CN100444251C - 将数据记录在光学记录介质上的方法和设备 - Google Patents

Abstract

一种将数据记录在光学记录介质上的方法和设备，该方法包括：产生具有用于高速记录的记录模式的记录波形；和使用产生的记录波形来将数据的第一级别形成为标记并将数据的第二级别形成为间隔，其中，记录模式由包括第一脉冲、多脉冲序列和最后脉冲的记录多脉冲序列形成，其中，所述记录多脉冲序列的功率电平等于高或低写入功率电平，并且低写入功率电平高于记录多脉冲序列的最后脉冲的偏置功率电平，最后脉冲的持续时间与多脉冲序列的持续时间的比率根据由***允许的抖动的范围被确定。

Description

将数据记录在光学记录介质上的方法和设备

技术领域

本发明涉及将数据记录在光学记录介质上，更具体地讲，涉及一种存储与用于高速记录的写入策略有关的信息的光学记录介质，以及一种用于将数据记录在该光学记录介质上的方法和设备。

背景技术

当数据被记录在光学记录介质上时，在光盘的轨道中形成标记。在比如致密盘只读存储器(CD-ROM)和数字多用途盘-只读存储器(DVD-ROM)的只读盘中，标记被形成为凹坑。在比如致密盘-可记录/可重写(CD-R/RW)和数字多用途盘-可记录/可重写/随机存取存储器(DVD-R/RW/RAM)的可记录盘中，记录层被涂有响应于温度变化而进入结晶或非结晶状态的相变层，并且标记由该相变层的相位中的变化而形成。为了最优化可记录盘的记录/再现特性，写入策略被采用并且取决于可记录盘的类型。此外，记录条件可从驱动器到驱动器之间变化。因此，可能有在一个驱动器上记录的光学记录介质与另一驱动器上记录的光学记录介质不兼容的情况。

同时，根据信号检测，可将数据记录方法分成标记边沿记录和标记位置记录。在标记位置记录方法中，检测到的RF信号的振幅在标记的记录位置从正变到负或从负变到正。在标记边沿记录方法中，检测到的RF信号的振幅在标记的两个边沿从正变到负或从负变到正。因此，标记的边沿的精确记录在改善再现信号的品质中是重要的因素。

然而，在记录层被涂有相变层的可记录盘中，由传统的标记边沿记录方法记录的标记的后沿的形状随标记的长度或标记之间的间隔而变化。换句话说，标记的后沿大于该标记的前沿，这降低了记录/再现特性。当形成的标记的长度相对大时，由于盘中热量的累积造成记录/再现特性的降低变得更严重。

图1A和1B示出传统的用于记录非归零倒置(NRZI)数据的记录波形。在图1A中，“Tw”表示记录/再现时钟信号的时间周期。在标记边沿记录方法中，NRZI数据的高电平被记录为标记，并且NRZI数据的低电平被记录为间隔。用于形成标记的记录波形被称作记录模式，用于形成间隔(或用于擦除标记)的记录波形被称作擦除模式。传统的记录波形使用多脉冲序列作为记录模式并将每个脉冲的功率电平调整为三个电平，即Pw、Pe和Pb。换句话说，组成记录模式的多脉冲序列的功率电平等于Pw和Pb。此外，用于形成NRZI数据的低电平的擦除模式的功率电平Pe，即间隔，被保持在预定的DC电平。这里，Pw表示写入功率，Pb表示偏置功率，Pe表示擦除功率。

如上所述，由于传统记录波形中的擦除模式在预定的时间量被保持在预定的DC电平，所以0-200摄氏度的温度被连续地施加给应用擦除模式的区域。因此，如果数据记录被重复很多次，则引起标记的形状的失真，降低记录/再现特性。因此，随着容纳更多数据的高密度和高速线性记录装置的采用，记录/再现时钟信号的时间周期T减小，并且组成记录波形的多脉冲序列之间的热干扰增加。结果，标记的形状的失真变得更严重。

