CN100442362C - 光盘记录控制方法和光盘记录控制装置 - Google Patents

Abstract

在光盘中记录数据之前，基于OPC学习在该光盘的里面圆周部分、外面圆周部分中计算最优记录能量。在该光盘中记录该数据之前，基于该OPC学习在至少一个该光盘的里面圆周部分和外面圆周部分之间的中间部分中计算该最优记录能量。然后，计算沿该光盘的径向方向的该里面圆周部分、外面圆周部分和中间部分中的位置偏移量，与该各个部分中计算的最优记录能量之间的相互关系。当记录该数据时，基于该相互关系设置当前记录部分中的该最优记录能量，并以该设置的最优记录能量来执行激光驱动控制，从而在该光盘中记录该数据。

Description

光盘记录控制方法和光盘记录控制装置

技术领域

本发明涉及与控制能够记录到槽内的光盘写操作有关的记录控制方法和记录控制装置。

背景技术

现今，光盘，例如压缩盘(CD)和数字通用盘(DVD)，是能够在其中记录视频信息、音频信息和其它各种格式的信息的主流记录媒体，这是因为可以以高密度记录并且在光盘中具有对想要的数据的高速度获取。

仅用于再现的光盘在其基板上被形成为螺旋形状或同心形状的轨道上具有被称为坑(pit)的不平部分。从激光二极管发出的激光跟随轨道，来自坑的反射光线由光电二极管探测，并且由此根据反射光的强度读取光盘上记录的信息。

同时，在记录类型的光盘上，在反射层上形成记录层。能够进行槽记录的光盘的例子是DVD-R、DVD+R、DVD-RW、DVD+RW等。

下面参见图24说明记录类型的光盘的基板结构和记录/读取方法。图24示出光盘的基板的反射层和记录层的一部分。91表示其中没有记录信息的记录层，92表示其中记录了信息的记录层，93表示反射层，94表示入射激光，95表示来自其中没有记录信息的记录层91的激光的反射光，96表示来自其中记录了信息的记录层92的激光的反射光。在图中示出的示例中，穿过其中记录了信息的记录层92的发射光96被反射的反射率高于穿过其中没有记录信息的记录层91的发射光95被反射的反射率，其原因在下面说明。

记录层被形成在记录类型的光盘中的反射层上。记录层具有这样的特性：其特性被高激光能量的辐射改变，并且利用这一特性以致信息被记录在光盘上。记录层性质的改变意指激光的吸收率或折射率的改变。随着记录部分中的激光的吸收率增加，在再现时，光盘的反射率减小。进一步，在记录层的折射率被改变时，在再现时，穿过记录部分的激光的波长(相位)被改变。结果，它实质上给出了好像在反射薄膜中形成了不平部分的效果。通过改变来自反射薄膜的明显反射率来写信息。如果在再现时激光具有等于记录操作的输出电平的输出电平，在读取信息时，每次都会损坏记录内容。因此，在再现中采用具有低于记录操作的输出电平的输出电平的激光。

在记录类型的光盘中，有仅用来记录一次的光盘和用于可重写的光盘。在仅记录一次的盘中，记录层中使用含氮花菁染料族的有机颜料。在红色可见光的激光辐射到颜料上时，颜料很好地吸收了激光。因此，来自反射薄膜的反射率被明显地改变，并由此写入信息。由于颜料物质被化学改变了，颜色被改变并且不能回到其初始状态，从而只能记录信息一次。在可重写的光盘中，使用了例如相变记录的技术，其中利用了从锑和碲形成的合金的特性。为了更具体地说明这一特性，在该合金被形成为光可以以一定电平穿过它的薄膜形状的情况下，在具有强能量的激光在短时间内辐射到合金上并且它被加热到熔化环境的温度之后，合金在迅速地冷却后落入非晶态，而且无定形状态下的合金在被以弱能量加热时，回到其初始的晶态。

该合金被混以锗，以造成激光的吸收率在非晶态和晶态之间的不同，并且进一步，该合金被混以银和铟，以造成折射率在两态之间的不同。换句话说，当通过在熔点加热形成记录坑时，记录信息，当它被重新结晶时擦掉信息。因为所述改变是无限地可重复的，因此在具有上述记录薄膜的记录类型的光盘中，信息是可重写的。

在使用如此说明的激光的光盘的记录控制中，为了精确地写入信息，必须输出最优的记录激光能量。因为每一个光盘记录媒体对激光的灵敏度存在变化，所以每一张光盘中的最优记录激光能量是不同的。进一步，在记录信息时，灵敏度受温度影响。因此，必须通过实际中以适宜的方式使用激光记录信息来获取最优激光能量信息。

随着要处理的信息量的增加，要求记录媒体满足比常规技术中的密度更高的密度需要。为了满足这一需要，已经对光盘的记录格式进行了各种修改。修改的一个示例是，在光盘中通过使轨道的宽度变窄，或使轨道的坑变窄等来以高密度记录信息的方法。在这样的记录方法中，在形成在光盘的基板上的轨道中，使摆动槽部分(薄槽)和摆动平面(land)部分成对，以改进读取地址信息中的精确性和控制光盘旋转中的精确性。平面部分被形成在槽部分之间。成对的槽部分和平面部分从光盘的最里面的圆周向最外面的圆周形成为螺旋形状或同心形状。该记录方法公布在日本专利(未审查日本专利申请公布H10-293926)的未决公布中。

图25示出根据常规技术的槽部分和平面部分的记录格式。图26示出光盘中的数据结构。槽部分11以具有预定频率成分的摆动信号摆动来记录信息，并且在相邻的槽部分11之间提供的平面部分12被形成为光盘上的螺旋形状或同心形状。进一步，具有与摆动信号预定相位关系的平面上预刻坑(pre-pit)13被形成在平面部分12中。平面上预刻坑13表示辅助信息，例如用于记录数据的地址信息。

在具有图25和图26中示出的记录格式的光盘中，其中记录数据的槽部分11被预先分为作为信息单元的各个同步帧。然后，同步帧组成记录扇区，并且记录扇区组成错误校正码。假定对应于在记录数据时的记录格式指定的坑间距的单位长度为T，一个同步帧的长度为1488T，并且一个同步帧中的头中具有14T长度的部分被用作同步各个同步帧的同步信息19。

对于每个同步帧记录平面上预刻坑13。表示预信息(pre-information)中的同步信号的平面上预刻坑13被形成在与记录每个同步帧中同步信息的区域相邻的平面部分上。进一步，在某些情况下可以形成一个或两个平面上预刻坑13，来表示要被记录的预信息的内容。

在具有前述记录格式的记录到光盘上的信息中，把负责从槽部分提取的摆动信号相位的信号相位与从平面部分上的平面上预刻坑的探测到的平面上预刻坑信号的相位互相比较，并基于比较结果输出相位差信号。然后，基于相位差信号调整时钟信号相位。更具体地，以不受任何来自交扰的影响的平面上预刻坑纠正了基于不可避免地受到来自交扰的影响的摆动信号产生的时钟信号的调整轴的变化。因此，可以高精度地产生与光盘旋转同步的用于记录的时钟信号，并且从而可以精确地记录信息。在DVD+R、DVD-R、DVD+RW、DVD-RW中，通过激光点在槽部分上的辐射记录数据。

