CN101334542A - 一种tft-lcd面板测试***及其测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种TFT－LCD面板测试***及其测试方法，包括有机械结构部分及电路结构部分，所述机械机构部分包括放置待测试面板的面板安置槽、探针、用于固定探针的滑动板、用于压接探针和面板上的测试点的手柄以及电源开关；所述电路部分包括面板驱动电路和背光产生电路，利用方波产生电路产生所需的电压波形，并将不同的电压波形通过探针加在面板测试点上驱动LCD，使其显示出不同的颜色，从而检测出不良的面板。可在绑定IC之前对LCD面板进行检测，检测出坏点、缺行、缺列等不良的面板，以减少由于生产进料不良造成的额外成本。

Description

一种TFT-LCD面板测试***及其测试方法

【技术领域】

本发明涉及TFT-LCD技术领域，特别涉及一种TFT-LCD面板测试***及其测试方法。

【背景技术】

一般TFT-LCD面板在出厂之前，生产厂家都会对其进行检测，由于测试设备比较复杂，LCD模组厂商一般不会再对面板进行测试，但针对生产中出现的不良品，尤其是由于IC或FPC绑定造成的不良而返修的面板无法确定是否在返修的过程中造成了面板的不良，因而非常有必要对这些面板进行测试，以再次投入生产，减少生产成本。目前TFT-LCD面板的测试方法有两种：一种方法是通过带有探测头的检测装置进行检测，利用带有多个探测头的检测装置，由探测头耦合到液晶面板的栅极线、信号线组，当探测到来自信号线组的反馈信号不符合一预定标准时，判定信号线组上像素点存在缺陷，然后由一光学装置例如电子显微镜辨别有缺陷的像素点；另一种方法是通过对采集的图象编码分析进行检测，通过对采集到的图象进行掩饰码编码、分析，从而检测LCD面板有无坏点。然而，该两种方法设计较复杂，成本较大，更重要的是上述两种方法均需要先绑定IC，点亮面板后才能检测坏点，无法在绑定IC之前对LCD面板进行检测，挑出有缺陷的面板，以减少损失。

【发明内容】

为解决上述问题，本发明的主要目的在于提供一种TFT-LCD面板测试***及其测试方法，可在绑定IC之前对面板进行测试，检测出坏点、缺行、缺列等不良情况，以减少由于生产进料不良造成的额外成本。

为实现上述目的，本发明的技术方案为：

一种TFT-LCD面板测试***，包括有机械结构部分及电路结构部分，其特征在于：所述机械机构部分包括放置待测试面板的面板安置槽、探针、用于固定探针的滑动板、用于压接探针和面板上的测试点的手柄以及电源开关；所述电路部分包括面板驱动电路和背光产生电路。

一种TFT-LCD面板测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

将待测试的面板放在机械结构的安置槽中，按下手柄，调整滑动板使探针压在待测试面板的测试点上，固定安置槽和滑动板；

利用方波产生电路产生所需的电压波形，并将不同的电压波形通过探针加在面板测试点上驱动LCD，分别按下机械机构底座上的R、G、B按钮，可使其显示出不同的颜色，从而检测出不良的面板。

相较于现有技术，本发明可在绑定IC之前对LCD面板进行检测，检测出坏点、缺行、缺列等不良的面板，以减少由于生产进料不良造成的额外成本。

【附图说明】

图1为本发明测试***机械结构部分的立体图。

图2为本发明测试***机械结构部分的俯视图。

图3为本发明测试***电路结构部分的电路图示。

图4为本发明测试***电路结构部分的方波产生电路的软件流程图示。

【具体实施方式】

请参阅图1、图2所示，本发明一种TFT-LCD面板测试***，包括有机械结构部分及电路结构部分。其中机械机构部分包括有手柄A、滑动板B、探针C、面板安置槽D及电源开关E。另外，机械机构的底座上还设置有R、G、B按钮。待测试的面板放置在安置槽D上，所述滑动板B用来固定探针C，而所述手柄A用来压接探针C和面板上的测试点；其中，滑动板B和面板安置槽D可以根据不同型号的面板进行更换。应用时，先将待测试的面板放置在面板安置槽D中，调整滑动板B和面板安置槽D的位置，按下手柄A，使探针C刚好压在待测面板的测试点上；然后固定滑动板B和安置槽D，以防止在更换面板时位置发生改变。

请参照阅图3所示，所述电路结构部分设置于机械机构的底座内，包括面板驱动电路和背光产生电路，由面板驱动电路产生所需要的驱动波形，加在面板的测试点上，利用背光产生电路，点亮背光，即可观察到面板上的缺陷。面板驱动电路主要包括有方波产生电路和信号放大电路，其中，方波信号产生电路主要由W78E516B单片机、晶振电路及其他的***电路组成，可由软件控制产生不同频率和占空比可调的方波信号，但由于最终驱动信号的电压幅值在-10～15V，远大于单片机的工作电压(5V)，故需要将单片机产生的信号通过后级的信号放大电路，输出所需峰值的信号。信号放大电路主要通过芯片LM324实现，LM324是四运放集成电路，其采用14脚双列直插塑料封装，内部包含四组形式完全相同的运算放大器，除电源共用外，四组运放相互独立。驱动电路最终产生的驱动信号通过探针加在面板的测试点上以驱动面板。背光产生电路的主要是产生背光，由于LCD是被动式发光，必须要外加光源才能观察到显示的颜色，可以根据背光的电压选择合适的升/降压电路，将外部电源的电压转换为背光的驱动电压以点亮背光。

