CN101213442B - 用于辐射以及辐射检测的移动设备 - Google Patents

用于辐射以及辐射检测的移动设备 Download PDF

Info

Publication number
CN101213442B
CN101213442B CN2006800240051A CN200680024005A CN101213442B CN 101213442 B CN101213442 B CN 101213442B CN 2006800240051 A CN2006800240051 A CN 2006800240051A CN 200680024005 A CN200680024005 A CN 200680024005A CN 101213442 B CN101213442 B CN 101213442B
Authority
CN
China
Prior art keywords
neutron
equipment according
shelf
arm
radiation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN2006800240051A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101213442A (zh
Inventor
吉奥瓦尼·博迪
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Publication of CN101213442A publication Critical patent/CN101213442A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101213442B publication Critical patent/CN101213442B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B25—HAND TOOLS; PORTABLE POWER-DRIVEN TOOLS; MANIPULATORS
    • B25J—MANIPULATORS; CHAMBERS PROVIDED WITH MANIPULATION DEVICES
    • B25J9/00—Programme-controlled manipulators
    • B25J9/16—Programme controls
    • B25J9/1694—Programme controls characterised by use of sensors other than normal servo-feedback from position, speed or acceleration sensors, perception control, multi-sensor controlled systems, sensor fusion
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/207—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
    • G01N23/2073—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions using neutron detectors
    • G—PHYSICS
    • G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/06—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
    • G21K1/065—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators using refraction, e.g. Tomie lenses

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Robotics (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

描述了配置有可与其它放射源结合的中子源的移动式设备包括一个自动机械***，所述***在受控轨道上移动，实现从不同位置观测来自移动或固定的被适当辐照的待检样本的辐射。

