CN100573168C - 测试计算机面板发光二极管灯及其连接线的***及方法 - Google Patents

测试计算机面板发光二极管灯及其连接线的***及方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种自动测试计算机面板发光二级管灯及其连接线的***，包括一具有GPIO功能的晶片及其管脚、一LED灯及其连接线、一治具、一并口及一可程序化装置。其中，可程序化装置包括：一设定模块、一管脚初始化模块、一管脚输出电平控制模块、一数据读取模块及一比对判断模块。本发明还提供一种自动测试计算机面板发光二级管灯及其连接线的方法。利用本发明所提供的测试计算机面板发光二级管灯及其连接线的***及方法，可以快速的自动化测试LED灯及其连接线，从而在量产LED灯及其连接线时提高效率。

Description

测试计算机面板发光二极管灯及其连接线的***及方法
【技术领域】
本发明涉及一种测试计算机面板的***及方法，特别涉及一种测试计算机面板发光二极管灯及其连接线的***及方法。
【背景技术】
传统的控制计算机前面板发光二极管(Light-Emitting Diode，LED)灯显亮，是通过控制计算机主机板南桥的通用输入输出界面(General Purpose Input Output，GPIO)管脚(PIN脚)电平；比如一双色的LED灯，是通过两个管脚的电平来控制的，一般而言，当控制LED灯显示的两个输入管脚电压差值达到2.0～2.7伏特时，LED灯就会发亮，而低于此值就会熄灭。
当前关于计算机前面板LED灯的测试，是将LED灯连接于计算机主机板的电路板，通过人工眼测其是否明亮，从而判断LED灯及其电路是否合格。由于人工操作时存在误差，以及人工操作时肉眼观测存在局限，因此在判断LED灯的过程中就会出现许多误判。
鉴于以上内容，有必要提供自动测试计算机面板LED电路的方法，该方法可以取代人工操作，并且不需要时刻用眼睛去判断明亮，从而降低误判并且于量产计算机主机时提高量产效率。
【发明内容】
本发明的较佳实施例提供一种自动测试计算机面板发光二级管灯及其连接线的***，该***包括一具有GPIO功能的晶片及其管脚、一发光二极管灯及其连接线、一治具、一并口及一可程序化装置，上述具有GPIO功能的晶片的管脚输出电平至上述发光二极管灯及其连接线，该发光二极管灯及其连接线连接上述治具，该治具输出数据至上述并口，该并口及上述具有GPIO功能的晶片连接上述可程序化装置，该可程序化装置包括：一设定模块，用于在测试发光二极管灯及其连接线前，预先设定上述管脚输出电平后于上述并口得到的对应数据；一管脚初始化模块，是用于将该管脚设定为输出电平方式；一管脚输出电平控制模块，是用于测试发光二极管灯及其连接线时，输出不同电平至发光二极管灯及其连接线；一数据读取模块，是用于测试发光二极管灯及其连接线时，读取上述治具输出至上述并口的数据；及一比对判断模块，比对上述数据读取模块读取的数据与上述设定模块中预先设定的对应数据是否相同，从而判断所测试的发光二极管灯及其连接线是否合格。其中，具有GPIO功能的晶片可以是计算机主机板上的南桥或者输入输出控制晶片(Super Input/Output，SuperI/O)；治具是发光二极管灯及其连接线连接并口的工具；管脚输出电平控制模块所输出的电平种类取决于所测试的发光二极管灯及其连接线的数量。
本发明的较佳实施例还提供一种自动测试计算机面板发光二级管灯及其连接线的方法，该方法包括以下步骤：a.通过一可程序化装置预先设定一具有通用输入输出界面功能的晶片的管脚输出电平后于一并口得到的对应数据，该具有通用输入输出界面功能的晶片的管脚输出电平至上述发光二极管灯及其连接线，该发光二极管灯及其连接线连接一治具，该治具输出数据至上述并口，该并口及上述具有通用输入输出界面功能的晶片连接该可程序化装置；b.该可程序化装置将该具有GPIO功能的晶片的管脚设定为输出电平方式；c.该可程序化装置输出不同电平至该发光二极管灯及其连接线；d.该可程序化装置读取上述治具输出至上述并口的数据；e.该可程序化装置比对该读取的并口数据与上述预先设定的对应数据是否相同；及f.若比对数据相同，则该可程序化装置判断发光二极管灯及其连接线合格；g.若比对数据不同，则该可程序化装置判断发光二极管灯及其连接线不合格。
利用本发明所提供的测试计算机面板发光二级管灯及其连接线的***及方法，可以快速的自动化测试LED灯及其连接线，从而在量产LED灯及其连接线时提高效率。
【附图说明】
