CN101236110A - 发光二极管温度测试仪 - Google Patents
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Abstract
一种新型的发光二极管温度测试仪，可以直接测试到发光二极管芯片的温度。减小了普通温度表测试的误差。本发明解决其技术问题所采用的技术方案是利用发光二极管芯片本身的温度特性：当用1mA的电流点发光二极管芯片时，温度每升高1℃时，发光二极管芯片的电压就会下降2.2mV，本发明利用1mA的电流测试发光二极管的电压，计算出发光二极管的实际温度。本发明也同样适用于普通二极管的温度测试。
Description
本发明涉及一种温度测试仪，适用发光二极管的温度测试。
发光二极管(LED，light emitting diode)是一种小型，发光效率高的固态光源，发光二极管为半导体器件，其使用寿命长，稳定度高，发光效率高，适合作为各种不同的光源。
目前，生产和研发发光二极管时，需要测试发光二极管的工作温度，以便了解发光二极管的工作状态。目前测试发光二极管温度的方法是用传感器放在发光二极管上，用温度表测试发光二极管的温度，这种方法只能测试到发光二极管的表面温度，不能测试到发光二极管芯片的温度，测试数据和实际温度有较大的误差。
为了克服现有测试方法的不足，本实发明提供一种新型的发光二极管温度测试仪，可以直接测试到发光二极管芯片的温度。减小了普通温度表测试的误差。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是利用发光二极管芯片本身的温度特性：当用1ma的电流点发光二极管芯片时，温度每升高1℃时，发光二极管芯片的电压就会下降2.2mv，本发明利用1ma的电流测试发光二极管的电压，计算出发光二极管的实际温度。本发明也同样适用于普通二极管的温度测试
本发明性能可靠，工作稳定。
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1是发光二极管芯片的温度曲线图。
图2是本发明测试输出电流的波形图.
图3是本发明实施例电路方框图。
图1发光二极管芯片的温度曲线图，当温度越高时，二极管芯片的芯片的电压越低。当用1ma的电流点发光二极管芯片时，温度每升高1℃时，发光二极管芯片的电压就会下降2.2mv。
图2是本发明测试输出电流的波形图，IF1是发光二极管的工作电流，可以调整。根据不同的发光二极管可以设定成不同的值。IF2是温度测试时的电流，电流值是1ma，T1是测试电流的时间，T2是工作电流的时间，T1的时间只有T2的时间的极少比例。
图3是本发明实施例电路方框图，由电流调整1，电流控制2，电压检测3，高精度峰值电压表4，比较校准5，室温检测6，输入控制7，通讯接口8，显示屏9几部分组成。电流调整1用来调整发光二极管的工作电流，根据不同的发光二极管可以设定成不同的值，受输入控制7的控制，电流控制2用来控制发光二极管1ma的测试电流和工作电流。电压检测3用来检测1ma测试电流时发光二极管的电压。高精度峰值电压表4用来测试1ma测试电流时发光二极管的电压，然后送给比较校准5和室温检测6测试的结果比较。得出数据值转换后由显示屏9显示出来，测试仪的操作控制由输入控制7完成，通讯接口8用来连接计算机之类的各种外部设备。
Claims (7)
1.一种发光二极管温度测试仪，其特征在于所述的发光二极管温度测试仪是用电压检测3，高精度峰值电压表4，测试出发光二极管的电压通过比较校准5和室温检测6校准后，然后转换计算出发光二极管温度。
2.根据权利要求1所述的发光二极管温度测试仪，其特征在其输出的电流中测试电流的时间占总时间的极小部分，工作电流的时间占总时间的绝大部分。
3.根据权利要求1所述的发光二极管温度测试仪，其特征在于其至少有一个室温检测7，用来测试环境温度。和高精度峰值电压表4测试结果对比，得到准确的测试结果。
4.根据权利要求1所述的发光二极管温度测试仪，其特征在其至少有一个通讯接口8，可以和计算机之类的外部设备连接，也可以用于多台测试仪的连接。
5.根据权利要求1所述的发光二极管温度测试仪，其特征在于其至少有一个电压检测3，用来检测出发光二极管的测试电流工作下的电压，区分开发光二极管的工作电流下的电压。
6.根据权利要求1所述的发光二极管温度测试仪，其特征在于其至少有一个高精度峰值电压表4，用来测试发光二极管的测试电流工作下的电压。
7.根据权利要求1所述的发光二极管温度测试仪，其特征在于其输出的测试电流是不变的，输出的工作电流可以调整，根据不同的发光二极管可以设定成不同的值。
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2007
- 2007-12-05 CN CN 200710199141 patent/CN101236110A/zh active Pending
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