Description

用于辐射以及辐射检测的移动设备
技术领域：
本发明涉及在破坏性和非破坏性综合控制中用于辐射以及辐射检测的移动设备。
背景技术：
用于辐射以及辐射检测的移动设备设有放射源和探测器。放射源可以发射不同特性的粒子(或波)(例如x射线、中子/电子、超声波等等)。通常在同一仪器中不会同时或交替使用超过1个放射源。另外，这些设备当其必须从一个地方移到另一个地方时存在一些问题，这些问题主要涉及设备自身及其附属设备(例如高压发电机、冷却液容器、密闭容器)的尺寸。例如当使用中子源用于衍射，通常设备是被安装在实验室中，所述实验室中存在具有高中子通量的核反应器或者所述实验室中中子是由加速器中的碰撞过程产生，这样可以提供适当的中子通量以满足衍射测量的需要。因此这类仪器很大并且沉重使得它们只能安装在大型实验室中。使用电子源时也存在类似的问题，因为在这个情况下所要求的尺寸也不是一个容易放置的设备。
因为任何类型的辐射撞击在被检测材料上都具有特性，使用不同类型的放射源进行调查和分析给出的基本信息是互补的。
发明内容：
根据前述，具有良好机动性并具有在任何需要的地点并且无论所需放射源是什么都可进行检测的设备是很重要的。
因为许多分析具有相关特性，也就是其是相对于其他参照测量和参照样品而进行的，对于本发明所涉及的必需给定优选的方案。
因此，根据优选应用，本发明涉及中子衍射，在本发明中为获得衍射的几何规则在独立于所用的辐射的类型(中子、电子、X-射线等)下被特别考虑。
直到现在，辐射热能化器以及限制***的尺寸使得不能实现带有设备和控制器的中子衍射仪适于整体设施的移动和运输。
所述的创新方面之一是结合折射效应(用于热能化中子)和完全反射效应。
其它方面是使用所结合的具有不同特性的放射源并且控制设备在轨道上移动的可能性，这使得有利于用于诊断和治疗用途的测量。
附图说明：
图1(a)显示基于本发明的设备的自动机械的示意图；
图1(b)显示图1(a)特定细节
图2显示定位***部件的相互位置；
图3显示辐照和热能化会聚透镜特定细节。
图4显示基于本发明的装置的示意图。
具体实施方式：
描述了一个可移动或运输的设备，所述设备具有可与其它放射源结合的中子源。这个设备包括一个自动机械***，所述自动机械***基于自动机械可在受控轨道上移动而用于在不同角度下观测来自待检试样的辐射。
如上所述，由于来自待检样板的中子辐射束的衍射是本发明的优选应用，这里做主要详细描述。
相对于其它类型的方法中子衍射实际上要求绑定更多实现条件，并包括使用会聚和热能化***，这些***对于其它分析是非必须的。
详细描述本发明
本发明提供一个可行的多功能设备，其可以用于不同特性的放射以便于不同或互补的目的(诊断、治疗、修复、烙印等)，由于本发明的设备可以实现所需要的操作，无论要求在哪里进行，即使在设备的部分上运行。其优选用作衍射仪，这是因为存在沿受控轨道移动的自动机械替代实验室衍射仪所使用的传统机械测角仪。这个自动机械***以及相应的运动使得实现定义为“虚拟测角仪结构”的仪器结构。
虚拟测角仪
图1显示基于本发明的可移动设备，其包括一个移动表面10，在该表面上固定有辅助***10′(例如冷却液容器或发电机、高压发电机、电池等等)。所述表面通过中轴11连接到搁板12，在其上设有第二搁板13。所述搁板13可相对于搁板12移动，如图所示沿笛卡尔坐标系(Cartesianaxes)的x和y轴方向滑动，所述滑动是通过机械齿轮手动或电控引导的。轴11可机械或手动或电动移动；所述轴11可以抬升和降落搁板12。
三个自动机械14、15和16被设于搁板13上。他们可沿受控轨道移动，从而实现虚拟测角仪并淘汰了这类设备通常所使用的机械测角仪。
每个自动机械14、15和16包括一个底座17和两个臂18和18′，所述臂通过接头19连接，使得臂18′相对于臂18转动。
所述自动机械14，15和16的底座17可以设有可在搁板13上自由移动的滚轮并且被电控制，或者可以在同一搁板13的表面上的适当轨道上滑行。
