CN100452202C - 相变化光盘 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种相变化光盘，包含一第一基板；一介电积层依序具有一第一介电层、一第二介电层，以及一第三介电层，该第一介电层的折射率与该第三介电层的折射率大于该第二介电层的折射率；该介电积层，其设于第一基板上，该介电积层的光学厚度介于86nm至460nm之间；一第一记录层，其设于该介电积层上；一第一反射层，其设于该第一记录层之上；以及一第二基板，其设于该第一反射层上。
Description
技术领域
本发明涉及一种光信息储存媒体，特别是一种相变化光盘。
背景技术
过去在发展可重复读写光盘时，主要有两大统，一为磁光盘片(Magneto-Optical Disc，MO)；另一则是相变化光盘(Phase-ChangeOptical Disc)。随着技术的演进及市场的变化，目前是以相变化型记录媒体占优势，包含可重复读写型光盘片(CD-RW)、可擦写式数字激光视盘(DVD-RW，DVD+RW)以及动态随机记忆数字激光视盘(DVD-RAM)等等。
相变化光盘采用激光照射盘片，通过激光束的能量，使相变化光盘的记录层材料于结晶相(crystalline)及非晶相(amorphous)结构间转换。
目前来说，相变化光盘普遍存在的问题，即是经过多次重复写入与抹除资料的过程后，相变化光盘容易损坏，而无法继续使用。
然而，决定光信息储存媒体品质优劣关系于有抖动偏差(Jitter)、反射率(Reflectivity)，以及调制比(Modulation rate)三个因素，当然，影响相变化光盘的因素也不例外，规格书中对于相变化光盘且为一数字激光视盘(DVD+RW)的抖动偏差制定的范围小于8.0％、反射率应介于18％至30％之间，而调制比则需大于0.55。
请参阅图3，为一种相变化光盘3，具有一第一基板31、一设于第一基板31上的介电积层32、一设于介电积层32上的记录层33、一设于记录层33上的反射层34，以及一设于反射层34上的第二基板35。
于是，本发明人通过界定相变化光盘的介电积层光学厚度，使得相变化光盘的量测结果能符合规格书所制定的范围，以获得较佳相变化光盘的较佳调制比数值，使得相变化光盘的结晶时与非结晶时的反射率比值差异较大，如此一来，使得相变化光盘可重复写入抹除多次，而具有较佳的生产品质。
发明内容
有鉴于上述课题，本发明的目的在于克服现有技术的不足与缺陷，提出一种相变化光盘，其可重复写入抹除多次。
为达上述目的，本发明提供一种相变化光盘，包含一第一基板；一介电积层依序具有一第一介电层、一第二介电层，以及一第三介电层，该第一介电层的折射率与该第三介电层的折射率大于该第二介电层的折射率；该介电积层，其设于第一基板上，该介电积层的光学厚度介于86nm至460nm之间；一第一记录层，其设于该介电积层上；一第一反射层，其设于该第一记录层之上；以及一第二基板，其设于该第一反射层上。
承上所述，依因本发明的相变化光盘，通过介电积层的光学厚度的制定，使得相变化光盘的量测结果皆能符合规格书所制定的范围内，而具有较佳调制比的数值，进而增加相变化光盘得以重复读取写入的次数，由此可见，本发明的相变化光盘确实具有良好的生产品质。
附图说明
图1为本发明第一实施例的相变化光盘的示意图；
图2为本发明第二实施例的相变化光盘的示意图；
图3为现有的相变化光盘的示意图；
表1为本发明进行光学厚度范围测量所使用的条件与方法；
表2为一实验数据，显示具有不同光学厚度的相变化光盘；
表3为一实验结果，显示表2的各相变化光盘的量测结果。
图中符号说明
1 相变化光盘
11 第一基板
12 第一介电积层
121 第一介电层
122 第二介电层
123 第三介电层
13 第一记录层
14 第一反射层
15 第二基板
16 第四介电层
2 相变化光盘
21 第一基板
22 第一介电积层
23 第一记录层
24 第一反射层
25 黏合层
26 第二介电积层
27 第二记录层
28 第二反射层
29 第二基板
3 相变化光盘
31 第一基板
32 介电积层
33 记录层
34 反射层
35 第二基板
具体实施方式
以下将参照相关附图，说明依本发明较佳实施例的相变化光盘(Phase-Change Optical Disk)。
