CN100412978C - 记录方法与装置 - Google Patents

Abstract

一种记录方法、记录装置、光学记录介质、和计算机可读记录介质，所述记录介质中存储了用于所述记录方法的程序，其中所述方法包括：将在整个临时缺陷信息之中的具有大小等于预定大小(K)的倍数(N＝0、1、2、…)的临时缺陷信息以及在该整个临时缺陷信息之中的排除大小等于K×N的临时缺陷信息之外的剩余的临时缺陷信息分别记录到光学记录介质中。

Description

记录方法与装置

技术领域

本发明涉及一种记录缺陷管理信息的方法、一种记录装置、一种光学记录介质和一种存储所速记录方法的程序的计算机可读记录介质。

背景技术

在缺陷管理中，将用户数据重写在用户数据区的缺陷部分中，以补偿由出现缺陷所造成的数据丢失。缺陷管理分为：使用线性置换(linearreplacement)的缺陷管理方法和使用跳跃置换(skipping replacement)的缺陷管理方法。在线性置换中，当用户数据区中出现缺陷时，缺陷部分被备用区的非缺陷部分所代替。在跳跃置换中，“跳过”缺陷部分并且只使用非缺陷区。

该线性置换和跳跃置换方式两者仅适用于允许反复记录和由随机存取法记录的盘例如DVD-RAM/RW。换句话说，将所述线性置换法或所述跳跃置换法应用到只能被写入一次的一次写入式盘是困难的。这是因为，在线性置换和跳跃置换法中，在数据已经记录在盘上后才能确定是否出现缺陷。

目前已开发除了遵从CD-R标准和DVD-R标准的具有几十吉比特(GB)记录容量的高密度一次写入式盘等。由于一次写入式盘具有相对低的价格、允许随机存储和可以相对高的速率来读取，因而该一次写入式盘可被用于数据备份。然而，因为这样的一次写入式盘不能执行缺陷管理，所以如果在数据备份过程中产生缺陷部分的话，该数据备份将会被中断。而且，因为数据备份是在***使用相对低期间，例如，在***管理员不在的晚上进行的，所以如果在数据备份期间出现缺陷部分时，数据备份被中断，这种中断状态可能无法解决。

其上可由驱动器进行缺陷管理的一次写入式介质包括：用来存储盘在使用中所产生的缺陷管理信息和指示盘的记录状态的信息的区域。由于当需要信息更新时，可能在一次写入式介质上执行重写操作，这与可重写设备一样，所以，为了确保期望的更新程度，该一次写入式介质需要大的存储容量。

同时，在驱动器执行缺陷管理的过程中，在写入数据后，由差错检验得到的缺陷信息被作为临时的缺陷信息暂存起来。如果，记录在盘上的数据已完成，也就是说如果再也没有要在该盘上记录的数据时(也就是说当数据已结束时)，记录在盘上的临时缺陷信息和与临时缺陷信息位置有关的临时缺陷管理信息被记录在盘的一个缺陷管理区域上。

图1A是传统的记录临时缺陷信息的方法的说明图。图1A所示的方法是一个积累和存储临时缺陷信息的一般的方法。

在每一个记录操作过程中更新该临时缺陷信息，其中，该操作可能是一个写入后校验操作(或多个写入后校验操作)或是弹出操作；其中，通过以这种写入后校验操作对一个预定扇区或簇进行写入并校验，并通过弹出操作将盘插进驱动器中，然后在盘上记录数据或在盘上再现所记录的数据，然后将盘弹出。

参考图1A，在记录操作#1中，与缺陷#0有关的信息被记录；在记录操作#2中，与缺陷#1有关的信息和与缺陷#0有关的信息被积累和记录；在记录操作#3中，与缺陷#2有关的信息、与缺陷#1有关的信息和与缺陷#0有关的信息被积累并记录；在记录操作#4中，与缺陷#3有关的信息、与缺陷#2有关的信息、与缺陷#1有关的信息和与缺陷#0有关的信息被积累并记录。记录操作#5和#6是以类似的方式进行操作的。

在这个临时缺陷信息记录方法中，当更新数量增加时，该临时缺陷信息的数量也增加。因此，数据记录所需的簇的数量增加并且需要一个更大的储存临时缺陷信息的临时缺陷信息区域。

为了解决这样的问题，已开发了一种方法，该方法仅记录在相应的记录操作中产生的缺陷信息而不对临时缺陷信息进行积累并存储。

图1B是一个记录临时缺陷信息的传统方法的说明图。图1B所示的方法仅记录在相应的记录操作中产生的临时缺陷信息。

参考图1B，在记录操作#1中，在该相应记录操作#1中产生的与缺陷#0有关的信息被记录；在记录操作#2中，在该记录操作#2中产生的与缺陷#1有关的信息被记录；在记录操作#3中，在该记录操作#3中产生的与缺陷#2有关的信息被记录。同样地，每一个操作仅仅记录在相应的操作中产生的缺陷信息。

