CN100397505C - 光拾取器倾斜校正控制部件和倾斜校正方法 - Google Patents

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Abstract

根据本发明的光盘记录/再现装置(1)通过将平均偏移分量添加在施加到倾斜校正线圈的校正量上，将任选极性的阶跃扰动添加到该添加的偏移分量的中心值上，检测再现的输出的包络或最大值和最小值，计算在该检测的包络或最大值和最小值之间的差的平均值，以及控制偏移分量的偏移量以将当阶跃扰动改变时的包络或最大值和最小值之间的差减小到指定值，可在短时间内调节物镜的倾斜。

Description

光拾取器倾斜校正控制部件和倾斜校正方法
技术领域
本发明涉及一种光盘记录/再现装置(信息记录/再现装置)，该装置通过使用激光束在/从能够记录、读出和擦除信息的光盘上记录、读取和擦除信息。更具体地，本发明涉及一种光拾取器倾斜校正控制部件和倾斜校正方法。
背景技术
作为适于记录信息的记录介质，光盘得到广泛使用。提出和使用了不同标准的各种光盘。按照记录容量，这些光盘分为CD和DVD。按照用法，光盘分成包含预先记录的信息的只读型(被称为ROM)、能够仅记录一次信息的一次写型(被称为-R)以及能够重复地记录和擦除信息的可重写型(被称为RAM或RW)。
在上述各种标准的光盘上记录信息或擦除或复制已记录的信息的光盘记录/再现装置包括将具有指定波长的激光束传输到光盘(记录介质)的记录表面上的指定位置的光传输***，检测从光盘上反射的激光束的光接收***，由盘马达和盘加载机构表示的机械部件，控制该光发送***、光接收***和机械部件的机械控制(伺服)***，以及向光发送***提供记录信息和擦除信号并通过由光接收***检测到的信号读出已记录的信息的信息处理部件。
光发送***和光接收***包括作为发射激光束的光源的LD(激光二极管)，和将来自LD的激光束聚集在光盘的记录表面上并捕获从光盘上反射的激光束的物镜。
物镜的位置和倾角总是由伺服***控制以可靠地遵循光盘上的轨道或记录点，但是倾角因光盘(记录介质)的翘曲导致在光盘的内径和外径之间的不同位置而不同。因此，已提出多种机构和方法来补偿伺服***的控制量，尤其是倾斜量。
日本专利申请公开No.2004-118909公开了一种光盘记录/再现装置，该装置使用具有倾斜控制线圈6以调节物镜的倾斜的光拾取器2，和该光盘装置内的倾斜控制方法，该方法检测在光盘M旋转一圈期间在一些位置处从该光拾取器2获得的RF信号的峰值电平，并调节物镜的倾斜以减小检测到的电平的不平。
但是，在上述文献中所述的倾斜控制方法中，当物镜的倾斜沿一个方向改变一步，并且结果在每个电平的不平减小时，可判断倾斜是沿正确的方向调节，并且该倾斜沿相同方向改变一步。如果结果每个电平的不平增大，则倾斜是沿错误的方向调节的。在此情况下，倾斜沿相反方向改变一步。如果作为结果物镜倾斜到每个电平的不平返回一步的状态，则判断物镜的倾斜适于记录和再现。
即，在上述文献中所述的方法中，由于如果不改变物镜的倾斜则不能调节每个电平的不平，所以不能确定改变方向。如果倾斜因仅改变一步而超过了最佳位置，则不能确定最佳位置是否存在于该步中。可精细地划分该步以能够进行判定，但是这需要很长时间来找到最佳位置。
发明内容
根据本发明的一个方面，提供了一种具有倾斜校正线圈以调整物镜的倾斜的光拾取器倾斜校正控制部件，该部件包括：
偏移生成装置，用于在倾斜校正线圈中生成平均倾斜；
阶跃扰动生成装置，用于以该偏移生成装置生成的偏移量为中心在倾斜校正线圈中生成两个极性的阶跃扰动(step disturbance)；
包络检测装置，用于检测通过将该阶跃扰动生成装置生成的阶跃扰动施加到倾斜校正线圈而得到的输出的包络；
差平均装置，用于检测该阶跃扰动生成装置生成的阶跃扰动的包络之间的差；以及
