CN101046994A - 用于调节光盘***中的磁道平衡的装置和方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种装置和方法,用于通过检测聚焦误差信号和跟踪误差信号的电压来检测***到光盘***中的光盘的类型和/或调节光盘***中的磁道平衡。为了检测***到光盘***中的光盘的类型,该装置包括:模拟数字转换器,其将聚焦误差信号转换为n位电压数据;和占空测量器,其将n位电压数据与正噪声电压电平和负噪声电压电平进行比较,如果n位电压数据高于正噪声电压电平或低于负噪声电压电平则向上计数预定的值,并输出向上计数后的结果以作为聚焦误差信号的占空。
Description
本专利申请是下列专利申请的分案申请:
申请号:200310114812.0
申请日:2003年11月7日
发明名称:用于检测光盘类型和/或调节磁道平衡的装置和方法
技术领域
本发明涉及用于在光盘上记录数据和/或从光盘中读取数据的光盘***,更具体的,涉及用于检测***到光盘***中的光盘类型和/或调整磁道平衡的装置和方法。
背景技术
已知光盘***从诸如致密盘(CD)或数字视频盘(DVD)的光盘中读取数据,或在可重写致密盘(CD-RW)上记录数据。光盘***利用激光束照射到光盘和用光学拾波器检测从光盘反射的激光束的强度的变化。所检测到的变化了的强度被转换为从光盘读取的数字数据。光盘***在从***到光盘***的光盘中读取数据之前调整磁道平衡。光盘***从跟踪误差信号来计算磁道平衡数值,以调整磁道平衡。
图1示出了在普通光盘***中使用的传统跟踪误差信号发生器的电路图。参照图1,跟踪误差信号发生器20包括光电二极管21和22、电流电压(I/V)转换器23和24、差分放大器25以及电阻Rf和Rv。
光电二极管21和22分别响应于F和E光束而产生电流IF和IE,所述F和E光束是由光学拾波器检测到的放射光。
I/V转换器23和24分别将电流IF和IE转换为电压VF和VE。I/V转换器23和24可以是具有增益的放大器,该增益分别由电阻Rf和Rv的值调节。
差分放大器25放大电压VF和VE之间的差,以输出差值作为跟踪误差信号TE。
F和E光束是副光束,其在移动用于再现数据信号的主(M)光束的方向之前和之后被排列,以检测跟踪误差信号TE。M光束沿凹陷行移动。
图2A和2B示出了由跟踪误差信号发生器20产生的跟踪误差信号TE的波形。跟踪误差信号TE根据参考电压VREF被分为正跟踪误差信号和负跟踪误差信号。最好正跟踪误差信号的峰值电压+VTEPK与负跟踪误差信号的峰值电压-VTEPK对于参考电压VREF是对称的,如图2A所示。如果正跟踪误差信号的峰值电压+VTEPK与负跟踪误差信号的峰值电压-VTEPK对于参考电压VREF是不对称的,则跟踪误差信号TE的正和负跟踪误差信号TE之一的余量被减少。在图2B中,正跟踪误差信号的余量比负跟踪误差信号的余量要窄。
当跟踪误差信号TE的余量被减少时,控制磁道的范围被减小,并且无法控制超出范围的磁道。
如图2B所示,由于F和E光束数量之间的差值和由I/V转换器23和24获得的增益之间的差值,跟踪误差信号TE的中心电压VTEC对于参考信号VREF被偏移。
因此,为了使跟踪误差信号TE对于参考电压VREF对称,需要磁道平衡调整,以允许跟踪误差信号TE的中心电压与参考电压VREF一致。
图3示出了调节光盘***中磁道平衡的传统方法的流程图100。图4示出了由图3的方法产生的跟踪误差信号的波形。
参考图3和4,在步骤101中,光盘***检测跟踪误差信号TE。在步骤102中,确定跟踪误差信号TE是否满足预定的条件。当跟踪误差信号TE不满足预定频率范围和预定振幅范围TLength的预定的条件时,在步骤103中滤波跟踪误差信号TE。
在步骤103中,确定跟踪误差信号TE和参考电压VREF之间的交集是否是由图4所示的A、B、C和D指示的跟踪误差信号TE的上升沿。
如果在步骤104中确定跟踪误差信号TE和参考电压VREF之间的交集是上升沿,则检测到正跟踪误差信号的峰值+VTEPK。从前一接收到的跟踪误差信号T与随后接收到的跟踪误差信号TE的比较中得到的较大值被更新为峰值+VTEPK。不断比较逐次接收到的跟踪误差信号TE,以检测出最大值作为峰值+VTEPK。
在步骤105,检测到负跟踪误差信号的峰值-VTEPK。同样可以通过不断比较逐次接收到的跟踪误差信号TE来更新峰值-VTEPK。
在步骤106,利用公式AVTE1=(+VTEPK与-VTEPK)/2计算出峰值+VTEPK和-VTEPK的平均值。
在步骤107,确定跟踪误差信号TE的峰值是否被测量到了预定的次数(N),其中N是自然数。如果在步骤107,确定跟踪误差信号TE的峰值没被测量到了N次,则光盘***返回步骤101以重复步骤101至107。
