CN101110655A - 射频通路的测试方法和测试设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开了射频通路的测试方法，获取测试信号的频率；构建由抵消电路与天线相关电路组成的在测试信号频率上发生并联谐振的并联电路；获取射频通路的测试信号，对测试信号进行测试。本发明进一步公开了测试设备。本技术方案构建由抵消电路与天线相关电路组成的发生并联谐振的并联电路，使得天线相关电路的阻抗最大，降低天线相关电路对测试信号的影响。

Description

射频通路的测试方法和测试设备

技术领域

本发明涉及通信技术，尤其涉及射频通路的测试方法和测试设备。

背景技术

射频通路是通信设备的重要组成部分，射频通路可以由滤波、高频放大、接收本振、混频、中频、发射本振、功放控制、功放等组成，在进行出厂设置或故障检测时，需要对射频通路的输出信号进行测试。射频通路的输出信号先发送到天线相关电路，由天线相关电路将该输出信号发送到天线。天线相关电路用于匹配天线的阻抗，使得天线具有最大的输出。

在现有技术中，把测试点定在射频通路与天线相关电路之间，测试设备直接从测试点获取测试信号，然后对该测试信号进行测试。在对现有技术的研究和实践过程中，发明人发现现有技术存在以下问题：天线相关电路可能呈容性或感性，天线相关电路的阻抗太小，对射频通路发送到测试点的测试信号起到一定的分流作用，导致测试结果不准确。

发明内容

本发明实施例提供一种射频通路的测试方法和测试设备，以实现构建抵消电路与天线相关电路组成的在测试频率上发生并联谐振的并联电路，降低天线相关电路对测试信号的影响。

一种射频通路的测试方法，包括：获取测试信号的频率；构建由抵消电路与天线相关电路组成的在测试信号频率上发生并联谐振的并联电路；获取射频通路的测试信号，对测试信号进行测试。

一种测试设备，包括：频率获取单元，用于获取测试信号的频率；抵消电路，用于与天线相关电路组成并联电路；谐振产生单元，用于使抵消电路与天线相关电路组成的并联电路在频率获取单元获取的测试信号频率上发生并联谐振；信号处理单元，用于获取射频通路的测试信号，对测试信号进行测试。

从以上技术方案可以看出，由于在本发明实施例中，获取测试信号的频率；构建由抵消电路与天线相关电路组成的在测试信号频率上发生并联谐振的并联电路；获取射频通路的测试信号，对测试信号进行测试；本技术方案构建由抵消电路与天线相关电路组成的在测试频率上发生并联谐振的并联电路，使得天线相关电路的阻抗最大，降低天线相关电路对测试信号的影响，提高了测试结果的准确性。

附图说明

图1为本发明实施例的射频通路测试方法流程图；

图2为本发明实施例的并联电路示意图；

图3为本发明实施例的测试设备结构示意图。

具体实施方式

实施例一

请参考图1，为本发明实施例的射频通路测试方法流程图。

步骤101.获取测试信号的频率。

各国根据不同的应用对无线频段进行划分。比如，基于码分多址接入***(Code Division Multiple Access，CDMA)的移动终端使用800MHZ频段；基于全球移动通信***(Global System for Mobile communication，GSM)的移动终端使用900/1800/1900MHZ频段；基于GSM1X的移动终端使用900/1800MHZ频段；基于第三代移动通信***(3G)的移动终端使用900/1800/1900/2100MHz频段。在实施本技术方案的时候，可以根据通信设备的特点，获知其使用的频率，提高测试的效率。

步骤102.构建由抵消电路与天线相关电路组成的在测试信号频率上发生并联谐振的并联电路。

天线相关电路包括天线匹配电路和寄生参数电路。天线匹配电路由若干个集成组件组成，集成组件可以为电容和电感。为使得天线具有最大的输出，在射频通路将信号发送到天线之前，设置了天线匹配电路。天线匹配电路用于匹配天线的阻抗。在阻抗匹配的环境中，负载端不会反射电波，使得传输到负载的电磁能量值达到最大。寄生参数电路由寄生参数组成。寄生参数包括寄生电容、寄生电阻和寄生电感。在电路设计中，工艺制造引入两种不同的工艺层，就可能产生寄生参数；元件间也可能产生寄生参数，比如，电容间产生寄生电感，电感间产生寄生电容。

以下介绍典型并联电路结构和发生并联谐振的条件。请参考图2，为RLC并联电路示意图。

并联电路的导纳为：

$Y\left(\mathrm{j\ω}\right)=G+\mathrm{j\ωC}+\frac{1}{\mathrm{j\ωL}}=G+j(\mathrm{\ωC}-\frac{1}{\mathrm{\ωL}})$

其中，电阻、电容和电感的导纳分别为：G、jωC和

ω为角频率。发生并联谐振时导纳的虚部为零：

$\left|Y\left({\mathrm{j\ω}}_0\right)\right|=\sqrt{G^2+{({\mathrm{\ω}}_{0}C-\frac{1}{{\mathrm{\ω}}_{0}L})}^2}=G$