倾斜控制装置，用于控制从该偏移生成装置输出的倾斜的偏移量，以将当阶跃扰动生成装置生成的阶跃扰动改变时的信号差减小到指定值。
本发明的额外优点将在下文的说明书中描述，并且部分地从该说明书可明显看到该些优点，或者可通过实施本发明而了解该些优点。可利用下文特别指出的装置和组合实现和获得本发明的优点。
附图说明
并入说明书并构成说明书的一部分的附图示出本发明的实施例，并且与上文给出的一般说明以及下文给出的实施例的详细说明一起用于说明本发明的原理。
图1是根据本发明的一实施例的光拾取器倾斜校正控制部件的示例的示意图；
图2A、2B和2C是示出在调节期间的透镜倾斜位置与对应于阶跃扰动极性的RF/TE信号之间的关系，说明由图1中所示的光拾取器倾斜校正控制部件执行的(光拾取器的)倾斜校正的图；
图3是示出图1中所示的光拾取器倾斜校正控制部件的倾斜校正操作的示例的流程图；
图4是示出在调节和优化时在光盘上的信息区域之间的关系，说明图1中所示的光拾取器倾斜校正控制部件进行的(光拾取器的)倾斜校正的示意图；以及
图5是示出图1中所示的光盘记录/再现装置的光拾取器倾斜校正控制部件的另一实施例的原理图。
具体实施方式
下面将参照附图说明本发明的实施例。
图1是示出根据本发明的实施例的具有光拾取器倾斜校正控制部件的光盘记录/再现装置的示意图。
如图1中所示，光盘记录/再现装置1包括用于向记录介质M的记录表面发射具有指定波长的光束的光拾取器2。
记录媒体M放置在未示出的主轴马达的转盘(来示出)上，并且因该主轴马达的指定速度的旋转而以指定速度转动，尽管这没有详细说明。当记录、再现和擦除信息时，未示出的光拾取器输送马达使光拾取器2沿记录介质M的直径方向移动。
光拾取器2结合有发射具有例如为780nm或650nm的指定波长的激光束(光束)的未示出的激光二极管，和物镜21，该物镜将从激光二极管发射的光束聚集在记录介质M的记录表面上，并且捕获从该记录介质M的记录表面(信号表面)反射的光束。在物镜21附近(或者在光拾取器2的指定位置处)设置有生成用于控制物镜21的位置的推力的聚焦控制线圈22和轨道控制线圈23。
光拾取器2还结合有光检测器3，该光检测器包括监视从激光二极管发射的光束的强度的监视光检测器，和接收从记录介质M的记录表面上反射的光束并输出对应于该光束强度的电流或电压的信号光检测器，使物镜21朝记录介质M的表面移动的聚焦控制线圈22，使物镜21在记录介质M的直径方向上移动的轨道控制线圈23，和调节物镜与记录介质M的角度的倾斜校正驱动线圈4。
光检测器3检测到的信号被提供给设置在后面一级的信号处理器5，该信号处理器处理可用作用于再现信息的数据信号和将物镜(光拾取器2)放置在记录介质M的记录表面的指定位置处的控制信号的信号。
信号处理器5包括处理主要用于再现信息的RF信号或数据信号的RF信号检测/解码电路51，检测物镜21的位置在光盘M的表面的方向的位移的焦点误差检测器31，检测物镜21的位置沿光盘M的直径方向的位移的轨道误差检测器32，向聚焦控制线圈22和/或轨道控制线圈23提供控制信号的伺服电路41，该控制信号用于基于相应的误差检测器检测到的误差量控制物镜21的位置，和根据下文说明的方法校正光盘M的倾斜对信号面的影响的倾斜校正控制部件11。
记录介质M是DVD标准的光盘，或不同类型的盘，例如能够擦除信息并记录新信息的(可重写的)DVD-RAM，能够写新信息的DVD-R和具有预先记录的信息的DVD-ROM。本发明还可应用于CD标准的盘或将在未来定义的新标准的盘。
倾斜校正控制部件11具有检测对应于从光检测器3发射的RF信号的输出信号的包络(RFRP)的包络检测器12，平均由包络检测器12检测到的基于阶跃扰动极性的包络的差平均部件13，和判断窗口14，该窗口比较由差平均部件13平均的输出信号或根据阶跃扰动极性获得的信号与指定值之间的差，并判断比较结果是否在给定范围内。