每个自动机械的底座17设有马达可以转动臂18绕轴x和y旋转，此外接头19设有马达以绕转动轴y和z。
在两个外自动机械14，16的臂18′的末端，(与接头19连接端的相对端)分别固定有放射源20和探测器21，而在中央自动机械15的同一末端固定有带对准窗22的定位***。
所述对准窗可设有或不设有伸缩臂以便于接近待测表面而不接触它，并可以装配有几何参照物(即，线、标记、框架等)以便相对于所述表面精确定位仪器。这个窗口可以设有适当的覆盖材料以便显示辐射(例如荧光材料)并且还可以装配有在远端线、罩、框架处发射和探测的装置和用于溅射覆盖材料的装置。
对准窗22设于相对于放射源20和探测器21中间的位置。在对准窗内部可以确定为圆的中央26，所述圆限定了“虚拟测角仪”并且包括在其圆周25上的放射源20和探测器21。
如果优选，所述放射源20、探测器21和对准窗22可通过接头23而连接到臂18′以绕一个或多个轴x、y、z旋转设备，这样虚拟测角仪中心的半径可以在测量中调整。
显而易见的，装置还可装配有控制单元，其可以电脑化，以便控制并引导前述设备不同部件的所有必要的运动。
通过聚毛细管或梯度曲线反射镜或类似设备获得的平行束可以实现更精确的测量，所述这些设备不是必须的，但是可以有效增加待测样板的辐射密度。
在衍射仪配置中的虚拟测角仪
基于本发明的优选方案，描述了带有虚拟测角仪的衍射仪的工作操作，其相对于其它设备具有更严格的限制。
在传统实验室衍射仪中，或者在基于一个或多个欧拉托架(Euleurcradles)上的可移动衍射仪，组成测角仪的元件是机械限定的。在本专利情况下机械测角仪的缺失要求实现布拉格衍射(Bragg diffraction)条件(2dsenθ＝λ，其中d格间距，θ是衍射线观测角，λ是辐射波长)的几何图形清晰和适当的衍射几何以便测量材料组成(矿物相、化学化合物、有机或无机等)和/或他们的物理和机械特性(残余应力，结构，微形变等等)。
所述几何图形是虚拟测角仪的中心、半径和圆周，不同于传统实验室或可移动的测角仪，它们不是固定的，而是长度可变。
其它几何图形，例如聚焦圈的半径、中心和圆周，衍射面和轴以及其它类似的均依照已知衍射设置。
定位和观测***
参照图2，定位***优选包括两个光学激光器LA和LB，一个照相机CCD(TC)以及对准窗22，对准窗被限制在照相机的开口α中，并且中心26被限制在窗口中，并实际位于被检测表面下。
定位和观测***使得操作者可以从自动机械末端操作器的视角观测仪器的工作环境。在手动匹配仪器到分析部分时这是有效的帮助。
通过分析位于末端操作器前面的表面的图像，可以个体化检验轴、虚拟测角仪的中心和轴平面。另外，可以定义放射源与所述中心的距离以及相对于检测轴的辐照方向。还可以确定赤道面，在该赤道面上虚拟测角仪和聚焦圈被定义；因此，可用定义必须覆盖的设备单一部分的轨道。
图2中示意性显示照相机TC和激光器LA、LB的位置，它们的入射角β在待测样板被分析的点上；通常待测样板表面是倾斜的并相对于照相机的轴成γ角。激光的倾度基于当两个激光与中心26相配时值Z＝0。
使用三角法因素，可以评估从正交平面的测角仪26的中心到从激光束在被检测表面入射点穿过的照相机轴的距离Z1，Z2和Z3，可以评估在其自身表面上的距离L1和L2。基于这些评估可以相对于前述虚拟测角仪的其它元件重新定位测量设备。
使用虚拟测角仪衍射仪
中央自动机械15的底座17是坐标***的初始，该坐标***被采用以便使用虚拟测角仪衍射仪。
自动机械15底座和所连的臂的运动使得可以找到将被检验的区域的位置，该区域的坐标通过参考前述***的原点可以被计算。
由对准窗隔离的区域被认为是与聚焦圈成切线的平面的一部分，并属于被检测的表面。中心26也是与赤道平面垂直的轴上的点。
移动承载放射源和相应的臂的自动机械14的底座，可以把自动机械上合适的部分设置成为带有适当的出射角的放射源点，这个部分在入射光束到赤道平面的点26(即测角仪中心)的相切平面的入射角上提供有入射方向。包括放射源和点26的线位于赤道面上。