换句话说，由于在数据记录期间使用具有预定的DC电平的擦除功率来执行擦除，所以由于多个记录脉冲之间的热干扰造成比如载噪比(C/N)信号的记录/再现信号被减少，并且标记被非完整地形成然后被晶化，引起再现特性的降低。具体地讲，当以高速执行数据记录以增加数据传输速度时，记录/再现信号的失真显著地增加。

发明内容

本发明提供一种存储与用于高速记录的写入策略有关的信息的光学记录介质以及一种用于在该光学记录介质上记录数据的方法和设备。

本发明也提供一种存储与记录波形有关的信息的光学记录介质，通过该记录波形带有改进的边沿的标记可在高速记录期间被记录，以及一种用于使用该记录波形来记录数据的方法和设备。

本发明也提供一种存储与用于相变光盘的记录波形有关的信息的光学记录介质以及一种用于使用该记录波形来记录数据的方法和设备。

本发明也提供一种存储与记录波形有关的信息的光学记录介质，由于在标记边沿记录期间相邻的标记之间的热干扰而造成的被记录的标记的失真可通过该记录波形被最小化，以及一种用于使用该记录波形来记录数据的方法和设备。

本发明也提供一种存储关于记录波形的信息的光学记录介质，由于重复的记录造成的标记的前沿和后沿的形状失真可通过该记录波形被抑制，以及一种用于使用该记录波形来记录数据的方法和设备。

本发明也提供一种关于用于形成标记的记录模式和/或用于形成间隔的擦除模式的附加信息被记录到其上的光学记录介质，由此允许数据记录所需的最佳功率电平被容易地确定，而不管装载该光学记录介质的驱动器，以及一种用于在该光学记录介质上记录数据的方法和设备。

本发明也提供一种存储与用于最优化抖动特性的记录波形有关的信息的光学记录介质，以及一种用于使用该记录波形来记录数据的方法和设备。

本发明也提供一种存储与用于最小化抖动特性的记录波形中的多脉冲序列的持续时间和最后脉冲的持续时间的比率有关的信息的光学记录介质，以及一种用于使用该记录波形来记录数据的方法和设备。

本发明也提供一种存储与用于最小化抖动特性的记录波形中的最后脉冲的冷却持续时间有关的信息的光学记录介质，以及一种用于使用该记录波形来记录数据的方法和设备。

根据本发明的一方面，提供一种可记录、擦除并再现数据的光学记录介质，其中，包括用于数据记录的记录模式的高速记录的功率信息的附加记录信息被记录在记录层的特定区域上。

根据本发明的一方面，提供一种功率信息被记录在其上的光学记录介质，该功率信息指示记录模式由包括第一脉冲、多脉冲序列和最后脉冲的记录多脉冲序列形成，其中，所述的记录多脉冲序列具有高和低写入功率电平，并且低写入功率电平被设置为高于偏置功率电平。

根据本发明的另一方面，提供一种将数据记录在光学记录介质上的方法，该方法包括：产生具有用于高速记录的记录模式的记录波形；和使用产生的记录波形来将数据的第一级别形成为标记和将数据的第二级别形成为间隔，其中，记录模式由包括第一脉冲、多脉冲序列和最后脉冲的记录多脉冲序列形成，其中，所述记录多脉冲序列的功率电平等于高或低写入功率电平，并且低写入功率电平高于记录多脉冲序列的最后脉冲的偏置功率电平，最后脉冲的持续时间与多脉冲序列的持续时间的比率根据由***允许的抖动的范围被确定。

根据本发明的另一方面，提供一种将数据记录在光学记录介质上的方法，该方法包括：产生具有用于高速记录的带有多脉冲序列的记录模式和擦除模式的记录波形；和使用该产生的记录波形来将数据的第一级别形成为标记并将数据的第二级别形成为间隔，其中，记录模式由包括第一脉冲、多脉冲序列和最后脉冲的记录多脉冲序列组成，其中，记录多脉冲序列的功率电平等于高或低写入功率电平，并且低写入功率电平高于记录多脉冲序列的最后脉冲的偏置功率电平，最后脉冲的持续时间与多脉冲序列的持续时间的比率根据由***允许的抖动的范围被确定。