根据这个传统的方法，使得在一个比应用图1A所示的方法更小的区域中记录一个相等的临时缺陷信息数量成为可能。然而，为了得到最后临时缺陷信息，该传统方法需要一个将从记录与缺陷#0有关的信息的部分到记录与最终的缺陷有关的信息的部分的所有数据读出并进行排列的步骤，因而数据再现费时而复杂。

发明内容

本发明提供一种在减少该临时缺陷信息所需的容量时有效地读出临时缺陷信息的记录方法、记录装置和光学记录介质。

根据本发明的一个方面所提供的一种记录方法，该方法包括将在整个临时缺陷信息中的大小等于预定大小(K)的倍数(N＝0、1、2、...)的临时缺陷信息和在整个临时缺陷信息中排除大小等于K×N的临时缺陷信息后的剩余的临时缺陷信息分开记录到该光学记录介质。

根据本发明的一个方面，该方法包括将大小为K×N的临时缺陷信息的大小信息、指示该大小为K×N的临时缺陷信息的位置的信息以及指示该排除大小为K×N的临时缺陷信息外的剩余临时缺陷信息的位置的信息记录到该光学记录介质。

根据本发明的一个方面，该光学记录介质是一个一次写入式介质。

根据本发明的另一方面，提供一种记录方法包括：在每一操作中，连续地将在整个临时缺陷信息中大小为的预定大小(K)的倍数(N＝0、1、2、...)的临时缺陷信息记录到一个光学记录介质中至少一部分中去；以及在每次操作中，将整个临时缺陷信息中排除大小为K×N的临时缺陷信息外的剩余临时缺陷信息积累并记录到该光学记录介质中去，直到所积累的临时缺陷信息的大小达到K为止。

根据本发明的一个方面，该记录方式进一步包括将大小为预定大小(K)的倍数(N＝0、1、2、...)的(K×N)临时缺陷信息的大小信息、指示大小为预定大小的倍数的临时缺陷信息的位置的信息和指示积累的临时缺陷信息的位置的信息记录到光学记录介质。

根据本发明的一个方面，该记录方式进一步包括：如果在这些操作中的一个过程中，该剩余临时缺陷信息之大小达到该预定大小K，将大小为K×N的临时缺陷信息和排除大小为K的临时缺陷信息外的剩余临时缺陷信息连续地记录到该光学记录介质的至少一部分中。

根据本发明的一个方面，该记录方法进一步包括将上述连续记录的临时缺陷信息的大小信息(K×N+K)和指示上述连续记录的临时缺陷信息的位置的信息记录到该光学记录介质。

根据本发明的另一个方面，提供一个计算机可读的介质，其中该介质具有执行一种记录方法的计算机程序，其中该记录方法包括：分开存储在整个临时缺陷信息中大小为预定大小(K)的倍数(N＝0、1、2、...)的临时缺陷信息以及积累的在整个临时缺陷信息中排除大小为K×N的临时缺陷信息外的临时缺陷信息；并存储大小等于K×N的临时缺陷信息的大小信息、指示该大小为K×N的临时缺陷信息的位置的信息和指示该剩余临时缺陷信息的位置的信息。

本发明的另一些方面和/或优点将在下面的描述中部分地阐述，并且部分地将可从该描述中显而易见地得出或可通过本发明的实践得知。

附图说明

通过下面结合附图对实施例的描述，本发明的这些和/或其他方面和优点将变得明显和更加容易理解，其中：

图1A是一个记录临时缺陷信息的传统方法的说明图；

图1B是一个记录临时缺陷信息的传统方法的说明图；

图2是根据本发明一个实施例的一个记录装置的示意方框图；

图3是图2的记录装置的详细的方框图；

图4是显示根据本发明实施例的一个记录方法的流程图；

图5显示了根据本发明一个实施例的一个存储临时缺陷信息的临时缺陷信息区和一个存储临时缺陷管理信息的临时缺陷管理区的结构；

图6显示了根据本发明一个实施例的将要被记录到该临时缺陷信息区和该临时缺陷管理区的信息的结构；

图7A、7B和7C显示本发明一个实施例的临时缺陷管理信息的数据结构；

图8是一个根据本发明一个实施例的显示一种记录方法的流程图；

图9是一个以图8所示的记录方法被记录的临时缺陷信息说明图；

图10是一个以图8所示的记录方法被记录的临时缺陷信息说明图；

图11是一个以图8所示的记录方法被记录的临时缺陷信息说明图；

具体实施方式

现在将对本发明的实施例做出详细的说明，这些实施例的实例在附图中被说明，其中相同的附图标记通篇表示相同的元件。下面将参照附图对实施例进行介绍，以对本发明进行解释。

图2是根据本发明一个示范性实施例的一个记录装置的示意方框图。参考图2，该记录装置包括读/写单元1、控制器2和存储器3。该读/写单元1将数据记录到盘100，并读出上述所记录的数据以便对该数据进行校验，该盘是一个根据本发明一个示范性实施例的记录介质。该控制器2执行根据本发明示范性实施例的缺陷管理。该控制器2执行根据一个“写入后校验”的方法的缺陷管理，该“写入后校验”方法通过将数据写入到每一个预定单元并对被写入的数据进行校验来检测缺陷部分。在每一个记录操作过程中，该控制器2将用户数据写入并校验，由此检测出缺陷部分之所在。根据检测的结果，该控制器2产生指示该缺陷部分的位置的缺陷信息，并将该缺陷信息存储在存储器3中，积累预定数量的该缺陷信息，并将该所积累的缺陷信息当作临时缺陷信息存储在该盘100上。