移动承载着探测器和相应的臂的自动机械的底座，可以这样设置自动机械：
-探测点(与探测器21相对应)与放射源和中心26共面；
-中心26(由对准窗22确定)与其它两点等距；这是仅仅在发散束(入射或衍射)的情况下是必须的。在平行束的情况下，这个等距限制具有很小的相关性。
-探测点和the re(如前述)的连线相对于放射源和中心26的连线形成角2θ。
承载探测器的自动机械16，承载放射源的自动机械14，将根据前述而被移动。在实现衍射仪时自动机械14、15和16的相对位置将保持如前述的布拉格定律确定的条件(2d senθ＝nλ)。
以相对于检测轴相反的方向移动自动机械14和16并调整入射光束的轴(瞄准轴)以及衍射光束的轴(接受轴)于同一赤道面并与赤道面上的轴和测角仪轴垂直的轴形成顶点相对的角(结构θ∶θ)。当可能时，放射源可以保持固定，中心26绕测角仪轴成θ/2角旋转。这样的得到θ∶2θ的结构。
出于连线确认和校准的目的，角θ被选作记录与材料和所用放射的特性一致的反射
一旦到达测角仪部分，精确调整将被执行以便达到探测器可采集的最大放射流量。在这一点处，测量操作开始，所述操作是通过保持承载放射源的自动机械以及承载对准窗的中央自动机械固定并移动承载探测器的自动机械在测角仪圆和圆锥外周(德拜圆)上移动。
放射源
放射源20可用是粒子源，可与其它电磁辐射源(例如用于衍射、光谱、荧光等的X射线)以及其它相结合。
基于本发明的放射源(优选为被热能化或部分热能化的中子源)设有可以删除带有极端能量值的中子电子滤波器以及可以增加单位辐照面积放射束密度的会聚透镜。
优选的，基于本发明，中子由发生器中产生，在该发生器中小粒子撞击氘标靶引发D+D→3He+n反应放射出具有适当能量、通量和脉冲宽度的中子。
作为示例可参考下列特性：
-中子能量：2 Me V
-中子通量为108-109n/s
-脉冲宽度高于10μsec并根据放射源类型而调整。
基于本发明的一个实施例，一个结合有用于中子的会聚透镜的脉冲源是优选的。
当使用脉冲源，电子滤波器的脉冲宽度将根据脉冲频率的特性而调整。能量减少(例如热能化到值0.025eV)以调试中子束到所述的诊断和治疗目的。
中子会聚透镜
基于本发明的优选示例，所谓的热能化可以通过引导从放射源发射出的中子通过结合总反射和折射过程而到达排出沟道。这两种效果的结合使得可以获得一个平行束和具有满意通量的热中子以及满足设备用途。
中子折射现象由于C.S Schneider(1994诺贝尔奖)的研究而已知，并且最近通过所谓的“自旋回波小角度中子散射”技术测量到。在单向束中通量是穿过与其运动垂直的单位表面的中子数目。
通过蒙特卡罗模拟式可以获得一个源自填充有折射材料(例如氘、水、树脂玻璃、聚乙烯纤维等，可还有额外的金属箔片以便偏离和/或吸收残余快速和/或超热中子)的沟道的中子的评估。
可以获得折射和反射元件的结合，这样(适当地安装)使得通量适于设备用途。
图3(a)显示了本发明的一个示例，其中折射效果(用于热能化中子)是结合有已知的总反射效果并使得可以建立一个带有会聚透镜(称为ToReRe透镜)的装置。
所述透镜包括：由毛细管或聚毛细管纤维或适当结合而成的多层平面组成的沟道27和一个主沟道28(可以是个玻璃管)，最终成形在纵向截面上为具有合适尺寸和大小(例如平均2cm宽并在纵向截面上调整有20cm的长度)的钮孔(bottonhole)。这样的管可以填充有中子折射材料(例如D2O，H2O)。所述的沟道27可根据梯度曲率半径弯曲。所述曲率半径随沟道27到透镜(或中央沟道)28的距离而梯度增加。每个这样的沟道中可以填充由具有增加折射指数的材料以便提高偏离效果。当所述的透镜结合有相等的设备，排出沟道29则可以被得到，并且透镜的两个扇区30也产生了。
如果需要，所述的含有两个不同扇区30的所述透镜的沟道可以具有不同的曲率并可以填充有不同折射指数的材料以提高总反射和折射合并效果。