请参阅图1所示，为本发明第一较佳实施例的相变化光盘1，本实施例中，相变化光盘1为一单面单层(single side single layer)的数字激光视盘(DVD+RW)，其包含有一第一基板11、一第一介电积层12、一第一记录层13、一第一反射层14，以及一第二基板15。
第一基板11的材质可为聚碳酸酯(polycarbonate)所制成，并具有一摆动沟槽(wobbling groove)，且沟槽深度约为0.74μm。此外，第一基板11具有双折射率(birefringence)小于60nm，第一基板11的折射率介于1.50至1.65之间，而且，第一基板11的厚度介于0.59mm至0.61mm之间。
第一介电积层12其设于第一基板11上，第一介电积层12的光学厚度介于86nm至460nm之间。第一介电积层12可为仅具有一介电层的介电积层，而本实施例中，第一介电积层12具有依序设于第一基板11上的一第一介电层121、一第二介电层122，以及一第三介电层123，本实施例中，第一介电层121与第三介电层123由硫化锌-二氧化硅(ZnS-SiO2)材质制成，所以，第一介电层121与第三介电层123的折射率约为2.1，第二介电层122由二氧化硅(SiO2)的材质制成，所以，第二介电层122的折射率约为1.5。当然，本发明并不限定第一介电积层12中各介电层的材质，而是，必须依循第一介电积层12中的第一介电层121与第三介电层123具有的折射率必须大于第二介电层122的折射率的设置规则。此外，第一介电积层12亦可具有多个介电层，同样地，必须将各偶数介电层的折射率小于各奇数介电层的折射率即可。
第一记录层13设于第一介电积层12上，且第一记录层13的材质为银/铟/锑/碲/锗(Ag/In/Sb/Te/Ge)合金，而且，第一记录层13具有约原子百分比一至原子百分比五的锗(Ge)，此外，第一记录层13于未写入信息时，其折射率约为2.3。
第一反射层14设于第一记录层13之上，且第一反射层14的材质选自铝合金(aluminum alloy)、钛合金(titanium alloy)、铜合金(copperalloy)及银合金(silver alloy)至少其中之一，且第一反射层14的厚度介于60nm至200nm之间。
第二基板15设于第一反射层14上，且第二基板15的材质可为聚碳酸酯树脂(polycarbonate)所制成。
本实施例中，相变化光盘1更包含一第四介电层16，其设于第一记录层13与第一反射层14之间，且第四介电层16由硫化锌-二氧化硅(ZnS-SiO2)材质制成，所以，第四介电层16的折射率约为2.1。
以下依据表1中的实验条件，将相变化光盘1置于波长介于650nm至665nm下，使用多脉冲烧录策略(multipulse writing strategy)进行烧录，接着，请参照表2与表3的实验数据，进行界定本发明的相变化光盘1各层光学厚度的实验：
如表2所示，实验组1中，第一介电积层、第一记录层，以及第四反射层的光学厚度分别为158.5nm、34.5nm，以及77.7nm，实验组2中，第一介电积层、第一记录层，以及第四介电层的光学厚度分别为403.5nm、50.6nm，以及71.4nm。对应表3中的量测结果，实验组1的抖动偏差、调制比，以及反射率分别为7.1％、0.69，以及26.0％，实验组2的抖动偏差、调制比，以及反射率分别为7.0％、0.67，以及24.5％，皆符合规格书中所制定的范围内，而对照组1至对照组4略为调整第一记录层与第一介电层的光学厚度，如表3中所示，对照组1至对照组4的抖动偏差、调制比、或反射率超出规格书所制定的范围外。由此推知，第一记录层的光学厚度介于20nm至60nm之间，而第四介电层的光学厚度介于21nm至95nm之间。本实施例中，第一记录层13的材质为银/铟/锑/碲/锗(Ag/In/Sb/Te/Ge)合金，而且，第一记录层13具有约原子百分比一至原子百分比五的锗(Ge)，其折射率约为2.3，第一记录层13的厚度介于9nm至26nm之间时，满足其光学厚度必须介于20nm至60nm的需求。第四介电层16由硫化锌-二氧化硅(ZnS-SiO2)材质制成，第四介电层16的折射率约为2.1，当第四介电层的厚度介于10nm至45nm之间时，满足其光学厚度必须介于21nm至95nm的需求。
接着，表2中实验组3的第一介电层、第二介电层，以及第三介电层的光学厚度分别为126.0nm、135.0nm，以及199.4nm，使得第一介电积层的总光学厚度为460.4nm。实验组3的量测结果，显示抖动偏差、调制比、反射率分别为7.5％、0.67，以及24.0％，而其重复读写能力为7500次，符合规格书所制定的范围中。