“记录操作过程”是一个根据用户的请求、所要执行的记录任务等等决定的任务单元，它表示在记录装置中加载盘100、在盘100上记录预定数据、并从该记录装置中将该盘100弹出所需的一次过程的时间。在一个记录操作过程中，该写入后校验程序至少被执行一次，并通常执行多次。由该写入后校验程序得到的缺陷信息被作为临时缺陷信息暂存到存储器3中。

当一个用户为了在完成数据记录后弹出该盘100而按下记录装置的弹出按钮(未示出)时，该控制器确定一个记录操作已结束。此时，该控制器读出存储在存储器3中的临时缺陷信息，将该临时缺陷信息提供给该读/写单元1，并命令该读/写单元1将该临时缺陷信息记录在盘100上。

也就是说，如果所有数据被记录在盘100上，换句话说，如果一个用户不想在盘100上记录另外的数据(例如在数据已结束)，则控制器2将该临时缺陷管理信息和已记录在盘100上的临时缺陷记录信息记录在设置在盘100上的一个缺陷管理区上。

图3是图2所示记录装置的详细的方框图。参考图3，该记录装置包括作为读/写单元220的光拾取器250。盘230被放入到该光拾取器250中。该盘驱动器还包括控制单元210，其中该控制单元210包括主机I/F 211、数字信号处理器212、射频放大器213、伺服器214和***控制器215。

当记录数据时，该主机I/F 211从主机计算机上接收到预定的记录命令并将该命令传送到***控制器215。

对***控制器215作出响应，在整个临时缺陷信息中，将具有大小n的临时缺陷信息与排除具有大小n的临时缺陷信息外的剩余临时缺陷信息分开记录，其中大小n等于一个预定单元大小K的倍数(N＝0、1、2、...)。对***控制器215作出响应，也将大小为K×N的临时缺陷信息的大小信息、指示大小为K×N的临时缺陷信息的位置的信息和指示积累的临时缺陷信息的位置的信息进行记录。

换句话说，在每一操作过程中，该***控制器215控制在前的临时缺陷信息进行积累，直到将要记录的所积累的临时缺陷信息数目达到一个预定的大小为止。

如果该临时缺陷信息数目超过该预定大小，该***控制器215仅记录具有预定大小的已积累的临时缺陷信息，而不记录正在积累的临时缺陷信息。

如果所积累的排除该预定大小在外的临时缺陷信息达到该预定大小时，所积累的临时缺陷信息与先前具有预定大小的缺陷信息被加在一起，并且所积累的和具有预定大小的临时缺陷信息被连续地记录。也就是说，作为对***控制器215的响应，大小为预定大小的两倍的临时缺陷信息被连续地记录。

该数字信号处理器212将从该主机I/F 211接收的数据(将要被记录)与用于纠错的诸如奇偶性之类信息的其他数据加在一起、对纠错码(ECC)进行编码、产生一个ECC块，然后利用一个预定方式对该ECC块进行调制。该射频放大器213将从该数字处理器212中输出的数据转化成一个射频信号。该光拾取器250将这个从射频放大器213中输出的射频信号记录到盘230。该伺服器214从***控制器215接收伺服控制所需的命令，以便对拾取器250进行伺服控制。

当数据被再现时，主机I/F 211从主计算机240接收再现命令。***控制器215为再现进行初始准备。具体讲，***控制器215控制从盘的一个预定区中的临时缺陷管理信息的读取，从所读的临时缺陷管理信息中检测出临时缺陷信息的记录位置，并读出该临时缺陷信息。

该光拾取器250在盘230上照射一个激光束，在该激光束被盘230反射后，光拾取器对该激光束进行接收，并输出从所接收的激光束中得到的光学信号。该射频放大器213将从光拾取器250中输出的光学信号转换成射频信号，并为该数字处理器212提供已调数据，该已调数据是从该射频信号中得到的。该数字处理器212对该已调数据进行解调，并对已解调的数据进行ECC修正，并输出完成了ECC修正的数据。

该伺服器214从该射频放大器213中接收伺服信号，并从***控制器215接收用于伺服控制的命令以便对该光拾取器250进行伺服控制。主机I/F 211把从数字处理器212接收的数据传送到主计算机240。

图4是根据本发明的一个实施例的记录临时缺陷信息的方法的流程图。参考图4，在操作过程410中，大小为预定大小的倍数的临时缺陷信息被连续地记录在光学记录介质的至少一部分上。