如果在步骤107,确定跟踪误差信号TE的峰值达到了N次,则在步骤108中,将在N次测量中计算出来的平均值AVTE1到AVTEN的平均值确定为不平衡值UBAL。
在步骤109,确定不平衡值UBAL是否满足允许的误差。如果在步骤109,确定不平衡值UBAL不满足允许误差,则在步骤110,光盘***输出平衡控制信号BAL_CTL。在预定的时间段TBwt之后,平衡控制信号BAL_CTL被用来调整如图1所示的跟踪误差信号发生器20的增益,并返回步骤101。如图4所示,预定的时间段TBwt是指在调整了跟踪误差信号发生器20的增益后跟踪误差信号TE被稳定的时间。
如果在步骤109,确定不平衡值UBAL满足允许误差,则在步骤111,光盘***停止控制跟踪误差信号TE的平衡。
在上述的磁道平衡调节方法中,仅利用跟踪误差信号TE的峰值+VTEPK和峰值-VTEPK来检测到不平衡值UBAL。由于噪声可能会在峰值+VTEPK和-VTEPK中产生误差。同样,频率范围、幅度范围TLength、以及预定数N、峰值+VTEPK和-VTEPK必须被适当的设定。
光盘***还进行焦点搜索,以在CD和CD-RW之间做出鉴别。聚焦误差信号以S-Curve形式出现。可以从S-Curve的正和负峰值的绝对值的比较中获得较大的绝对值,并随后与检测的CD-RW的级别进行比较,以便检测出***到光盘***中的光盘的类型。
图5A和5B示出了用于根据传统技术检测盘类型的图。图5A示出了聚焦伺服的输出信号FOD输出,以移动透镜。图5B示出了指示从光盘反射的光的数量的聚焦误差(FE)信号,其中FE信号也被称为S-Curves。从CD检测到的FE信号的峰值与从CD-RW检测到的FE信号的峰值不同。因此,为了检测磁盘类型,将FE信号的正峰值与FE信号的负峰值进行比较,以选择较大的绝对值,并随后将这一较大的绝对值与预定的磁盘检测级别DDT_J进行比较。当所选择的绝对值小于磁盘检测级别DDT_J时,磁盘类型被确定为CD-RW。当所选择的绝对值大于磁盘检测级别DDT_J时,磁盘类型被确定为CD。
当利用FE信号的峰值检测磁盘类型时,FE信号会被偏移,其影响磁盘类型的检测。例如,在从CD-RW检测到的FE信号被偏移,并因此FE信号的正峰值大于磁盘检测级别DDT_J的情形中,CD-RW被错误的检测为CD。另外,由于噪声会在FE信号中产生低频瞬态干扰,并因此被曲解为峰值,其导致磁盘类型的错误的检测。
另外,为了磁盘类型的准确检测,FE信号的峰值可被测量多次。在这种情况中,可计算出峰值的平均值以检测磁盘类型,利用该平均值来准确检测磁盘类型。但是,这一过程增加了写入(read-in)时间。
因此,当检测出跟踪误差信号或聚焦误差信号的峰值来调节光盘***中的磁道平衡或检测***到光盘***中的光盘的类型时,由于跟踪误差信号或聚焦误差信号的偏移或噪声分量可能会使磁道平衡被错误的调节。
因此,存在着这样的需要,需要一种用于稳定的调节磁道平衡和以减少的写入时间准确地检测光盘的类型的***和方法。
发明内容
根据本发明的一个方面,提供一种用于检测***到光盘***中的光盘的类型的装置。该装置包括模拟数字转换器,其将聚焦误差信号转换为n位电压数据;和占空测量器,其将n位电压数据与正噪声电压电平和负噪声电压电平进行比较,如果n位电压数据高于正噪声电压电平或低于负噪声电压电平则向上计数预定的值,并输出向上计数后的结果以作为聚焦误差信号的占空。
根据本发明的另一个方面,提供一种用于检测***到光盘***中的光盘的类型的装置,该装置包括模拟数字转换器,其将聚焦误差信号转换为n位电压数据;和反射光数量测量器,其将n位电压数据的当前电压数据与n位电压数据的前一电压数据进行比较,如果当前电压数据与前一电压数据的不同大于预定值,则向上计数预定的值,并输出向上计数后的结果作为反射光的数量。
根据本发明的又一个方面,提供一种用于检测***到光盘***中的光盘的类型的方法。从光盘中检测聚焦误差信号。通过检测聚焦误差信号的电压来测量聚焦误差信号的占空,并取决于测量出的占空来检测光盘的类型。
根据本发明的又一个方面,提供一种用于检测***到光盘***中的光盘的类型的方法。从光盘中检测聚焦误差信号。通过检测聚焦误差信号的电压来测量聚焦误差信号的反射光的数量,并取决于测量出的反射光的数量来检测光盘的类型。
根据本发明的又一个方面,提供一种用于调节光盘***中的磁道平衡的装置。该装置包括模拟数字转换器,其将跟踪误差信号转换成n位电压数据;占空测量器,其将n位电压数据与预定的参考电压进行比较,根据比较的结果向上计数或向下计数预定的值,并对于预定的平衡调节时间输出累计的计数后的结果,以作为跟踪误差信号的不平衡值;和控制器,其将所述不平衡值与预定的允许误差进行比较,并且如果所述不平衡值超出了预定的允许误差,则输出平衡控制信号以调节跟踪误差信号的平衡。