倾斜校正控制部件11连接到确定将提供给倾斜校正驱动线圈4的控制量的阶跃扰动信号发生器15、倾斜校正直流偏移生成器16、加法器17、倾斜线圈驱动器18、和倾斜控制器19。倾斜控制器19连接到存储器(存储装置)20。
阶跃扰动信号发生器15在倾斜控制器19的控制下生成具有指定幅度、周期和步数的阶跃扰动信号。因此，向物镜提供一个沿参考位置的正和/或负方向的任选极性的阶跃扰动。在光检测器3检测到的RF信号上叠加一电平差(在光检测器3检测到的信号中生成特定差)。
倾斜校正直流偏移生成器16设定直流偏移的按步的改变量。即，直流偏移生成器16生成将添加到阶跃扰动上的直流偏移。
倾斜控制器19比较由任选极性的阶跃扰动获得的信号的差与指定值，以便生成在倾斜校正直流偏移生成器16中生成的直流偏移分量，和将添加到该分量上的来自阶跃扰动信号发生器15的阶跃扰动。即，倾斜控制器19根据比较结果，即根据来自判断窗口14的判断信号和在差平均部件13中根据任选极性的阶跃扰动平均的信号，指定倾斜校正直流偏移生成器16生成的直流偏移极性(移动方向)。判断通过添加阶跃扰动进行的调节的信号、倾斜校正电压的最优值以及在盘的一些区域中的倾斜校正电压被保存在存储器20中。
下面将说明倾斜校正操作。
倾斜校正直流偏移生成器16在倾斜校正驱动线圈4中生成平均大小的倾斜。以指定的间隔将阶跃扰动信号按步加在生成的直流偏移上，以便由倾斜控制器19移动物镜的透镜倾斜(中心值)。因此，同时向倾斜校正驱动线圈4提供特定大小的直流偏移分量和任选极性的扰动分量。
即，通过向倾斜校正驱动线圈4提供直流偏移分量和任选极性的扰动分量，由聚集在光盘M上的光束的透镜倾斜导致的聚光状态的变化量改变指定量。
这是因为提供给线圈4的直流偏移分量和任选极性的扰动分量由加法器17相加。
倾斜线圈驱动器18根据加法器17输出的指令值(倾斜量)设定提供给线圈4的驱动电流。即，倾斜线圈驱动器18的操作由来自倾斜控制器19的信号控制，并且倾斜线圈驱动器能够向并入光拾取器2的倾斜调节线圈4提供用于调节倾斜的驱动信号。
根据本发明的倾斜校正控制向倾斜调节线圈4提供任选大小的偏移分量(DC)和任选极性的扰动分量，比较在通过以指定的间隔朝比第一倾斜位置的目标位置更优选的倾斜位置的目标位置(最终目标)移动物镜获得的调节下的每个倾斜位置的目标位置(下文中被称为参考位置)处、在倾斜位置沿正方向和负方向位移相同量的位置处的再现信号的电平，并且根据该差移动到下一个参考位置。保持在其中所比较的再现信号之间的电平差小于给定值的倾斜位置的参考位置处的调节数据，作为“能够在盘倾斜方面优化从光拾取器的物镜发射的光的光轴”的数据。
更具体地，当获得如图2A中所示的透镜倾斜位置和对应于阶跃扰动极性的RF(或TE轨道误差)信号之间的关系时，判断窗口14将给定值(范围)与图2C中的位置+A1和-A1处的差平均部件13的输出之间的差进行比较。此时，倾斜控制器19通过倾斜校正直流偏移生成器16将电压B0施加到倾斜控制***，并且如图2B中所示将透镜倾斜位置从第一参考位置A0移动到下一个参考位置B0。
然后，如图2B中所示，倾斜控制器19参照再现信号特性中的位置B0使阶跃扰动信号发生器15输出指定阶跃扰动数据B1，通过加法器17将阶跃扰动极性施加到倾斜控制***，并将透镜倾斜位置从参考位置B0移动到+B1和-B1。
图2A示出了透镜倾斜参考位置和沿正和负方向移动的位置。在图2A中，X轴指示倾斜校正直流偏移生成器16的输出电压或者以透镜倾斜位置的最初位置为中心的左侧和右侧位置，以及倾斜控制器19的相应调节数据，而Y轴指示来自包络检测器12的再现信号的大小。
例如，假定在调节之前的透镜倾斜6的倾斜位置位于图2A中的再现信号中的位置A0，并且偏离盘倾斜的最优位置。
倾斜控制器19通过将位置A0作为第一参考位置使阶跃扰动信号发生器15输出指定阶跃扰动数据A1，通过加法器17将阶跃扰动极性施加到倾斜控制***，并且将透镜倾斜位置从参考位置A0移动到位置+A1和-A1。