例如，假如预定的大小K为“4”，于是，当整个临时缺陷信息的大小超过“4”时，具有等于“4”的大小的临时缺陷信息被连续地记录。当整个临时缺陷信息的大小超过“8”时，具有等于“8”的大小的临时缺陷信息被连续地记录。

接下来，在操作420中，在整个临时缺陷信息中排除了大小为预定大小的倍数的临时缺陷信息外的剩余临时缺陷信息被连续或不连续地记录到一个区中，该区是记录具有等于预定大小的倍数的大小的临时缺陷信息的该光学记录介质的至少一部分。

例如，假定预定大小为“4”，如果被积累的临时缺陷信息的大小小于“4”，被积累的临时缺陷信息被积累直到被积累的临时缺陷信息到达“4”。如果被积累的临时缺陷信息超过“4”，超过预定大小“4”的临时缺陷信息(例如，大小为“1”的信息)被连续或不连续地记录在记录具有大小为“4”的临时缺陷信息的区的后面的区中。

然后，在操作430中，大小为预定大小的倍数的临时缺陷信息的大小信息、大小为预定大小的倍数的临时缺陷信息的有关位置的信息和与被积累临时缺陷信息的位置有关的信息被记录到光学记录介质。将参考附图8，对根据本发明的记录方法进行详细的描述。

通过单独地记录对具有预定大小的临时缺陷信息和被积累的临时缺陷信息，并记录具有预定大小的临时缺陷信息的位置、大小信息以及被记录临时缺陷信息的位置信息，使利用该位置和大小信息有效地检测临时缺陷信息和减小存储该临时缺陷信息的空间成为可能。

图5显示了根据本发明的一个示范性实施例的存储临时缺陷信息的临时缺陷信息区512和存储临时缺陷管理信息的临时缺陷管理信息区511的结构图。参考图5，光学记录介质500包括导入区510、数据区520和导出区530。

该导入区510被设置在盘500的内径上，而导出区530被设置在盘500的外径上。数据区被设置在该导入区和导出区之间。该数据区被分成空闲区和用户数据区。该用户数据区是一个记录用户数据的区，而该空闲区是一个为区域丢失提供补偿的区域，也就是说，是为缺陷管理而提供的区域，其中该区域丢失是由该用户数据区中的缺陷引起的。如果一个缺陷在记录在用户数据区中的数据中产生，该空闲区被当作用于重新记录缺陷性数据的代替区来使用。

临时缺陷管理区是一个在最后成形之前存储与缺陷有关的信息的区，并且包括临时缺陷管理信息区511和临时缺陷信息区512。

通常，如果将盘加载在盘负载装置中，记录/再现装置将存储在该盘的该导入区和导出区信息读出并确定该盘需要进行怎样的管理、怎样将数据记录到该盘和怎样从该盘再现数据。记录在该导入区和/或导出区的信息越多，在加载盘后开始记录或再现数据的时间越长。为了解决这个问题和/或其他的问题，临时缺陷管理信息和临时缺陷信息被记录在临时缺陷管理区中，与导入区和/或导出区的缺陷管理区分开。

如果没有要记录到盘上的数据(例如，数据已经结束)，仅将在临时缺陷管理信息和临时缺陷信息中被多次更新和记录的重要信息移到该缺陷管理区。因此，当该记录/再现装置从盘上读缺陷管理信息时，该记录/再现装置仅仅读出该存储在缺陷管理区中的重要信息，因而能快速地执行初始准备。并且，由于该缺陷管理信息被记录到多个区中，该信息的可靠性提高了。

由于根据线性置换来进行缺陷管理，所以该临时缺陷信息包括指示何处产生缺陷的信息和指示新的代替区的位置的信息。该临时缺陷管理信息是用来管理该临时缺陷信息的信息，并且包括指示该临时缺陷信息记录在何处的信息。该临时缺陷管理进一步包括指示用户数据最终被记录在用户数据区的位置的信息和指示最终代替区设置在空闲区上的位置的信息。该临时缺陷信息和该临时缺陷管理信息的详细的数据结构将在后面进行介绍。

只要记录操作过程结束，该临时缺陷信息和该临时缺陷管理信息就被记录。当记录操作#0被执行时，与代替区有关的信息和与在数据记录中产生的缺陷有关的信息被作临时缺陷信息#0记录在该临时缺陷管理区中。当记录操作#1被执行时，与代替区有关的信息和与在数据记录中产生的缺陷有关的信息被作为临时缺陷信息#1记录在该临时缺陷管理区中。进一步地，用于管理该临时缺陷信息#0、#1、...的管理信息被当作临时缺陷管理信息#0、#1、...记录在临时缺陷管理区中。如果没有要记录到数据区的数据或者如果用户不想将数据记录到数据区，也就是说，当数据结束时，记录到临时缺陷信息区中的缺陷信息和记录在临时缺陷管理信息区上的缺陷管理信息被记录到缺陷管理区中。

任意的临时缺陷信息#i包括在前临时缺陷信息#0、#1、#2、...#i-1的积累。因此，当数据结束时，只有包括在最后临时缺陷信息#i的缺陷信息被读出，并且所读出的缺陷信息被记录到缺陷管理区中。

