CN100530002C

CN100530002C - 时钟精度的测试方法

Info

Publication number: CN100530002C
Application number: CNB031348858A
Authority: CN
Inventors: 李桂生; 陈定邦
Original assignee: Huawei Technologies Co Ltd
Current assignee: Huawei Technologies Co Ltd
Priority date: 2003-09-26
Filing date: 2003-09-26
Publication date: 2009-08-19
Anticipated expiration: 2023-09-26
Also published as: CN1601407A

Abstract

本发明公开了一种时钟精度的测试方法，该方法包括以下步骤：a)在老化前测试环节向实时时钟模块写入调测实时时钟；b)在老化后FT测试环节读出实时时钟模块中所述的调测实时时钟，然后与本地调测实时时钟比较，并获取精度测试结果。本发明由于合理利用了老化固有时间，时钟精度测试的时间较长，因此，与现有技术相比，本发明的测试误差相对降低；另外由于本发明老化后FT测试完即结束精度测试，按照上述早期发现能降低成本的理论，本发明相对现有技术降低了生产制造成本；本发明中还采用网络时间协议同步调测终端的实时时钟，更进一步提高了测试时钟的精度。

Description

时钟精度的测试方法

技术领域

本发明涉及通信产品测试方法，尤指一种通信产品时钟精度的测试方法。

背景技术

目前，几乎所有通信产品都有自身的实时时钟模块，其主要功能是为产品提供高精度实时时钟。而对生产出来的通信产品，要求不论是在单板上电还是断电或者故障的情况下该***都能不间断地提供时钟信号。由于所述时钟对产品在计费、服务等方面都起到比较重要的作用，因此，对其精度的测试是电子产品测试的关键步骤。

事实上，为了使生产出来的通信产品符合要求，产品生产过程中的测试环节是必不可少的。图1是现有通信产品生产测试的工艺流程，一个通信产品从单板加工到发货以前包括以下的测试环节：结构测试11、ESS(环境应力筛选，即老化)12、老化后FT2测试(功能测试)13和发货前ST测试(***测试)14。其中老化前结构测试11又包括AOI(自动光学检测)110、AXI(自动X射线检测)111和ICT(在线测试)112。实际操作中，根据单板实际情况，以上的测试环节会略有调整，如在没有ICT测试设备的情况下，一般会增加老化前FT1测试环节。

结构测试11中，ICT测试112是最常用的一种标准测试手段，其通过对在线元器件(制成板上的元器件)的电性能及电气连接进行测试来克服生产制造中存在的缺陷及找出不良元器件。随着ICT设备的智能化，目前ICT设备除了完成常规在线测试外，还能完成逻辑器件加载、Flash加载等功能。

另外，为防止老化时电源短路等故障情况的发生，上述老化前测试环节也是必不可少的，根据“浴盆曲线”的原理，老化前测试环节可以剔除大部分器件和加工缺陷。一般，在产品经过老化后还需经过1～2个测试环节才能出厂，如图1所示的，大多数情况下是先经过老化后FT测试，测试后入库，在发货前根据需要装配成整机进行发货前ST测试。个别产品或单板在发货前会根据自身情况选择FT、ST其中一个测试环节进行测试。

现有对产品的实时时钟模块时钟精度的测试，一般在老化后FT测试环节进行，有如下的两种方案：

第一种技术方案，在老化后FT测试环节中向实时时钟模块的RTC(实时时钟)芯片写入调测计算机的实时时钟，在所述老化后FT测试环节完成前读出所述RTC芯片中的时钟，通过与调测计算机的实时时钟比较可以测试实时时钟模块的时钟精度；其中时钟的写入、读取都是由单板上微处理器通过所述RTC芯片通信接口实现；

上述技术方案是一种最简单的实时时钟精度测试方案，但存在下面的缺点：由于FT测试环节测试时间一般都不会超过1个小时，显然这样短的时间得到的实时时钟精度是不够的，测试存在较大误差；

第二种技术方案，在老化后FT测试环节向实时时钟模块的RTC芯片写入调测计算机的实时时钟，在发货前ST测试环节读取所述RTC芯片中的实时时钟并与调测计算机的实时时钟比较以测试时钟精度，在该方案中，时间的写入、读取也是由单板上微处理器通过所述RTC芯片通信接口实现；