图3(b)显示“外相”结合ToReRe透镜并组成一个“梯度曲率”透镜的镶嵌。
基于应用，扇区30的组合可以被延伸以形成立体、圆锥、棱形或其它形状的缓冲区，如图3(c)所示。
当中子运动方向使其从一个沟道逃逸到另一个沟道时，这样的联合可以改善在每个界面折射而导致的多重偏差。在界面的折射偏好中子波动运动，增加其到排出沟道的导向。
在实践中，透镜必须考虑两个可能发生的不同情况：
a)中子的运动方向包含进入中央沟道捕获角，但是其能量被减弱(热能化)。
b)中子的方向不能被限制在中央沟道中。所述的中子不得不在与原始方向不同的方向上被热能化。所述中子从中央沟道出来并遇到含有增加折射指数材料的沟道。包含在所述材料中的元素具有适当的密度，作为折射效益的结果可以梯度偏离运动方向(见图3(b)箭头所示方向)。由于通过沟道的中子在其轨道上引起少许偏移，材料的折射指数的变化被达到，该少许偏移偏好波动发现总反射条件的适当方向。所诱导的在中子运动上的波动以及不同沟道在不同扇区的镶嵌排列通过结合多重折射以及总反射效应趋向于引导中子朝向排出沟道。
具有梯度曲率的所述镶嵌沟道可被包含在多层框中以避免非校准中子辐射和/或寄生γ辐射或其它的传播。这个框在图3(c)标记为32可由金属箔片和中空制成(例如Pb，Cr，H2O，B4C和其它可被用作箔片和中空填充的材料)在图3(c)中标记为32。
例如，H2O，D2O和其它的组合，可在排出沟道出口获得25％由中央沟道捕获的中子。与中子运动轴向少量偏离可用通过中央和排出沟道的梯度曲率而得到补偿。一个可通过蒙特卡罗模拟实现的设计导致使用适当的D2O、水、树脂玻璃和其它材料的组合以获得至少0.1％由放射源发射出的中子的适当的会聚和热能化。这是最小ToReRe透镜效率。对于示例的特定放射源，所述的效率使得中子通量为105-107中子/秒/cm2。透镜的尺寸限定在1平方米内。
探测器
中子探测器优选是由3He气体计数器制成；其显示出高横截面以及良好的市售性，其另一优点是使用低压发电机。一批探测器以及相关的探测控制器可与电子滤波器以及单色仪结合使用。
图4显示了本发明一个可能实施例的示意图，其中可见：中子发生器(源)20，辐照透镜31，探测器21，虚拟测角仪圆25，聚焦圈24，对准窗22，其投射在虚拟测角仪26的中央。
图4中，设有自动机械并移动放射源20、对准窗22、探测器21的平面可以被移动并与平面13(见图1)相对应。壁“e”和“f”是用来限制测量区域并可被含有适当浓度的硼(用于捕获中子)和碳(用于捕获γ射线)的水填充。壁“e”可被移动或倾斜以便支撑所有仪器的平台相对于被分析物体来定位；壁(f)是可移除的以便进行设备和定位调整操作以捕获可能分散的辐射。
为了显示完整，图中还显示了标记为(d)的被分析物体。.
使用基于本发明所提供的自动化设备在结合一个“合并的多重方法”中提供了将观测方法与测量结合和损害修复(诊断和治疗)的可能。例如，使用带有定位***“激光-照相机-对准窗”的“辐射-探测”***，所述的结合使得可用使用唯一设备以非破坏性的方法实现诊断和治疗操作。这个“结合和多重”使用可以使得这样的设备被用于诊断目的、故障和/或损害修复(治疗)目的、甚至是用于修复质量复核目的。例如在使用高能X射线的情况下可以减少由于机械压力导致的材料裂缝(或损害)。虚拟测角仪结构使得可以个体化最佳晶向以便修复然后(或者同时)使用不同的放射源来观察修复效果。还可以使用光学激光源以及覆盖不同电磁波谱范围的源；还可以使用结合声学放射(声学、超声、次声)或者带电或电中性粒子辐射。可用使用衍射、光谱、光刻和其它技术。基于同理，还可以使用可控的材料结构替换，并将其用于烙印和/或标记。
另外设备提供一种可能，使用常用交通工具(具有明显优势和多用途可能)来移动。
当中子源、高能X射线、电子或其它破坏性辐射被使用，应该设有适当的防护罩。在使用X射线、电子和中子的情况下，使用透镜可用减少粒子穿过立体角柄有利于基于已有材料选择限制壁。