图1是本发明较佳实施例测试计算机面板发光二极管灯及其连接线的***架构图。
图2是本发明较佳实施例可程序化装置的功能模块图。
图3是本发明较佳实施例测试计算机面板发光二极管灯及其连接线的方法流程图。
【具体实施方式】
如图1所示，是本发明较佳实施例自动测试计算机面板发光二级管灯及其连接线的***架构图。该***包括一具有GPIO功能的晶片10及其管脚101、一LED灯及其连接线20、一治具30、一并口40及一可程序化装置50，上述具有GPIO功能的晶片10的管脚101输出电平至上述LED灯及其连接线20，该LED灯连及其连接线20连接上述治具30，该治具30输入数据至上述并口40，该并口40及上述具有GPIO功能的晶片10连接上述可程序化装置50。其中，上述具有GPIO功能的晶片10可以是计算机主机板上的南桥或者SuperI/O；上述治具30是用于LED灯的连接线连接并口的工具。
如图2所示，是本发明较佳实施例可程序化装置的功能模块图。该装置包括：一设定模块501，用于在测试发光二极管灯及其连接线20前，预先设定上述管脚101输出电平后于上述并口40得到的对应数据；一管脚初始化模块502，用于将该管脚101设定为输出电平方式；一管脚输出电平控制模块503，用于在测试发光二极管灯及其连接线20时，输出不同电平至发光二极管灯及其连接线20，所输出的电平种类取决于所测试的发光二极管灯及其连接线20的数量；一数据读取模块504，用于读取上述治具30输出至上述并口40的数据；及一比对判断模块505，用于比对上述数据读取模块504读取的数据与上述设定模块501中预先设定的对应数据是否相同，从而判断所测试的发光二极管灯及其连接线是否合格。
例如，判断一个计算机LED灯及其连接线20是否合格，当此LED灯正确连接于计算机主机板后，选择一双线及可连接并口40的治具30，将LED灯及其连接线20连接上述治具30。然后，预先设定上述管脚101输出电平后于上述并口40得到的对应数据。因为判断的是单个的LED灯及其连接线20，那么，针对单个LED灯的两根连接线，就可以设定具有GPIO功能的晶片10的管脚101输出两位电平，高电平用“1”低电平用“0”分别表示，就可以输出“01”、“10”、“11”及“00”四类电平，而单个LED灯的两根连接线要产生电压差才能发亮，因此，当输出“01”及“10”两类电平时LED灯发亮，而输出“11”及“00”两类电平时LED灯不亮。分别预先设定输出上述四类电平时并口40得到的对应数据，比如预先设定具有GPIO功能的晶片10的管脚101输出“01”电平时对应的并口40数据为01。开始测试时，管脚输出电平控制模块503就分别输出“01”、“10”、“11”及“00”四类电平至被测试的单个LED灯及其连接线20，由于被测试的单个LED灯及其连接线20通过治具30连接于并口40，数据读取模块504就于测试时分别读取输出上述四类电平时并口40得到的数据，如果读取的数据与预先设定的并口40对应数据相同，那么比对判断模块505就判断上述被测试的LED灯及其连接线是合格的；相反，如果测试时读取到并口40的数据与预先设定的并口40对应数据不同，那么被测试的LED灯及其连接线20就判断为不合格的。上述测试如果是针对两个或者多个LED灯及其连接线20，就可以根据LED连接线20的数量决定具有GPIO功能的晶片10的管脚101输出电平的种类，比如两个LED灯就有四根连接线，那么就可以输出“0000”、“0011”、“1111”等等种类的电平，只要预先设定输出上述各类电平于并口40得到的对应数据，就可以开始测试并判断LED灯及其连接线是否合格。
如图3所示，是本发明较佳实施例自动测试计算机面板发光二级管灯及其连接线的方法流程图。该方法包括以下步骤：预先设定一具有通用输入输出界面功能的晶片10的管脚101输出电平后于一并口40得到的对应数据，比如预先设定输出电平“0111”后并口40的对应数据0111，输出电平为“1111”后并口40对应的数据0000(步骤S31)；将该管脚101设定为输出电平方式，那么具有GPIO功能的晶片10就可以用来输出电平(步骤S32)；测试时，通过管脚输出电平控制模块503，输出不同电平至该LED灯及其连接线20(步骤S33)；读取一治具30输出至并口40的数据(步骤S34)；比对读取的并口40的数据与上述预先设定的对应数据是否相同(步骤S35)；若比对数据相同，则判断LED灯及其连接线20合格(步骤S36)；若比对数据不同，则判断LED灯及其连接线20不合格(步骤S37)。