所述第二种技术方案存在下面的缺点：由于是在整机发货前，即ST测试后才能发现时钟精度的故障，给发货造成了很大的压力，并且按照早期发现故障能大大降低调测成本的理论，上述发货前调测时钟精度的方案会大大增加生产制造成本。

发明内容

为解决现有技术通信产品实时时钟模块时钟精度测试中存在较大误差的问题，本发明提出一种时钟精度的测试方法，采用该方法可以减少精度测试的误差。

具体的，本发明提出的时钟精度的测试方法，用于测试通信产品实时时钟模块的时钟精度，所述方法包括以下步骤：

a)在通信产品的老化前测试环节向实时时钟模块写入调测实时时钟，所述老化前测试环节为在线测试环节或老化前功能测试环节；

b)在老化后功能测试环节读出实时时钟模块中所述调测实时时钟，然后与本地调测终端时钟比较，并获取精度测试结果。

进一步，步骤a)在在线测试环节向实时时钟模块写入调测实时时钟是将在线测试设备的两个测试针分别接在实时时钟模块的串行数据输入口和串行时钟输入口，由所述在线测试设备向实时时钟模块写入所述调测实时时钟，包括以下步骤：

a11)在线测试设备向实时时钟模块的实时时钟芯片发送通信开始信号；

a12)在线测试设备模拟单板微处理器向所述实时时钟芯片写入包括实时时钟芯片地址及读指示位的数据；

a13)所述实时时钟芯片回送响应信号；

a14)在线测试设备开始向所述实时时钟芯片写入调测实时时钟；

a15)所述调测实时时钟写入完毕，在线测试设备发送停止位或发送新一轮通信开始信号结束本次通信。

另外，所述在在线测试环节写入调测实时时钟还包括在线测试设备将调测实时时钟写入后，将所述写入的调测实时时钟读出来，进行校验，以确保写入的数据无误。

另外，步骤a)在老化前功能测试环节写入调测实时时钟的步骤包括：

a21)单板微处理器向实时时钟模块的实时时钟芯片发送通信开始信号；

a22)单板微处理器向所述实时时钟芯片写入包括实时时钟芯片地址及读指示位的数据；

a23)所述实时时钟芯片回送响应信号；

a24)单板微处理器开始向所述实时时钟芯片写入调测实时时钟；

a25)所述调测实时时钟写入完毕，单板微处理器发送停止位或发送新一轮通信开始信号结束本次通信。

进一步，步骤b)在老化后功能测试环节读出所述实时时钟模块中的调测实时时钟的步骤包括：

b1)单板微处理器向所述实时时钟模块的实时时钟芯片发送通信开始信号；

b2)单板微处理器向所述实时时钟芯片写入包括实时时钟芯片地址及写指示位的数据；

b3)所述实时时钟芯片开始向单板微处理器发送调测实时时钟；

b4)所述调测实时时钟发送完毕，单板微处理器发送停止位或发送新一轮通信开始信号结束本次通信。

优化的，所述方法还包括，采用网络时间协议使各调测终端***的时间与网络中指定的时钟服务器同步。

与现有技术相比，本发明具有以下的优点：

1、在ICT测试环节，由ICT设备模拟微处理器与实时时钟模块的RTC芯片通信，写入调测实时时钟，或在老化前FT测试环节写入调测实时时钟，然后在老化后FT测试环节读取先前写入的调测实时时钟并与本地调测实时时钟比较，由于测试跨越了老化环节，本发明时钟精度测试时间相对较长，因此，与现有技术相比，本发明的测试误差相对降低；