在具有其上形成了如此说明的螺旋形状或同心形状的一起的摆动槽部分和平面部分的轨道的光盘中，为了记录数据必须确定最优记录激光能量。在常规确定最优记录激光能量时，在实际数据记录之前，在光盘的最里面和最外面圆周中的试验写入区域(PCA区域：能量校准区域)中执行其中改变记录峰值能量的试验写入操作，以致在各个盘中确定适于各个盘的记录激光能量。这在下文中称作OPC学习(OPC：最优能量控制)。在OPC学习中，当在盘的最里面圆周中记录峰值能量被改变时，实际记录测试数据，读取所记录的测试数据的信号，并且测量所读取的RF信号(表示激光能量在光盘中写入的坑的深度的不规则性)的β值。从而，检查了记录盘的区域的状态，并且基于检查结果确定最适于光盘的记录激光能量。下面参见图27A-27C给出OPC学习的进一步的详细说明。

图27A-27C中的每一个示出一个OPC学***均值。图27C示出激光能量和β值之间的关系。在图27B中示出的表达式中，计算了对应于几个激光能量样本的β值，并且确定β值为0时的激光能量为最优记录激光能量。

在CLV(不变线速度)记录和CAV(不变角速度)记录中以不同的方式实际使用了前述方法中确定的最优记录激光能量。CLV是一种以不变的线速度旋转光盘的轴控制，而CAV是一种以不变的旋转速度旋转光盘的轴控制。在CLV中，由于线速度不变，在光盘的最里面和最外面圆周上，每单位时间内光盘上经过的距离是相等的，因此，在最里面和最外面圆周中记录能量不变。通常在有关DVD的记录操作中采用CLV记录。在CLV记录中，在光盘的PCA区域中执行OPC学习，并确定最优记录能量。然后，从光盘的最里面圆周到最外面圆周以相同的记录能量执行记录操作。在CAV记录中，由于旋转速度不变，在最里面和最外面圆周上，每单位时间的经过距离(就是线速度)是不同的。因为线速度是朝着最外面圆周逐渐增大的，最优记录能量自然也朝着最外面圆周增大。

这里说明常规的CAV记录。图28A-28B中的每一个示出最优记录能量的常规计算。图28A示出常规CAV记录中执行OPC的地方。通常，在CAV记录中，在最里面圆周中的PCA区域和最外面圆周中的PCA区域中执行OPC学习。然后，如图28B中所示，通过线性近似计算最优记录能量表，并且通过基于最优记录能量表顺序改变记录能量来执行记录操作。

图29为示出用于根据常规技术执行记录控制的光盘记录控制装置的结构的框图。标记21表示光头。光头21包括用于向光盘20发射激光的激光二极管、用于探测从光盘20反射的激光的光电探测器和具有用于接收激光的预刻光(pre-light)的预刻光光电探测器的光信号处理电路。22表示用于探测来自光头21中配备的光信号处理电路中产生的信号的RF信号成分的RF信号探测器。23表示用于计算表示以激光能量在光盘20中写入的坑的深度的不规则性的β值的β值计算器。24表示用于基于β值计算器23的计算结果和光盘的特性计算最优激光能量的最优能量计算器。25表示存储OPC学习地址和OPC学习结果的存储器。50表示用于里面和外面圆周中的OPC学习结果的两点线性近似的里面和外面点线性内插器。27表示用于基于最优能量计算器24的计算结果控制光头21中配备的光信号处理电路的驱动电流的激光驱动装置。30表示焦点和寻迹伺服单元，用于从探测到来自光盘的反射光和由光头21中配备的光信号处理电路的光电探测器输出的信号产生焦点和寻迹信号，基于焦点和寻迹信号控制光头21中配备的光信号处理电路，并且执行焦点和寻迹控制。51表示用于确定最里面和最外面圆周中执行OPC学习的位置的PCA位置确定单元。28表示用来移动光信号处理电路的光头移动单元。

下面参见图30的流程图说明在图25中示出的光盘中采用图29中示出的光盘记录控制装置记录信息的常规方法。

在向光盘记录数据之前，执行测试记录(n10)。首先，在最里面圆周部分中的PCA区域的OPC学习中(n11)，执行测试记录，以致在记录峰值能量被逐步改变的状态下在光盘中记录信息。然后，激光被再次辐射到执行了测试记录的部分。从光盘反射的激光被光电探测器接收，并且接收到的反射光被转换为电信号。然后，从RF信号探测器22中的电信号提取RF成分(n52)。基于提取到的RF成分，光盘中写入的坑18的深度等被β值计算器23探测到。然后，计算记录能量和光盘媒体的特性之间的关系，以获取β值(n53)。在最优能量计算器24中，基于β值计算器23计算的β值计算在测试过程中的适于该光盘记录的记录能量(n54)。在确定了最里面圆周部分中的最优记录能量时，控制光头移动单元28，从而激光点移动到最外面圆周部分中的PCA区域。然后，在那里再次执行OPC学习并且计算相关最优记录能量(n12)。此时，OPC学习地址和计算的最优能量被存储在存储器25中。

下一步，确定当前记录部分中的最优记录能量(n13)。从存储器25读取在前面的步骤中计算的各个OPC学习地址和在相关地点中的最优记录能量(n101)。由两点线性近似基于读取的数据处理最里面圆周部分中的学习结果和最外面圆周部分中的学习结果，以计算当前记录部分中的最优记录能量(n102)。最后，基于计算的当前记录部分中的最优记录能量启动CAV记录(n14)。

目前，在光盘的记录控制中一直在推进高速记录，并且高速CAV记录是光盘记录领域的主流。然而，在常规方法中，光盘的径向方向上的中间部分中的最优记录能量只是基于最里面和最外面圆周部分中的OPC学习结果计算。因此，如果光盘表面的特性存在变化，那么盘的径向方向上的中间部分中的最优记录能量就会偏离想要的值，从而恶化记录质量。这样产生了缺点，例如，由于PI误差率的恶化可能获取到错误的地址，或者可能恶化与其它公司制造的驱动器的兼容性。近年来，因为大量具有拙劣质量的光盘，例如具有过度敏感、大的薄膜厚度和大的表面变形的光盘，已经在光盘市场中商业化，这个问题已经变得更加尖锐。

发明内容

因此，本发明的主要目的是通过采用适于光盘特性的最优记录激光能量来实现高质量的记录。

在本发明中，在该光盘的径向方向上的中间部分中顺序地执行OPC学习，以确定CAV记录中的从该光盘的里面圆周部分到外面圆周部分的最优记录激光能量进度表。

一种根据本发明的光盘记录控制方法，包括：

在光盘中记录数据之前，基于该光盘的里面圆周部分和外面圆周部分以及至少一个在该里面圆周部分和外面圆周部分之间的中间部分的最优能量控制OPC学习，计算最优记录能量；和

基于该里面圆周部分、外面圆周部分和中间部分在该光盘的径向方向上的位置偏移量与在该各个部分中计算的最优记录能量之间的相互关系来设置当前记录部分中的最优记录能量，以通过采用该设置的最优记录能量执行激光驱动控制来向该光盘记录该数据。

优选地，该光盘具有轨道，该轨道包括槽部分和平面部分，并且在该中间部分中计算该平面部分中的最优记录能量。

该槽部分是提供来实质上用于要被记录在夹在被该光盘的里面圆周部分(PCA区域)和外面圆周部分(PCA区域)中间的中间部分中的盘区域(数据区域)中的信息的区域。另一方面，该平面部分是具有例如用于记录该数据的地址信息的辅助信息的区域。在本发明中，不仅在该里面圆周和外面圆周中，还在作为该数据区域的中间部分(优选地，平面部分)中执行该OPC学***面部分中执行。因此，它可以被应用到R-***DVD，在R-***DVD中，由于该具有有机染料的物理特性，该数据只能被写一次。