Claims (7)

1.一种测试计算机面板发光二极管灯及其连接线的***，包括一具有通用输入输出界面功能的晶片及其管脚、一发光二极管灯及其连接线、一治具、一并口及一可程序化装置，上述具有通用输入输出界面功能的晶片的管脚输出电平至上述发光二极管灯及其连接线，该发光二极管灯及其连接线连接上述治具，该治具输出数据至上述并口，该并口及上述具有通用输入输出界面功能的晶片连接上述可程序化装置，其特征在于，该可程序化装置包括：
一设定模块，用于在测试发光二极管灯及其连接线前，预先设定上述管脚输出电平后于上述并口得到的对应数据；
一管脚初始化模块，用于将该管脚设定为输出电平方式；
一管脚输出电平控制模块，用于在测试发光二极管灯及其连接线时，输出不同电平至发光二极管灯及其连接线；
一数据读取模块，用于在测试发光二极管灯及其连接线时，读取上述治具输出至上述并口的数据；及
一比对判断模块，用于比对上述数据读取模块读取的数据与上述设定模块中预先设定的对应数据是否相同，从而判断所测试的发光二极管灯及其连接线是否合格。
2.如权利要求1所述的测试计算机面板发光二极管灯及其连接线的***，其特征在于，所述具有通用输入输出界面功能的晶片是计算机主机板上的南桥。
3.如权利要求1所述的测试计算机面板发光二极管灯及其连接线的***，其特征在于，所述具有通用输入输出界面功能的晶片是计算机主机板上的输入输出控制晶片。
4.如权利要求1所述的测试计算机面板发光二极管灯及其连接线的***，其特征在于，该治具是发光二极管灯及其连接线连接并口的工具。
5.如权利要求1所述的测试计算机面板发光二极管灯及其连接线的***，其特征在于，所述管脚输出电平控制模块所输出的电平种类取决于所测试的发光二极管灯及其连接线的数量。
6.一种测试计算机面板发光二极管灯及其连接线的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：
通过一可程序化装置预先设定一具有通用输入输出界面功能的晶片的管脚输出电平后于一并口得到的对应数据，该具有通用输入输出界面功能的晶片的管脚输出电平至上述发光二极管灯及其连接线，该发光二极管灯及其连接线连接一治具，该治具输出数据至上述并口，该并口及上述具有通用输入输出界面功能的晶片连接该可程序化装置；
该可程序化装置将该具有通用输入输出界面功能的晶片的管脚设定为输出电平方式；
该可程序化装置输出不同电平至该发光二极管灯及其连接线；
该可程序化装置读取上述治具输出至上述并口的数据；
该可程序化装置比对该读取的并口数据与上述预先设定的对应数据是否相同；及
若比对数据相同，则该可程序化装置判断发光二极管灯及其连接线合格。
7.如权利要求6所述的测试计算机面板发光二极管灯及其连接线的方法，其特征在于，该方法还包括步骤：
若比对数据不同，则该可程序化装置判断发光二极管灯及其连接线不合格。
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Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101169340B (zh) * 2006-10-27 2010-12-08 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 主板发光二极管检测装置及方法
TWI390194B (zh) * 2006-11-10 2013-03-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 主機板發光二極體測試裝置及方法
CN101349726B (zh) * 2007-07-17 2010-10-13 联芯科技有限公司 一种通用输入输出接口的故障检测方法及装置
CN101424722B (zh) * 2007-10-31 2011-01-05 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 主板发光二极管测试***及方法
US7816907B2 (en) * 2008-04-23 2010-10-19 Lantiq Deutschland Gmbh Integrated circuit with a measuring circuit and method of configuring an integrated circuit with a measuring circuit
JP5327489B2 (ja) * 2009-02-20 2013-10-30 キューエムシー カンパニー リミテッド エルイーディーチップテスト装置
CN101907683B (zh) * 2009-06-02 2013-05-08 上海摩波彼克半导体有限公司 数字基带芯片中i2c模块的自动测试方法
CN102129021A (zh) * 2010-01-12 2011-07-20 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 发光二极管测试装置