2、由于本发明老化后FT测试完即结束时钟精度测试，按照上述早期发现能降低成本的理论，本发明相对现有技术降低了生产制造成本；

3、本发明中还采用网络时间协议同步各个调测终端***的实时时钟，更进一步提高了测试时钟的精度。

附图说明

图1是现有技术电子产品生产测试的工艺流程示意图；

图2是现有实时时钟模块组成示意图；

图3是本发明具体实时例的流程图；

图4是本发明时钟精度的测试方法所采用RTC芯片DS1307器件管脚示意图；

图5是图4所示的DS1307数据传递时序图；

图6是图4所示的DS1307接收数据模式时序图；

图7是图4所示的DS1307发送数据模式时序图；

图8是本发明时钟精度的测试方法中ICT设备模拟单板微处理器向DS1307写入实时时钟的流程图；

图9是本发明时钟精度的测试方法中老化前FT测试环节向实时时钟模块的RTC芯片写入调测实时时钟的流程图；

图10是本发明时钟精度的测试方法中在老化后FT测试环节单板微处理器从实时时钟模块的RTC芯片读取老化前写入的调测实时时钟的流程图。

具体实施方式

下面结合附图以具体实施方式进一步说明本发明的方法。

首先来看通信产品中的实时时钟模块，通信产品中，所需的实时时钟通常是由产品控制板的实时时钟模块提供。

参考图2是现有通信产品中实时时钟模块组成示意图，所述实时时钟模块主要包括三个基本功能部分：晶振模块201、电源模块202和RTC(实时时钟)芯片203；

所述晶振模块201主要功能是给RTC芯片203提供高精度的频率时钟；

所述电源模块202的主要功能是给RTC芯片203提供两个工作电源。一个主用电源，由外部电源转换提供；一个备用电源，由单板上的备用电池提供；

RTC芯片203一般具有实时时钟、地址寄存和用户预留的三种寄存器结构。其通过串行口与单板微处理器通信以便获取实时时钟，其可根据月份和闰年的情况自动调整月份的结束日期。时钟可由用户决定是以24小时制式或12小时制式工作。而在主用电源失效的情况下，还可由备用电源继续提供晶体振荡并维持芯片在低功耗模式下工作。控制逻辑控制RTC芯片选择使用主用电源还是备用电源。

下面说明实时时钟模块的工作原理：

通常单板微处理器通过与RTC芯片的通信接口向RTC芯片的实时时钟寄存器写入实时时钟。RTC芯片则给晶体提供激励，使晶体产生一个基准频率时钟提供给RTC芯片，RTC芯片内部分频得到实时时钟基准，自动更新实时时钟寄存器。单板在上电时RTC芯片工作的电压是用的外部电源提供的电压，此时单板微处理器可以读/写RTC芯片内部实时时钟。例如，在现有技术一和现有技术二中，都是通过单板微处理器向RTC芯片读/写实时时钟。

当外部电源提供的电压低于某特定值时，RTC芯片由控制逻辑控制自动采用本板电池提供的电压，并控制RTC芯片进入低功耗状态。

而从背景技术对现有技术的分析中可看出实时时钟精度测试需要测量时间较长以保证精度测试的误差较小；同时从成本考虑，则需尽量保证测试越早完成越好以便降低生产的成本。图3是本发明具体实施例的流程图，本发明基于以上两点的考虑，主要采取以下的步骤：

步骤301在老化前测试环节向实时时钟模块写入调测实时时钟，老化前测试环节一般为ICT测试环节，在没有ICT测试的情况下可采用老化前FT测试，即可在ICT测试环节中或老化前FT测试环节中向RTC芯片写入所述的调测实时时钟；

步骤302在老化后FT测试环节读出所述实时时钟模块中的所述调测实时时钟，然后与本地调测实时时钟比较，并获取时钟精度测试的结果。

采用上述的方法，不但可以使测试精度达到实时时钟模块所要求的精度，也可以在生产测试早期发现故障单板、剔除不良芯片。

下面以一典型实施例进行说明，本实施例实时时钟模块的RTC芯片采用DS1307，请看图4所示的DS1307器件管脚示意图，所述DS1307包括如下管脚：

管脚8 VCC：主电源输入

管脚1、2 X1、X2：连接32.768KHz晶体

管脚3 Vbat： +3V电池输入端

管脚4 GND：地

管脚5 SDA：串行数据

管脚6 SCL：串行时钟

管脚7 SQW 方波输出

如前述实时时钟模块的原理说明，DS1307通过串口SDA、SCL与单板微处理器通信接口I²C总线接口相连并进行通信。下面先对现有技术单板微处理器与RTC芯片通信的原理进行说明，以更进一步揭示本发明通过ICT设备模拟单板微处理器与RTC芯片通信的思想。

图5-图7是单板微处理器与图4所示RTC芯片通信的时序图。

其中图5是图4所示DS1307的数据传递时序图，通信总是由单板微处理器发起，单板微处理器首先向DS1307发送一个通信开始信号S，然后开始发送数据，以8位数据为一组数据发送，其中第一个8位数据位中前7位是DS1307的地址，第8位则是读/写指示位，以后开始传送有效数据，直到单板微处理器发送停止信号或新一轮通信开始信号终止此次通信过程。

