发明内容
本发明所要解决的技术问题,就是针对现有技术的检测方法耗费时间长,工作效率低,误判率高的缺点,提供一种自动检测显示屏的方法。本发明还提供了自动检测显示屏的装置。
本发明解决所述技术问题,采用的技术方案是,显示屏检测方法,包括以下步骤:
a.设置一个光敏电阻阵列,使光敏电阻与显示屏的字符段对应;熄灭所有字符段;
b.点亮第i字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为A;
c.比较阻值A与经验值A1的大小;如果A≥A1,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;
d.熄灭第i字符段,点亮与第i字符段相邻的第Bn字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为Abn;
e.比较差值A-Abn与经验值A2的大小;如果A-Abn≥A2,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;
f.如果第i字符段还有相邻字符段,返回步骤d,直至完成第i字符段所有相邻字符段的检测;
所述经验值A1为:正常的合格产品,点亮第i字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值;
所述经验值A2为:正常的合格产品,点亮第i字符段相邻的第Bn字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值。
本发明的装置包括控制***和光敏电阻阵列;所述控制***用于驱动显示屏,并采集所述光敏电阻阵列中每一光敏电阻的阻值;其特征在于,所述光敏电阻阵列中的光敏电阻,与显示屏的字符段对应;所述检测装置按照如下步骤进行检测:
a.熄灭所有字符段;
b.点亮第i字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为A;
c.比较阻值A与经验值A1的大小;如果A≥A1,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;
d.熄灭第i字符段,点亮与第i字符段相邻的第Bn字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为Abn;
e.比较差值A-Abn与经验值A2的大小;如果A-Abn≥A2,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;
f.如果第i字符段还有相邻字符段,返回步骤d,直至完成第i字符段所有相邻字符段的检测;
所述经验值A1为:正常的合格产品,点亮第i字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值;
所述经验值A2为:正常的合格产品,点亮第i字符段相邻的第Bn字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值。
本发明的有益效果是,完全实现了显示屏的自动化检测,具有准确可靠,检测速度快的优点。能够大量节省人工,大大降低生产成本。
具体实施方式
下面结合附图及实施例,详细描述本发明的技术方案。
本发明利用光敏电阻检测显示屏字符段的发光情况,并与统计平均值进行比较,从而判断字符段是否正常点亮和熄灭,并在检测过程中剔除不合格产品(次品)。
本发明的显示屏检测方法,包括以下步骤:
a.设置一个光敏电阻阵列,使光敏电阻与显示屏的字符段对应;熄灭所有字符段;
b.点亮第i字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为A;
c.比较阻值A与经验值A1的大小;如果A≥A1,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;
d.熄灭第i字符段,点亮与第i字符段相邻的第Bn字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为Abn;
e.比较差值A-Abn与经验值A2的大小;如果A-Abn≥A2,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;
f.如果第i字符段还有相邻字符段,返回步骤d,直至完成第i字符段所有相邻字符段的检测;
所述经验值A1为正常的合格产品,点亮第i字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值;
所述经验值A2为正常的合格产品,点亮第i字符段相邻的第Bn字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值。
进一步的,所述显示屏为发光二极管显示屏或荧光显示屏。
本发明的显示屏检测装置,包括控制***和光敏电阻阵列;所述控制***用于驱动显示屏,并采集所述光敏电阻阵列中光敏电阻的阻值;其特征在于,所述光敏电阻阵列中的光敏电阻,与显示屏的字符段对应;所述检测装置按照如下步骤进行检测:
a.熄灭所有字符段;
b.点亮第i字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为A;
c.比较阻值A与经验值A1的大小;如果A≥A1,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;
d.熄灭第i字符段,点亮与第i字符段相邻的第Bn字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为Abn;
e.比较差值A-Abn与经验值A2的大小;如果A-Abn≥A2,则进入下面步骤,反之,则为次品,剔除;
f.如果第i字符段还有相邻字符段,返回步骤d,直至完成第i字符段所有相邻字符段的检测;
所述经验值A1为:正常的合格产品,点亮第i字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值;
所述经验值A2为:正常的合格产品,点亮第i字符段相邻的第Bn字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值。
进一步的,所述光敏电阻阵列与显示屏紧密接触。
具体的,所述显示屏为发光二极管显示屏或荧光显示屏。
具体的,所述控制***由单片机构成。
更具体的,所述单片机型号为AT89C51。
实施例
首先,根据待检测的显示屏的字符段分布情况,设置一个光敏电阻阵列。即在显示屏的每个字符段的对应位置,设置一个光敏电阻。开始检测时,将光敏电阻阵列与显示屏,以紧密接触的方式安装在一起,以便光敏电阻能够有效感应显示屏字符段点亮时的光信号。
本例的检测流程,参见图1。
熄灭所有字符段,控制***配置数据A1和A2。
点亮第i字符段,控制***采集第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为A。
比较阻值A与数据A1的大小,如果A≥A1,则继续下面步骤,反之,则判断为虚焊或死段次品,剔除。
熄灭第i字符段,点亮与第i字符段相邻的第Bn字符段,测量第i字符段对应光敏电阻的阻值,记为Abn。如图2所示,第i字符段的相邻字符段分别为:第k、l、j、m字符段;如果检测的是第n字符段,则其相邻字符段为:第o、p、q、j字符段。余类推。
比较差值A-Abn与数据A2的大小,如果A-Abn≥A2,则继续下面步骤,反之,则判断为连焊次品,剔除。
点亮第i字符段的另一个相邻字符段,如图2中,分别点亮第k、l、j、m字符段。采集第i字符段对应光敏电阻的阻值,直至完成第i字符段所有相邻字符段的检测,最后得到经过检测的合格品。
上述数据A1为正常的合格产品,在点亮第i字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值,或称为经验值。
同样的,数据A2也是一种统计平均值,是在正常的合格产品中,点亮第i字符段相邻的某个字符段时,第i字符段对应光敏电阻的阻值的统计平均值。
本例的检测装置结构如图3所示,包括电源、控制***和光敏电阻阵列。控制***由单片机AT89C51为核心构成,光敏电阻阵列中,光敏电阻是根据显示屏的字符段结构进行排列的。如图2中的每个字符段,包括表示小数点的第i字符段,都在其对应位置设置有光敏电阻。为了便于光敏电阻感应光信号,检测时,应采用光敏电阻阵列与显示屏紧密接触的安装方式。进行检测时,单片机输出控制信号,通过显示屏的驱动电路PT6311,驱动显示屏的字符段,安上述方式点亮。同时,单片机采集光敏电阻阵列中,相应光敏电阻的阻值,并与配置的数据(A1、A2)进行比较,逐一完成所有字符段的检测。
本发明的显示屏检测装置,采用光敏电阻作为检测传感器,特别适合检测LED显示屏和VFD显示屏。