS一样的该区域(如,60字节)60a以外,一个扇区的剩余部分60b被用作一次性写入光盘的DDS。因此,本发明的TDDS由用于存储DDS的整个一个扇区(2048字节)和用于存储盘使用状态信息(轨迹信息或空间位图(SBM))的一簇中的剩余部分60c所组成。
作为DDS的一部分,根据本发明用于管理一次写入型光盘所需的信息包括以下信息,然而也可以包括在标准建立过程中所需的其他信息。
首先,为支持多个不同的写入方法,该DDS包括记录模式标志62用于指示特定的记录模式/方法。例如,具有值’0000 0000b’的记录模式标志62表示连续记录,而具有值‘0000 0001b’的记录模式标志62表示随机记录。DDS进一步包括用于每个备用区域的‘最近的TDFL的第一PSN’,‘已用OPC的最后PSN’,和‘在ISA0/OSA0中的第一可用备用簇’和‘第(n-1)个TDDS的第一PSN’。PSN意思是物理扇区编号。
接下来,在TDDS的这一簇的剩余的三十一扇区(60c)中,记录本发明的盘使用状态信息。该盘使用状态信息是随盘的使用而变化的信息,且更具体地,在一次写入型光盘的情况,需要此信息以精确搜索另外的可记录区域,通过将整个盘区域分成已写入/未写入区域而获得此区域。尽管图3公开了用一簇的前面第一扇区作为DDS区域,且这个簇的剩余的31个扇区作为存储盘使用状态信息的区域,但是本发明包括使用一个簇的前31个扇区作为存储盘使用状态信息的区域,而用该簇的最后的第32个扇区作为DDS区域。
如上所述,盘使用状态信息可以是,例如轨迹信息或SBM。如果记录模式标志62表示连续记录,那么轨迹信息被存储到区域60c中作为盘使用状态信息。而如果记录模式标志62表示随机记录,那么SBM被记录在区域10c作为盘使用状态信息。
轨迹信息是一种有关盘使用状态的信息,并可用在应用有连续记录的盘上。在现有技术的一次写入型光盘例如CD和DVD中,公知使用状态信息为用于CD的轨迹信息,和用于DVD的RZone、片段或记录范围。所有这些各种术语,在本发明中被称为‘轨迹信息’作为通用名称,并且应当理解为其意思。
SBM(空间位图)是另一种表示盘使用状态的信息,且根据本发明也可应用于具有随机记录的盘。SBM可用于盘的全部区域,其中对每个最小的记录单元(例如,在BD-WO情况下为一个簇)分配一个比特,如果此簇是已写入的区域,则用‘1b’表示该记录单元,如果此簇是未写入区域,则用‘0b’表示该记录单元(反之亦然)。因此,基于读取SBM信息,可以容易地知道一次写入型光盘的当前已写入区域和未写入区域的状态。
轨迹信息的一个例子由64表示并在图3的右边部分示意性地说明。轨迹信息表示盘中每个轨迹的数据的最后记录位置,且该轨迹信息可以包括关于最后记录地址(LRA)的信息,其表示用户区中最后记录区域的地址。
上述的TDDS和TDFL是进行一次写入型光盘的缺陷管理所需要的。然而,记录TDDS和/或TDFL失败的情况可能发生,例如,电源故障。对于这种情况,本发明提供了一种盘结构和用于恢复盘管理信息例如TDDS和/或TDFL的方法和装置。现在描述这种盘结构。
图4示出了根据本发明的诸如BD-WO的一次写入型光盘的备用区(例如图2中的ISA0或OSA0)中的替换簇R的例子。如图4所示,当在一次写入型光盘的用户区或备用区中发现缺陷时,打算写入或已写入具有这个缺陷的簇的用户数据被写入到备用区域的可用区域中。此处,这个可用区域称为替换簇d,且该具有缺陷的簇在此被称为缺陷簇D。已公知簇是记录单元并包括一个或多个扇区。
替换簇d包括地址区21、用户控制数据区22和替换用户数据区24。地址区21存储替换簇d的地址信息,例如,替换簇d的第一PSN。该地址区域21可以存储其他信息。缺陷簇D的地址信息,例如该缺陷簇D的第一PSN,被存储在替换簇d的特定区域,这个特定区域可以是,例如,或者地址区21或是用户控制数据区22。该用户控制数据区22其中也存储用于替换簇d的控制数据。替换用户数据区24存储打算写入或已写入缺陷簇D的用户数据。