根据本发明的另一方面，提供一种将数据记录在光学记录介质上的包括记录波形产生单元和拾取单元的设备。记录波形产生电路产生具有用于输入数据的高速记录的记录模式的记录波形。拾取单元根据该产生的记录波形通过将光照射到光学记录介质上来形成标记或间隔以记录数据。其中，记录模式由包括第一脉冲、多脉冲序列和最后脉冲的记录脉冲序列形成，其中，所述记录脉冲序列的功率电平等于高或低功率电平，并且低写入功率电平高于该记录多脉冲序列的最后脉冲的偏置功率电平，最后脉冲的持续时间与多脉冲序列的持续时间的比率根据由***允许的抖动的范围被确定。

本发明的另外方面和/或优点将在下面的描述中部分阐述，并且部分从描述中是显而易见的，或可通过实施本发明来了解。

附图说明

从下面结合附图对实施例的描述，本发明的这些和/或其他方面和优点将会变得清楚和更易于理解，其中：

图1A示出非归零倒置(NRZI)数据，图1B示出传统的记录波形；

图2是根据本发明实施例的记录数据的设备的方框图；

图3是图2的示例；

图4A到7E示出由记录波形产生电路产生的记录波形的示例；

图8A到8E示出根据本发明的用于解释4种类型的擦除模式的波形；

图9A到9D示出根据本发明的用于减少抖动的波形；

图10是显示抖动和记录电平相对于图9中的记录波形的多脉冲序列的持续时间和最后脉冲的持续时间的比率之间的关系的图表；

图11是显示抖动和图9的记录波形中的最后脉冲的冷却持续时间之间的关系的图表；和

图12是用于解释根据本发明实施例的记录数据的方法的流程图。

具体实施方式

现在将详细地描述本发明的实施例，其例子列举在附图中，其中，相同的标号始终表示相同的部件。以下通过参考图形来描述实施例以解释本发明。

图2是根据本发明实施例的用于记录数据的设备的方框图。

参考图2，用于记录数据的设备通过在光学记录介质200中形成标记或间隔来记录数据，并且包括拾取单元1、记录波形产生电路2和信道调制器3。

信道调制器3将从外部输入的数据调制成信道比特流。记录波形产生电路2接收该信道比特流并且产生记录波形。根据本发明的产生的记录波形包括用于高速被记录的记录模式和具有擦除多脉冲序列的擦除模式。随后将详细描述记录波形。拾取单元1根据产生的记录波形通过将光照射到光学记录介质200上来形成标记或间隔。

图3是图2的示例。实现与图2的功能相同的功能的块由相同的标号表示，并且其描述将不被重复。

参考图3，用于记录数据的设备包括拾取单元1、记录波形产生单元2和信道调制器3。拾取单元1包括电机11、伺服电路12、光学头13和激光驱动电路14。电机11旋转光学记录介质200。光学头13将激光照射到光学记录介质200上或接收从光学记录介质200反射出的激光。伺服电路12执行电机11和光学头13的伺服控制。激光驱动电路14驱动包括在光学头13中的激光器(未显示)。

信道调制器3将输入数据调制成信道比特流并输出非归零倒置(NRZI)数据。记录波形产生电路2产生用于记录NRZI数据的记录波形，并且将产生的记录波形提供给包括在拾取单元1中的激光驱动电路14。激光驱动电路14根据接收的记录波形通过控制光学头13的激光器(未显示)来在光学记录介质200中形成标记或间隔。

图4A到4D示出由记录波形产生单元2产生的并且目的是改进数据记录期间的边沿特性的记录波形。

NRZI数据随由信道调制器3使用的调制方法而变化。当游程长度受限(RLL)(1，7)被用作调制方法时，被记录的标记的最小长度等于2T，并且被记录的标记的最大长度等于8T。另外，RLL(2，10)即8-14调制(EFM)、8-14调制加(EFM+)、D(8-15)或双调制被用作调制方法，被记录的标记的最小长度等于3T，并且被记录的标记的最小长度等于1T。这里，Matsushita Electric Co.，Ltd.，在2001年在“Optical disc recording system of 25GB Capacity”中建议D(8-15)。双调制在第99-42032号的韩国专利申请中公开，其标题为“Methodof aligning RLL code with improved DC restricting function，encoding anddecoding method and decoding apparatus”，该专利申请由本申请人于1999年9月30日提交并于2000年11月25日公布。