Claims (11)

1.一种包括中子源的移动式设备，其特征在于所述设备包括：
-一个自动机械***，所述***在受控轨道上移动，实现从不同位置观测来自移动或固定的被适当辐照的待检样本的辐射；
-被连接到中央轴(11)的可动表面(10)，可机械、电动或手动移动，并能够抬起或降下与其连接的第一搁板(12)，在所述第一搁板(12)上设有第二搁板(13)，所述第二搁板(13)可相对所述第一搁板(12)通过手控或电控的机械齿轮和导轨沿x和y轴方向移动；
-三个自动机械(14、15、16)，所述三个自动机械(14、15、16)包括中央自动机械(15)和两个外自动机械(14、16)，适于沿受控轨道移动并能实现虚拟测角仪，所述三个自动机械(14、15、16)包括一个底座(17)和两个由接头(19)连接的臂(18，18′)，所述接头使得第一臂(18′)相对于第二臂(18)旋转，在所述两个外自动机械的所述第一臂(18′)的与接头(19)相连端相对的末端上分别承载有放射源(20)和探测器(21)，而在中央自动机械(15)的同一末端处承载有带对准窗(22)的定位***。
2.根据权利要求1所述的设备，其中所述自动机械(14、15、16)的所述底座(17)设有电控滚轮使其可以在第二搁板(13)上自由移动或在所述第二搁板(13)表面上的适宜导轨上滑动。
3.根据权利要求1或2所述的设备，其中所述底座(17)设有马达用以绕轴x和y旋转第二臂(18)，并且其中接头(19)设有马达用以绕轴x和y旋转。
4.根据权利要求1所述的设备，其中所述对准窗(22)设有伸缩臂可以将其接近待分析表面而无任何直接接触；所述对准窗设有适当的遮盖材料以显示辐射，还装配有在远端线、罩和框架进行发射和探测的装置以及用于在表面溅射所述遮盖材料的装置。
5.根据权利要求1所述的设备，其中所述放射源(20)、探测器(21)和对准窗(22)通过能够将这些设备绕一个或多个轴x，y，z旋转的接头(23)被连接到各自的所述第一臂(18′)。
6.根据权利要求5所述的设备，其中所述定位***包括两个光学激光器(LA、LB)、一个CCD照相机(TC)以及对准窗(22)。
7.根据权利要求1所述的设备，其中所述放射源是中子源，所述中子源能够被热能化或部分热能化。
8.根据权利要求7所述的设备，其中所述中子源是脉冲源，设有电子滤波器以去除具有极端能值的中子以及辐射透镜以增加被辐照区域单位面积放射束的密度。
9.根据权利要求1所述的设备，其中所述探测器由一个3He气体计数器组成，设有单色仪和探测控制器。
10.根据权利要求1所述的设备，设有壁以便限制测量区域；所述壁能够移动或倾斜或移除以便承载所有与被分析物体相关的设备的平台(13)的定位。
11.根据权利要求1-10任一所述的设备，其中所述中子源与其它放射源结合。
CN2006800240051A 2005-06-20 2006-06-20 用于辐射以及辐射检测的移动设备 Expired - Fee Related CN101213442B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
IT000137A ITFI20050137A1 (it) 2005-06-20 2005-06-20 Apparecchiatura mobile per irragiamento e rilevazione di radiazioni
ITFI2005A000137 2005-06-20
PCT/EP2006/063324 WO2006136542A2 (en) 2005-06-20 2006-06-20 Mobile device for irradiation and detection of radiation

