CN101025399A - 快速检验镜片缺陷的方法 - Google Patents
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Abstract
一种快速检验镜片缺陷的方法，用于检验镜片，其包括以下步骤：提供一数据处理装置、一影像撷取装置及一承载部，其中该影像撷取装置集合显微镜及影像感测器于一体，且与数据处理装置电连接；该承载部包括按一定规律排列的多个容置孔；将镜片放在该承载部的容置孔内；使用影像撷取装置扫描镜片，并将所扫描的图像传送至数据处理装置；数据处理装置根据影像撷取装置传送的图像判别镜片是否有缺陷，并记录缺陷镜片的位置。
Description
【技术领域】
本发明是关于一种快速检验镜片缺陷的方法。
【背景技术】
随着多媒体技术的飞速发展，数码相机、摄像机越来越受广大消费者青睐，在人们对数码相机、摄像机拍摄出物体的影像质量提出更高要求的同时，对数码相机、摄像机等产品需求量也在增加。
数码相机、摄像机等摄影装置中，光学元件为不可缺少的部件。在数码相机、摄像机的量产方案中，高折射率光学塑料射出成型光学元件成为数码相机、摄像机光学元件的主流。
在镜片自射出成型之后，需对镜片进行检验。然而，在现有生产中仍以人工在显微镜下翻动镜片并仔细检查来挑出缺陷为主。由于光学透镜较为细小，大多直径不超过5mm，以人工检查需耗时较久，且容易产生遗漏，因此需要一种快速检验镜片缺陷的方法。
【发明内容】
针对以上问题，有必要提供一种可提高生产效率的快速检验镜片缺陷的方法。
一种快速检验镜片缺陷的方法，用于检验镜片，其包括以下步骤：提供一数据处理装置、一影像撷取装置及一承载部，其中该影像撷取装置集合显微镜及影像感测器于一体，且与数据处理装置电连接；该承载部包括按一定规律排列的多个容置孔；将镜片放在该承载部的容置孔内；使用影像撷取装置扫描镜片，并将所扫描的图像传送至数据处理装置；数据处理装置根据影像撷取装置传送的图像判别镜片是否有缺陷，并记录缺陷镜片的位置。
相较于现有技术，所述快速检验镜片的方法利用光学显微镜与影像感测器相结合，通过类似断层扫描的方法，可快速找到镜片的缺陷位置，从而缩短镜片检验的时间，而且准确度较高。
【附图说明】
图1是本发明快速检验镜片缺陷的方法较佳实施方式的装置示意图；
图2是图1沿II处的局部放大图；
图3是本发明快速检验镜片缺陷的方法较佳实施方式无缺陷镜片的正视图；
图4是本发明快速检验镜片缺陷的方法较佳实施方式无缺陷镜片的俯视图；
图5是本发明快速检验镜片缺陷的方法较佳实施方式有缺陷镜片的正视图；
图6是本发明快速检验镜片缺陷的方法较佳实施方式有缺陷镜片的俯视图；
图7是本发明快速检验镜片缺陷的方法较佳实施方式的扫描对焦面示意图。
【具体实施方式】
请参考图1及图7所示，本发明快速检验镜片缺陷的方法较佳实施方式中，提供一数据处理装置10、一影像撷取装置20、一真空吸笔30及一承载部40。所述快速检验镜片缺陷的方法用于自动检验镜片50的缺陷，该镜片50包括一光学部500及一基座502，光学部500位于基座502的中部，其为球面或非球面。
请一并参阅图2至图6，所述镜片50放置在承载部40上，本实施例中，该承载部40为一载盘，该承载部40为一薄板，其上开设多个容置孔42，该多个容置孔42用于容置并固持镜片50，其按一定规律排列于承载部40，且数据处理装置10可通过坐标或其它形式记录各个容置孔42的位置。该容置孔42为一台阶状通孔，包括同轴设置的容置部420和通光部422，且该通光部422的直径小于该容置部420的直径，而在两者衔接处形成台阶。该通光部422的直径与镜片50光学部500的直径相当，该容置部420的直径与镜片50基座502的外圆直径相当，镜片50放置于该容置孔42时，基座502位于容置部420内，光学部500可以透过通光部422露出，以便对镜片50进行检验。通光部422也可为一喇叭状圆孔，即其与容置部420连接一端的直径与镜片50光学部500的直径相当，另一端直径偏大。
所述数据处理装置10在该较佳实施方式中为一台计算机，其内部程序可识别图像信息，并对有关数据进行处理从而输出结果。
