CN101180547B - 离子控制传感器 - Google Patents

离子控制传感器 Download PDF

Info

Publication number
CN101180547B
CN101180547B CN2005800498853A CN200580049885A CN101180547B CN 101180547 B CN101180547 B CN 101180547B CN 2005800498853 A CN2005800498853 A CN 2005800498853A CN 200580049885 A CN200580049885 A CN 200580049885A CN 101180547 B CN101180547 B CN 101180547B
Authority
CN
China
Prior art keywords
neutralizer
electric
current potential
ion
test section
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN2005800498853A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101180547A (zh
Inventor
中岛用松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hugle Electronics Inc
Original Assignee
Hugle Electronics Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hugle Electronics Inc filed Critical Hugle Electronics Inc
Publication of CN101180547A publication Critical patent/CN101180547A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101180547B publication Critical patent/CN101180547B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/0046Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof characterised by a specific application or detail not covered by any other subgroup of G01R19/00
    • G01R19/0061Measuring currents of particle-beams, currents from electron multipliers, photocurrents, ion currents; Measuring in plasmas
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/24Arrangements for measuring quantities of charge
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/12Measuring electrostatic fields or voltage-potential

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Elimination Of Static Electricity (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

提供一种离子控制传感器,在向被除电物供给正负离子进行除电并具备用于测定被除电物的表面电位的表面电位测定用探针的除电装置中,包括:电位检测部(11a),其构成表面电位测定用探针(11);及导电性的盖(13),其配置成以非接触状态包围该电位检测部(11a),利用电位检测部(11a)检测因被除电物(30)的带电电荷或自除电装置(20)所供给的离子而在盖(13)产生的电位,并作为反馈信号向除电装置(20)内的控制电路24送出。按照本发明,能够以极简单的构造检测离子平衡及被除电物的带电电位,可提高离子发生器的除电性能。

