CN101359021B - 检测结构以及检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种检测结构以及检测方法。该检测结构用以检测图像传感器，图像传感器电连接于晶片上并且图像传感器与晶片之间设有检测板，检测结构包括平行光源、针脚以及滤光片，平行光源发射平行光，针脚与检测板电连接，滤光片位于平行光源以及针脚之间，其中，平行光源发射的平行光通过滤光片到达晶片上的图像传感器。通过本发明的检测方法，可仿真图像传感器在终端使用时的自然光(漫射光)，仿真终端使用环境来检测以增加检测的准确性。

Description

检测结构以及检测方法

技术领域

本发明有关于一种检测结构以及检测方法。

背景技术

请参阅图1，图1为现有检测结构10的示意图，现有用以检测图像传感器20的检测结构10包括平行光源11、电路板12、针脚13以及缺口14，图像传感器20通过检测板22以电连接的方式设置于晶片21上，电路板12与针脚13电连接，并且电路板12上设有缺口14以作为光束通道，平行光源11与图像传感器20分别相对应地设于电路板12的上、下二侧，当利用检测结构10检测图像传感器20时，平行光源11会先发出一平行光，该平行光以图1中箭头A方向进入缺口14中，另外检测结构10的针脚13会与检测板22电连接，而图像传感器20接收到光信号后，会产生一电信号，通过针脚13将此电信号回传至检测结构10的电路板，借以判定图像传感器20是否能够正常使用。

现有检测结构10在提供检测时通常提供平行光进入图像传感器20中，然而，平常使用者在使用图像传感器20时，外在环境的光线条件不可能为检测时的平行光，故利用现有检测结构10检测出的结果，并不能贴近一般使用状态下的结果，即现有检测结构10无法仿真图像传感器在最终端使用时的光源，导致检测结果有误差或是在使用图像传感器20前必须重新调校。

发明内容

本发明提供一种检测结构，用以检测图像传感器，图像传感器电连接于晶片上并且图像传感器与晶片之间设有检测板，检测结构包括平行光源、针脚以及滤光片，平行光源发射平行光，针脚与检测板电连接，滤光片位于平行光源以及针脚之间，其中，平行光源发射的平行光通过滤光片到达晶片以及图像传感器上。

上述的检测结构，其中优选地，其还包括一承载件，该承载件位于该滤光片以及该针脚之间。

上述的检测结构，其中优选地，其还包括一透镜，该透镜通过该承载件设置于该滤光片以及该针脚之间。

上述的检测结构，其中优选地，该承载件包括一调节机构，该调节机构包括一容置槽以及一微调螺丝，该容置槽用以容置该透镜，并且该微调螺丝与该透镜连接，转动该微调螺丝时可使该透镜移动。

上述的检测结构，其中优选地，该容置槽的孔径略大于该透镜的直径。

上述的检测结构，其中优选地，其还包括一电路板，该电路板与该针脚电连接。

本发明还提供一种检测方法，用以检测图像传感器，图像传感器电连接于晶片上，并且图像传感器与晶片之间设有检测板，检测方法的步骤包括提供一检测结构，该检测结构包括一平行光、一针脚、一滤光片以及一透镜；使该平行光通过该滤光片；通过该滤光片后的该平行光变成一漫射光；以及成像于该图像传感器上。

上述的检测方法，其中优选地，检测方法的步骤还包括使漫射光通过透镜。

上述的检测方法，其中优选地，检测方法的步骤还包括使针脚与检测板电连接。

通过本发明的检测方法，可仿真图像传感器在终端使用时的自然光(漫射光)，仿真终端使用环境来检测以增加检测的准确性，另外，由于图像传感器在终端使用时常常与透镜一起搭配使用，故使漫射光再通过透镜，可更加贴近图像传感器在终端使用的环境，增加检测时的准确性。

附图说明

图1为现有检测结构的示意图；

图2为本发明检测结构的示意图；

图3为本发明检测结构的另一实施例示意图；

图4为本发明的承载件及透镜的另一实施例示意图；

图5为应用本发明检测结构检测方法的流程图。

其中，附图标记说明如下：

现有技术：

10～检测结构       11～平行光源        12～电路板

13～针脚           14～缺口            20～图像传感器

21～晶片           22～检测板

本发明：

20～图像传感器     21～晶片            22～检测板

30、40～检测结构   31、41～平行光源    32、42～电路板

33、43～针脚       34、44～滤光片      45、55～透镜

46、56～承载件     562～调节机构       563～容置槽

564～微调螺丝      D1～孔径            D2～直径

B、C～箭头

具体实施方式

为让本发明的上述和其它目的、特征、和优点能更明显易懂，下文特举出较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下：

请参阅图2，图2为本发明检测结构30的示意图，本实施例的检测结构30用以检测图像传感器20，图像传感器20电连接于晶片21上，并且图像传感器20与晶片21之间设有检测板22，其中，检测结构30包括平行光源31、电路板32、针脚33以及滤光片34，平行光源31发射平行光，针脚33与电路板32电连接，而滤光片34位于平行光源31以及针脚33之间，其中，平行光以箭头B方向通过滤光片34后，即变成漫射光(如箭头C所示)，之后到达图像传感器20，另外，检测结构30的针脚33会接触到检测板22并且彼此电连接，到达图像传感器20后的漫射光会促使图像传感器20以及晶片21传递出一电信号，该电信号经针脚33传回至检测结构30的电路板32，以判定图像传感器20是否能够正常使用，本实施例的检测结构30通过增设滤光片34以仿真图像传感器20在终端使用时的自然光(漫射光)，仿真终端使用环境来检测以增加检测的准确性，应注意的是，本发明的图像传感器20可为电荷耦合元件(CCD)或接触式图像传感器(CIS)。