根据本发明的又一个方面,提供一种用于调节光盘***中的磁道平衡的装置。该装置包括模拟数字转换器,其将跟踪误差信号转换成n位电压数据;反射光数量测量器,其将n位电压数据的当前电压数据和n位电压数据的前一电压数据与参考电压进行比较,根据比较结果向上计数或向下计数预定的值,并对于预定的平衡调节时间输出累计的计数后的结果,以作为跟踪误差信号的不平衡值;和控制器,其将所述不平衡值与预定的允许误差进行比较,并且如果所述不平衡值超出预定的允许误差,则输出平衡控制信号以调节跟踪误差信号的平衡。
根据本发明的又一个方面,提供一种用于调节光盘***中的磁道平衡的方法。从***到光盘***的光盘中检测跟踪误差信号。检测跟踪误差信号的电压,并对于预定的平衡调节时间测量相对于预定参考电压的跟踪误差信号的占空,以作为不平衡值。将所述不平衡值与预定的允许误差进行比较,并且如果所述不平衡值超出预定的允许误差,则产生平衡控制信号以调节跟踪误差信号的平衡。
根据本发明的又一个方面,提供一种用于调节光盘***中的磁道平衡的方法。从***到光盘***中的光盘中检测跟踪误差信号。检测跟踪误差信号的电压,并对于预定的平衡调节时间测量相对于预定参考电压的跟踪误差信号的反射光数量以作为不平衡值。将所述不平衡值与预定的允许误差进行比较,并且如果所述不平衡值超出预定的允许误差,则产生平衡控制信号以调节跟踪误差信号的平衡。
附图说明
结合附图,通过对本发明示例实施例的详细描述,本发明将会变得更加清楚,其中:
图1示出了在普通光盘***中使用的传统跟踪误差信号发生器的电路图;
图2A和2B示出了由跟踪误差信号发生器20产生的跟踪误差信号TE的波形;
图3示出了调节光盘***中磁道平衡的传统方法的流程图100;
图4示出了显示由图3的方法所产生的跟踪误差信号的波形的视图;
图5A和5B示出了根据现有技术检测盘类型的图;
图6示出了根据本发明实施例的检测盘类型的方框图;
图7示出了根据本发明另一实施例的调节光盘***中磁道平衡的方框图;
图8A、8B和8C示出了跟踪误差信号的波形,以说明图7所示装置的操作;
图9是根据本发明另一实施例的通过检测聚焦误差信号的电压来检测盘类型的方框图;
图10是根据本发明再一实施例的检测盘类型的装置的方框图。
具体实施方式
图6示出了根据本发明实施例的通过检测聚焦误差信号的电压来检测盘类型的装置的方框图。参照图6,将在下面进一步说明包括模拟数字转换器(ADC)10和占空测量器(duty measurer)15的所述装置。
如前面在图5中所看到的,由于以相同搜索速度从CD和CD-RW中反射的光的数量之间的差,从CD中检测到的S-Curves的占空与从CD-RW中检测到的S-Curves的占空是不同的。尽管由于偏移或噪声分量而在S-Curves中产生低频瞬态干扰,但是S-Curves的占空变化不大。这样,可利用占空特性检测磁盘类型。换句话说,从***到光盘***的光盘中检测S-Curves,并随后测定S-Curves的占空,用以检测光盘是否是CD或CD-RW。
ACD10将模拟FE信号的电压电平转换成数字数据。任务测量器15将从ACD10输出的数字数据与正噪声电压电平NZ+和负噪声电压电平NZ-进行比较。如果数字数据高于正噪声电压电平NZ+或低于负噪声电压电平NZ-,则向上计数一预定值,并且输出向上计数后的值以作为S-Curves的占空。S-Curves的占空取决于***的光盘的类型而极大的变化,如图5所示。由于从CD-RW检测到的S-Curves的占空要比从CD检测到的S-Curves的占空短,因此可通过利用从占空测量器15输出的占空值确定***的光盘是否是CD-RW或CD。
再次参照图6,占空测量器15包括比较单元25和计数器50。正噪声电压电平NZ+和负噪声电压电平NZ-被用于确定光盘是否***了光盘***。当从ADC10输出的值低于正噪声电压电平NZ+并高于负噪声电压电平NZ-时,确定光盘未被***到光盘***中。
比较单元25把从ADC10输出的数字数据与正噪声电压电平NZ+和负噪声电压电平NZ-进行比较,如果数字数据高于正噪声电压电平NZ+或低于负噪声电压电平NZ-,则确定数字数据以S-Curve形式出现,并产生向上计数信号UP。当数字数据低于正噪声电压电平NZ+或高于负噪声电压电平NZ-时,则比较单元25确定数字数据不以S-Curve形式出现,并产生保持信号HD。比较器25包括缓冲器寄存器20、绝对值计算器30和比较器40。