对于允许具有几十吉字节的数据高密度记录的盘而言，记录临时缺陷管理信息#i的区大约为1簇，并且记录临时缺陷信息#i的区为4-8簇。被作为临时缺陷信息#i来记录的信息数目接近几千字节，然而，当盘的一个最小的物理记录单元是簇时，当更新最近记录的信息时对于每一个簇的信息记录而言将更加容易管理。一个盘缺陷所需的空间的总数小于该盘的记录容量的5％。考虑到一个缺陷需要大约8字节的信息而一个簇大小为64千字节，该临时缺陷信息#i需要大约4-8个簇。

该临时缺陷管理信息区511和该临时缺陷信息区512被包括在至少一个导入区510、数据区520和导出区530中。

也就是说，在每一个操作过程中，可更新该临时缺陷管理信息和该临时缺陷信息，并将它们分别记载到一个临时缺陷管理信息区和一个临时缺陷信息区，这两个区被包括在导入区、数据区和导出区中至少一个内；在每一个操作过程中，该临时缺陷管理信息和临时缺陷信息都可被更新并被记录在临时缺陷区中，该临时缺陷区被包括在导入区、数据区和导出区中至少一个区中；或者在每一个操作过程中，该临时缺陷管理信息和该临时缺陷信息被更新并被分别记录到一个临时缺陷管理信息区和一个临时缺陷信息区中，该临时缺陷管理区被包括在导入区、数据区和导出区中至少一个区中，而该临时缺陷信息区被包括在另一个区中。

例如，如图5所示，在每一个操作的过程中，该临时缺陷管理信息和该临时缺陷信息可被更新并被分别记录到该临时缺陷管理信息区511和临时缺陷信息区512中，这两个区分别包含在导入区510中；在每一个操作过程中，该临时缺陷管理信息和该临时缺陷信息可被更新并被记录一个临时缺陷区中，该临时缺陷区包含在导入区510中；或者在每一个操作过程中，该临时缺陷管理信息和该临时缺陷信息可被更新并被记录到包含在导入区510中的临时缺陷管理区和包含在数据区520中的临时缺陷信息区中。

将该临时缺陷管理信息和临时缺陷信息记录到相同的区中两次，或将该临时缺陷管理信息和临时缺陷信息记录两次，每次记录到不同的区中，以提高可靠性。

图6显示了根据本发明一个实施例的将要记录到临时缺陷信息区和临时缺陷管理区的信息的结构。

参考图6，临时缺陷信息区610存储保持#i临时缺陷信息清单(TDFL)611和步进#i+1 TDFL612。

该保持#i TDFL611是大小等于预定大小的倍数的临时缺陷信息，也就是被连续记录的临时缺陷信息。如果整个临时缺陷信息的数目小于该预定大小，该保持#i TDFL611不被记录。

步进#i+1 TDFL 612对整个临时信息中排除大小等于预定大小的倍数的临时缺陷信息在外的临时缺陷信息进行积累。

该临时缺陷管理区620也为保持#i TDFL储存位置信息621，并为保持#i TDFL储存大小信息622，并为步进#i+1TDFL储存位置信息623。

保持#i TDFL的位置信息621指示盘上的一个位置，保持#i TDFL的大小信息指示保持#i TDFL的大小，而步进#i+1TDFL的位置信息指示盘上一个位置。

由于仅利用记录在临时缺陷管理信息区中的保持#i TDFL的位置信息621、保持#i TDFL的大小信息622和该保持#i+1TDFL的位置信息623来查找记录在临时缺陷信息区中的临时缺陷信息，从而使得加快检测临时缺陷信息的速度和减小存储该临时缺陷信息所需空间成为可能。

图7A显示了TDFL#i的结构。

TDFL#i的任意临时缺陷信息包括TDFL#i识别器和与缺陷#1、#2、...#k有关的信息。与缺陷#1、#2、...#k有关的信息是指示何处产生缺陷和一个新的代替区处于何处的状态信息。

参考图7A，TDFL#0储存与缺陷#1有关的信息、与缺陷#2有关的信息和与缺陷#3有关的信息。与缺陷#1有关的信息包括指示何处产生缺陷#1的信息和指示代替区#1处于何处的信息。类似地，与缺陷#2有关的信息包括指示何处产生缺陷#2的信息和指示代替区#2处于何处的信息。并且，与缺陷#3有关的信息包括指示何处产生缺陷#3的信息和指示代替区#3处于何处的信息。

例如，临时缺陷信息TDFL#1除了包括信息TDFL#0外，还包括与缺陷#4有关的信息以及与缺陷#5有关的信息。也就是说，TDFL#1包括所有产生缺陷信息，也就是与缺陷#1有关的信息、与缺陷#2有关的信息、与缺陷#3有关的信息、与缺陷#4有关的信息和与缺陷#5有关的信息。