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2012104602059A Division CN103021497A (zh) 2005-06-20 2006-06-20 放射透镜

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101213442A CN101213442A (zh) 2008-07-02
CN101213442B true CN101213442B (zh) 2013-01-02

Family

ID=37023278

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2012104602059A Pending CN103021497A (zh) 2005-06-20 2006-06-20 放射透镜
CN2006800240051A Expired - Fee Related CN101213442B (zh) 2005-06-20 2006-06-20 用于辐射以及辐射检测的移动设备

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2012104602059A Pending CN103021497A (zh) 2005-06-20 2006-06-20 放射透镜

Country Status (7)

Country Link
US (2) US8352073B2 (zh)
EP (1) EP1896837B1 (zh)
CN (2) CN103021497A (zh)
IL (1) IL188259A0 (zh)
IT (1) ITFI20050137A1 (zh)
RU (1) RU2403560C2 (zh)
WO (1) WO2006136542A2 (zh)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102049445B1 (ko) * 2013-05-31 2019-11-28 삼성디스플레이 주식회사 레이저 빔 조사 장치 및 이를 이용한 유기 발광 디스플레이 장치의 제조 방법
DE102014205430A1 (de) * 2014-03-24 2015-09-24 Lmt Lichtmesstechnik Gmbh Berlin Verfahren und Gonioradiometer zur richtungsabhängigen Messung mindestens einer lichttechnischen oder radiometrischen Kenngröße einer optischen Strahlungsquelle
WO2017100475A1 (en) * 2015-12-09 2017-06-15 Integrated-X, Inc. Systems and methods for inspection using electromagnetic radiation
CN107142457A (zh) * 2017-04-19 2017-09-08 电子科技大学 一种磁控溅射倾斜沉积镀膜装置
US10401155B2 (en) * 2017-05-12 2019-09-03 Saudi Arabian Oil Company Apparatus and method for smart material analysis
CN108731865A (zh) * 2018-07-24 2018-11-02 集美大学 一种x射线应力测试仪
CN109655875B (zh) * 2019-01-02 2022-04-19 中国工程物理研究院材料研究所 基于四传感器的弱信号源定位方法
CN110044940A (zh) * 2019-03-19 2019-07-23 兰州大学 一种氘氘中子伴随氦三粒子成像装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0291320A2 (en) * 1987-05-14 1988-11-17 ROLLS-ROYCE plc Method and apparatus for measuring strain and temperature of an object simultaneously
EP0512620A2 (en) * 1991-05-07 1992-11-11 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray analysis apparatus
US5359640A (en) * 1993-08-10 1994-10-25 Siemens Industrial Automation, Inc. X-ray micro diffractometer sample positioner
US5602889A (en) * 1994-08-13 1997-02-11 U.S. Philips Corporation Device for forming X-ray images
US6064717A (en) * 1997-11-21 2000-05-16 Rigaku/Usa, Inc. Unrestricted motion apparatus and method for x-ray diffraction analysis