缓冲器寄存器20缓冲从ADC10输出的数字数据N。绝对值计算器30计算由缓冲器寄存器20缓冲的数字数据N的绝对值|N|,并输出绝对值|N|至比较器40。比较器40将绝对值|N|与正噪声电压电平NZ+进行比较,并且如果绝对值|N|大于正噪声电压电平NZ+就产生向上计数信号,或者如果绝对值|N|小于正噪声电压电平NZ+则产生保持信号HD。计数器50响应于向上计数信号UP而向上计数预定值,例如1,并且响应于保持信号HD而保持当前计数值。
如上所述,即使由于噪声分量而在S-Curve中产生的偏移或低频瞬态干扰,S-Curve的占空也不会极大的变化。因此,可通过测定S-Curve的占空来进一步准确地检测出***的光盘的类型。
图7示出了根据本发明的实施例的通过检测跟踪误差信号的电压来调节光盘***中的磁道平衡的装置的方框图。参照图7,该装置包括ADC 60、占空测量器65和控制器90。
图8A、8B和8C示出了跟踪误差信号的波形,以便说明图7的装置的操作。图8A示出了其中正跟踪误差信号+TE的占空要比负跟踪误差信号-TE的占空长的情况。图8B示出了其中正跟踪误差信号+TE的占空与负跟踪误差信号-TE的占空相等的情况,即达到平衡的情况。图8C示出了其中正跟踪误差信号+TE的占空要比负跟踪误差信号-TE的占空短的情况。
参照图8A、8B和8C,可通过比较正跟踪误差信号+TE的占空与负跟踪误差信号-TE的占空,来检测是否已达到了磁道平衡。尽管由于噪声分量,跟踪误差信号TE被偏移或具有低频瞬态干扰,但正跟踪误差信号+TE与负跟踪误差信号-TE的占空不会极大的变化。从而,可利用跟踪误差信号TE的占空特性来调节磁道平衡。
更具体的,参照图7和8,ADC 60将模拟跟踪误差信号TE的电压电平转换成数字数据。占空测量器65将从ADC 60输出的数字数据与参考电压VREF进行比较,如果如同图8A、8B和8C的部分“U”的数字数据高于参考电压VREF,则向上计数预定值,并且如果如同图8A、8B和8C的部分“D”的数字数据低于参考电压VREF,则向下计数预定值。在例如图8A、8B和8C的部分“H”的低频区域,占空测量器65保持当前计数值而不测量跟踪误差信号TE的占空,并输出当前计数值以作为跟踪误差信号TE的不平衡值。正跟踪误差信号+TE与负跟踪误差信号-TE的差取决于跟踪误差信号TE的不平衡程度。
占空测量器65包括缓冲器寄存器80、比较器85和计数器75。缓冲器寄存器80缓冲从ADC 60输出的数字数据N。比较器85将由缓冲器寄存器80缓冲的数字数据N与参考电压VREF进行比较,并且如果数字数据N大于参考电压VREF就产生向上计数信号UP,如果数字数据N小于参考电压VREF则产生向下计数信号DN。比较器85还在例如图8A、8B和8C的部分“H”的低频区域产生保持信号HD。
计数器75响应于从比较器85输出的向上计数信号UP向上计数预定值,例如1;响应于向下计数信号DN向下计数预定值,例如1;和响应于保持信号HD保持当前计数值。计数器75根据比较器85的比较结果,对于预定的平衡调节时间执行向上计数和/或向下计数操作,并对于预定的平衡调节时间输出累计的计数值以作为不平衡值。
控制器90把从占空测量器65输出的不平衡值与预定的允许误差进行比较,并且如果不平衡值超出了预定的允许误差则输出平衡控制信号BAL_CTL以调节跟踪误差信号TE的平衡。
图9示出了根据本发明另一实施例的通过检测聚焦误差信号的电压来检测光盘类型的装置的方框图。参照图9,该装置包括ADC 100和反射光数量测量器115。
如前面参照图5B所述的,由于以相同搜索速度来自CD和CD-RW反射的光的数量的差,在CD和CD-RW上产生了不同形状的S-Curves。如果瞬间电压差大于预定值,则瞬间电压差可被认为是从S-Curves引起的。从而,所述装置向上计数预定值,并获得向上计数后的结果作为对于S-Curves的反射光的数量。如图5B中所示,S-Curves是由于反射光的数量之间的差而产生的。从而,可利用S-Curves检测出***的光盘的类型。类似于S-Curves的占空,尽管由于噪声分量S-Curves被偏移或S-Curves具有低频瞬态干扰,但反射光的数量不会极大的变化。因此,可以进一步稳定的检测出***的光盘的类型。
参照图9,ADC 100将模拟FE信号的电压电平转换成n位数字电压数据。反射光数量测量器115将从ADC 100输出的当前电压数据N与前一电压数据N-1进行比较,如果当前电压数据N与前一电压数据N-1的不同大于预定值,则向上计数预定的值,并输出向上计数后的结果作为对于S-Curves的反射光的数量。如图5B中所示,指示反射光数量的S-Curves取决于***的光盘是否是CD或CD-RW进行变化。换句话说,相较于CD,从CD-RW反射相对小的数量的光。从而,可以从反射光数量测量器115输出的反射光数量来确定***的光盘是否是CD或CD-RW。