其中，ω₀为谐振角频率。

发生并联谐振的条件为：

${\mathrm{\ω}}_{0}C-\frac{1}{{\mathrm{\ω}}_{0}L}$

谐振角频率和谐振频率分别为：

${\mathrm{\ω}}_0=\frac{1}{\sqrt{\mathrm{LC}}}$

$f_0=\frac{1}{2\mathrm{\π}\sqrt{\mathrm{LC}}}$

可见，谐振频率由电路结构参数决定。RLC并联电路的谐振频率由L和C决定，与R无关。发生并联谐振时，并联电路的导纳最小，阻抗最大。

根据上述并联谐振原理，本实施例中，把抵消电路与天线相关电路组成并联电路，获取天线相关电路的阻抗，根据天线相关电路的阻抗和测试信号频率，设置抵消电路的阻抗，使并联电路在测试信号频率上发生并联谐振。抵消电路可以由可变电容和可变电感组成，抵消电路的组成方法很多，比如，可以由可变电容和可变电感串连组成抵消电路，也可以由可变电容和可变电感并联组成抵消电路。需要说明的是，抵消电路的具体结构根据实际测试环境而定，本实施例的实施并不限定抵消电路的具体结构。

步骤103.获取射频通路的测试信号，对测试信号进行测试。

由抵消电路与天线相关电路组成的并联电路发生并联谐振后，天线相关电路的阻抗最大，对测试信号的影响最小，这时可以对测试信号进行测试。

实施例二

请参考图3，为本发明实施例的测试设备结构示意图。本实施例的测试设备310包括：频率获取单元312，用于获取测试信号的频率；抵消电路314，用于与天线相关电路322组成并联电路；谐振产生单元313，用于使抵消电路314与天线相关电路322组成的并联电路在频率获取单元312获取的测试信号频率上发生并联谐振；信号处理单元311，用于获取射频通路的测试信号，对测试信号进行测试。

其中，谐振产生单元313可以包括：天线相关电路阻抗获取单元，用于获取天线相关电路322的阻抗；抵消电路阻抗设置单元，用于根据天线相关电路阻抗获取单元获取的天线相关电路322的阻抗，设置抵消电路314的阻抗，使该并联电路在测试信号频率上发生并联谐振。

其中，抵消电路314由可调电容和可调电感组成；端点325为测试点，端点326为天线信号馈点，端点327为电线地馈点；天线相关电路322包括天线匹配电路323和寄生参数电路324。

发射/接收电路321输出射频通路的测试信号，该测试信号的期望测试信号路径为经过端点325后，发送到测试设备310的信号处理单元311。在进行信号测试之前，把抵消电路314的两端分别与端点326、端点327相连，抵消电路314、寄生参数电路324和天线匹配电路323组成并联电路；频率获取单元312获取测试信号的频率；谐振产生单元313使抵消电路314与天线相关电路322组成的并联电路在频率获取单元312获取的测试信号频率上发生并联谐振。发生并联谐振时天线相关电路322的阻抗最大，对测试信号的影响最小。在并联电路发生并联谐振后，测试设备可以开始进行测试。比如，在并联电路发生并联谐振后，谐振产生单元313向信号处理单元311发送启动测试命令，信号处理单元311接收该启动测试命令后，获取射频通路的测试信号，对测试信号进行测试。又比如，信号处理单元311向谐振产生单元313周期发送查询命令，当发现并联电路发生并联谐振后，获取射频通路的测试信号，对测试信号进行测试。

频率获取单元312获取测试信号的频率的方法举例如下：频率获取单元312获取测试信号，从测试信号中获取测试频率；当前进行测试的移动终端使用的频率是确定的，可以将该移动终端的使用频率设置到频率获取单元312。

从以上技术方案可以看出，由于在本发明实施例中，获取测试信号的频率；构建由抵消电路与天线相关电路组成的在测试信号频率上发生并联谐振的并联电路；获取射频通路的测试信号，对测试信号进行测试；本技术方案构建由抵消电路与天线相关电路组成的发生并联谐振的并联电路，使得天线相关电路的阻抗最大，降低天线相关电路对测试信号的影响，提高了测试结果的准确性。

以上对本发明实施例所提供的射频通路的测试方法和测试设备进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (8)

1.一种射频通路的测试方法，其特征在于，包括：

获取测试信号的频率；

构建由抵消电路与天线相关电路组成的在所述测试信号频率上发生并联谐振的并联电路；

获取射频通路的测试信号，对所述测试信号进行测试。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述构建由抵消电路与天线相关电路组成的在所述测试信号频率上发生并联谐振的并联电路具体为：

把所述抵消电路与所述天线相关电路组成并联电路，获取所述天线相关电路的阻抗，根据所述天线相关电路的阻抗设置所述抵消电路的阻抗，使所述并联电路在所述测试信号频率上发生并联谐振。

3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述天线相关电路包括天线匹配电路和寄生参数电路。

4.根据权利要求1至3任意一项所述的测试方法，其特征在于，所述抵消电路由可调电容和可调电感组成。

5.一种测试设备，其特征在于，包括：

频率获取单元，用于获取测试信号的频率；

抵消电路，用于与天线相关电路组成并联电路；

谐振产生单元，用于使所述抵消电路与天线相关电路组成的并联电路在所述频率获取单元获取的测试信号频率上发生并联谐振；

信号处理单元，用于获取射频通路的测试信号，对所述测试信号进行测试。

6.根据权利要求5所述的测试设备，其特征在于，所述谐振产生单元包括：

天线相关电路阻抗获取单元，用于获取所述天线相关电路的阻抗；

抵消电路阻抗设置单元，用于根据所述天线相关电路阻抗获取单元获取的天线相关电路的阻抗，设置所述抵消电路的阻抗，使所述并联电路在所述频率获取单元获取的测试信号频率上发生并联谐振。

7.根据权利要求5所述的测试设备，其特征在于，所述天线相关电路包括天线匹配电路和寄生参数电路。

8.根据权利要求5至7任意一项所述的测试设备，其特征在于，所述抵消电路由可调电容和可调电感组成。

Images