在该前述的记录控制方法中有一个实施例，其中，在该光盘的里面圆周、外面圆周和中间部分中的至少一个区域中执行OPC学习之前，探测在该光盘执行OPC学习的部分中是否出现任何表面损伤，例如手印或划伤，以致光头被移动到没有表面损伤的任何位置。在此情况下，由于可以选择地在该没有例如手印或划伤的表面损伤的区域执行该OPC学习，所以可以以高精度执行该OPC学习，或者防止该OPC学习失败。结果，可以更精确地确定该最优记录能量，这确保了高质量的记录。

一种根据本发明的光盘记录控制装置，包括：

光头，用于把数据记录到光盘上；

OPC学习地址确定单元，用于在该光盘中记录数据之前，确定变为OPC学习目标的该光盘的里面圆周部分中盘的径向方向上的位置、该光盘的外面圆周部分中盘的径向方向上的位置和至少一个该里面圆周部分和外面圆周部分之间的中间部分中盘的径向方向上的位置；

光头移动单元，用于把该光头分别移动到该里面圆周部分、外面圆周部分和中间部分，光头在盘的径向方向上的位置由该OPC学习地址确定单元确定；

最优能量计算器，用于从被分别移动到该里面圆周部分、外面圆周部分和中间部分的光头发射并在其后从该光盘反射的激光中包括的表示该光盘特性的不规则性的信息，计算该里面圆周部分、外面圆周部分和中间部分中的最优记录能量；

存储器，用于存储由该OPC学习地址确定单元确定的该里面圆周部分、外面圆周部分和中间部分中沿该光盘的径向方向的位置偏移量与由该最优能量计算器计算的该各个部分中的最优记录能量之间的相互关系；

记录能量控制器，用于在记录该数据时，基于从该存储器读取的相互关系设置该光盘的当前记录部分中的最优记录能量；和

激光驱动装置，用于在记录该数据时，在通过该记录能量控制器的设置值控制该光盘的当前记录部分中的最优记录能量时，经由该光头把该数据记录到该光盘上。

根据此结构，在记录该数据前，执行该OPC的该盘的部分(地址)之间的相互关系和最优记录能量被存储在该存储器中。该OPC学习不是必需以该里面圆周部分→中间部分→外面圆周部分的顺序来执行，而是可以以任意顺序执行。在记录该数据时，该记录能量控制器基于该存储器中存储的相互关系设置该当前记录部分中的最优记录能量，并且基于该设置值控制该激光驱动装置，以致记录该数据。结果，可以以适于该光盘特性的最优激光能量记录该数据，并实现该高质量的CAV记录。

该光盘记录控制装置优选地进一步包括：

RF信号探测器，用于探测该激光的探测到的信号中包括的RF信号；和

β值计算器，用于从由该RF信号探测器探测到的RF信号测量表示该光盘特性的不规则性的β值，其中

该最优能量计算器把由该β值计算器测量的β值处理为表示该光盘特性的不规则性的信息。

从而，该最优能量计算器基于该β值(表示使用激光的在该光盘中记录数据中的强度的不规则性)设置执行该OPC学习的部分中的最优记录能量。

该光盘记录控制装置优选地进一步包括槽记录能量校正器，其中该槽记录能量校正器把由该最优能量计算器计算的该中间部分的平面部分中的最优记录能量校正为该中间部分的槽部分中的最优记录能量。

当在该槽部分中记录该数据时，该中间部分(平面部分)中的测试记录的一个目的是要计算该最优记录能量。当该平面部分中的记录和该槽部分中的记录彼此相等时，不是必须要校正该最优记录能量。然而，由于该平面部分和槽部分的形状的不同，在某些情况下，在该平面部分中的测试记录中获取的最优记录能量和当在该槽部分中记录该数据时的最优记录能量之间可能有误差。因此，提供该槽记录能量校正器，以致校正该平面部分中的OPC学习中计算的最优记录能量，从而能够改进该最优记录能量的设置精确性。

该光盘记录控制装置进一步包括平面/槽校正器，其中该平面/槽校正器校正由该最优能量计算器计算的该中间部分的平面部分中的最优记录能量，以消除由为了获取该平面部分中的最优记录能量而辐射的激光施加给与该相关平面部分相邻的槽部分的任何影响。

当在该平面部分中执行该OPC学***面部分相邻的槽部分不可避免地受到不小的影响。因此，校正由该最优能量计算器计算的最优记录能量，以致由该平面部分中的OPC学***面/槽校正器消除。从而，可以以更高精度设置该最优记录能量。

该光盘记录控制装置优选地进一步包括：

RF信号电平异常探测器，用于当该最优能量计算器计算该最优能量时，探测由该RF信号探测器探测到的RF信号的电平中是否产生异常；和

平面部分学***异常探测器探测到异常时，校正探测到该异常的盘的径向方向上的位置，其中

该光头移动单元把该光头移动到由该平面部分学习地址校正器校正的盘的径向方向上的位置，并且

该最优能量计算器从表示被移动到该盘的径向方向上的校正位置上的光头发射并在其后从该光盘反射的激光中包括的该光盘特性的不规则性的信息，重新计算盘的径向方向上的各个该位置上的最优记录能量。

该RF信号的电平可以示出由于例如执行该OPC学习的中间部分中的手印或划伤的该表面损伤而出现的异常。在这样的情况下，校正执行该OPC学习的部分的位置(地址)，并再次执行该OPC学习，以致可以以更高精度确定该最优记录能量，从而获得该更高质量的记录。

该光盘记录控制装置优选地进一步包括：

β值异常探测器，用于当该最优能量计算器计算该最优能量时，探测由该β值计算器计算的β值是否产生任何异常；和

平面部分学习地址校正器，用于当该β值异常探测器探测到该异常时，校正探测到该异常的盘的径向方向上的位置，其中

该光头移动单元把该光头移动到由该平面部分学习地址校正器校正的盘的径向方向上的位置；并且

该最优能量计算器从表示由被移动到该校正的盘的径向方向上的位置上的光头发射并在其后从该光盘反射的该激光中包括的光盘特性的不规则性的信息，重新计算盘的径向方向上的各个该位置上的最优记录能量。

该β值可以示出执行该OPC学习的中间部分中由于例如手印或划伤的该表面损伤的异常。在这样的情况下，校正该OPC学习地址，并再次执行该OPC学习，以致可以以更高精度确定该最优记录能量，从而获得该更高质量的记录。

该记录能量控制器优选地通过线性内插来处理该相互关系，以从而设置该当前记录部分中的最优记录能量，或经由最小二乘方法来处理该相互关系以致设置该当前记录部分中的最优记录能量。特别地，经由最小二乘方法处理各个平面部分中的该OPC学习结果，以致该里面圆周和外面圆周被线性地内插为简单的表达式P(x)＝Ax+B。结果，当产生该最优记录能量表时，可以减小固件中的处理负担，并实现该更高速度的记录。

该光盘记录控制装置进一步包括进一步包括错误监视器，用于在记录该数据的过程中当产生任何引起该记录中断的错误时，中断该记录，其中

该光头移动单元把该光头移动到产生该错误的盘的径向方向上的位置；

该最优能量计算器从表示由被移动到产生该错误的盘的径向方向上的位置上的光头发射并在其后从该光盘反射的激光中包括的光盘特性的不规则性的信息，计算产生该错误的盘的径向方向上的位置上的最优记录能量，并且