反射光数量测量器115包括比较单元125和计数器140。比较单元将从ADC100输出的当前电压N与前一电压数据N-1进行比较,如果当前电压数据N与前一电压数据N-1的不同大于预定值,则产生向上计数信号,并且如果当前电压数据N与前一电压数据N-1相同,则产生保持信号HD。比较单元125包括第一和第二缓冲器寄存器110和120以及比较器130。
第一缓冲器寄存器110缓冲从ADC 100输出的n位电压数据,作为当前电压数据N。第二缓冲器寄存器120缓冲从ADC 100输出的n位电压数据,作为前一电压数据N-1。比较器130将由第一缓冲器寄存器110缓冲的n位电压数据的较高m位(其中m<n)与由第二缓冲器寄存器120缓冲的n位电压数据的较高m位进行比较,如果较高m位相等,则产生保持信号HD,并且如果较高m位不同,则产生向上计数信号UP。例如,当ADC 100输出8位数据并将2.56V的电压输入至ADC 100时,ADC 100具有10mV(=2.56V/256)的分辨率。当比较器130将当前电压数据N的较高7位与前一电压数据N-1的较高7位进行比较时,比较器130取决于当前电压数据N与前一电压数据N-1的不同是否大于10mV来产生保持信号HD或向上计数信号UP。在比较器130将当前电压数据N的较高6位与前一电压数据N-1的较高6位进行比较时,比较器130取决于当前电压数据N与前一电压数据N-1的不同是否大于20mV(2.56V/128)来产生保持信号HD或向上计数信号UP。
计数器140响应于从比较单元125输出的向上计数信号UP而向上计数一预定值,例如1,响应于保持信号HD而保持当前计数值,并经由输出端口OUT输出向上计数后的结果以作为反射光的数量。
下面的表1示出了当利用图9所示的反射光数量测量器115测量反射光的数量时获得的值。如果ADC 100输出8位数字数据,计数器140响应于向上计数信号UP而向上计数1。比较器130取决于当前电压数据N的较高7位与前一电压数据N-1的较高7位是否相等来产生向上计数信号UP或保持信号HD。
表1
当S-Curve以正值变化时 | 当S-Curve以负值变化时 | ||||||||||||||
FE(N)(ADC的输出) | 8′h02 | 8′h03 | 8′h04 | 8′h05 | 8′h06 | 8′h07 | 8′h08 | 8′hff | 8′hfd | 8′hfc | 8′hfb | 8′hfa | 8′hf9 | 8′hf8 | 8′hf7 |
00000010 | 00000011 | 00000100 | 00000101 | 00000110 | 00000111 | 00001000 | 11111111 | 11111110 | 11111100 | 11111011 | 11111010 | 11111001 | 11111000 | 11110111 | |
FE(N-1) | 8′h01 | 8′h02 | 8′h03 | 8′h04 | 8′h05 | 8′h06 | 8′h07 | 8′hff | 8′hff | 8′hfd | 8′hfc | 8′hfb | 8′hfa | 8′hf9 | 8′hf8 |
00000001 | 00000010 | 00000011 | 00000100 | 00000101 | 00000110 | 00000111 | 11111111 | 11111111 | 11111110 | 11111100 | 11111011 | 11111010 | 11111001 | 11111000 | |
比较器的输出 | UP | HD | UP | HD | UP | HD | UP | HD | HD | UP | UP | HD | UP | HD | UP |
计数器的操作 | 1计数 | 保持 | 1计数 | 保持 | 1计数 | 保持 | 1计数 | 保持 | 保持 | 1计数 | 1计数 | 保持 | 1计数 | 保持 | 1计数 |
计数器的输出 | 1 | 1 | 2 | 2 | 3 | 3 | 4 | 4 | 4 | 5 | 6 | 6 | 7 | 7 | 8 |
如在表1中看到的,比较器130将当前电压数据N的较高7位与前一电压数据N-1的较高7位进行比较,如果当前电压数据N的较高7位与前一电压数据N-1的较高7位不相等,则产生向上计数信号UP,并且如果当前电压数据N的较高7位与前一电压数据N-1的较高7位相等,则产生保持信号HD。计数器140响应于向上计数信号UP而向上计数1,计数器140响应于保持信号HD而保持当前计数值,并输出从计数器140输出的最终计数值以作为测量出的经由输出端口OUT的反射光的数量。
如上所述,尽管由于噪声分量,S-Curves被偏移或具有低频瞬态干扰,但反射光的数量不会极大的变化。从而,可通过测量从S-Curves反射的光的数量进一步准确的检测出***的光盘的类型。