TWI463149B (zh) * 2010-03-31 2014-12-01 Chi Mei Comm Systems Inc 檢測裝置
CN102759719A (zh) * 2011-04-29 2012-10-31 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 自动测试***及测试方法
CN102270028B (zh) * 2011-07-21 2013-08-28 曙光信息产业股份有限公司 一种基于fpga的龙芯主板自动复位的装置
CN103197164A (zh) * 2012-01-10 2013-07-10 亚旭电子科技(江苏)有限公司 指示灯检测***
KR102345964B1 (ko) * 2016-04-08 2022-01-03 한국전자통신연구원 Usb 기반 조명기기 시험 장치 및 방법
CN106504797A (zh) * 2016-10-10 2017-03-15 郑州云海信息技术有限公司 测试存储器中RAID IO led灯的自动化方法
CN108594105B (zh) * 2018-02-07 2021-02-09 深圳微步信息股份有限公司 主板指示灯控制线路的检测方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4808815A (en) * 1987-03-23 1989-02-28 Genrad, Inc. Apparatus for testing light-emitting devices using probe means having a preselected pattern arrangement
US6208441B1 (en) * 1995-08-04 2001-03-27 Alcatel Optical add/drop wavelength division multiplex systems
US6490037B1 (en) * 2000-11-13 2002-12-03 Test Coach Corporation Method and apparatus for verifying a color of an LED in a printed circuit board

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4611116A (en) * 1984-02-21 1986-09-09 Batt James E Light emitting diode intensity tester
US4755874A (en) * 1987-08-31 1988-07-05 Kla Instruments Corporation Emission microscopy system
US5444390A (en) * 1994-02-02 1995-08-22 Texas Digital Systems, Inc. Means and method for sequentially testing electrical components
US6028441A (en) * 1997-08-14 2000-02-22 Alvord; Robert J. Self-test routine and circuit for LED display

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4808815A (en) * 1987-03-23 1989-02-28 Genrad, Inc. Apparatus for testing light-emitting devices using probe means having a preselected pattern arrangement
US6208441B1 (en) * 1995-08-04 2001-03-27 Alcatel Optical add/drop wavelength division multiplex systems
US6490037B1 (en) * 2000-11-13 2002-12-03 Test Coach Corporation Method and apparatus for verifying a color of an LED in a printed circuit board

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Publication number Publication date
CN1854742A (zh) 2006-11-01
US20060267626A1 (en) 2006-11-30
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