请参阅图3，图3为本发明检测结构40的另一实施例示意图，本实施例的检测结构40用以检测图像传感器20，图像传感器20电连接于晶片21上，并且图像传感器20与晶片21之间设有检测板22，其中，检测结构40包括平行光源41、电路板42、针脚43、滤光片44、透镜45以及承载件46，平行光源41发射平行光，针脚43与电路板42电连接，而滤光片44位于平行光源41以及针脚43之间，承载件46用以承载透镜45，并且承载件46位于滤光片44以及针脚43之间，其中，平行光以箭头B方向通过滤光片34后，即变成漫射光(如箭头C所示)，漫射光会通过透镜45使图像聚焦后再到达图像传感器20，另外，检测结构40的针脚43会接触到检测板22并且彼此电连接，到达图像传感器20后的漫射光会促使图像传感器20以及晶片21传递出一电信号，该电信号经针脚43传回至检测结构40的电路板42，以判定图像传感器20是否能够正常使用，本实施例的检测结构40通过增设滤光片34以仿真图像传感器20在终端使用时的自然光(漫射光)，仿真终端使用环境来检测以增加检测的准确性，另外，由于图像传感器20在终端使用时常常与透镜45一起搭配使用，故本实施例还于滤光片44及针脚43之间增设透镜45，可更加贴近图像传感器20在终端使用的环境，增加检测时的准确性，应注意的是，本发明的图像传感器20可为电荷耦合元件(CCD)或接触式图像传感器(CIS)。

再请参阅图4，图4为本发明的承载件56及透镜55的另一实施例示意图，其中承载件56包括调节机构562，调节机构562包括容置槽563以及微调螺丝564，容置槽563用以容置透镜55，并且微调螺丝564与透镜55连接，转动微调螺丝564时可使透镜55移动，应注意的是，容置槽563的孔径D1略大于透镜55的直径D2。

最后请搭配参考图5，图5为应用本发明检测结构40检测方法的流程图，其用以检测图像传感器20，请搭配参阅图3，图像传感器20电连接于晶片21上，并且图像传感器20与晶片21之间设有一检测板22，检测方法的步骤包括首先，步骤a.提供检测结构40，检测结构40包括平行光、针脚43、滤光片44以及透镜45，接着，步骤b.使平行光通过滤光片44，步骤c.通过滤光片44后的平行光变成一漫射光，步骤d.使漫射光通过透镜45，步骤e.使针脚43与检测板22电连接，最后，步骤f.成像于该图像图像传感器20上，通过本发明的检测方法可仿真图像传感器20在终端使用时的自然光(漫射光)，仿真终端使用环境来检测以增加检测的准确性，另外，由于图像传感器20在终端使用时常常与透镜45一起搭配使用，故使漫射光再通过透镜45，可更加贴近图像传感器20在终端使用的环境，增加检测时的准确性，应注意的是，本发明的图像传感器20可为电荷耦合元件(CCD)或接触式图像传感器(CIS)。

虽然本发明已以较佳实施例揭示如上，然而其并非用以限定本发明，任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，仍可作些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视权利要求所界定的范围为准。

Claims (7)

1.一种检测结构，用以检测一图像传感器，该图像传感器电连接于一晶片上并且该图像传感器与该晶片之间设有一检测板，该检测结构包括：

一平行光源，发射一平行光；

一针脚，该针脚与该检测板电连接；以及

一滤光片，该滤光片位于该平行光源以及该针脚之间；

一承载件，该承载件位于该滤光片以及该针脚之间；

一电路板，该电路板与该针脚电连接；

其中该平行光源发射的该平行光通过该滤光片到达该图像传感器以及该晶片上。

2.如权利要求1所述的检测结构，其还包括一透镜，该透镜通过该承载件设置于该滤光片以及该针脚之间。

3.如权利要求2所述的检测结构，其中该承载件包括一调节机构，该调节机构包括一容置槽以及一微调螺丝，该容置槽用以容置该透镜，并且该微调螺丝与该透镜连接，转动该微调螺丝时可使该透镜移动。

4.如权利要求3所述的检测结构，其中该容置槽的孔径略大于该透镜的直径。

5.一种检测方法，用以检测一图像传感器，该图像传感器电连接于一晶片上并且该图像传感器与该晶片之间设有一检测板，其步骤包括：

提供一检测结构，该检测结构包括一平行光、一针脚、一滤光片、一透镜、一承载件以及一电路板；

使该平行光通过该滤光片；

通过该滤光片后的该平行光变成一漫射光；以及

成像于该图像传感器上。

6.如权利要求5所述的检测方法，其步骤还包括使该漫射光通过该透镜。

7.如权利要求5所述的检测方法，其步骤还包括使该针脚与该检测板电连接。

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