倾斜控制器19获得在位置+A1和-A1处差平均部件13的输出并将其存储在存储器20中。此时，在点A0和+A1处的输出电压差和在点A0和-A1处的输出电压差的绝对值是相等的。
此后，判断窗口14将在图2C中的位置+A1和-A1处的差平均部件13的输出之间差与指定值(范围)相比较。在此示例中，判断窗口14向倾斜控制器19报告该输出差大于该指定值。
倾斜控制器19通过倾斜校正直流偏移生成器16将电压B0施加到倾斜控制***，并且如图2B所示，将透镜倾斜位置从第一参考位置A0移动到下一个参考位置B0。此时，移动方向是朝向在其处该位置差平均部件13的输出大的位置|A1|，并且移动量是指定的倾斜校正量。
接下来，如图2B所示，倾斜控制器19通过将再现信号特性上的位置B0作为参考位置使阶跃扰动信号发生器15输出指定阶跃扰动数据B1，通过加法器17将阶跃扰动极性施加到倾斜控制***，并且将透镜倾斜位置从参考位置B0移动到位置+B1和-B1。
倾斜控制器19接受在位置+B1和-B1处的差平均部件13的输出并将其存储在存储器20中。此时，在位置B0和+B1处的输出电压差与在位置B0和-B1出的输出电压差的绝对值相等。
此后，判断窗口14将在图2C中的位置+B1和-B1处的差平均部件13的输出之间的差与指定值(范围)相比较。判断窗口14判断该输出差大于该指定值(作为比较的结果)，并且将其输出给倾斜控制器19。
倾斜控制器19通过倾斜校正直流偏移生成器16将电压C0施加到倾斜控制***，并且如图2B所示，将透镜倾斜位置从第一参考位置B0移动到下一个参考位置C0。此时，移动方向是朝位置B1，在该位置差平均部件13的输出大，并且移动量是指定的倾斜校正量。
此后，类似地，倾斜控制器19通过将再现信号特性上的位置C0作为参考位置使阶跃扰动信号发生器15输出指定阶跃扰动数据C1，通过加法器17将阶跃扰动极性施加到倾斜控制***，并且将透镜倾斜位置从参考位置C0移动到位置+C1和-C1。
倾斜控制器19接受在位置+C1和-C1处的差平均部件13的输出并将其存储在存储器20中。此时，在位置C0和+C1处的输出电压差与在位置C0和-C1出的输出电压差的绝对值相等。
此后，判断窗口14将在图2C中的位置+C1和-C1处的差平均部件13的输出之间的差与指定值(范围)相比较。判断窗口14判断该输出差大于该指定值，并且将其报告(输出)给倾斜控制器19。
倾斜控制器19通过倾斜校正直流偏移生成器16将电压D0施加到倾斜控制***，并且如图2B所示，将透镜倾斜位置从第一参考位置C0移动到下一个参考位置D0。此时，移动方向是朝位置C1，在该位置差平均部件13的输出大，并且移动量是指定的倾斜校正量。
此后，倾斜控制器19通过将再现信号特性上的位置D0作为参考位置使阶跃扰动信号发生器15输出指定阶跃扰动数据D1，通过加法器17将阶跃扰动极性施加到倾斜控制***，并且将透镜倾斜位置从参考位置D0移动到位置+D1和-D1。
倾斜控制器19接受在位置+D1和-D1处的差平均部件13的输出并将其存储在存储器20中。此时，在位置D0和+D1处的输出电压差与在位置D0和-D1出的输出电压差的绝对值相等。
然后，判断窗口14将在图2C中的位置+D1和-D1处的差平均部件13的输出之间的差与指定值(范围)相比较。判断窗口14判断该输出差小于该指定值，并且将其报告(输出)给倾斜控制器19。
倾斜控制器19保持在位置D0的调节数据，并优化通过光拾取器2的物镜的发射的光的光轴(轴线＝主光线)的方向。
即，如上所述，通过根据从差平均部件13输出的、每个倾斜位置处的再现信号的平均值调节通过物镜的光的轴线，可提高调节精度。
前文已说明了由倾斜控制器19调节倾斜位置的方法。图3中示出了其操作流程。