在这个实施例中，当NRZI数据的高电平被形成为标记并且NRZI数据的低电平被形成为间隔时所使用的记录波形将在涉及NRZI数据时被描述，所述的NRZI数据包括用于记录具有7T长度的标记的记录模式、用于形成具有3T长度的间隔的擦除模式和用于记录具有3T长度的标记的记录模式。

参考图4B到4D，在用于NRZI数据的记录波形1、2和3中，用于记录具有7Tw长度的标记的记录模式由记录多脉冲序列即第一脉冲、多脉冲序列和最后脉冲(或冷却脉冲)形成。用于记录具有3T长度的标记的记录模式由第一脉冲和最后脉冲形成。在图4中，当形成具有N×Tw(其中N为自然数)的多脉冲序列的标记时，具有(N-1)×Tw的记录脉冲的记录模式针对其长度从最小T到最大T范围内变化的标记而被使用。换句话说，具有3T长度的标记使用包括2个多脉冲序列的记录模式而形成，并且具有7T长度的标记使用包括6个多脉冲序列的记录模式而形成。

记录模式的第一脉冲和多脉冲序列具有两个功率电平，即Pw1和Pw2。这里，Pw1表示写入功率的高电平，Pw2表示低写入功率电平。低写入功率电平即Pw2被设置为高于偏置功率电平Pb。记录模式的最后脉冲具有高写入功率电平即Pw1和偏置功率电平Pb。

由于当数据以高速被记录以增加数据传输速度时(即，当记录/再现时钟信号的时间周期T减小时)被提供以记录标记的总功率减小，所以被记录的标记的形状可失真。因此，必须随着盘的旋转速度的增加而增加写入功率。通过将低写入功率电平Pw2设置为高于偏置功率电平Pb，即使在高数据记录速度记录层也可吸收足够的热量，这样可在记录层中形成标记。

擦除模式也由多脉冲序列形成。也就是说，虽然根据这个实施例的擦除模式可具有传统的DC电平，但其最好由擦除多脉冲序列形成。擦除多脉冲序列具有两个功率电平Ppe和Pbe。这里，功率电平Ppe表示峰值擦除功率电平并且可被称作高擦除功率电平，功率电平Pbe表示偏置擦除功率电平并且可被称作低擦除功率电平。

在记录波形1中，擦除模式的偏置擦除功率电平Pbe等于传统的DC电平的擦除功率电平Pe。在记录波形2中，擦除模式的峰值擦除功率电平Ppe等于擦除功率电平Pe。在记录波形3中，擦除功率电平Pe被设置在擦除模式的峰值擦除功率电平Ppe和偏置功率电平Pbe之间。

包括在本发明的擦除模式中的擦除多脉冲序列的两个功率电平Ppe和Pbe的持续时间之和相对于定时窗口Tw(参考记录/再现时钟信号的周期)被控制在0.25-2.0Tw的范围内。因此，数据可通过选择适合于盘的热特性的两个功率电平Ppe和Pbe的持续时间来被记录，由此改进记录/再现特性。

在图4B到4D的实施例中，用于形成具有3T长度的标记的擦除多脉冲序列的功率电平Ppe和Pbe的持续时间之和等于1.0Tw。擦除多脉冲序列的第一脉冲的高电平的持续时间等于0.5Tw，并且擦除多脉冲序列的最后脉冲的高电平的持续时间可大于0.5Tw。

另外，在图4B的实施例中，记录模式的多脉冲序列的时间周期T等于1.0Tw。低写入功率电平Pw2高于偏置功率电平Pb和峰值擦除功率电平Ppe并且低于高写入功率电平Pw1。因此，峰值擦除功率Ppe、低写入功率电平Pw2和高写入功率电平Pw1之间的关系为Ppe≤Pw2≤Pw1。这里，低写入功率电平Pw2可低于擦除模式的峰值擦除功率电平Ppe并且高于偏置擦除功率电平Pbe，因此它们的关系可为Pbe≤Pw2≤Ppe。此外，低写入功率电平Pw2低于偏置擦除功率电平Pbe，并且它们的关系为Pbe≥Pw2。被偏置功率电平Pb影响的区域的电平低于低写入功率电平Pw2，并且它们的关系为Pb≤Pw2。被偏置功率Pb影响的区域的电平低于峰值擦除功率电平Ppe，并且它们的关系为Pb≤Ppe。