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE8423909U1 (de) * 1984-08-11 1985-01-03 Kernforschungsanlage Jülich GmbH, 5170 Jülich Eulerwiege fuer tieftemperatur-diffraktometrie
JPH01187441A (ja) * 1988-01-22 1989-07-26 Rigaku Denki Kk Ｘ線回折装置の三軸回転ゴニオメータ
US6882739B2 (en) * 2001-06-19 2005-04-19 Hypernex, Inc. Method and apparatus for rapid grain size analysis of polycrystalline materials
ITMI20020097A1 (it) 2002-01-21 2003-07-21 Consorzio Pisa Ricerche Diffrattometro e metodo per svolgere analisi diffrattrometriche
AU2003222026A1 (en) * 2002-03-21 2003-10-08 Bruker Axs, Inc. Transmission mode x-ray diffraction screening system
US6678347B1 (en) * 2002-07-26 2004-01-13 Hypernex, Inc. Method and apparatus for quantitative phase analysis of textured polycrystalline materials
GB0415053D0 (en) * 2004-07-05 2004-08-04 Dage Prec Ind Ltd X-ray manipulator
DE102004037355A1 (de) * 2004-07-30 2006-03-23 Patent-Treuhand-Gesellschaft für elektrische Glühlampen mbH Goniophotometer
US7441953B2 (en) * 2004-10-07 2008-10-28 University Of Florida Research Foundation, Inc. Radiographic medical imaging system using robot mounted source and sensor for dynamic image capture and tomography
DE112004002986B4 (de) 2004-10-15 2009-10-08 Ge Sensing & Inspection Technologies Gmbh Prüfanlage zur zerstörungsfreien Materialprüfung
JP3912606B2 (ja) * 2004-10-26 2007-05-09 株式会社リガク Ｘ線薄膜検査装置と、プロダクトウエーハの薄膜検査装置およびその方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0291320A2 (en) * 1987-05-14 1988-11-17 ROLLS-ROYCE plc Method and apparatus for measuring strain and temperature of an object simultaneously
EP0512620A2 (en) * 1991-05-07 1992-11-11 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray analysis apparatus
US5359640A (en) * 1993-08-10 1994-10-25 Siemens Industrial Automation, Inc. X-ray micro diffractometer sample positioner
US5602889A (en) * 1994-08-13 1997-02-11 U.S. Philips Corporation Device for forming X-ray images
US6064717A (en) * 1997-11-21 2000-05-16 Rigaku/Usa, Inc. Unrestricted motion apparatus and method for x-ray diffraction analysis

Also Published As

Publication number Publication date
WO2006136542A2 (en) 2006-12-28
CN101213442A (zh) 2008-07-02
RU2403560C2 (ru) 2010-11-10
EP1896837B1 (en) 2013-01-09
EP1896837A2 (en) 2008-03-12
CN103021497A (zh) 2013-04-03
US20130123984A1 (en) 2013-05-16
IL188259A0 (en) 2008-08-07
RU2008102082A (ru) 2009-07-27
US8352073B2 (en) 2013-01-08
US20090216373A1 (en) 2009-08-27
ITFI20050137A1 (it) 2006-12-21
WO2006136542A3 (en) 2007-04-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101213442B (zh) 用于辐射以及辐射检测的移动设备
US11474053B2 (en) Scanning method and apparatus comprising a buoyancy material and a remotely operated vehicle (ROV) for scanning an underwater pipeline or a process vessel
EP1376108B1 (en) X-ray diffractometer comprising a C-arm for examining an array of crystals
EP1837644B1 (en) Method for aligning radiographic inspection system
CN110325880B (zh) 用于搜索和探测伽马辐射源头的方法
AU2003205636A1 (en) Diffractometer and method for diffraction analysis
KR102437787B1 (ko) Co-60 선원을 이용한 핫셀 차폐벽의 차폐성능 검사장치
Malone et al. Design and assembly of a telecentric zoom lens for the Cygnus x-ray source
KR102044441B1 (ko) 핵연료집합체 제원측정장치 및 이를 이용한 제원측정 방법
CN103454290B (zh) 一种x射线探测和成像***的双镜式探测分析方法
CN203405424U (zh) 用于x射线探测和成像***的双镜式探测光学部件
CN103454289B (zh) 用于x射线探测和成像***的双镜式探测光学部件
Lissenden et al. Final Scientific/Technical Report, Multi-Sensor Inspection and Robotic Systems for Dry Storage Casks
Canistraro et al. X-ray based displacement and strain measurements for hostile environments
Walton et al. Internal examination of CAGR's
Ikram Current Status and Future Works of Neutron Scattering Laboratory at BATAN in Serpong
Ikram Neutron beam facilities in Indonesia: Current status
Wisner Hot Fuel Examination Facility-The Evolution of a National Asset
Dau ADVANCED METHODOLOGY AND INSTRUMENTATION FOR X-RA/STRESS ANALYSIS INSIDE OF PIPING
JPS60158374A (ja) 構造上の異常を検出し特性化する方法と装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20130102

Termination date: 20140620

EXPY Termination of patent right or utility model