使用图4中的盘结构,将参考图5-8来讨论依照本发明的第一实施例的一种恢复盘管理信息的方法。在图5和8中,用虚线表示丢失的盘/缺陷管理信息,即要恢复的信息。
如图5所示,一次写入型光盘,例如图2和3的盘,在TDMA如TDMA1中存储多个TDFL(#n-1,#n,.....)和多个TDDS(#n-1,#n,.....)。每一个TDFL和TDDS都具有如本申请中所讨论的结构。在这个例子中,假定第(n)个TDDS 32丢失并且缺陷出现在数据区中的A、B、C簇,结果用户数据被分别写入代替A、B、C簇的备用区(ISA0)中的‘a’、‘b’、‘c’簇。
为恢复丢失的第(n)个TDDS 32,参考图6,当一次写入型光盘被载入包括记录/再现装置的***(例如后面将讨论的图11所示的***)中,读取正确地记录在BD-WO上的第(n-1)个TDDS 30(图5)(步骤601)。一旦获得该第(n-1)个TDDS,就可知道在写入第(n-1)个TDDS的时候,盘最后记录区域的位置。例如,从该第(n-1)个TDDS,可以确定导入区中已用OPC的最后PSN,可以获得用于该数据区的盘使用状态信息(轨迹信息(使用LRA)或SBM),并可以获得备用区ISA0/OSA0中的第一可用备用簇。
如果确定下一个TDDS(第(n)个TDDS 32)需要恢复(步骤602),那么检查该盘的特定可适用区域,以获得重构该第(n)个TDDS所需要的信息(步骤603)。更具体地,检查由第(n-1)个TDDS所表示的每个最后记录区域之后跟随的区域,来确定在那个区域是否存在任何记录。这种检查通过使用RF信号测试来进行,将在下文中参考图7来讨论。然后确定在这些跟随每个由第(n-1)个TDDS所表示的最后记录地址的区域中的这种记录结束的位置和地址,并使用这些位置和地址来重构该第(n)个TDDS(步骤604)。并且重构的第(n)个TDDS被作为第(n)个TDDS32记录在TDMA1中(步骤604),并根据本发明,这完成了对丢失的第(n)个TDDS的恢复。步骤602可以自动地进行或根据用户或主机的指令来进行。
图7说明了RF信号测试,根据本发明,其被用来确定是否盘区域是已记录区域或是未记录区域。如图7所示,利用RF信号可以确定盘上已记录/未记录(已写入/未写入)区域。通常,RF信号可从盘的已写入/已记录区域检测到,而从盘的未写入/未记录区域只能检测到较少的或没有RF信号。因此,通过检测RF信号,可以检测已写入区域的最后地址,即第(n)个TDDS要指定的的地址。
对盘的每个特定区域进行如图7所示处理过程,来获得重构丢失的TDDS信息需要的信息(图6中步骤6031、6032和6033)。例如,已用OPC的最后PSN可以通过检测来自导入区的RF信号来确定。通过检测从数据区域来的RF信号可以得到盘使用状态信息(轨迹信息(使用LRA)或SBM),通过检测从备用区ISA0/OSA0来的RF信号可以得到第一可用备用簇。
下面,将参考图5-8来描述根据本发明第一实施例的一种恢复第(n)个TDFL的方法。
图5中的第(n-1)个TDFL 40的结构的示例如图8所示。在图5和8的示例中,第(n-1)个TDFL 40包括三个条目51,其包含每个缺陷簇A、B、C的第一PSN和分别对应于簇A、B、C的替换簇a、b、c的第一PSN。换句话说,由于数据区中的簇A、B、C的缺陷,用户数据被分别写入备用区(ISA0)中的簇a、b、c以代替簇A、B、C。然后关于缺陷簇和替换簇的信息被管理并被存储作为第(n-1)个TDFL 40的条目。
在随后的记录时间,假设在数据区内的簇D中发现了缺陷。于是打算写入或已写入簇D的数据会被写入备用区(ISA0)中的簇d代替簇D。可是,由于在写入第(n)个TDFL来表明这个替换写入中的失败,***或主机不知道这个替换写入。这样,恢复第(n)个TDFL的方法是需要的,并根据本发明描述如下。