图7B显示了与缺陷#i有关的信息的数据结构。参考图7B与缺陷#i有关的信息包括指示缺陷#i的指示器和指示代替区#i的指示器。例如，该缺陷指针#i可包括指示物理扇区的数字，其中缺陷#i是从该物理扇区开始的。该代替区#i指示器包括一个代替区#i开始的位置和/或代替区结束的位置。例如，指示代替区#i的指示器可包括一个指示代替区开始的物理扇区的数字。该物理扇区指示一个区，在该区中存储了与盘的一个扇区相应的数据。指示物理扇区的地址被称为一个“物理扇区数(PSN)”。

图7C显示了根据本发明的记录在临时缺陷管理区的临时缺陷管理信息TDDS#i的数据结构。

参考图7C，该临时缺陷管理信息TDDS#i包括：TDDS#i的识别器、TDDS更新计数器、盘和驱动器信息指针、当前步进TDFL指示器、当前保持TDFL指示器和当前保持TDFL大小。

该TDDS#i的识别器是指示该临时缺陷管理信息TDDS#i的识别器，该TDDS更新计数器是指示临时缺陷管理信息的更新数的计数值，而该盘和驱动器信息指示器是与用于记录和/或再现的驱动器有关的信息。

该当前步进TDFL指示器指示当前步进TDFL的位置，该当前保持TDFL指示器指示盘的记录当前保持TDFL的位置，而当前保持TDFL大小指示当前保持TDFL的大小。

图8是显示根据本发明的一个示范性实施例的一种记录方法的流程图。在下文中，将通过参考图9至11，对这种记录方法作详细的描述。

参考图8，在操作810中，如果一个将要更新的临时缺陷信息的大小小于一个预定大小K，该临时缺陷信息被积累并被作为最后临时缺陷信息来记录。然后，在操作820，该最后临时缺陷信息的位置被记录在临时缺陷管理区中。为了论述的目的，假定K等于“4”。

参考图9，在第一操作中，TDFL#901包括被记录在临时缺陷信息区中与缺陷#0有关的信息。该TDFL#i被称为步进#1TDFL，直到TDFL#i的大小达到预定的大小“4”。然后，用于步进#1TDFL的指针，也就是说，指示该TDFL#0的位置的信息被记录在与TDFL#0相应的TDDS#0中。

接下来，在第二操作中，除了包括与缺陷#0有关的信息外、还包括与与缺陷#1有关的信息的TDFL#1902被记录在临时缺陷信息区中。并且，步进#1TDFL指针，也就是说，指示TDFL#1位置的信息被记录在与TDFL#1相应的TDDS#1中。

然后，在第三操作中，除了包括与缺陷#0有关的信息和与缺陷#1有关的信息外、还包括与与缺陷#2有关的信息的TDFL#2 903被记录在临时缺陷信息区中。然后，步进#1TDFL指示器，也就是说，指示TDFL#2位置的信息被记录在与TDFL#2相应的TDDS#2中。

参考图10，在第四操作中，除了包括与缺陷#0有关的信息、与缺陷#1有关的信息和与缺陷#2有关的信息外、还包括与与缺陷#3有关的信息的TDFL#3 904被记录在临时缺陷信息区中。这里，该TDFL#3 904达到了预定大小。这样，TDFL#3 904被称为保持#1TDFL。然后，保持#1TDFL指针，也就是说，指示TDFL#3的位置的信息和该保持#1TDFL的大小信息被记录到该与该TDFL#3相对应的TDDS#3中。在这种情况下，由于该最后临时缺陷信息是该保持#1TDFL，在该第四操作中仅记录该保持#1TDFL指针。

在操作830中，如果一个将要被更新的临时缺陷信息的大小超过该预定大小时，具有预定大小的临时缺陷信息(保持#1TDFL)被记录到该临时缺陷信息区中，并且所积累的排除保持#1TDFL的临时缺陷信息(步进#2TDFL)被记录到下一个临时缺陷信息区中。接着，在操作840中，保持#1TDFL的位置和大小以及步进#2TDFL的位置指针被记录在该临时缺陷管理信息区中。

参考图10，在第五操作中，包括所积累的临时缺陷信息中排除保持#1TDFL 904在外的与缺陷#4有关的信息的TDFL#4905被记录再临时缺陷信息区中。这里，该TDFL#4是一个步进#2TDFL。然后，指示TDFL#3的位置的保持#1TDFL指针、保持#1TDFL的大小信息和步进#2TDFL指针被记录在与TDFL#4相应的TDDS#4中。

在第六操作中，跟在第五操作中一样，包括排除保持#1TDFL 904在以外的与缺陷#4有关的信息和与缺陷#5有关的信息的TDFL#5 906被记录在临时缺陷信息区中。并且，保持#1TDFL指针、保持#1TDFL的大小信息和步进#2TDFL指针被记录在与TDFL#5相应的TDDS#5中。这里，步进#2TDFL指针指示TDFL#5的位置。