图5A示出非归零倒置(NRZI)数据。图5B到5D示出由记录波形产生电路2产生的记录波形，在所述记录波形中每个记录模式中的多脉冲序列的数量为int(N/2×T)。将参考图5B到5D只描述图4B到图4D的记录波形之间的差异。术语“int”表示整数。

参考图5B到5D，由于在用于NRZI数据的三个记录波形4、5和6中记录模式的多脉冲序列的时间周期T为2Tw，所以可通过增加盘的入射光的量而不用增加写入功率和擦除功率来形成品质标记，由此改进记录/再现特性。在具有T或3T信号类型的标记的情况下，多脉冲序列的时间周期T可不为2Tw。

图6A示出非归零倒置(NRZI)数据。图6B到6D示出由记录波形产生电路2产生的记录波形，在所述的记录波形中擦除多脉冲序列的功率电平的持续时间等于2Tw。关于图6B到6D，将只描述图4B到4D的记录波形之间的差异。

参考图6B到6D，在用于NRZI数据的记录波形7、8和9中，形成擦除模式的擦除多脉冲序列的峰值擦除功率电平Ppe和形成擦除模式的擦除多脉冲序列的偏置擦除功率电平Pbe的持续时间之和等于2Tw。擦除多脉冲序列的高电平的持续时间可长于1.0Tw，并且擦除多脉冲序列的低电平的持续时间可短于1.0Tw。

图7A示出非归零倒置(NRZI)数据。图7B到7D示出由记录波形产生电路2产生的记录波形，在所述的记录波形中记录模式的多脉冲序列的电平的持续时间和擦除模式的电平的持续时间为2Tw。关于图7B到7D，将只描述图4B到4D的记录波形之间的差异。

参考图7B到7D，在用于NRZI数据的三个记录波形10、11和12中，记录模式的多脉冲序列的时间周期T等于2Tw，并且擦除模式的多脉冲序列的时间周期T等于2Tw。以与图6B到6D的记录波形相同的方式，峰值擦除功率电平Ppe和偏置擦除功率电平Pbe的持续时间之和等于2Tw。

图8A示出非归零倒置(NRZI)数据。图8B到8E示出根据本发明的用于解释4种类型的擦除模式的波形。

参考图8B到8E，根据本发明的记录波形可具有4种类型的擦除模式，即LH类型、LL类型、HH类型和HL类型。擦除模式的4种类型之间的差异由图8B到8D中的圆圈标出以利于理解。首先，LH类型对应于第一脉冲的功率电平等于擦除模式中出现的低电平并且最后脉冲的功率电平等于擦除模式中出现的高电平的情况。LL类型对应于最后脉冲和第一脉冲的功率电平等于擦除模式中出现的低电平的情况。HH类型对应于最后脉冲和第一脉冲的功率电平等于擦除模式中出现的高电平的情况。HL类型对应于最后脉冲的功率电平等于擦除模式中出现的低电平并且第一脉冲的功率电平等于擦除模式中出现的高电平的情况。

在图8B到8E的实施例中，如图6B到6D的记录波形7、8和9中，记录模式的多脉冲序列的时间周期T等于1Tw，擦除模式的多脉冲序列的时间周期T等于2Tw。然而，图8B到8E的实施例也可应用于显示记录波形1、2和3的图4B到4D，在记录波形1、2和3中记录模式的多脉冲序列的时间周期T和擦除模式的多脉冲序列的时间周期T等于1Tw。图8B到8E的实施例也可应用于显示记录波形4、5和6的图5B到5D，在记录波形4、5和6中记录模式的多脉冲序列的时间周期T等于2Tw并且擦除模式的多脉冲序列的时间周期T等于1Tw。图8B到8E的实施例也可应用于显示记录波形10、11和12的图7B到7D，在记录波形10、11和12中记录模式的多脉冲序列的时间周期T并且擦除模式的多脉冲序列的时间周期T等于2Tw。