DS1307有两种工作模式：接收数据模式和发送数据模式，图6是图4所示DS1307接收数据模式时序图，在接收数据模式下单板微处理器向DS1307写入数据。通信过程如下：单板微处理器向DS1307发送一个通信开始信号S，接下来发送的8位数据位中前7位是DS1307设备地址，如“1101000”，第八位则是读/写指示位“1”或“0”，其中“1”代表读有效，“0”则代表写有效。DS1307接收到此信息后，回送一个响应信号“ACK”。随后开始正常通信，即单板微处理器向DS1307发送8位数据位，DS1307向单板微处理器发送响应信号“ACK”，直至单板微处理器发送停止信号P或新一轮通信开始信号终止此次通信过程。

图7是图4所示DS1307发送数据模式时序图，在发送数据模式下，DS1307向单板微处理器上报有用信息，如：实时时钟、用户数据等信息。在此模式下仍然是单板微处理器发起通信过程。首先单板微处理器发送一个通信开始信号S，在接下来的8位数据位中发送7位DS1307设备地址，如“1101000”和1位读有效信号“1”。DS1307接收到此信息后，回送一个响应信号“ACK”。随后开始正常通信，DS1307向单板微处理器发送8位数据，单板微处理器向DS1307发送响应信号“ACK”，直至单板微处理器响应DS1307的“NACK”信号终止通信。

上述详细说明了单板微处理器与DS1307通信的过程。下面对老化前ICT测试环节向DS1307写入调测实时时钟为例对本发明进行说明。

本发明在ICT测试环节写入调测实时时钟是由ICT设备模拟单板微处理器进行的。由于在ICT测试环节中单板不上电，因此，要在ICT测试环节利用单板微处理器实现向DS1307写入实时时钟显然不可行，为此，可利用ICT设备进行上述的工作。写入前，先把ICT设备的两个测试针分别连在实时时钟模块的串行数据输入口SDA和串行时钟输入口SCL上。在SCL上传输时钟信号，在SDA上传输数据信号。I²C总线的时钟信号、通信的开始和停止条件都由ICT设备提供，调测实时时钟也由ICT设备产生。传送数据时，8位数据位为一组，接收端每收到8个位的数据，就回发送端一个响应位(ACK)通知发送端成功接收。

通信总是由ICT设备发起，第一个8位数据中前7位是DS1307的地址，第8位是读/写指示位。以后开始8位数据位为一组，发送有效数据，直至ICT设备发送停止信号或新一轮通信开始信号终止此次通信过程。

下面具体说明ICT设备向被测单板上DS1307写入调测实时时钟的过程。

写入调测实时时钟之前，在DS1307的接收数据模式下，ICT设备向DS1307时钟寄存器的第0寄存器的最后一位写入1，以禁止DS1307的时钟在进行时钟读写时运行，并且待ICT校验完成之后，再使寄存器内实时时钟正常走动，这一步主要是为了保持时间的前后一致，用于ICT设备对写入的时间进行校验。

上述校验正确即可向DS1307写入调测实时时钟了，所述调测实时时钟可以是一个时间服务器的时间也可以是ICT调测终端***的时间。所述时间服务器是提供时间标准的机器，这里以采用ICT调测终端***时间为例，具体实施时，用ICT设备调测***的时间命令，获取***当前的时间作为调测实时时钟，由于DS1307的时钟数据在时钟寄存器中为连续的7个字节，共56位，有特定的格式。所以要把获取的***的时间按照时钟寄存器的格式要求，转化为一个56位的数组，然后在DS1307的数据接收模式中，开始向所述DS1307写入调测实时时钟，参考图8所示本发明ICT设备模拟单板微处理器向DS1307写入调测实时时钟的流程图，包括以下的步骤：

步骤801 ICT设备向DS1307发送一个通信开始信号；

步骤802以8位数据为一组，ICT设备开始向DS1307写入数据，即首先写入8位数据，所述8位数据中前7位数据位是DS1367的地址，最后1位则是读指示位；

步骤803 DS1307向ICT设备回送响应信号，开始正常的通信，ICT设备向DS1307发送调测实时时钟，根据要求顺次把获取的***时间写入DS1307的时钟寄存器中；