如图6所示,当盘在***中载入时,读取可再现的正确地记录的TDDS和TDFL(步骤601),也就是图5中第(n-1)个TDDS 30和第(n-1)个TDFL 40。在上述例子的情况下,从图8所示的第(n-1)个TDFL中能够得到三个用于缺陷簇A、B、C的条目,和从图5中所示的第(n-1)个TDDS中能够得到ISA0/OSA0中的第一可用备用簇(50)的位置信息50。在这个例子中,从第(n-1)个TDDS得到的第一可用备用簇的位置信息50,表示替换簇d的位置或起始地址。
接着,确定在跟随由第(n-1)个TDDS所表示的第一可用备用簇50的区域中的任何记录的存在(步骤603中的6033)。也就是说,***检测在簇d的区域中是否存在任何记录。这种检测通过利用上文中结合图7讨论的RF信号测试来完成。取决于***,步骤6033可以自动进行或根据来自主机的请求等来进行(步骤602)。在上述例子的情况下,确定簇d具有记录。
然而,为了恢复第(n)个TDFL,需要完全的条目,其包括对应于该替换簇d的缺陷簇D的位置信息。但是这个位置信息不是只通过使用RF信号测试来确定替换簇d是否具有记录而可获得。因此,为了获得该缺陷簇D的位置信息,本发明利用缺陷簇D的位置信息,其记录在可再现的替换簇d的特定区域,如上文中结合图4所讨论的。例如,该缺陷簇D的第一PSN被记录在或地址区21或替换簇d的用户控制数据区22中。
因此,在上面的例子中,基于读取替换簇d的用户控制数据区(或地址区),可以知道缺陷区域缺陷簇D的位置信息。这信息被用于重构如图8所示的第(n)个TDFL的最后全条目52。在这个例子中,可以用由步骤6033得到的代替簇d的第一PSN和对应于替换簇d的缺陷簇D的第一PSN来重构第(n)个TDFL的最后全条目52,此缺陷簇D的第一PSN由代替簇d的用户控制数据区(或地址区)获得。于是可以用来自第(n-1)个TDFL的三个条目51和恢复的最后条目52来重构完整的第(n)个TDFL。
将如以上所述已恢复的第(n)个TDFL写入在TDMA区域内,例如TDMA1,完成了TDFL的恢复处理过程(步骤604)。
下面将更详细地对术语“第一PSN”和“最后PSN”进行描述。盘上已写入的一个记录单元(在BD-WO情况下是簇)具有多个扇区,并且第一PSN是第一扇区的起始地址,最后PSN是最后扇区的起始地址。因此,如果盘的使用方向在PSN增加的方向,那么能通过簇的“第一PSN”(即,簇的第一扇区的起始地址)知道特定记录单元的位置,如果盘使用的方向在PSN减少的方向(如OPC区域),那么能通过该簇的“最后PSN”(即,该簇的最后扇区的起始地址)知道特定记录单元的位置。根据本发明,“位置信息”意为“第一PSN”和/或“最后PSN”,但并不局限于此,并可以指表示特别地点或位置的其他方法。
现在将参考图9和图10,讨论根据本发明的第二个实施例的恢复盘管理信息的方法,其从盘上次记录的区域恢复丢失的盘管理信息(例如,第(n)个TDDS和第(n)个TDFL)。图9说明了恢复第(n)个TDDS的处理步骤,图10说明了恢复第(n)个TDFL的处理步骤。
为了恢复丢失的第(n)个TDDS,如图9所示,当如图2和3中盘的一次写入型光盘加载入包含记录/再现装置的***中时,盘上可应用的区域(例如,备用区域、数据区域、导入区等)的最后记录的位置被确定(步骤901)。这能够通过利用前面联系图7所论述的RF信号检测来完成。下一步,从TDMA中读取第(n-1)个TDDS(步骤902)。之后将在步骤901得到的位置信息与在步骤902得到的位置信息相比较(步骤903)。如果该两部分位置信息之间存在任何差异,则利用该差异信息和第(n-1)个TDDS来重构丢失的第(n)个TDDS(步骤904),其方式与前面所述的第一实施例相类似。例如,该差异信息应当指示盘实际的最后记录的位置(在第(n)个TDDS的时间),且该信息用来更新或更改存储在第(n-1)个TDDS中与之不同的信息,来组成第(n)个TDDS。但是如果在步骤903没有检测到差异,则***认为不存在第(n)个TDDS并且处理过程结束。