该存储器存储加入了由该最优能量计算器计算的产生该错误的盘的径向方向上的位置上的最优记录能量的相互关系。结果，可以进一步改进该记录质量。

该光盘记录控制装置进一步进一步包括附加记录位置探测器，用于当在该光盘中附加记录该数据时，探测附加记录位置的盘的径向方向上的位置，其中

该光头移动单元把该光头移动到其在盘的径向方向上的位置被该附加记录位置探测器探测到的该附加记录位置上；

该最优能量计算器从表示由被移动到该附加记录位置上的光头发射并在其后从该光盘反射的激光中包括的光盘特性的不规则性的信息，计算该附加记录位置上的最优记录能量；并且

该存储器存储加入了由该最优能量计算器计算的该附加记录位置上的最优记录能量的相互关系。

通过完成此工作，在该光盘的附加记录之前，从该附加记录位置执行了该平面部分中的OPC学习，因此，可以减小该OPC学习的时间长度，并且可以以高质量获取该附加记录。

该光盘记录控制装置进一步进一步包括损伤探测器，用于在基于该里面圆周部分、外面圆周部分和中间部分中的OPC学习计算该最优记录能量之前，探测该里面圆周部分、外面圆周部分或中间部分中是否出现任何表面损伤，较佳地

该OPC地址确定单元当该损伤探测器探测到表面损伤时，把探测到该表面损伤的里面圆周部分的盘的径向方向上的位置、外面圆周部分的盘的径向方向上的位置或中间部分的盘的径向方向上的位置，改变为没有出现表面损伤的位置。

通过完成此工作，在该OPC学习执行之前，检查执行该OPC学习的部分是否出现例如手印或划伤的该表面损伤，以致该光头被移动到没有表面损伤的该部分，从而在那里执行该OPC学习。因此，可以以更高精度执行该OPC学习或可以防止该OPC学习失败。结果，可以以更高的精度更精确地确定该最优记录能量，并可以以高质量完成该记录操作。

在本发明中，在至少一个该里面圆周部分和外面圆周部分之间的中间部分中顺序地执行该测试记录，以致确定该光盘的最优记录能量。结果，可以以适于该光盘特性的最优记录能量来执行该记录操作，并且可以以高质量实行该记录。

当执行该测试记录时，不是在为将要被实质上记录的该信息准备的槽部分中，而是在具有例如该地址信息的辅助信息的平面部分中，数据可以被没有任何困难地平稳写入。

根据本发明的该光盘记录控制装置被有效地用于控制操作中，在该控制操作中，它必须在对应于高速记录的光盘记录控制装置中获取激光二极管的特性或光盘的特性。

附图说明

本发明的这些和其它目标以及优点将通过下面本发明优选实施例的说明变得清楚。本领域技术人员将通过实现本发明注意到本说明书中没有叙述的许多好处。

图1为根据本发明优选实施例1的光盘记录媒体的基板上的部分结构的透视图。

图2为示出根据优选实施例1的光盘记录控制装置的结构的框图。

图3为示出根据优选实施例1的光盘记录控制装置的操作的流程图。

图4A为根据优选实施例1当前地址上的最优记录能量计算的图示。

图4B为根据优选实施例1在该当前地址上的最优记录能量计算的图示。

图5为示出根据本发明优选实施例2的光盘记录控制装置的结构的框图。

图6为示出根据优选实施例2的光盘记录控制装置的操作的流程图。

图7为示出根据本发明优选实施例3的光盘记录控制装置的结构的框图。

图8为示出根据优选实施例3的光盘记录控制装置的操作的流程图。

图9为示出根据本发明优选实施例4的光盘记录控制装置的结构的框图。

图10为示出根据优选实施例4的光盘记录控制装置的操作的流程图。

图11为示出根据本发明优选实施例5的光盘记录控制装置的结构的框图。

图12为示出根据优选实施例5的光盘记录控制装置的操作的流程图。

图13为示出根据本发明优选实施例6的光盘记录控制装置的结构的框图。

图14为示出根据优选实施例6的光盘记录控制装置的操作的流程图。

图15A为根据优选实施例6当前地址上的最优记录能量计算的图示。

图15B为根据优选实施例6在该当前地址上的最优记录能量计算的图示。

图16为示出根据本发明优选实施例7的光盘记录控制装置的结构的框图。

图17为示出根据优选实施例7的光盘记录控制装置的操作的流程图。

图18为示出根据本发明优选实施例8的光盘记录控制装置的结构的框图。

图19为示出根据优选实施例8的光盘记录控制装置的操作的流程图。

图20为示出根据本发明优选实施例9的光盘记录控制装置的结构的框图。

图21为示出根据本发明优选实施例10的光盘记录控制装置的结构的框图。

图22为示出根据优选实施例10的光盘记录控制装置的操作的流程图。

图23为示出根据优选实施例10的光盘记录控制装置的该操作的流程图。

图24为记录类型的光盘的截面图。

图25为记录类型的光盘的表面的透视图。

图26示出记录类型的光盘中的数据结构。

图27A为OPC学习中最优记录能量计算的图示。

图27B为该OPC学习中最优记录能量计算的图示。

图27C为该OPC学习中最优记录能量计算的图示。

图28A为根据常规技术当前地址上的最优记录能量计算的图示。

图28B为根据该常规技术在该当前地址上的最优记录能量计算的图示。

图29为示出根据常规技术的光盘记录控制装置的结构的框图。

图30为示出根据常规技术的光盘记录控制装置的操作的流程图。

具体实施方式

下面参照附图说明本发明的优选实施例。

优选实施例1

图1为根据本发明优选实施例1的光盘记录媒体的基板上的部分结构的透视图。在图1中，标记11表示被形成在光盘上的为螺旋或同心形状的槽部分。槽部分11是摆动的(弯曲的)。标记12表示被槽部分11夹在中间的平面部分。标记13表示平面上预刻坑，平面上预刻坑代表例如地址信息的用于记录数据的辅助信息。平面上预刻坑13相对于摆动信号具有预定的相位关系。平面上预刻坑13被提供在平面部分12中。标记14表示记录层，其光吸收率或折射率被输出记录激光能量的激光改变。标记15表示用于反射向光盘发射的激光的反射层。标记16表示被提供来抗热和抗磨损的保护层。标记17表示当执行记录操作时，示出槽部分11中要被写入的数据的数据记录坑。标记18表示示出OPC学习中测试记录的测试记录坑。保护层16主要要求满足例如抗热、抗磨损、粘附性和强度这样的特性。因此，强度优良的树脂，例如热固树脂、紫外加工树脂或电子辐射加工树脂，被用作保护层16的主要成分，另外，优选地还包括润滑剂。

图2为示出根据优选实施例1的光盘记录控制装置的结构的框图。图中，标记21表示光头。光头21包括光信号处理电路。光信号处理电路具有用于向光盘发射激光的激光二极管、用于探测从光盘反射的激光的光电探测器和用于接收激光的预刻光的预刻光光电探测器。标记22表示用于探测从由光头21接收的反射光产生的信号的RF信号成分的RF信号探测器。标记23表示用于计算β值的β值计算器。β值表示激光能量在光盘中写入的坑的深度的不规则性。标记24表示用于基于β值计算器23的计算结果计算用于光盘特性的最优激光能量的最优能量计算器。标记25表示存储OPC学***面部分或槽部分的平面/槽判断单元。标记29表示OPC学习地址确定单元，用于确定光盘20的最里面圆周部分和最外面圆周部分和至少一个最里面圆周部分和最外面圆周部分之间的中间部分中执行OPC学习的位置。标记28表示用于移动光头21的光头移动单元。