也就是说，图4B到7D中显示的所有的记录波形为HH类型。然而，记录波形可为HL类型、LH类型或LL类型。记录波形的类型基于由在擦除模式之前和/或之后出现的记录模式形成的标记的长度而被确定。基于在由擦除模式形成的间隔之前和/或之后形成的标记的长度来从4种擦除模式中自适应地选择一种类型的擦除模式。

同时，关于4种类型的擦除模式的信息(类型信息)可被记录在可记录盘的特定区域，比如引入区域，或以摆动信号的形式被记录为头信息。因此，记录介质可在数据记录期间从引入区域或摆动信号读取类型信息并产生相应的记录波形，从而形成标记和/或间隔。

此外，4种类型的擦除模式可被用作指示在数据记录和再现中盘的运转速度或标记的类型的符号。例如，可指示使用LH类型的擦除模式的盘具有使用擦除模式的类型的x20的运转速度。

除关于4种类型擦除模式的信息之外，关于根据记录模式的写入功率、根据擦除模式的擦除功率、盘类型、盘大小和记录层的类型如单层或多层的信息还可被记录到光学记录介质。具体地讲，包括图9A到9D中显示的用于最优化抖动特性的记录脉冲中的多脉冲序列的持续时间与最后脉冲的持续时间的比率和最后脉冲的冷却持续时间的记录模式的信息可被记录到光学记录介质。

一旦上述信息被记录在其中的这种光学记录介质被装载到记录数据的设备上，该用于记录数据的设备不需另外的用于选择最佳记录和擦除功率的测试记录或可使用存储的功率来执行测试记录。因此，可减少用于选择最佳功率电平所需的时间。

图9A到9D示出根据本发明的用于减轻抖动的记录波形。

图9A显示NRZI数据的示例。当NRZI数据的高电平被形成为标记并且NRZI数据的低电平被形成为间隔时，记录波形包括用于记录具有7T长度的标记的记录模式、用于形成具有3T长度的间隔的擦除模式和用于记录具有3T长度的标记的记录模式。

图9B示出典型的用于图9A中显示的NRZI数据的记录波形。Ttop表示第一脉冲的持续时间，Tmp表示包括在多脉冲序列中的每个脉冲的持续时间(以下，称作多脉冲序列的持续时间)，Tlp表示最后脉冲的持续时间，并且Tcl表示最后脉冲期间的冷却持续时间。

图9C示出根据本发明的记录波形。第一脉冲和多脉冲序列的功率电平为Pw1和Pw2。低写入功率电平即Pw2被设置为高于偏置功率电平Pb。记录模式的最后脉冲具有高写入功率电平Pw1和偏置功率电平Pb。擦除模式具有传统的DC电平。

图9D示出根据本发明的记录波形。第一脉冲和多脉冲序列的功率电平为Pw1和Pw2。低写入功率电平即Pw2被设置为高于偏置功率电平Pb。记录模式的最后脉冲具有高写入功率电平Pw1和偏置功率电平Pb。擦除模式具有峰值擦除功率Ppe和偏置擦除功率电平Pbe的擦除多脉冲序列。擦除模式的偏置擦除功率电平Pbe被设置为等于传统的DC电平的擦除功率电平Pe。Ppe和Pbe的持续时间之和等于1.0Tw。

关于根据本发明的图9C和9D的记录波形，图10中示出了显示通过改变多脉冲序列的持续时间Tmp和最后脉冲的持续时间Tlp并搜索最佳记录条件而获得的抖动特性的图表。图11中示出了显示通过改变最后脉冲的冷却持续时间Tcl并搜索最佳记录条件而获得的抖动特性的图表。