步骤804时钟发送完毕，ICT设备发送停止位或新一轮通信开始信号终止此次通信过程。

上述方法，在DS1307的数据发送模式中还需把时钟寄存器中先前写入的调测实时时钟读出来，进行校验，以确保写入的时钟内容无误；最后在DS1307的接收数据模式下，还需向DS1307的第0寄存器的最后一位写入0，然后在数据发送模式下读出这个“0”，并校验这个“0”是否正确写入，所述“0”使能DS1307中的振荡器，使时钟正常运行，以上就完成了对DS1307写入调测实时时钟的操作。

本发明另一个在老化前测试环节写入调测实时时钟可施行的案是在老化前FT测试环节写入调测实时时钟，其原理已在前面述及，都是通过本地串口、网口或Telnet(远程登陆)控制单板上的微处理器完成对RTC芯片的读/写，这里简单描述如下，参考图9，本发明老化前FT测试环节向RTC芯片DS1 307写入调测实时时钟包括以下步骤：

步骤901单板微处理器向DS1307发送通信开始信号发起通信；

步骤902开始发送数据，单板微处理器向DS1307写入8个数据位，所述8个数据位前7位是DS1307地址，第8位是读指示位；

步骤903 DS1307回送响应信号；

步骤904单板微处理器开始向ICT设备写入调测实时时钟，写入完毕，单板微处理器发送停止信号或新一轮通信开始信号终止此次通信过程。

这里所述写入的调测实时时钟可由时间服务器或老化前FT调测终端***获取。

上述通过两个实施例分别说明了在老化前测试环节向RTC芯片DS1307写入实时时钟的方法，在经过老化后，进入老化后测试流程。还参考图1所示现有通信产品生产测试的工艺流程，写入调测实时时钟到DS1307是在老化前的ICT测试环节或老化前FT测试环节，然后在老化后的FT测试环节将写入DS1307的调测实时时钟读出来，参考图10，在老化后FT测试环节单板微处理器从DS1307读取老化前写入的调测实时时钟，包括以下步骤：

步骤s101单板微处理器向DS1307发送通信开始信号发起通信；

步骤s102开始发送数据，单板微处理器向DS1307写入8位数据位，所述8位数据位前7位是DS1307地址，第8位是写指示位；

步骤s103 DS1307回送响应信号；

步骤s104 DS1307开始向单板微处理器发送调测实时时钟，发送完毕，单板微处理器发送停止位或新一轮通信开始信号终止通信流程。

上述读出老化前向DS1307时钟积存器中写入的调测实时时钟后，将所述的调测实时时钟与本地调测实时时钟比较，即可获取精度测试的结果。

所述的本地调测实时时钟可以是老化后FT调测终端***时间，也可以是其他***的时间，只要所述的本地调测实时时钟与写入前的调测实时时钟同步即可。

由于在读取与写入之间有老化环节，单板在经过ICT测试环节或老化前FT测试环节后一般要经过至少2天的时间才能进行老化后测试。因此，本发明的方法能达到很高的测试精度，远远高于在一个测试环节读/写调测实时时钟时的精度测试，而且在测试前期就可以检测出故障单板，有利于降低生产成本。

实际测试中，实时时钟模块精度测试的指标一般随器件和产品要求不同而不同。对实时时钟模块精度要求高的产品测试的精度要求也比较高。可采用NTP(网络时间协议)进一步提高测试的精度。

NTP协议是一个应用层协议，主要用于分布式时间服务器和客户端之间进行时间同步。一般称提供时间标准的机器为时间服务器，接收时间服务的机器称为客户端。可以使一个调测终端同步另一个的时间，或者两个都同步一台标准服务器的时间，下面对本发明应用NTP协议进一步提高测试精度进行说明。

本发明中，作为优化采取的步骤，对测试涉及的各调测终端***，可以采用NTP协议同步各调测终端***的时间，也即使各调测终端***的时间与网络中指定的时钟服务器时钟同步，举例说明，一个应用的例子：windows操作***环境下，在局域网中要使局域网中某个调测终端***的时间与某个时间服务器同步。可以通过“net time”这个命令来同步局域网内的时间。执行该“net time”命令后，即可按照NTP协议的方法同步局域网内的时间，应用方法如下：“<服务器名>”这个部分换成实际使用的服务器名即可(也可使用IP地址)。net time、、\\<服务器名>/set/yes如：net time\\111.11 1.111.111/set/yes当运行完成后，即可生效，本机时间和时间服务器同步。此命令可放在Autoexec.bat中或计划任务中执行。该命令还可灵活应用，可以节约不少时间和精力。应用NTP协议，使两个调测终端的时间都与服务器时间同步，可大大提高测试的精度，在具体实施时还有多种方式，这里不在赘述。