同样地，在第七操作中，除了包括与缺陷#4有关的信息和与缺陷#5有关的信息以外、还包括与缺陷#6有关的信息的TDFL#6 907被记录在临时缺陷信息区中，这些信息是所积累的排除保持#1TDFL 904外的临时缺陷信息。然后，保持#1TDFL指针和步进#2TDFL指针被记录在与TDFL#6相应的TDDS#6中。这里，步进#2TDFL指针指示TDFL#6的位置。

如此，在操作850中，所积累的排除保持#1TDFL外的临时缺陷信息(步进#2TDFL)被积累并被记录，直到所积累的临时缺陷信息的大小到达预定大小，并且保持#1TDFL的大小和位置以及步进#2TDFL的位置被记录在临时缺陷管理信息区中。

接着，在操作860中，如果步进#2TDFL的大小超过预定的大小(K)，具有大小为K的保持#1TDFL和步进#2TDFL被作为一个具有2K大小的保持#2TDFL来排列和记录到临时缺陷信息区，并且在整个临时缺陷信息中所积累的排除具有2k大小的保持#2TDFL外的临时缺陷信息(步进#3TDFL)被记录在下一个临时缺陷信息区中。并且，在操作870中，保持#2TDFL的位置和大小以及步进#3TDFL的位置被记录到临时缺陷管理信息区中。

参考图11，TDFL包括与缺陷#7有关的将在第八个操作中被记录在临时缺陷信息区的信息，然而，当在第七个操作中与缺陷#7有关的信息与积累的TDFL#6 907相加时，步进#2TDFL的大小达到预定大小。这样，预定大小的步进#2TDFL和保持#1TDFL被排列在一起，以便步进#2TDFL和保持#1TDFL同时作为一个保持#2TDFL被记录。也就是说，在第八操作中，包括从与缺陷#0有关的信息到与缺陷#7有关的信息的TDFL#7 908被连续地记录在临时缺陷信息区中。然后，指示TDFL#7的位置的保持#2TDFL指针和指示保持#2TDFL的大小的信息被记录在一个与TDFL#7相应的TDDS#7中。如此，通过一次连续地记录大小为预定大小的倍数的相应临时缺陷信息，从而，在为了找出最后临时缺陷信息时，不必重复查找临时缺陷信息区。

如同步进#2TDFL的情况一样，在操作880中，积累的排除保持#2TDFL外的临时缺陷信息(步进#3TDFL)被积累并记录到临时缺陷信息区中，直到被记录的积累的临时缺陷信息达到预定的大小k，而且保持#2TDFL的位置和大小以及步进#3TDFL的位置也被记录到临时缺陷管理信息区中。

本发明可被具体化成一个存储在计算机可读介质上的程序，该程序可在一个普通的计算机上运行。在此，该计算机可读介质包括但是不限制于存储介质例如磁存储介质(例如只读存贮器、软盘和硬盘等)、光学可读介质(例如只读光盘、数字化视频光盘(DVD)等)和载波(例如在互联网上传输)。本发明还可具体化成一个存储在一个计算机可读介质上的计算机可读程序代码单元，来使许多计算机***通过网络连接以便改变分布式处理。

如上所述，根据本发明，使在节省临时缺陷信息区的容量的同时快速查找临时缺陷信息成为可能，其中该临时缺陷信息区是包含在一个光学记录介质上的。

虽然，已经示出本发明的几个实施例并对这些实施例进行了说明，但是本领域的技术人员可认识到：在不脱离本发明的原理和精神之下，可对这个实施例进行修改，并且这种修改也落入权利要求书和其等同物的范围之内。

本申请要求在韩国专利局分别于2003年3月17日提交的韩国专利申请第2003-16498号、2003年3月22日提交的韩国专利申请第2003-18021号、以及2004年1月3日提交的韩国专利申请第2004-179号的优先权，并将这些申请的全文引入作为参考。

Claims (18)

1. 一种记录方法，包括：

将下面的信息分开记录到光学记录介质中，所述信息为：

在整个临时缺陷信息之中的具有大小等于预定大小(K)的倍数(N＝0、1、2、...)的临时缺陷信息，以及

在所述整个临时缺陷信息之中的排除了大小等于K×N的临时缺陷信息之外的剩余的临时缺陷信息，

其中将大小等于K×N的临时缺陷信息的大小信息、指示大小等于K×N的临时缺陷信息的位置的信息、以及指示剩余的临时缺陷信息的位置的信息记录到所述光学记录介质中，其中所述剩余的临时缺陷信息为排除大小等于K×N的临时缺陷信息之外的临时缺陷信息。

2. 根据权利要求1所述的记录方法，其中所述光学记录介质是一次写入式介质。

3. 一种记录方法，包括：

连续地将在整个临时缺陷信息之中的具有大小等于预定大小(K)的倍数(N＝0、1、2、...)的临时缺陷信息记录到光学记录介质的至少一部分中；以及

在每一个操作期间，对在所述整个临时缺陷信息之中的排除了大小等于K×N的临时缺陷信息之外的剩余的临时缺陷信息进行积累并将其记录到所述光学记录介质中，直到所积累的临时缺陷信息的大小达到K为止，