当检测到透镜倾斜处于判断窗口之外的位置时，以如下方式判断使直流偏移移动一步的极性(方向)：
(在+步处的电平平均值)-(在-步处的电平平均值)＜0
负倾斜校正电压
(在+步处的电平平均值)-(在-步处的电平平均值)＞0
正倾斜校正电压
更具体地，在步骤S301，扰动信号使倾斜角沿正方向和负方向改变。
在步骤S302，计算通过改变的倾斜角获得的RF信号的包络，并求其平均值。
判断平均包络输出和该指定值(参考值)之间的差是否存在于判断窗口中(S303)。当获得的差在判断窗口范围之外(S303中的否)时，则根据平均值的差的极性设定校正电压的极性。
如上所述，根据极性使直流偏移移动一步(S305、S306、S037)。
图4示出通过将图1中说明的光拾取器倾斜校正控制部件的倾斜校正与光盘的径向相关联，在调节时优化针对盘上的每个信息区域的倾斜校正的概念。
光盘M具有位于树脂基底(或玻璃)上的记录薄膜。因此，众所周知，该光盘会伴随有翘曲，即例如当以光盘的外径为基准时，中心部分(中心孔部分)没有位于相同平面上。翘曲可由光盘的规格说明中的数值表示。
因此，如图4所示，如果盘M沿盘的半径(径向)分为一些区域，则对每个区域执行通过地址信息计算的倾斜校正，将每个区域中的倾斜校正的结果存储在存储器中，并且之后立即调节倾斜位置，即使倾斜位置(量)由于在内圆周或外圆周中移动的光拾取器而不同，也不必再调整。例如划分的数量n为10。该数量可以是大于10，或者相反等于或小于5。
下面，将说明倾斜位置调节的应用示例。
在再现操作期间，读取光盘M的读出数据并校正倾斜，而该读出数据从缓冲存储器(未示出)输出。在记录操作期间，读取在预先记录区域中的光盘M的读出数据并校正倾斜，而记录数据存储在缓冲存储器(未示出)中。
通过使用倾斜控制器19将倾斜位置的调节应用于该装置，即使光学***的部件因随时间的改变而变形，以及光学***的特性有很大变化或者倾斜控制***的参考状态改变，仍可实现最优的倾斜校正。
图5示出了图1中所示的光盘记录/再现装置的光拾取器倾斜校正控制部件的另一实施例。与图1中的部件相同的部件使用相同的标号，并且将省略其详细说明。
如图5中所示，光盘记录/再现装置101包括用于向光盘M的记录表面发射具有指定波长的光的光拾取器2。
光拾取器2结合有发射具有指定波长的激光束(光束)的未示出的激光二极管，捕获从该激光二极管发射的和从该光盘的记录表面上反射的光束的物镜21，光检测器3，该光检测器包括接收由该物镜21捕获的光束并输出对应于该光束的强度的电流或电压的信号光检测器，和调节物镜3与记录介质M的角度的倾斜校正驱动线圈4。在物镜21附近(或者在光拾取器2的指定位置处)设置有生成用于控制物镜21的位置的推力的聚焦控制线圈22和轨道控制线圈23。
信号处理器5包括处理主要用于读取信息的RF信号或数据信号的RF信号检测/解码电路51，检测物镜21的位置在光盘M的表面的方向的位移的焦点误差检测器106，检测物镜21的位置沿光盘M的直径方向的位移的轨道误差检测器107，向聚焦控制线圈22和/或轨道控制线圈23提供控制信号的伺服电路41，该控制信号用于基于相应的误差检测器检测到的误差量控制物镜21的位置，和通过参照焦点误差检测器和轨道误差检测器中的至少一个的输出来校正光盘M的倾斜对信号面的影响的倾斜校正控制部件111。
即，与图1中所示的检测***使用RF信号进行检测相比，图5中所示的倾斜检测/校正***的特征在于从例如轨道误差(TE)的峰(最大)值和谷(最小)值检测倾斜位置。在此情况下，实际得到的波形与图2A中说明的波形相同。
通过在检测的倾斜位置处的倾斜量校正倾斜的过程与参照图2A到2C和图3说明的过程相同，并且将省略其详细说明。
如前文所述的，根据本发明，对于在光盘记录/再现装置中是个问题的光盘倾斜(盘倾斜)，在光拾取器的倾斜校正中，该光拾取器具有用于最优地校正通过光拾取器的物镜的光的轴线的光盘倾斜校正机构，可通过RF信号或TE信号调节最优倾斜校正角，而不需要提供专用的倾斜传感器。