依据***,可以有这样的情况,其中从盘上最后记录的区域所得到的位置信息直接作为第(n)个TDDS而不进行比较步骤903。在没有第(n-1)个TDDS,或从第(n-1)个TDDS中再现的数据的可靠性存在问题或很低的时候可以出现这种情况。
因此,在根据本发明第二实施例的恢复第(n)个TDDS的方法中,盘上最后记录的区域被首先确定,之后利用该最后记录的区域的位置信息来恢复第(n)个TDDS。
为了恢复第(n)个TDFL,如图10所示,当盘被加载进***中时,盘的备用区中的已记录区域被再现(步骤1001),从中获取每个替换簇的位置信息和对应于该替换簇的每个缺陷簇的位置信息(步骤1002)。如果使用图4所示的盘结构,那么这能够实现,其替换簇的位置信息和相应缺陷簇的位置信息二者存储在该替换簇内。这两部分位置信息组成第(n)个TDFL中的最新条目。然后检测来自所记录的第(n-1)个TDFL的任一条目(步骤1003)。然后来自步骤1003的所有已检测的条目与来自步骤1002的已组成的条目对比。如果有任何差异,那么差异信息和来自第(n-1)个TDFL的条目都被用来组合第(n)个TDFL(步骤1005)。也就是说,如果存在差异,那么来自步骤1002的已组成的条目被累加到第(n-1)个TDFL的条目以重构第(n)个TDFL。使用这种方法是因为通常当前TDFL应包含盘上所有缺陷区的信息。如果在步骤1004没有检测出差异,那么***认为没有第(n)个TDFL并且处理过程结束。
根据***,可能出现的这样的情况,就是直接采用来自替换簇的两部分位置信息作为第(n)个TDFL而没有进行对比步骤1004。当没有第(n-1)个TDFL,或从第(n-1)个TDFL再现的数据的可靠性是可疑的或很低时,此情况可能出现。
因此,在根据本发明的第二个实施例恢复第(n)个TDFL的方法中,首先从备用区域中的替换区域确定位置信息,从该位置信息获得最新条目信息,并利用该条目信息重构第(n)个TDFL。
图11说明根据本发明的光盘记录/再现装置。这个装置或其他合适的装置或***可被用于实现光盘的结构和存储和恢复光盘管理信息例如上述的TDFL和TDDS的方法。
如图11所述,光盘记录/再现装置包括:记录/再现单元10,此单元用于将数据记录到光盘和从光盘再现数据;控制器20,用于控制记录/再现单元10。此记录/再现装置的所有元件都工作连接。控制器20传送用于记录到光盘上的区域或从光盘上的区域再现的指令到记录/再现单元10。此记录/再现单元10根据控制器20的指令将数据记录到盘或从盘再现数据。记录/再现单元10包括接口单元12、拾波器单元11、数据处理器13、伺服单元14、存储器15和微型计算机16。接口单元12与例如控制器20的外部设备连接。拾波器单元11直接记录数据至光盘,或从光盘再现数据。数据处理器13从拾波器单元11接收再现信号,恢复首选信号,调制信号使其适于光盘,并传送信号。伺服单元14控制拾波器单元11以从光盘上读取信号或把信号写入光盘。存储器15临时存储数据和各种信息,包括所需的光盘管理信息。微型计算机16控制记录/再现单元10的部件,并执行或控制根据本发明的恢复TDFL和TDDS的方法的步骤。
根据本发明的第一和第二个实施例,可同时执行或在不同时间分别执行第(n)个TDDS和第(n)个TDFL的恢复。
工业适用性
从盘的最后记录区域上的信息和先前的TDDS/TDFL信息上恢复所丢失的盘管理信息(特别是TDDS和TDFL),阻止发生由管理信息的丢失而导致的错误,从而允许更有效地使用盘。
对本领域技术人员显而易见的是,在本发明中可以作出各种修改和变化。因此,本发明意在覆盖落在所附权利要求及其等效物范围内的本发明的修改和变化。