图10是根据本发明另一实施例的通过检测跟踪误差信号的电压来调节光盘***中盘类型的装置的方框图。参照图10,该装置包括ADC 200、反射光数量测量器215和控制器250。
ADC 200将模拟跟踪误差信号TE的电压电平转换为n位数字电压数据。反射光数量测量器215将从ADC 200输出的当前电压数据N与前一电压数据N-1进行比较,并随后将当前电压数据N和前一电压数据N-1与参考电压VREF进行比较。反射光数量测量器215根据比较结果对于预定的平衡调节时间进行向上计数或向下计数操作,并输出向上计数后或向下计数后的结果以作为不平衡值。更具体的,如果在当前电压数据N和前一电压数据N-1之间产生预定的电压差,则反射光数量测量器215将当前电压数据N和前一电压数据N-1与参考电压VREF进行比较。如果当前电压数据N和前一电压数据N-1高于参考电压VREF,则反射光数量测量器215进行向上计数操作;并且如果当前电压数据N和前一电压数据N-1低于参考电压VREF,则进行向下计数操作。如果当前电压数据N和前一电压数据N-1中的一个高于参考电压VREF,而当前电压数据N和前一电压数据N-1中的另一个低于参考电压VREF,则反射光数量测量器215保持当前计数值。尽管在当前电压数据N和前一电压数据N-1之间产生预定的电压差,反射光数量测量器215将当前计数值保持在诸如图8A、8B和8C的部分“H”的低频区域中。
反射光数量测量器215包括比较单元225和计数器240。比较器单元225对于预定的平衡调节时间将从ADC 200输出的当前电压数据N与前一电压数据N-1比较。当在当前电压数据N和前一电压数据N-1之间产生预定的电压差时,比较单元225将当前电压数据N和前一电压数据N-1与参考电压VREF进行比较,并根据比较结果输出向上计数信号UP或向下计数信号DN或输出保持信号HD。比较单元225还在诸如图8A、8B和8C的部分“H”的低频区域中输出保持信号HD。比较单元225包括第一和第二缓冲器寄存器210和220以及比较器230。
第一缓冲器寄存器210缓冲从ADC 200输出的n位电压数据,作为当前电压数据N。第二缓冲器寄存器220缓冲从第一缓冲器寄存器210输出的n位电压数据,作为前一电压数据N-1。比较器230将由第一缓冲器寄存器210缓冲的n位电压数据的较高m(其中m<n)位与由第二缓冲器寄存器220缓冲的n位电压数据的较高m位进行比较,如果n位电压数据的所述m位相等,则在诸如图8A、8B和8C的部分“H”的低频区域中产生保持信号HD,如果n位电压数据的所述m位不相等,则产生向上计数信号UP或向下计数信号DN。例如,当ADC 200输出8位,并且3V电压被输入至ADC 200时,则ADC 200具有12mV(=3V/256)的分辨率。当比较器230将当前电压数据N的较高7位与前一电压数据N-1的较高7位进行比较时,比较器230取决于当前电压数据N与前一电压数据N-1的不同是否大于12mV来产生保持信号HD或向上计数信号UP或向下计数信号DN。在比较器230将当前电压数据N的较高6位与前一电压数据N-1的较高6位进行比较的情形中,比较器230取决于当前电压数据N与前一电压数据N-1的不同是否大于24mV来产生保持信号HD或向上计数信号UP或向下计数信号DN。
计数器240响应于从比较单元225输出的向上计数信号UP向上计数预定值,例如1,响应于向下计数信号DN向下计数预定值,例如1,响应于保持信号HD而保持当前计数值,并对于预定的平衡调节时间输出累计的计数值以作为不平衡值。
控制器250确定从反射光数量测量器215输出的不平衡值是否超出了允许的误差,并且如果不平衡值超出了允许的误差,则输出平衡控制信号BAL_CTL来调节跟踪误差信号TE的平衡。
下面的表2示出了当利用如图10所示的装置产生不平衡值时所获得的值。当ADC 200输出8位数字数据时,计数器240响应于向上计数信号UP或向下计数信号DN来向上计数1或向下计数1,并且比较器230取决于当前电压N的较高7位与前一电压N-1的较高7位是否相等来产生向上计数信号UP或向下计数信号DN。
表2
当跟踪误差信号以正值变化时 | 当跟踪误差信号以负值变化时 | ||||||||||||||
FE(N)(ADC的输出) | 8′h02 | 8′h03 | 8′h04 | 8′h05 | 8′h06 | 8′h07 | 8′h08 | 8′hff | 8′hfd | 8′hfc | 8′hfb | 8′hfa | 8′hf9 | 8′hf8 | 8′hf7 |