其中将具有等于预定大小(K)的倍数(N＝0、1、2、...)的大小(K×N)的临时缺陷信息的大小信息、指示具有大小等于预定大小的倍数的临时缺陷信息的位置的信息、以及指示所积累的临时缺陷信息的位置的信息记录到所述光学记录介质中。

4. 根据权利要求3所述的记录方法，还包括：

在这些操作中的一个操作期间，如果所述剩余的临时缺陷信息的大小到达了所述预定大小K，则将大小等于K×N的临时缺陷信息和排除大小等于K×N的临时缺陷信息之外的剩余的临时缺陷信息连续地记录到所述光学记录介质的至少一部分中。

5. 根据权利要求4所述的记录方法，还包括：

将所述连续地被记录的临时缺陷信息的大小信息(K×N+K)和指示所述连续地被记录的临时缺陷信息的位置的信息记录到所述光学记录介质中。

6. 一种记录装置，包括：

控制器，用于控制将在整个临时缺陷信息之中的具有大小等于预定大小(K)的倍数(N＝0、1、2、...)的临时缺陷信息以及在所述整个临时缺陷信息之中的排除了大小等于K×N的临时缺陷信息之外的剩余的临时缺陷信息分开记录到光学记录介质中，

其中所述控制器还对将大小等于K×N的临时缺陷信息的大小信息、指示大小等于K×N的临时缺陷信息的位置的信息以及指示所述剩余的临时缺陷信息的位置的信息记录到所述光学记录介质的处理进行控制，其中所述剩余的临时缺陷信息为排除了大小等于K×N的临时缺陷信息之外的临时缺陷信息。

7. 根据权利要求6所述的记录装置，其中所述光学记录介质是一次写入式介质。

8. 一种记录装置，包括：

第一控制器，用于控制将在整个临时缺陷信息之中的具有大小等于预定大小(K)的倍数(N＝0、1、2、...)的临时缺陷信息连续地记录到光学记录介质的至少一部分中；以及

第二控制器，用于对在每一个操作期间，将在整个临时缺陷信息之中的排除了大小等于K×N的临时缺陷信息之外的剩余的临时缺陷信息累加地记录到所述光学记录介质中，直到所述积累的临时缺陷信息的大小达到K为止的处理进行控制。

9. 根据权利要求8所述的记录装置，还包括：

第三控制器，用于对将大小等于K×N的临时缺陷信息、指示大小等于K×N的临时缺陷信息的位置的信息、以及指示所述剩余的临时缺陷信息的位置的信息记录到所述光学记录介质中的处理进行控制。

10. 根据权利要求8所述的记录装置，还包括：

第四控制器，用于对如果在这些操作中的一个操作期间，剩余的临时缺陷信息的大小达到K，则连续地将大小等于K×N的临时缺陷信息以及积累的大小等于K的临时缺陷信息记录到所述光学记录介质的至少一部分中的处理进行控制。

11. 根据权利要求10所述的记录装置，还包括：

第五控制器，用于对将包括所述连续地被记录的临时缺陷信息的具有(K×N+K)大小的信息和指示所述连续地被记录的临时缺陷信息的位置的信息记录到所述光学记录介质中的处理进行控制。

12. 一种记录介质缺陷管理方法，包括：

在写入后校验的操作期间，积累临时缺陷信息；

当积累的临时缺陷信息达到预定的大小时，将临时缺陷信息记录到记录介质上的第一区中；以及

将管理信息记录到记录介质上的与所述预定的大小和所述积累的临时缺陷信息的位置相对应的第二区中。

13. 根据权利要求12所述的方法，还包括：

当所述积累的临时缺陷信息超过所述预定的大小时，对过量的临时缺陷信息进行积累；

通过对临近所述积累的临时缺陷信息的所述积累的过量临时缺陷信息进行记录来更新在所述第一区中的所记录的临时缺陷信息。

对所述记录介质上的所述第二区中的管理信息进行更新，以便包括与所述积累的过量临时缺陷信息的位置相对应的管理信息。

14. 根据权利要求13所述的方法，其中所述更新所述管理信息包括：存储与所述积累的过量临时缺陷信息的位置相对应的步进#i指针。

15. 根据权利要求13所述的方法，还包括：

当所述积累的过量临时缺陷信息达到与所述积累的临时缺陷信息和所述积累的过量临时缺陷信息相对应的所述预定的大小时，记录总的临时缺陷信息；以及

更新与总的临时缺陷信息的位置和大小相对应的在记录介质上的第二区域中的管理信息。

16. 根据权利要求15所述的方法，其中，所述记录的总的临时缺陷信息的大小等于所述预定的大小的倍数。

17. 根据权利要求15所述的方法，还包括：将所述临时缺陷信息最后定下来，其中仅读取重要的临时缺陷信息；以及

将所述读取的重要临时缺陷信息记录到所述记录介质的预定的缺陷管理区中。

18. 根据权利要求15所述的方法，其中，对所述管理信息的更新包括：存储与所述总的临时缺陷信息的位置和大小相对应的保持#i大小和保持#i指针。

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