请比较对照组5，当第三介电层的光学厚度逐渐增加至203.7nm，此时，第一介电积层的光学厚度为464.7nm，结果表3显示对照组5的量测结果超出规格书所制定的范围外，对照组6将第三介电层的光学厚度固定为226.8nm，而逐渐减少第二介电层的厚度。由实验数据中发现，当第二介电层厚度为109.0nm，第一介电积层的光学厚度为461.8nm，对照组6的量测结果超出规格书所制定的范围，但是，若继续减少第二介电层的厚度，对照组6的量测结果则符合规格书所制定的范围内，由此可见，第一介电层、第二介电层，以及第三介电层各层的光学厚度不直接影响量测结果，而真正影响量测结果的主因为第一介电积层的光学厚度。同理，请比较实验组5与对照组9、对照组10，以及实验组6与对照组11、对照组12，于是，经由实验结果归纳，可推得第一介电积层的光学厚度范围介于86nm至460nm之间。
请参阅图2所示，为本发明第二较佳实施例的相变化光盘2，其为一单面双层(single side dual layer)的数字激光视盘(DVD+RW)，包含有一第一基板21与一第二基板29，而由第一基板21至第二基板29方向依序叠设有一第一介电积层22、一第一记录层23、一第一反射层24、一黏合层25、一第二介电积层26、一第二记录层27，以及一第二反射层28，由于，第一基板21、第一介电积层22、第一记录层23、第一反射层24，以及第二基板29的结构与前揭实施例相同，在此容不赘述。
由于第一介电积层22的光学厚度介于86nm至460nm之间，使得本发明的相变化光盘可符合规格书所制定抖动偏差、反射率，以及调制比的范围，使得相变化光盘2具有良好的品质。
承上所述，依因本发明的相变化光盘，通过介电积层的光学厚度的制定，使得相变化光盘的量测结果皆能符合规格书所制定的范围内，而具有较佳调制比的数值，进而增加相变化光盘得以重复读取写入的次数，由此可见，本发明的相变化光盘确实具有良好的生产品质。
以上所述仅为举例性，而非为限制性。任何未脱离本发明的精神与范畴，而对其进行的等效修改或变更，均应包含于权利要求书的范围中。
Claims (14)
1.一种相变化光盘，其特征在于，包含：
一第一基板；
一介电积层，依序具有一第一介电层、一第二介电层，以及一第三介电层，该第一介电层的折射率与该第三介电层的折射率大于该第二介电层的折射率；
该介电积层，其设于第一基板上，该介电积层的光学厚度介于86nm至460nm之间；
一第一记录层，其设于该第一介电积层上；
一第一反射层，其设于该第一记录层之上；以及
一第二基板，其设于该第一反射层上。
2.如权利要求1所述的相变化光盘，其中，该介电积层接续该第三介电层更增设有至少一介电层，且在该第一介电层、该第二介电层、该第三介电层及所增设的介电层所组成的多个介电层中的偶数层的折射率小于奇数层的折射率。
3.如权利要求1所述的相变化光盘，其中，更包含：
一第四介电层，其设于该第一记录层与第一反射层之间。
4.如权利要求1所述的相变化光盘，其中，该第一记录层的光学厚度介于20nm至60nm之间。
5.如权利要求3所述的相变化光盘，其中，该第四介电层的光学厚度介于21nm至95nm之间、或第四介电层的厚度介于10nm至45nm之间。
6.如权利要求1所述的相变化光盘，其中，该第一记录层的材质为银/铟/锑/碲/锗合金。
7.如权利要求1所述的相变化光盘，其中，该第一记录层具有原子百分比一至原子百分比五的锗。
8.如权利要求3所述的相变化光盘，其中，该第四介电层的材质为硫化锌-二氧化硅。
9.如权利要求1所述的相变化光盘，其中，该第一记录层的厚度介于9nm至26nm之间。
10.如权利要求1所述的相变化光盘，其中，该第一反射层选自铝合金、钛合金、铜合金及银合金至少其中之一。
11.如权利要求1所述的相变化光盘，其中，该第一反射层的厚度介于60nm至200nm之间。
12.如权利要求1所述的相变化光盘，其中，该第一基板的折射率介于1.50至1.65之间。
13.如权利要求1所述的相变化光盘，其中，该第一基板的厚度介于0.59mm至0.61mm之间。
14.如权利要求1所述的相变化光盘，其中，更包含：
一第二记录层，其设于该第一反射层与该第二基板之间；以及
一第二反射层，其设于该第二记录层与该第二基板之间。
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