图4所示为方波产生电路的软件流程图示，利用W78E516B单片机内计数器/定时器T0和T1互相配合来控制方波的频率和占空比。其中，W78E516B单片机使用12M晶振，执行一条指令的时间为1μs，这样根据键盘输入的频率值f和占空比d，得到周期时间常数Tt(Tt＝1/f)和正脉冲的时间长度Td(Td＝Tt×d％)。具体流程为：将正周期初值分别送给计数器/定时器T0、T1，T0、T1同时开始计数，并使P1.0和P1.1输出为高电平，因为T0的初值小于T1的初值，故T0将首先计满溢出；判断T0是否溢出，若没有，继续计数，若已计满溢出，再将负周期初值送给T0，同时拉低P1.0的输出电平；当T0，T1同时计满溢出(T1的周期是T0的2倍)，T0、T1重新装载初值并同时开始计时，P1.0拉高，P1.1拉低，判断T0是否计满溢出，溢出后再将负周期初值送给T0，同时拉低P1.0的输出电平；当T0，T1同时计满溢出，再将T0、T1重新装载正周期初值，至此完成一个周期的输出，一直循环下去就可产生需要的方波波形，若需要改变方波的频率和占空比，只需改变T0、T1的定时常数即可。

本发明一种TFT-LCD面板测试方法具体操作步骤为：将待测试的面板放在机械机构的安置槽D中，所述安置槽D可根据面板的外形尺寸进行更换；调整滑动板B和安置槽D位置，同时按下手柄A，使探针C刚好压在面板的测试点上，固定安置槽D和滑动板B，所述滑动板B可根据不同面板的测试点进行更换；按下机械构件底座上的R、G、B按钮，可以分别按或者同时按下其中几个按钮。利用方波产生电路产生所需的电压波形，并将不同的电压波形通过探针加在PANLE的测试点上驱动LCD，使其显示出不同的颜色(黑白红绿蓝灰等)，再通过肉眼，放大显微镜或CCD摄象机检测出具有坏点、缺行、缺列等不良的面板。

以上所描述的最佳实施例仅是对本发明进行阐述和说明，但并不局限于所公开的任何具体形式，进行许多修改和变化是可能的。

Claims (10)

1.一种TFT-LCD面板测试***，包括有机械结构部分及电路结构部分，其特征在于：所述机械机构部分包括放置待测试面板的面板安置漕、探针、用于固定探针的滑动板、用于压接探针和面板上的测试点的手柄以及电源开关；所述电路部分包括面板驱动电路和背光产生电路。

2.如权利要求1所述的TFT-LCD面板测试***，其特征在于：所述机械机构部分的底座上还设置有R、G、B按钮。

3.如权利要求2所述的TFT-LCD面板测试***，其特征在于：所述电路结构部分设置于机械机构的底座内。

4.如权利要求3所述的TFT-LCD面板测试***，其特征在于：所述面板驱动电路主要包括有方波产生电路和信号放大电路。

5.如权利要求4所述的TFT-LCD面板测试***，其特征在于：所述方波信号产生电路主要由单片机、晶振电路及其他的***电路组成。

6.如权利要求5所述的TFT-LCD面板测试***，其特征在于：所述信号放大电路为一个四运放集成电路，该四运放集成电路内部包含四组形式完全相同的运算放大器。

7.一种TFT-LCD面板测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

将待测试的面板放在机械结构的安置槽中，按下手柄，调整滑动板和安置槽使探针压在待测试面板的测试点上，固定安置槽和滑动板；

按下机械机构底座上的R、G、B按钮，利用方波产生电路产生所需的电压波形，并将不同的电压波形通过探针加在面板测试点上驱动LCD，使其显示出不同的颜色，从而检测出不良的面板。

8.如权利要求7所述的TFT-LCD面板测试方法，其特征在于：根据不同型号的面板可更换滑动板和面板安置槽。

9.如权利要求8所述的TFT-LCD面板测试方法，其特征在于：将不同的电压波形通过探针加在面板的测试点上驱动LCD，使其显示出不同的颜色，然后再通过肉眼，放大显微镜或CCD摄象机检测出具有缺陷的不良面板。

10.如权利要求9所述的TFT-LCD面板测试方法，其特征在于：面板驱动电路产生所需要的驱动波形，加在面板的测试点上，利用背光产生电路，点亮背光，从而可观察到面板上的缺陷。

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