图10是显示抖动和记录功率相对于图9的记录波形中的多脉冲序列的持续时间与最后脉冲的持续时间的比率之间的关系的图表。根据记录条件，在400nm波长处最小的被记录的标记的长度为0.149μm(当使用根据RLL(1，7)的代码时该长度对应于2Tw的最小的被记录的标记)。当偏置功率Pb为0.2mW并且擦除功率Pe为1.2mW时，写入功率Pw随着Tlp与Tmp的比率的增加而减小，但相对于抖动增加。从这个结果显而易见的是，可获得合适的Tlp的范围。

如图10中所暗示的，当由***允许的抖动的范围被设置为7％时，Tlp/Tmp的范围对应于0.9-1.3。虽然图10中未显示，但是当抖动的范围为8％时，Tlp/Tmp的范围对应于0.7-1.4。因此，Tlp/Tmp的范围可根据由***允许的抖动范围被确定。

图11是显示图9的记录波形中的抖动和最后脉冲的冷却持续时间之间的关系的图表。当在改变最后脉冲的冷却持续时间Tcl的同时估计抖动时，可看出抖动随着最后脉冲的冷却持续时间Tcl逼近2Tw的最小的被记录的标记而连续地减小。考虑到抖动特性，最优的Tcl等于2Tw的最小的被记录的标记。

然而，可根据由***允许的抖动的范围设置最后脉冲的冷却持续时间Tcl。例如，当由***允许的抖动的范围为7％时，最后脉冲的冷却持续时间Tcl的范围是0.7Tw到2.0Tw。当由***允许的抖动的范围为8％时，最后脉冲的冷却持续时间Tcl的范围是0.5Tw到2.0Tw。这里，最小的Tcl取决于由***允许的抖动的范围，并且最大的Tcl取决于最小的被记录的标记的长度。

基于上述结构，将参考图12描述根据本发明的一方面的记录数据的方法。

图12是用于解释根据本发明实施例的记录数据的方法的流程图。

参考图12，记录数据的设备从外部接收数据，调制接收的数据，并创建NRZI数据(操作901)。接下来，具有带有多脉冲序列的记录模式和擦除模式的记录波形被产生以用于高速记录并改进标记边沿特性(操作902)。这里，本发明的写入功率的低电平高于偏置功率电平。然后，使用产生的记录波形在光盘中形成标记或间隔(操作903)。

记录波形关于这里的信号类型7T和3T被描述。然而，本领域的技术人员可容易地产生用于形成相对于2T、4-6T和8-最大T的标记和间隔的记录模式和擦除模式。

另外，当形成具有记录模式的N×Tw的多脉冲序列的标记时(其中N为自然数)，可通过将本发明的实施例不仅应用于其中(N-1)×Tw的记录脉冲被用于形成其长度为T的标记的记录方法，而且应用于比如DVD-RAM的其中(N-2)×Tw的记录脉冲被用于形成其长度为T的标记的记录方法，来改善记录/再现特性。

虽然已显示并描述了本发明的一些实施例，但本领域的技术人员应该理解，在不脱离本发明的原则和范围的情况下，可对实施例进行修改，本发明的范围由权利要求及其等同物所限定。

产业的可利用性

如上所述，根据本发明，当记录数据时用于记录模式的写入功率的低电平被设置为高于偏置功率电平。因此，即使当数据以高速被记录时，记录层也可吸收足够的热量，由此有效地改进被记录的标记的边沿特性。

另外，根据本发明，因为标记通过将擦除功率电平以脉冲的形状施加到盘来被记录，所以防止了标记的前部和后部的形状失真，由此改进记录/再现特性。

在本发明中，擦除功率的高和低电平的持续时间相对于定时窗口Tw被控制在0.25-2.0Tw范围内，并且在选择适合于盘的热特性的擦除功率的高和低电平的持续时间的同时数据被记录到盘上，由此改进记录/再现特性。

另外，当记录多脉冲序列和擦除多脉冲序列的时间周期分别等于2.0Tw时，可通过增加盘的入射光的量而不用增加写入功率和擦除功率来形成品质标记，由此改进记录/再现特性。

此外，通过设置合适的记录波形的最后脉冲的持续时间与记录波形的多脉冲序列的持续时间的比率，可获得合适的抖动特性，因此改进记录/再现特性。

此外，通过减少在预定范围内的记录波形的最后脉冲的冷却持续时间，可获得最佳抖动特性，由此改进记录/再现特性。

Claims (15)