00000010 | 00000011 | 00000100 | 00000101 | 00000110 | 00000111 | 00001000 | 11111111 | 11111110 | 11111100 | 11111011 | 11111010 | 11111001 | 11111000 | 11110111 | |
FE(N-1) | 8′h01 | 8′h02 | 8′h03 | 8′h04 | 8′h05 | 8′h06 | 8′h07 | 8′hff | 8′hff | 8′hfd | 8′hfc | 8′hfb | 8′hfa | 8′hf9 | 8′hf8 |
00000001 | 00000010 | 00000011 | 00000100 | 00000101 | 00000110 | 00000111 | 11111111 | 11111111 | 11111110 | 11111100 | 11111011 | 11111010 | 11111001 | 11111000 | |
比较器的输出 | UP | HD | UP | HD | UP | HD | UP | HD | HD | DN | DN | HD | DN | ||
计数器的操作 | 1向上计数 | 保持 | 1向下计数 | 保持 | 1向上计数 | 保持 | 1向上计数 | 保持 | 保持 | 1向下计数 | 1向下计数 | 保持 | 1向下计数 | 1向下计数 | |
计数器的输出 | 1 | 1 | 2 | 2 | 3 | 3 | 4 | 4 | 4 | 3 | 2 | 2 | 1 | 0 |
如表2中所示,从计数器240输出的最终不平衡值是0,指示正跟踪误差信号+TE与负跟踪误差信号-TE对于参考电压VREF是对称的。如果正跟踪误差信号+TE和负跟踪误差信号-TE对于参考电压VREF是不对称的,并因此不平衡值是超出允许误差的±M(其中M是自然数),则控制器250调节跟踪误差信号TE的平衡,从而不平衡值不超出允许的值。
在用于根据本发明的通过检测聚焦误差信号和跟踪误差信号的电压来检测光盘类型和/或调节光盘***中的平衡的装置和方法中,可通过检测聚焦误差信号和跟踪误差信号的电压来调节跟踪误差信号的不平衡。从而,可以进一步稳定地调节磁道平衡。另外,可以进一步准确的检测出磁盘的类型,而不受到聚焦误差信号的偏移和噪声分量的影响。
本领域的普通技术人员可以通过此处的示教容易地确定本发明的这些和其他特征和优点。应当明白本发明的示教可以以各种形式的硬件、软件或他们的结合来实现。
例如,如图6所示的光盘类型检测装置可被修改,并实现为用于通过检测跟踪误差信号的电压来调节磁道平衡的装置。图9所示的光盘类型检测装置可被修改,并实现为用于通过检测跟踪误差信号的电压来调节磁道平衡的装置。此外,根据本发明优选实施例的过程可被编写为计算机可读记录介质的计算机可读代码。计算机可读介质包括各种在其上存储有计算机可读数据的记录装置。计算机可读记录介质包括ROMs、RAMs、CD-ROMs、磁带、软盘、光学数据存储装置和载波(例如,在因特网上的传输)。计算机可读记录介质可以将计算机可读代码存储在以分布的方式通过网络连接的计算机***上,并执行所述计算机可读代码。
尽管已参考附图描述了说明性的实施例,但是应当明白本发明不只限于这些精确的实施例,并且本领域的技术人员可以在不背离本发明的范围和精神的前提下使各种变化和修改产生作用。所有这样的变化和修改都被试图包括在如附加权利要求中所阐明的本发明的范围之内。
Claims (16)
1.一种用于调节光盘***中的磁道平衡的装置,该装置包括:
模拟数字转换器,其将跟踪误差信号转换成n位电压数据;
占空测量器,其将n位电压数据与预定的参考电压进行比较,根据比较的结果向上计数或向下计数预定的值,并对于预定的平衡调节时间输出累计的计数后的结果以作为跟踪误差信号的不平衡值;和
控制器,其将所述不平衡值与预定的允许误差进行比较,并且如果所述不平衡值超出了预定的允许误差,则输出平衡控制信号以调节跟踪误差信号的平衡。
2.如权利要求1所述的装置,其中所述占空测量器包括:
缓冲器寄存器,其缓冲从模拟数字转换器输出的n位电压数据;
比较器,其将由缓冲器寄存器缓冲的n位电压数据与预定的参考电压进行比较,并且如果n位电压数据大于预定的参考电压,就产生向上计数信号,如果n位电压数据小于预定的参考电压,就产生向下计数信号;和
计数器,其响应于向上计数信号而向上计数预定的值,响应于向下计数信号而向下计数预定的值,并输出累计了平衡调节时间的计数后的结果以作为不平衡值。
3.如权利要求2所述的装置,其中如果跟踪误差信号的频率属于预定的低频区域,则所述比较器产生保持信号,并且计数器响应于保持信号而保持当前计数值。
4.一种通过检测跟踪误差信号的电压来调节光盘***中的磁道平衡的装置,该装置包括:
模拟数字转换器,其将跟踪误差信号转换成n位电压数据;和