下面参照图3中示出的流程图详细地说明根据本优选实施例的光盘记录控制装置的操作。在对于具有图1中示出的结构的光盘进行记录数据之前，首先，在最里面圆周部分中的PCA区域的槽部分11中执行OPC学习(S11)。在S11的OPC学习中，执行测试记录，其中在逐步改变记录峰值能量的情况下，在光盘中记录数据(S51)。其后，回到执行测试记录的区域，光电探测器接收从光盘反射的激光，接收到的反射光被转换为电信号，并且RF信号探测器22从电信号提取出RF成分(S52)。β值计算器23基于提取到的RF成分探测在光盘中写入的测试记录坑18的深度等，从而计算记录能量和光盘媒体特性之间的关系，以致获取β值(S53)。最优能量计算器24基于β值计算器23获取的β值计算适于测试中的光盘的记录的最优记录能量(S54)。最里面圆周部分中的OPC学习结果(最优记录能量)和OPC学习地址(在盘的径向方向上的位置偏移量)以它们彼此对应的状态被存储在存储器25中。

当确定了最里面圆周部分中的最优记录能量时，控制光头21中的光信号处理电路，从而把激光点移动到中间部分中的平面部分12作为数据区域(S12)。在中间部分中的平面部分12中再次执行OPC学习，以计算最优记录能量(S13)。当完成OPC学习时，中间部分中的OPC学习地址(盘的径向方向上的位置偏移量)和相关部分中计算的最优记录能量以它们彼此对应的方式被记录在存储器25中(S14)。在当前状态中控制光头21中的光信号处理电路，并且OPC学习和因而发生的记录操作在激光点被向光盘的外面圆周侧移动时被执行一次或多次，直到激光点到达最外面圆周部分(S15)。当激光点到达最外面圆周部分时，在最外面圆周部分中的PCA区域(槽部分11)中执行OPC学习(S16)。最外面圆周部分中的OPC学习地址(盘的径向方向上的位置偏移量)和相关部分中计算的OPC学习结果以它们彼此对应的方式被记录在存储器25中(S14)。

在如此执行了前述的OPC学习操作后，记录数据。在记录数据中，首先计算当前记录部分中的最优记录能量(S17)。当确定当前记录部分中的最优记录能量时，从存储器25读出较早步骤中计算的OPC学习结果(最优记录能量)和OPC学习地址(盘的径向方向上的位置偏移量)(S101)，并且通过两点线性近似来处理执行OPC学习的相邻区域中的各个OPC学习结果，从而计算当前记录部分中的最优记录能量(S102和S103)。图4A和图4B为最优记录能量计算的图示。图4A示出CAV记录中执行OPC学习的位置。在最里面圆周、最外面圆周和中间部分中执行OPC学习，并且如图4B中所示，通过各个区域中的两点线性近似计算最优记录能量表。

最后，光头21移动到槽部分12(S18)，并基于计算的当前记录部分中的最优记录能量开始CAV记录(S19)。

在本优选实施例中，理想的是，光盘的特性越差，基本上执行中间部分中OPC学***面部分12)中重复OPC学习很多次时，在记录开始之前需要很多时间。为了解决这一问题，优选地，根据光盘特性设置应该执行OPC学习的次数。可以用实验方法计算根据光盘特性的OPC学习操作的次数。

根据本优选实施例，在数据记录之前，在中间部分(特别是其平面部分12)中重复地执行OPC学习，然后确定最终的最优记录能量，从而可以以高质量获得CAV记录。

优选实施例2

在本发明的优选实施例2中，校正由于平面部分和槽部分的不同形状导致的最优记录能量的差别。在槽部分11中记录数据，并且为了计算槽部分11中数据记录的最优记录能量，在中间部分(更具体地，其平面部分12)中执行测试记录。如果中间部分中的平面部分12中的记录和槽部分11中的记录是彼此等同的，那么校正就不是必需的。然而，由于平面部分12和槽部分11的实际上不同的形状，当在槽部分11中记录数据时，理想的是，校正在平面部分12中的测试记录中获取的最优记录能量。优选实施例2对应于此。以下说明根据优选实施例2的光盘记录控制装置。

图5为示出根据优选实施例2的光盘记录控制装置的结构的框图。在图5中，标记32表示槽记录能量校正器，用于把由最优能量计算器24计算的平面部分12中的最优记录能量校正为适于槽部分11的最优记录能量，并把校正的能量输出给存储器25。其它部件与根据优选实施例1的图2中示出的那些相同。简单地用相同标记来提供相同部件并且不再详述。

平面部分12和槽部分11分别为凸出部分和凹进部分，并且它们光点辐射的区域的形状是不同的。因此，分别适于平面部分12和槽部分11的最优记录能量彼此不同。因此，优选实施例1中所说明的，通过中间部分(平面部分12)中的OPC学习计算的最优记录能量，由槽记录能量校正器32校正并改为中间部分的槽部分11中的最优记录能量。从而，可以以高质量记录数据。

适于槽部分11的最优记录能量以这样的方式计算：如下面表达式中示出的，槽部分11中的最优记录能量被乘以一个系数k。

[槽部分中的最优记录能量]＝k×[平面部分中的最优记录能量]

参照图6中示出的流程图说明根据本优选实施例的光盘记录控制装置的操作。操作直到步骤S15下面的确定终止都与优选实施例1中所说明的相同。步骤S15a被紧邻地***到步骤S16之前。在步骤S15a中，较早步骤中计算的中间部分(平面部分12)中的最优记录能量被乘以系数k，从而校正最优记录能量。结果，确定了中间部分(槽部分11)中的最优记录能量。

优选实施例3

图7为示出根据本发明优选实施例3的光盘记录控制装置的结构的框图。在图7中，标记33表示平面/槽校正器，用于根据由于平面部分中的数据记录的影响来校正最优能量计算器24的值。其余部件与优选实施例1(图2)中说明的那些相同。简单地用相同标记来提供相同部件并且不再详述。

下面参照图8中示出的流程图详细地说明根据本优选实施例的光盘记录控制装置的操作。

该光盘中记录数据之前，首先，在最里面圆周部分中的PCA区域的槽部分11中执行OPC学***面部分12中执行OPC学***面部分12和槽部分11中的OPC学习结果确定校正系数(S11c)。

接下来，执行与优选实施例1中执行的类似的步骤S12和S13，其后，在步骤S13a中，计算中间部分中的最优记录能量用于校正。通过利用步骤S11c中确定的校正系数来执行最优记录能量的校正计算。然后，执行步骤S14-S18，这与优选实施例1中的处理相同。

在本优选实施例中，理想的是，所用光盘的特性越差，基本上执行中间部分中OPC学习就越频繁。然后，适应表面的敏感度和薄膜厚度的变化而可以精确地获取当前记录部分中的最优记录能量。当在中间部分中重复OPC学习很多次时，在记录开始之前需要很多时间。为了处理这一问题，理想的是，根据光盘特性设置应该执行OPC学习的次数。可以用实验方法计算根据光盘特性的OPC学习操作的次数。

根据本优选实施例，在记录数据之前，基于最里面圆周部分(可以是最外面圆周部分)的槽部分11和平面部分12中的OPC学***面部分12)中的最优记录能量。从而，可以以高质量实现CAV记录。

优选实施例4

在中间部分(数据区域)的平面部分12中的OPC学***面部分12中，那么反射光的RF信号的电平就会被削弱，并且它会基于OPC学习给出不正确的最优记录能量。本发明的优选实施例4解决此问题。

图9为示出根据优选实施例4的光盘记录控制装置的结构的框图。图9中，标记34表示RF信号电平异常探测器。RF信号电平异常探测器34探测RF信号探测器22探测到的RF信号的电平是否显示任何异常。标记35表示平面部分学***的异常时，平面部分学***面部分中OPC学习的地址，以再次执行OPC学习。其余部件与优选实施例1(图2)中说明的那些相同。简单地用相同标记来提供相同部件并且不再详述。