另外还可采用下面的方法进一步提高时钟精度，即在老化后测试环节中进行实时时钟模块精度测试时读出ICT5备在Flash(闪存)和NVRAM(非易失性随机访问存储器)等非易失性存储器写入的时间，与调测终端本地的时间比较，确定实时时钟模块内实时时钟写入和读出所经过的时间长度，按要求计算出实时时钟模块精度测试的误差门限，这样可以实现高精度要求的测试，测试误差达到最高十几到几十ppm的精度。

例如，一个被测RTC芯片的精度是10ppm，ICT测试时写入RTC芯片的实时时钟是2003-05-20 10:00:00，这个时间同时保存在SRAM中，经过老化后，在老化后测试环节上读取的实时时钟是2003-05-22 15:00:00，同时读取SRAM(静态随机存储器)中保存的ICT写入的时间是2003-05-20 10:00:00，调测终端可以计算机出时间间隔是53小时0分0秒。按精度要求是10ppm计算，误差允许的范围是：53×24×60×60×10÷1000000＝45.792＝45秒。

综上，本发明采用在老化前测试环节写入调测实时时钟，特别是采用ICT设备模拟单板微处理器与RTC芯片之间的接口协议，向RTC芯片写入调测实时时钟，经过老化测试环节后，在老化后FT测试环节读出所述写入的调测实时时钟，并与本地调测终端的实时时钟比较。由于老化环节时间较长，因此，时钟精度测试的时间也较长，测试误差相对现有技术小；另外，本发明还运用了NTP协议同步读/写两个调测终端的时间，因此，测试精度相对更高。

以上所述，仅以优选实施例说明了本发明通过在老化前测试环节写入调测实时时钟及老化后FT测试环节读出所述写入的调测实时时钟并与本地调测终端时钟比较获得实时时钟模块时钟精度测试结果的核心思想，非因此即局限本发明的权利范围，事实上，在利用NTP协议同步调测终端时间的方案还有多种，因此，在不脱离本发明思想的情况下，凡运用本发明说明书及附图内容所为的等效变化，均理同包含于本发明的权利要求范围内。

Claims

1、一种时钟精度的测试方法，用于测试通信产品实时时钟模块的时钟精度，其特征在于，该方法包括以下步骤：

b)在老化后功能测试环节读出实时时钟模块中所述调测实时时钟，然后与本地调测实时时钟比较，并获取精度测试结果。

2、根据权利要求1所述时钟精度的测试方法，其特征在于，步骤a)在线测试环节向实时时钟模块写入调测实时时钟是将在线测试设备的两个测试针分别接在实时时钟模块的串行数据输入口和串行时钟输入口，由所述在线测试设备向实时时钟模块写入所述调测实时时钟，包括以下步骤：

a13)所述实时时钟芯片回送响应信号；

3、根据权利要求2所述时钟精度的测试方法，其特征在于，步骤a14)所述调测实时时钟是在线测试调测终端***的时间。

4、根据权利要求2所述时钟精度的测试方法，其特征在于，还包括在线测试设备将调测实时时钟写入后，将所述写入的调测实时时钟读出来，进行校验。

5、根据权利要求1所述时钟精度的测试方法，其特征在于，步骤a)在老化前功能测试环节写入调测实时时钟的步骤包括：

a23)所述实时时钟芯片回送响应信号；

6、根据权利要求5所述时钟精度的测试方法，其特征在于，步骤a24)所述调测实时时钟是老化前功能测试调测终端***的时间。

7、根据权利要求1所述时钟精度的测试方法，其特征在于，步骤b)在老化后功能测试环节读出所述实时时钟模块中的调测实时时钟的步骤包括：

8、根据权利要求1所述时钟精度的测试方法，其特征在于，步骤b)所述本地调测实时时钟是老化后功能测试调测终端***时间。

9、根据权利要求1-8任一项所述时钟精度的测试方法，其特征在于，所述方法还包括，采用网络时间协议使各调测终端***的时间与网络中指定的时钟服务器同步。