Description

离子控制传感器 
技术领域
本发明涉及能够检测除电装置产生的正负离子量的离子平衡和被除电物的带电电位双方的离子控制传感器。 
现有技术
以往,例如在(日本国)特开平11-345697号公报([0010]~[0017]、图1等)记载了一种除电装置,该除电装置对应被除电物的静电电容的大小及表面电位对于施加在放电电极针的电压进行可变控制。 
该除电装置的结构如下,具有:至少一根放电电极针,其供给电压,对于被除电物产生电晕放电;表面电位计,其连续地测定被除电物的表面电位;运算处理单元,其根据所测定的表面电位计算使被除电物的表面电位收敛至零的施加电压;以及电压输出单元,其向放电电极针输出利用计算所求得的施加电压,其中,向运算处理单元反馈表面电位计的测定结果,使对放电电极针的施加电压可变。此外,运算处理单元也具备根据表面电位测定值的变化计算被除电物的静电电容的功能。 
按照上述(日本国)特开平11-345697号公报记载的现有技术,始终测定被除电物的表面电位及基于该表面电位的静电电容,向运算处理单元反馈这些测定值,控制对放电电极针的施加电压,大致能够高精度低进行除电。 
此外,在(日本国)特许第3522586号公报([0015]~[0024]、图1等)记载有一种液晶面板的制造装置,使离子发生器(除电装置)产生的离子之中只有除电所需量的离子到达液晶基板(被除电物),在失去离子平衡的情况下,使液晶基板反向带电。 
该液晶面板制造装置具有:除电装置,其利用电晕放电产生离子;及栅电极板等电极部件,其根据除电对象物的带电量调整往除电对象物的离子量,其中,除电装置包括:屏蔽壳体,其在放电侧开口;放电电极,其设置于屏蔽壳体内;以及高压电源,其向该放电电极施加电晕放电所需的 高电压。 
就其作用而言,着眼于液晶基板和电极部件之间的电场按照液晶基板的带电量变化,在带电量小的情况所述电场变弱,从而使得从除电装置产生的离子的大部分自电极部件流向接地侧,使往液晶基板的到达离子量减少,而在带电量大的情况所述电场变强,使从除电装置产生的离子的大部分到达液晶基板,提高除电效果。 
然而,(日本国)特开平11-345697号公报所记载的现有技术,基本上根据被除电物的表面电位控制除电装置,而没有考虑从除电装置产生的正负离子的离子平衡。因而,也有自除电装置产生的正负的离子量没有形成离子平衡的情况,从而由于离子发生器可能使原本未带电的被除电物带某一方的极性。在这样被除电物带电的情况下,虽然利用基于其表面电位的除电装置的控制可进行除电,但是进行了本来不需要的除电动作,从而浪费时间及电力。 
此外,(日本国)特许第3522586号公报记载的现有技术,由于根据基于液晶基板的带电量的电场强度控制离子往液晶基板的到达量,因此,在提高除电精度上受到限制,例如难以将液晶基板准确地保持在±0[V]。 
进而,由于需要具备大型的栅电极板等,以能够覆盖在除电装置所配置的多个放电电极针与液晶基板之间的空间,因此,存在构成部件大型化而导致装置整体大型化及成本上升的问题。 
发明内容
本发明的课题在于,提供一种低成本的离子控制传感器,其利用极简单的结构,能够检测离子平衡及检测被除电物的带电电位,提高除电装置的性能。 
为解决上述的课题,在技术方案1记载的发明是一种离子控制传感器,具有表面电位测定用探针,其对由向被除电物供给正负离子而进行除电的除电装置产生的正负离子的离子平衡和被除电物的表面电位进行测定,并且经由电缆与所述除电装置连接,其特征在于,包括:电位检测部,其具有检测孔,并且由所述表面电位测定用探针的前端部构成;导电性的盖,其经由绝缘部件配置成在该电位检测部的周围形成有空间的状态下包围该电位检测部,所述导电性的盖的内面和所述电位检测部通过所述绝缘部件 以及所述空间而保持非接触状态 
此外,在技术方案2记载的发明是在技术方案1的离子控制传感器中,利用所述电位检测部检测因被除电物的带电电荷或从除电装置所供给的离子而在所述盖上产生的电位,并作为反馈信号向除电装置内的控制电路送出。 
根据本发明的上述结构,可利用单一的离子控制传感器检测除电装置产生的正负离子的离子平衡和被除电物的表面电位,可实现高精度且高效率的除电装置。 
此外,本发明只是在既有的表面电位测定用探针的电位检测部经由绝缘部件安装导电性的盖就可实现,构造极简单,能以低成本提供。 
附图说明
图1是表示本发明的优选实施方式的离子控制传感器的立体图。 
图2是本发明的优选实施方式的使用状态的说明图。 
图3是图2的除电装置的概略结构图。 
具体实施方式
以下,根据附图说明用于实施本发明的优选实施方式。首先,图1是本实施方式的离子控制传感器10的立体图。 
在图1中,11是方棒形的表面电位测定用探针,是所谓的音叉型或音片型表面电位测定装置等的探针,其能够以非接触方式测定被除电物的表面电位。此外,该探针11的表面电位的测定原理没有特别限定。该探针11经由电缆21与后述的除电装置20连接。 
在表面电位测定用探针11的长度方向的大致中央部固接有由合成树脂等构成的口字形的绝缘部件12,而且用螺钉14安装由有底方筒形的导电材料构成的盖13,使得包围本绝缘部件12和探针11的前端部。此外,上述的探针11的前端部构成具有检测孔(未图示)的电位检测部11a,本电位检测部11a和盖13的内面由于所述绝缘部件12及空间而保持非接触状态。 
其次,图2是本实施方式的使用状态的说明图,图3是除电装置20的概略结构图。 
如图3所示,除电装置20包括:多个放电电极22,其通过电晕(corona)放电而产生正负离子;高电压电源电路23,其用于向这些放电电极22施加 可变的高电压;以及控制电路24,其根据所述表面电位测定用探针11的输出信号控制高电压电源电路23。 
此外,该除电装置20可以是向放电电极22施加交流电压的交流式除电装置或者施加给放电电极22直流电压的直流式除电装置,也可以根据需要而具备向被除电物方向强制送出所产生的离子的风扇。 
接着,参照图2说明本实施方式的作用。 
在图2中,离子控制传感器10配置成接近应除电的被除电物30的表面。在此,被除电物30是半导体晶片或液晶基板等的各种除电对象物。 
当被运送至离子控制传感器10的正下的被除电物30例如带有正电位时,由于静电感应而使离子控制传感器10的盖也带有正电位。利用表面电位测定用探针11的电位检测部11a检测该正电位,其检测信号作为反馈信号被输入除电装置20内的控制电路24。 
由此,在控制电路24中,为了除去(中和)被除电物30的正电位,使高电压电源电路23动作,而从放电电极22大量地产生负离子。例如,进行使施加给放电电极22的交流或直流的负电压的振幅比正电压的振幅更大等控制动作。 
通过上述动作,由于向被除电物30供给自放电电极22产生的大量的负离子,因此,中和被除电物30的正电位而除电。 
此外,在检测自放电电极22产生的正负离子量的平衡即所谓的离子平衡的情况下,在离子控制传感器10的正下不存在被除电物30的状态或者即使存在被除电物30也没有正负带电的状态下,使除电装置20动作。 
在此情况,离子控制传感器10的盖13与从放电电极22产生的正负离子量的平衡对应地带有正电位或负电位,此外,若取得离子平衡,就变成0电位。 
即,当所产生的正离子比负离子多时,因盖13带有正电位,则表面电位测定用探针11的电位检测部11a检测到正电位,该检测信号作为反馈信号被输入除电装置20内的控制电路24。因而,在控制电路24中,进行控制动作,使高电压电源电路23动作,使得自放电电极22大量产生负离子。 
在从放电电极22产生的负离子比正离子多的情况下,进行与上述相反的动作。 
此外,上述的实施方式仅仅是一例,对本发明的离子控制传感器或表面电位测定用探针的形状、结构没有任何限定,可以进行各种变形。 
此外,对除电装置的结构、形状也不特别限定,其可用作天花板等的安装型、桌上型、空调型等各种形式的除电装置。 