下面参照图10中示出的流程图详细地说明根据本优选实施例的光盘记录控制装置的操作。在下面的说明中，主要说明探测OPC学***异常的方法，以及当探测到异常时，校正再次执行OPC学习的地址的方法。其余操作与优选实施例1的那些类似。

在OPC学***异常探测器34判断提取出的RF成分的电平是否在预定的范围内。当它判断该电平不在预定的范围内时，RF成分电平被判断为显示反常值(错误)，并终止相关OPC学***小于正常执行记录操作情况下的RF信号的电平。可以用实验方法计算用于判断反常值的RF信号电平的区域。当提取到的RF成分电平在预定范围内时，执行步骤53和其后的步骤。

当OPC学习由于错误被终止时，校正当前执行OPC学习的盘径向位置(地址)，并且在校正后的径向位置再次执行OPC学习(S13b和S13c)。当OPC学习被正常终止时，盘的径向方向上的OPC学习部分的位置偏移量以及相关OPC学习部分中计算的最优记录能量以它们彼此对应的状态被存储在存储器25中(S14)。接下来的步骤S15-S18与优选实施例1中的那些类似。

相对于光盘的圆周方向来说，例如光盘上的手印或划伤的表面损伤倾向于沿光盘20的径向方向出现更多。因此，当根据本方法校正OPC学习部分时，优选地，把OPC学习部分的地址设置为基于由于错误终止OPC学习的部分(地址)作为开始点的圆周方向上连续的地址中的任意一个。

根据本优选实施例，在记录数据之前执行的中间部分(数据区域)中的OPC学***由于例如手印或划伤的表面损伤而异常时，OPC学习部分被切换到另一部分，在该另一部分再次执行OPC学习。结果，可以更精确地确定最优记录能量，从而可以高质量地实现记录。

优选实施例5

在中间部分的平面部分12中的OPC学***面部分12中出现例如手印或划伤的表面损伤的情况下，β值显示反常值，从而基于OPC学习的最优记录能量设置不利地变为不精确。本发明的优选实施例5解决此问题。

图11为示出根据优选实施例5的光盘记录控制装置的结构的框图。在图11中，标记36表示β值异常探测器，用于探测由β值计算器23计算的β值的异常。标记35a表示平面部分学***面部分学习地址校正器35a确定再次执行OPC学习的中间部分(径向位置)中的地址。其余结构与图2中示出的优选实施例1的结构类似。

下面参照图12中示出的流程图详细说明根据本优选实施例的光盘记录控制装置的操作。在下面的说明中，主要说明探测OPC学习中β值异常的方法以及在探测到异常时，校正再次执行OPC学习的地址的方法。其余部件与优选实施例1(图2)中说明的那些类似。简单地用相同标记来提供类似部件并且不再详述。

在OPC学***小于正常记录操作中的RF信号电平。因此，从RF信号计算的β值示出与正常记录操作不同的值。可以用实验方法计算用于判断反常值的β值范围。当计算的β值在预定范围内时，接下来执行步骤S54。

当OPC学习被由于错误终止时，当前执行OPC学习的盘的径向位置(地址)被改变，并且在将被改变的部分中再次执行OPC学习(S13c)。当OPC学习被正常终止时，OPC学习部分和计算的最优记录能量以它们彼此对应的状态被存储在存储器25中(S14)。接下来的步骤S15-S18与优选实施例1中的那些类似。

在改变OPC学习部分的一部分的方法中，优选地，以与较早说明的优选实施例类似的方式，把OPC学习部分的地址设置为基于由于错误终止OPC学习的部分(地址)作为开始点的圆周方向上连续的地址中的任意一个。

根据本优选实施例，当探测到由于例如手印或划伤的表面损伤的β值异常时，在记录数据之前执行OPC学习的部分中，OPC学习部分被改变，从而在那里再次执行OPC学习。结果，可以更精确地确定最优记录能量，从而高质量地完成记录操作。

优选实施例6

在本发明的优选实施例6中，记录能量控制器包括经由最小二乘方法代替多点线性内插执行线性内插的结构。在优选实施例1-5中，最优记录能量被准备在表格中并寄存在存储器中。在使用最优记录能量表的情况下，固件中产生表格的处理负担大。本优选实施例处理此不便。

图13为示出根据优选实施例6的光盘记录控制装置的结构的框图。在本优选实施例中，最小二乘方法线性内插器被提供在根据优选实施例1(图2)的结构中作为记录能量控制器，代替优选实施例1-5中的多点线性内插器。其余部件与优选实施例1(图2)中说明的那些相同。简单地用相同标记来提供相同部件并且不再详述。

下面参照图14中示出的流程图说明根据本优选实施例的光盘记录控制装置的操作。在基于优选实施例1的本优选实施例中，主要说明采用经由最小二乘方法的近似确定当前记录部分的最优记录能量的方法。其它操作，即OPC操作和确定最优记录能量之后的操作，与优选实施例1中的那些类似。

以与优选实施例1类似的方式，在最里面圆周、最外面圆周和中间部分中执行OPC学习，并且获取的OPC学习结果以它们对应于盘的径向方向上的各个部分的位置偏移量的状态被存储在存储器25中。接下来，当记录数据时，确定当前记录部分中的最优记录能量(S17)。当确定当前记录部分中的最优记录能量时，从存储器25中读取在之前步骤中计算的OPC学习结果和径向方向上的OPC学习部分的位置偏移量(S101)。然后，如图15B中所示，从所有OPC学习结果经由最小二乘方法产生线性近似表达式：[P(x)＝Ax+B](S104)。经由近似表达式计算当前记录部分中的最优记录能量(S105)。然后，光头21被移动到槽部分11(S18)，并且基于计算的当前记录部分中的最优记录能量开始CAV记录(S19)。

根据本优选实施例，在不利用最优记录能量表的情况下，在根据经由最小二乘方法的这个简单的线性近似表达式：[P(x)＝Ax+B]，在数据记录操作中计算对应于当前地址的最优记录能量之后，记录数据。从而在减小固件中处理负担的情况下，可以以更高速度完成记录操作。更进一步，以消除了来自局部产生的表面损伤(划伤或黑点)的影响的方式确定最终最优记录能量。结果，可以以更高质量完成CAV记录。

本优选实施例中说明的技术可以被应用到优选实施例2-5中。

优选实施例7

图16为示出根据本发明优选实施例7的光盘记录控制装置的结构的框图。图16中，任何与优选实施例1(图2)的那些相同的部件，简单地用相同标记来提供相同部件并且不再详述。在本优选实施例中提供错误监视器37。错误监视器37监视例如缓冲器欠载运行的错误，当产生错误时暂时终止数据记录操作，然后再次执行OPC学习。其余结构与优选实施例1的那些类似。

下面参照图17中示出的流程图具体地说明根据本优选实施例的光盘记录控制装置的操作。根据本优选实施例的记录方法与优选实施例1的记录方法类似。在优选实施例7中，当暂时中断记录操作时，重复下面说明的记录方法。

当在与优选实施例1的操作类似的操作中由于产生错误而暂时中断记录操作时，错误监视器37重新计算产生错误的位置(记录部分)处的最优记录能量(S20)。更具体地，错误监视器37连续地监视错误(S21)，并在产生错误的情况下，在产生错误时的位置上执行OPC学***面部分12(S31)，并在那里执行OPC学习(S32)。这样计算的OPC学习部分的盘径向位置(地址)和最优记录能量作为相互关系被附加存储在存储器25中(S33)。当记录数据时，基于其中附加记录了错误产生位置上的最优记录能量的相互关系来确定当前记录部分中的最优记录能量(S34)。在当前记录部分的最优记录能量中，从存储器25读取在之前步骤中计算的OPC学习结果和盘径向方向上的各个位置(地址)，然后，基于错误产生位置(当前记录部分之前紧邻的记录部分)上的OPC学习结果和当前记录部分的前侧的彼此相邻的OPC学习部分中的OPC学习结果，通过两点线性近似(参见图4)的处理，计算当前记录部分中的最优记录能量。在前述处理之后，光头21被移动到数据记录被暂时中断的径向位置(错误产生点)上(S35)，以重新开始数据记录。