反射光数量测量器,其将n位电压数据的当前电压数据和n位电压数据的前一电压数据与参考电压进行比较,根据比较结果向上计数或向下计数预定的值,并对于预定的平衡调节时间输出累计的计数后的结果,以作为跟踪误差信号的不平衡值;和
控制器,其将所述不平衡值与预定的允许误差进行比较,并且如果所述不平衡值超出预定的允许误差,则输出平衡控制信号以调节跟踪误差信号的平衡。
5.如权利要求4所述的装置,其中所述反射光数量测量器包括:
比较单元,其将当前电压数据与前一电压数据进行比较,如果在当前电压数据和前一电压数据之间产生预定的电压差,则将当前电压数据和前一电压数据与参考电压进行比较,并根据比较结果产生向上计数信号、向下计数信号或保持信号;和
计数器,其响应于向上计数信号而向上计数预定的值,响应于向下计数信号而向下计数预定的值,或响应于保持信号而保持当前计数值,并对于预定的平衡调节时间输出累计的计数后的结果,以作为不平衡值。
6.如权利要求5所述的装置,其中如果跟踪误差信号属于预定的低频区域,则所述比较单元产生保持信号。
7.如权利要求5所述的装置,其中所述比较单元包括:
第一缓冲器寄存器,其缓冲从模拟数字转换器输出的n位电压数据作为当前电压数据;
第二缓冲器寄存器,其缓冲从第一缓冲器寄存器输出的n位电压数据作为前一电压数据;和
比较器,其将当前电压数据与前一电压数据进行比较,如果在当前电压数据和前一电压数据之间产生预定的电压差,则将当前电压数据和前一电压数据与参考电压进行比较,如果当前电压数据和前一电压数据高于参考电压,则产生向上计数信号,如果当前电压数据和前一电压数据低于参考电压,则产生向下计数信号,并且如果当前电压数据和前一电压数据中仅有一个高于或低于参考电压,则产生保持信号。
8.如权利要求7所述的装置,其中如果所述跟踪误差信号属于预定的低频区域,则所述比较器产生保持信号。
9.一种用于调节光盘***中的磁道平衡的方法,该方法包括:
从***到光盘***的光盘中检测跟踪误差信号;
检测跟踪误差信号的电压,并对于预定的平衡调节时间测量相对于预定参考电压的跟踪误差信号的占空,以作为不平衡值;和
将所述不平衡值与预定的允许误差进行比较,并且如果所述不平衡值超出预定的允许误差,则产生平衡控制信号以调节跟踪误差信号的平衡。
10.如权利要求9所述的方法,其中所述不平衡值的测量包括:
将跟踪误差信号转换成n位电压数据;和
将n位电压数据与参考电压进行比较,根据比较结果对于预定的平衡调节时间向上计数或向下计数预定的值,并输出累计了预定的平衡调节时间的计数后的结果,以作为不平衡值。
11.如权利要求10所述的方法,其中所述不平衡值的输出包括:
将n位电压数据与参考电压进行比较,如果n位电压数据大于参考电压,则产生向上计数信号,并且如果n位电压数据小于参考电压,则产生向下计数信号;和
响应于向上计数信号而在平衡调节时间内向上计数预定的值,响应于向下计数信号而向下计数预定的值,并输出累计了平衡调节时间的计数后的结果以作为不平衡值。
12.如权利要求11所述的方法,还包括:
如果跟踪误差信号的频率属于预定的低频区域,则产生保持信号;和
响应于所述保持信号而保持当前计数值。
13.一种调节光盘***中的磁道平衡的方法,该方法包括:
从***到光盘***中的光盘中检测跟踪误差信号;和
检测跟踪误差信号的电压,并对于预定的平衡调节时间测量相对于预定参考电压的跟踪误差信号的反射光数量,以作为不平衡值;和
将所述不平衡值与预定的允许误差进行比较,并且如果所述不平衡值超出预定的允许误差,则产生平衡控制信号以调节跟踪误差信号的平衡。
14.如权利要求13所述的方法,其中不平衡值的输出包括:
将跟踪误差信号转换成n位电压数据;和
将n位电压数据的当前电压数据和n位电压数据的前一电压数据与参考电压进行比较,对于预定的平衡调节时间向上计数或向下计数预定的值,并输出累计了平衡调节时间的计数后的结果以作为不平衡值。
15.如权利要求14所述的方法,其中不平衡值的输出包括:
如果在当前电压数据和前一电压数据之间产生预定的电压差,则将当前电压数据和前一电压数据与参考电压进行比较;
如果当前电压数据和前一电压数据高于参考电压,则产生向上计数信号;
如果当前电压数据和前一电压数据低于参考电压,则产生向下计数信号;
如果当前电压数据和前一电压数据中仅有一个高于或低于参考电压,则产生保持信号;
响应于向上计数信号而在平衡调节时间内向上计数预定的值,响应于向下计数信号而向下计数预定的值,并响应于保持信号而保持当前计数值;和
输出累计了平衡调节时间的计数后的结果以作为不平衡值。
16.如权利要求15所述的方法,还包括:
如果跟踪误差信号的频率属于预定的低频区域,则产生保持信号。
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