Claims (2)

1.一种离子控制传感器,具有表面电位测定用探针,其对由向被除电物供给正负离子而进行除电的除电装置产生的正负离子的离子平衡和被除电物的表面电位进行测定,并且经由电缆与所述除电装置连接,其特征在于,包括:
电位检测部,其具有检测孔,并且由所述表面电位测定用探针的前端部构成;以及
导电性的盖,其经由绝缘部件配置成在该电位检测部的周围形成有空间的状态下包围该电位检测部,
所述导电性的盖的内面和所述电位检测部通过所述绝缘部件以及所述空间而保持非接触状态。
2.如权利要求1所述的离子控制传感器,其特征在于,
利用所述电位检测部检测因被除电物的带电电荷或从除电装置所供给的离子而在所述盖上产生的电位,并作为反馈信号向除电装置内的控制电路送出。
CN2005800498853A 2005-05-27 2005-06-13 离子控制传感器 Expired - Fee Related CN101180547B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005155348A JP2006329859A (ja) 2005-05-27 2005-05-27 イオンコントロールセンサ
JP155348/2005 2005-05-27
PCT/JP2005/011195 WO2006126285A1 (ja) 2005-05-27 2005-06-13 イオンコントロールセンサ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101180547A CN101180547A (zh) 2008-05-14
CN101180547B true CN101180547B (zh) 2011-03-09

Family

ID=37451720

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2005800498853A Expired - Fee Related CN101180547B (zh) 2005-05-27 2005-06-13 离子控制传感器

Country Status (6)

Country Link
US (1) US20090015263A1 (zh)
JP (1) JP2006329859A (zh)
KR (1) KR20080010382A (zh)
CN (1) CN101180547B (zh)
TW (1) TWI265296B (zh)
WO (1) WO2006126285A1 (zh)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5463788B2 (ja) * 2009-08-18 2014-04-09 富士通株式会社 イオン分析装置、及びイオン分析方法
WO2015011942A1 (ja) * 2013-07-20 2015-01-29 独立行政法人産業技術総合研究所 静電気分布計測装置および静電気分布計測方法
CN104698297B (zh) * 2015-02-09 2018-05-04 南方电网科学研究院有限责任公司 一种大尺寸同轴电缆绝缘空间电荷测量的修正方法
US10251251B2 (en) * 2016-02-03 2019-04-02 Yi Jing Technology Co., Ltd Electrostatic dissipation device with static sensing and method thereof
EP3620786B1 (en) * 2018-09-10 2022-11-16 Nrd Llc Ion sensor
EP4012755A1 (en) * 2020-12-11 2022-06-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Micro-semiconductor chip wetting align apparatus
CN114545102B (zh) * 2022-01-14 2023-04-28 深圳市中明科技股份有限公司 一种在线监控***