在本优选实施例中，理想的是，所用光盘的特性越差，基本上执行中间部分中OPC学***面部分中重复OPC学习很多次时，在记录开始之前需要很多时间。理想的是，根据光盘特性设置OPC学习操作的次数。可以用实验方法计算根据光盘特性的OPC学习操作的次数。

根据本优选实施例，在数据记录之前，中间部分中重复OPC学习之后，在数据记录中仍然产生错误的情况下，可以把错误产生部分用作OPC学习部分，以致可以更精确地确定最优记录能量。从而可以以高质量实现CAV记录，并且记录的数据可以在由其它公司提供的光盘再现装置中被再现。

优选实施例8

图18为示出根据本发明优选实施例8的光盘记录控制装置的结构的框图。图18中，任何与优选实施例1(图2)的那些相同的部件，简单地用相同标记来提供相同部件并且不再详述。在本优选实施例中，进一步提供附加记录位置探测器38，用于当在光盘中附加地记录数据时，探测附加记录位置。

下面参照图19中示出的流程图具体说明根据本优选实施例的光盘记录控制装置的操作。

当在光盘中附加记录数据时，在记录数据之前，执行测试记录以计算用于数据记录的最优记录能量(S10)。在测试记录中，首先，附加记录位置探测器38获取开始附加记录操作的附加记录位置的盘径向方向上的位置(地址)(S11a)。接下来，控制光头21中的光信号处理电路，以致激光点被移动到附加记录部分的平面部分(S12a)，并且在相关部分中执行OPC学习(S13)。OPC学习(S13)以及之后的处理与优选实施例1中执行的那些类似。

在本优选实施例中，在获取的中央部分中的最优记录能量与优选实施例1的最优记录能量相等的情况下，减小了附加记录部分。因此，可以减小OPC学习操作的次数，也就是说，可以削减执行OPC学习的时间长度。在与优选实施例1中所说明的一样频繁地执行OPC学习的情况下，用于OPC学习的相同时间量中可以获取更精确的最优记录能量。可以用实验方法计算根据光盘特性的OPC学习操作的次数。

根据本优选实施例，在光盘的附加记录之前，在附加记录部分中执行OPC学习。结果，可以减少OPC学习时间，可以更精确地确定最优记录能量，并且可以以高质量完成附加记录操作。

优选实施例9

图20为示出根据本发明优选实施例9的光盘记录控制装置的结构的框图。图20中，任何与优选实施例1(图2)的那些相同的部件，简单地用相同标记来提供相同部件并且不再详述。在本优选实施例中，由虚线包围的方形部分表示用于根据本优选实施例执行记录控制的信号电路的结构。

根据本优选实施例的结构包括记录能量控制器26。记录能量控制器26基于最优能量计算器24的计算结果产生与多个OPC学习结果近似的驱动电流控制信号，并把产生的驱动电流控制信号输出给激光驱动装置27。

根据本优选实施例的光盘装置的操作与优选实施例1的操作类似。

实施例10

图21为示出根据本发明优选实施例10的光盘记录控制装置的结构的框图。图21中，任何与优选实施例1(图2)的那些相同的部件，简单地用相同标记来提供相同部件并且不再详述。在本优选实施例中，进一步提供损伤探测器39，用于探测盘中在光盘的OPC学习中执行OPC学习的部分中是否出现例如手印或划伤的表面损伤。

损伤探测器39的输入是光头21中包括的用于探测从光盘20反射的激光的光电探测器(未示出)的输出。当探测到光电探测器的输出电平与预定值相比削弱时，光电探测器39判断是否在光盘20的激光辐射的部分中出现例如手印或划伤的表面损伤。损伤探测器39把判断结果提供给OPC学习地址确定单元29。OPC学习地址确定单元29接到来自损伤探测器39的光盘20中的激光辐射部分上出现表面损伤的通知，把OPC学习位置改变指令输出给光头移动单元28。OPC学习位置改变指令指示光头21向光盘中没有出现表面损伤的任何部分的移动。

下面参照图22和图23中示出的流程图具体说明根据本优选实施例的光盘记录控制装置的操作。在光盘中记录数据之前，移动光头21的记录位置，以计算数据记录中使用的最优记录能量(S10a)。移动的目标设置在执行OPC学***的状态下，确认执行测试记录的区域中是否出现表面损伤(S10b)。当在步骤S10b中在测试记录的区域中探测到表面损伤时，损伤探测器39向学习地址确定单元29和光头移动单元28发出用于把光头21的记录位置移动到相关PCA区域中的不同位置的指令。接收到指令的光头移动单元28把光头21的记录位置移动到由OPC学习地址确定单元29指定的PCA区域中的不同位置(假定不包括任何表面损伤的部分)(S10c)。然后，再次执行步骤S10b。当在步骤S10中在执行测试记录的区域中没有探测到表面损伤时，省略步骤S10c并执行OPC学习(S11)。OPC学习(S13)和以后的处理与优选实施例1中执行的那些处理类似。

可以在中间部分(数据记录区域)和最外面圆周部分中执行OPC学习的步骤(S13和S16)之前执行步骤S10a至步骤S10c。在这种情况下，光头21被设置为不是在PCA区域中，而是在步骤S10c(图22中的S10d)中执行OPC学习的轨道的附近移动。

根据本优选实施例，在数据记录之前执行的OPC学***的异常导致的OPC学习精度的显著恶化，或防止产生例如OPC学习失败的错误。结果，可以实现其中更精确地确定了最优记录能量的高质量的记录操作。

尽管已经说明了目前所认为的本发明的优选实施例，但是可以理解，可以对它们进行各种修改，只要这些修改落入本发明的真正精神和范围内，可以认为这些修改由附加权利要求所覆盖。

Claims (20)

1、一种光盘记录控制方法，包括：

在光盘中记录数据之前，基于该光盘的里面圆周部分和外面圆周部分以及至少一个在该里面圆周部分和外面圆周部分之间的中间部分的最优能量控制OPC学习，计算最优记录能量；和

基于该里面圆周部分、外面圆周部分和中间部分在该光盘的径向方向上的位置偏移量与在该各个部分中计算的最优记录能量之间的相互关系来设置当前记录部分中的最优记录能量，以通过采用该设置的最优记录能量执行激光驱动控制来向该光盘记录该数据。

2、如权利要求1所述的光盘记录控制方法，其中

该光盘具有轨道，该轨道包括其中记录数据的槽部分和其中记录辅助信息的平面部分，其中

基于该中间部分中的OPC学***面部分中的最优记录能量。

3、如权利要求2所述的光盘记录控制方法，其中

在该里面圆周部分和外面圆周部分中计算该槽部分中的最优记录能量。

4、如权利要求1所述的光盘记录控制方法，其中

在该里面圆周部分和外面圆周部分中计算能量校准区域PCA中的最优记录能量。

5、如权利要求1所述的光盘记录控制方法，进一步包括：

在基于该里面圆周部分、外面圆周部分或中间部分中的OPC学习计算该最优记录能量的步骤之前，探测在该里面圆周部分、外面圆周部分或中间部分中是否出现任何表面损伤，其中

在探测到该表面损伤的里面圆周部分、外面圆周部分或中间部分中的盘的径向方向上的位置被改变为没有出现表面损伤的位置，然后基于用于基于该OPC学习计算最优记录能量的步骤中的OPC学习计算该最优记录能量。