影像撷取装置20为一整合显微镜(图未示)及影像感测器(图未示)于一体的装置，该影像撷取装置20可以调焦，以获取多个不同的对焦面24，该影像撷取装置20与数据处理装置10电连接，并将所获取的图像信息传输至数据处理装置10。承载部40两侧分别设一可旋转、升降且水平伸缩的支架22，将影像撷取装置20安装在承载部40一侧的支架22上，可使影像撷取装置20位于承载部40正上方，旋转、升降或在水平方向伸缩该支架22可使影像撷取装置20在承载部40上方移动，以便影像撷取装置20对承载部40上的所有镜片50进行扫描。
真空吸笔30与数据处理装置10电连接，其与镜片50大小相配合，并可根据数据处理装置10指示的数据吸附镜片50；且吸笔30安装在承载部40另一侧的支架22上，旋转、升降或在水平方向伸缩支架22，可使吸笔30位于承载部40上方，并能吸附承载部40上所有镜片50。
快速检验镜片50缺陷的方法包括如下步骤：将承载部40具有通光部422的表面向下放置在平台上，多个镜片50分别放置在该承载部40的多个容置孔42内，此时，镜片50的基座502位于承载部40容置孔42的容置部420，光学部500位于承载部40容置孔42的通光部422内，且镜片50的光学部500透过该承载部40的通光部422露出；再将影像撷取装置20及吸笔30分别与数据处理装置10电连接。
运行数据处理装置10中相应的程序及影像撷取装置20，将影像撷取装置20的对焦面24调至镜片50底部，再缓缓向上微调，使影像撷取装置20对承载部40上的镜片50近似于进行断层扫描，同时旋转支架22以使影像撷取装置20扫描承载部40上的所有镜片50；影像撷取装置20同时将所扫描的图像传送至数据处理装置10，若镜片无缺陷，数据处理装置10会显示出镜片50的均匀图像；若镜片50中有缺陷，数据处理装置10所显示的镜片50图像中会显示出刮痕或黑点504，并记录该有缺陷镜片50的位置。检测完毕后，启动真空吸笔30，并使其根据数据处理装置10中记录的不合格镜片50位置信息移除有缺陷的镜片50。
可以理解，所述快速检验镜片缺陷的过程中，数据处理装置10扫描镜片50时，还可使数据处理装置10固定在某一位置，而使承载部40放在一可移动平台上，承载部40可分别在竖直方向和水平方向上缓缓移动，从而使影像撷取装置20可扫描承载部40上的所有镜片50。另外，影像撷取装置20也可以从镜片50顶部扫描至底部。显然，不限于使用真空吸笔30将镜片50移除，可使用其它移除装置。
所述快速检验镜片缺陷的方法利用光学显微镜与影像感测器相结合，通过类似断层扫描的方法，可快速找到有缺陷镜片50的位置，从而缩短镜片50检验的时间，而且准确度较高。
Claims (8)
1.一种快速检验镜片缺陷的方法，用于检验镜片，其特征在于：该快速检验镜片缺陷的方法包括以下步骤：
提供一数据处理装置；
提供一影像撷取装置，其整合显微镜及影像感测器于一体，与数据处理装置电连接；
提供一承载部，其中该承载部包括按一定规律排列的多个容置孔；
将镜片放于该承载部的容置孔内；
使用影像撷取装置扫描镜片，并将所扫描的图像传送至数据处理装置；
数据处理装置根据影像撷取装置传送的图像判别镜片是否有缺陷，记录缺陷镜片的位置。
2.如权利要求1所述的快速检验镜片缺陷的方法，其特征在于：所述数据处理装置为一台计算机，其内安装有可识别图像信息并处理相关数据的程序。
3.如权利要求1所述的快速检验镜片缺陷的方法，其特征在于：所述数据处理装置进一步与一移除装置电连接，并将所记录的缺陷镜片位置信息传送至该移除装置。
4.如权利要求3所述的快速检验镜片缺陷的方法，其特征在于：所述移除装置包括一真空吸笔。
5.如权利要求1所述的快速检验镜片缺陷的方法，其特征在于：所述承载部包括一载盘，该载盘用于容置并固持镜片，多个容置孔设于载盘上，且该容置孔为一台阶状通孔，包括同轴设置的通光部和容置部，且该通光部的直径小于该容置部的直径。
6.如权利要求5所述的快速检验镜片缺陷的方法，其特征在于：所述镜片包括光学部及基座，光学部位于基座的中部。
7.如权利要求6所述的快速检验镜片缺陷的方法，其特征在于：所述通光部的直径与镜片光学部的直径相当，该容置部的直径与镜片基座的外圆直径相当。
8.如权利要求3所述的快速检验镜片缺陷的方法，其特征在于：所述承载部两侧各设一可旋转、升降及在水平方向伸缩的支架，影像撷取装置及移除装置分别设在该二支架上。
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