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3824454A (en) * 1971-10-18 1974-07-16 Enviro Tech Sciences Inc Calibrated electrostatic charge detector and method for measuring the strength of electrostatic fields
US4056772A (en) * 1975-03-06 1977-11-01 Berckheim Graf Von Ion detector
US6188226B1 (en) * 1998-07-22 2001-02-13 Murata Manufacturing Co., Ltd. Electric potential sensor
CN1369743A (zh) * 2001-02-09 2002-09-18 诺日士钢机株式会社 胶片清洁器

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5979861A (ja) * 1982-10-29 1984-05-09 Kasuga Denki Kk 静電気検出器
JP3049542B2 (ja) * 1996-01-16 2000-06-05 有限会社優然 プラスイオン、マイナスイオンの混合比を調節する方法
JPH11329783A (ja) * 1998-05-18 1999-11-30 Toshiba Electronic Engineering Corp 帯電々荷中和方法及び帯電々荷中和装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3824454A (en) * 1971-10-18 1974-07-16 Enviro Tech Sciences Inc Calibrated electrostatic charge detector and method for measuring the strength of electrostatic fields
US4056772A (en) * 1975-03-06 1977-11-01 Berckheim Graf Von Ion detector
US6188226B1 (en) * 1998-07-22 2001-02-13 Murata Manufacturing Co., Ltd. Electric potential sensor
CN1369743A (zh) * 2001-02-09 2002-09-18 诺日士钢机株式会社 胶片清洁器

Also Published As

Publication number Publication date
KR20080010382A (ko) 2008-01-30
WO2006126285A1 (ja) 2006-11-30
JP2006329859A (ja) 2006-12-07
TW200641364A (en) 2006-12-01
US20090015263A1 (en) 2009-01-15
CN101180547A (zh) 2008-05-14
TWI265296B (en) 2006-11-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101180547B (zh) 离子控制传感器
KR101167741B1 (ko) 이온 생성 방법 및 장치
ATE70389T1 (de) Luftfoerdernde anordnung.
US8766655B2 (en) Conductive conductivity sensor
CN102646930A (zh) 除电装置及方法
GB2415260A (en) Satellite electric charge buildup monitor
Wang et al. Simulations and experiments of the generation apparatus of the DC electric field with the space charge
JP2001035686A (ja) 直流除電器
El Dein et al. Experimental and simulation study of V–I characteristics of wire–plate electrostatic precipitators under clean air conditions
TW200948207A (en) Neutralization apparatus for liquid crystal panel substrate
ATE332521T1 (de) Wechselstrom corona-aufladungsvorrichtung
JP2013257952A (ja) 除電装置
Moronis et al. A model for determining the unipolar ionic saturation current in parallel wire-cylinder electrodes during corona discharge
JP2001110590A (ja) 直流除電器
CN109655858B (zh) 多电极提高氡析出率测量仪对218Po收集效率的测量腔及方法
US20160196949A1 (en) Atmospheric ionizer including a source that supplies electrical energy to an ion-generating structure without wires
JP6688257B2 (ja) 帯電プレートモニタ装置
KR100420979B1 (ko) 전리장치
MY126057A (en) Apparatus for measuring electric charge
JP7453718B1 (ja) 表面電位測定装置
JP4000345B2 (ja) イオン生成装置
Nouri et al. Analysis of Temperature Effect in laboratory scale electrostatic precipitator
UA92923C2 (en) Gas-meter
JPH036473A (ja) 半導体装置の静電破壊試験装置
JPH07120560B2 (ja) 除電電極

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20110309

Termination date: 20150613

EXPY Termination of patent right or utility model