6、一种光盘记录控制装置，包括：

光头，用于把数据记录到光盘上；

OPC学习地址确定单元，用于在该光盘中记录数据之前，确定变为OPC学习目标的该光盘的里面圆周部分中盘的径向方向上的位置、该光盘的外面圆周部分中盘的径向方向上的位置和至少一个该里面圆周部分和外面圆周部分之间的中间部分中盘的径向方向上的位置；

光头移动单元，用于把该光头分别移动到该里面圆周部分、外面圆周部分和中间部分，光头在盘的径向方向上的位置由该OPC学习地址确定单元确定；

最优能量计算器，用于从被分别移动到该里面圆周部分、外面圆周部分和中间部分的光头发射并在其后从该光盘反射的激光中包括的表示该光盘特性的不规则性的信息，计算该里面圆周部分、外面圆周部分和中间部分中的最优记录能量；

存储器，用于存储由该OPC学习地址确定单元确定的该里面圆周部分、外面圆周部分和中间部分中沿该光盘的径向方向的位置偏移量与由该最优能量计算器计算的该各个部分中的最优记录能量之间的相互关系；

记录能量控制器，用于在记录该数据时，基于从该存储器读取的相互关系设置该光盘的当前记录部分中的最优记录能量；和

激光驱动装置，用于在记录该数据时，在通过该记录能量控制器的设置值控制该光盘的当前记录部分中的最优记录能量时，经由该光头把该数据记录到该光盘上。

7、如权利要求6所述的光盘记录控制装置，其中

该光盘具有轨道，该轨道包括其中记录该数据的槽部分和其中记录辅助信息的平面部分，并且

该OPC学***面部分中的该盘的径向方向上的位置确定为该中间部分中的该盘的径向方向上的位置。

8、如权利要求7所述的光盘记录控制装置，其中

该OPC学习地址确定单元把该里面圆周部分中的任意槽部分中的该盘的径向方向上的位置确定为该里面圆周部分中的该盘的径向方向上的位置，并将该外面圆周部分中的任意槽部分中的该盘的径向方向上的位置确定为该外面圆周部分中的该盘的径向方向上的位置。

9、如权利要求6所述的光盘记录控制装置，其中

该OPC学习地址确定单元把该里面圆周部分中的PCA中的该盘的径向方向上的位置确定为该里面圆周部分中的该盘的径向方向上的位置，并将该外面圆周部分中的PCA中的该盘的径向方向上的位置确定为该外面圆周部分中的该盘的径向方向上的位置。

10、如权利要求6所述的光盘记录控制装置，进一步包括：

RF信号探测器，用于探测该激光的探测到的信号中包括的RF信号；和

β值计算器，用于从由该RF信号探测器探测到的RF信号测量表示该光盘特性的不规则性的β值，其中

该最优能量计算器把由该β值计算器测量的β值处理为表示该光盘特性的不规则性的信息。

11、如权利要求7所述的光盘记录控制装置，进一步包括槽记录能量校正器，其中

该槽记录能量校正器把由该最优能量计算器计算的该中间部分的平面部分中的最优记录能量校正为该中间部分的槽部分中的最优记录能量。

12、如权利要求7所述的光盘记录控制装置，进一步包括平面/槽校正器，其中

该平面/槽校正器校正由该最优能量计算器计算的该中间部分的平面部分中的最优记录能量，以消除由为了获取该平面部分中的最优记录能量而辐射的激光施加给与该平面部分相邻的槽部分的任何影响。

13、如权利要求12所述的光盘记录控制装置，其中

该平面/槽校正器基于彼此比较从该里面圆周部分或外面圆周部分中的槽部分和平面部分反射的激光的结果，来校正该中间部分的平面部分中的最优记录能量，以消除由为了获取该平面部分中的最优记录能量而辐射的激光施加给与该平面部分相邻的槽部分的任何影响。

14、如权利要求10所述的光盘记录控制装置，进一步包括：

RF信号电平异常探测器，用于当该最优能量计算器计算该最优记录能量时，探测由该RF信号探测器探测到的RF信号的电平中是否产生异常；和

平面部分学***异常探测器探测到异常时，校正探测到该异常的盘的径向方向上的位置，其中

该光头移动单元把该光头移动到由该平面部分学习地址校正器校正的盘的径向方向上的位置，并且

该最优能量计算器从表示被移动到该盘的径向方向上的校正位置上的光头发射并在其后从该光盘反射的激光中包括的该光盘特性的不规则性的信息，重新计算盘的径向方向上的各个该位置上的最优记录能量。

15、如权利要求10所述的光盘记录控制装置，进一步包括：

β值异常探测器，用于当该最优能量计算器计算该最优记录能量时，探测由该β值计算器计算的β值是否产生任何异常；和

平面部分学习地址校正器，用于当该β值异常探测器探测到该异常时，校正探测到该异常的盘的径向方向上的位置，其中

该光头移动单元把该光头移动到由该平面部分学习地址校正器校正的盘的径向方向上的位置；并且

该最优能量计算器从表示由被移动到该校正的盘的径向方向上的位置上的光头发射并在其后从该光盘反射的该激光中包括的光盘特性的不规则性的信息，重新计算盘的径向方向上的各个该位置上的最优记录能量。

16、如权利要求6所述的光盘记录控制装置，其中

该记录能量控制器执行该相互关系的线性内插处理，从而设置该当前记录部分中的最优记录能量。

17、如权利要求6所述的光盘记录控制装置，其中

该记录能量控制器经由最小二乘方法处理该相互关系，从而设置该当前记录部分中的最优记录能量。

18、如权利要求6所述的光盘记录控制装置，进一步包括错误监视器，用于在记录该数据的过程中当产生任何引起该记录中断的错误时，中断该记录，其中

该光头移动单元把该光头移动到产生该错误的盘的径向方向上的位置；

该最优能量计算器从表示由被移动到产生该错误的盘的径向方向上的位置上的光头发射并在其后从该光盘反射的激光中包括的光盘特性的不规则性的信息，计算产生该错误的盘的径向方向上的位置上的最优记录能量，并且

该存储器存储加入了由该最优能量计算器计算的产生该错误的盘的径向方向上的位置上的最优记录能量的相互关系。

19、如权利要求6所述的光盘记录控制装置，进一步包括附加记录位置探测器，用于当在该光盘中附加记录该数据时，探测附加记录位置在盘的径向方向上的位置，其中

该光头移动单元把该光头移动到该附加记录位置上，该附加记录位置在盘的径向方向上的位置是被该附加记录位置探测器探测到的；

该最优能量计算器从表示由被移动到该附加记录位置上的光头发射并在其后从该光盘反射的激光中包括的光盘特性的不规则性的信息，计算该附加记录位置上的最优记录能量；并且

该存储器存储加入了由该最优能量计算器计算的该附加记录位置上的最优记录能量的相互关系。

20、如权利要求6所述的光盘记录控制装置，进一步包括损伤探测器，用于在基于该里面圆周部分、外面圆周部分和中间部分中的OPC学习计算该最优记录能量之前，探测该里面圆周部分、外面圆周部分或中间部分中是否出现任何表面损伤，其中

该OPC学习地址确定单元当该损伤探测器探测到表面损伤时，把探测到该表面损伤的里面圆周部分的盘的径向方向上的位置、外面圆周部分的盘的径向方向上的位置或中间部分的盘的径向方向上的位置，改变为没有出现表面损伤的位置。

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