1、一种将数据记录在光学记录介质上的方法，该方法包括：

产生具有用于高速记录的记录模式的记录波形；和

使用产生的记录波形来将数据的第一级别形成为标记并将数据的第二级别形成为间隔，

其中，记录模式由包括第一脉冲、多脉冲序列和最后脉冲的记录多脉冲序列形成，其中，所述记录多脉冲序列的功率电平等于高或低写入功率电平，并且低写入功率电平高于记录多脉冲序列的最后脉冲的偏置功率电平，最后脉冲的持续时间与多脉冲序列的持续时间的比率根据由***允许的抖动的范围被确定。

2、如权利要求1所述的方法，其中，用于数据擦除的擦除模式的功率具有预定的DC电平。

3、一种将数据记录在光学记录介质上的方法，该方法包括：

产生具有用于高速记录的带有多脉冲序列的记录模式和擦除模式的记录波形；和

使用产生的记录波形来将数据的第一级别形成为标记并将数据的第二级别形成为间隔，

其中，记录模式由包括第一脉冲、多脉冲序列和最后脉冲的记录多脉冲序列组成，其中，记录多脉冲序列的功率电平等于高或低写入功率电平，并且低写入功率电平高于记录多脉冲序列的最后脉冲的偏置功率电平，最后脉冲的持续时间与多脉冲序列的持续时间的比率根据由***允许的抖动的范围被确定。

4、如权利要求3所述的方法，其中，记录多脉冲序列的时间周期相对于定时窗口Tw被控制在0.25Tw-2.0Tw范围内。

5、如权利要求4所述的方法，其中，记录多脉冲序列的时间周期等于1.0Tw。

6、如权利要求4所述的方法，其中，记录多脉冲序列的时间周期等于2.0Tw。

7、如权利要求3所述的方法，其中，构成擦除模式的多脉冲序列的功率电平周期性地在至少两个电平之间改变，所述的至少两个电平为高擦除功率电平Ppe和低擦除功率电平Pbe。

8、如权利要求3所述的方法，其中，最后脉冲的最小冷却持续时间取决于由***允许的抖动的范围，并且最后脉冲的最大冷却持续时间取决于最小的被记录的标记的长度。

9、如权利要求8所述的方法，其中，记录模式的最后脉冲的冷却持续时间被设置为最小的被记录的标记的长度。

10、如权利要求3所述的方法，还包括关于在记录层的特定区域的产生的记录波形的写入功率信息。

11、一种用于将数据记录在光学记录介质上的设备，该设备包括：

记录波形产生电路，用于产生具有用于数据的高速记录的记录模式的记录波形；和

拾取单元，用于根据产生的记录波形通过将光照射到光学记录介质上来形成标记或间隔以记录数据，

其中，记录模式由包括第一脉冲、多脉冲序列和最后脉冲的记录脉冲序列形成，其中，所述记录脉冲序列的功率电平等于高或低功率电平，并且低写入功率电平高于该记录多脉冲序列的最后脉冲的偏置功率电平，最后脉冲的持续时间与多脉冲序列的持续时间的比率根据由***允许的抖动的范围被确定。

12、如权利要求11所述的设备，其中，记录波形还包括由用于数据擦除的擦除多脉冲序列形成的擦除模式，并且该擦除多脉冲序列具有高擦除功率电平和低擦除功率电平，并且低擦除功率电平Pbe被设置为等于一般的擦除功率的预定的DC电平，或者高擦除功率电平Ppe被设置为等于该预定的DC电平，或该预定的DC电平被设置在高擦除功率电平Ppe和低擦除功率电平Pbe之间。

13、如权利要求12所述的设备，其中，最后脉冲的最小冷却持续时间取决于由***允许的抖动的范围，并且最后脉冲的最大冷却持续时间取决于最小的被记录的标记的长度。

14、如权利要求13所述的设备，其中，记录模式的最后脉冲的冷却持续时间被设置为最小的被记录的标记的长度。

15、如权利要求11所述的设备，其中，用于数据擦除的擦除模式的功率具有预定的DC电平。

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