即，当改变物镜的倾斜时，通过当检测在读出期间的RF包络(RERP)或轨道误差信号的峰值/谷值时，计算以偏移为中心的阶跃扰动并且将指定阶跃扰动施加到倾斜校正驱动电路，然后检测任选极性的每个阶跃扰动的峰值和谷值之间的差，并控制倾斜校正偏移添加部件的大小以将阶跃扰动导致的信号差减小到直到指定值，而增大了校正速度并且可实现最优校正。
此外，根据本发明，在优化作为主光束的光轴的、通过光拾取器的物镜的光的光轴的倾斜校正中，可通过使用RF信号(再现的输出)或TE(轨道误差)信号在短时间内设定最优的倾斜校正角，而不提供专用的倾斜传感器。
本发明并不局限于前文所述的实施例。本发明还可表现为其它特定形式或者被修改，而不会背离其精神或本质特征。每个实施例可尽可能地适当地组合。在此情况下，将获得组合的效果。

Claims (13)

1.一种具有倾斜校正线圈以调整物镜的倾斜的光拾取器倾斜校正控制部件，其特征在于包括：
偏移生成装置，用于在倾斜校正线圈中生成平均倾斜；
阶跃扰动生成装置，用于以该偏移生成装置生成的偏移量为中心在倾斜校正线圈中生成两个极性的阶跃扰动；
包络检测装置，用于检测通过将该阶跃扰动生成装置生成的所述两个极性的阶跃扰动施加到倾斜校正线圈而得到的输出的包络；
差平均装置，用于检测该阶跃扰动生成装置生成的所述两个极性的阶跃扰动的包络之间的差；以及
倾斜控制装置，用于控制从该偏移生成装置输出的倾斜的偏移量，以将当阶跃扰动生成装置生成的阶跃扰动改变时的信号差减小到指定值。
2.根据权利要求1的倾斜校正控制部件，其特征在于，所述倾斜控制装置在被分成区域的记录介质的半径内的任选位置处执行倾斜校正，并将每个区域中的倾斜校正的结果存储在存储装置中。
3.根据权利要求1的倾斜校正控制部件，其特征在于，所述差平均装置通过对所述阶跃扰动生成装置生成的阶跃扰动进行平均化来输出信号。
4.根据权利要求2的倾斜校正控制部件，其特征在于，所述差平均装置通过对所述阶跃扰动生成装置生成的阶跃扰动进行平均化来输出信号。
5.根据权利要求1的倾斜校正控制部件，其特征在于，所述倾斜控制装置比较所述阶跃扰动生成装置生成的两个极性的扰动的极性与来自所述差平均装置的信号的极性，并输出移动偏移的方向。
6.根据权利要求2的倾斜校正控制部件，其特征在于，所述倾斜控制装置比较所述阶跃扰动生成装置生成的两个极性的扰动的极性与来自所述差平均装置的信号的极性，并输出移动偏移的方向。
7.一种具有倾斜校正线圈以调整物镜的倾斜的光拾取器倾斜校正控制部件，其特征在于包括：
偏移生成装置，用于在倾斜校正线圈中生成平均倾斜；
阶跃扰动生成装置，用于以该偏移生成装置生成的偏移量为中心在倾斜校正线圈中生成两个极性的阶跃扰动；
峰值/谷值检测装置，用于检测通过将该阶跃扰动生成装置生成的所述两个极性的阶跃扰动施加到倾斜校正线圈得到的从记录介质反射的光束的最大值和最小值；
差平均装置，用于检测对应于该阶跃扰动生成装置生成的两个阶跃扰动的最大值和最小值之间的差；以及
倾斜控制装置，用于控制从该偏移生成装置输出的倾斜的偏移量，以将当阶跃扰动生成装置生成的阶跃扰动改变时的信号差减小到指定值。
8.根据权利要求7的倾斜校正控制部件，其特征在于，所述倾斜控制装置在被分成区域的记录介质的半径内的任选位置处执行倾斜校正，并将每个区域中的倾斜校正的结果存储在存储装置中。
9.根据权利要求7的倾斜校正控制部件，其特征在于，所述差平均装置通过对所述阶跃扰动生成装置生成的阶跃扰动进行平均化来输出信号。
10.根据权利要求8的倾斜校正控制部件，其特征在于，所述差平均装置通过对所述阶跃扰动生成装置生成的阶跃扰动进行平均化来输出信号。
11.根据权利要求7的倾斜校正控制部件，其特征在于，所述倾斜控制装置比较所述阶跃扰动生成装置生成的两个极性的扰动的极性与来自所述差平均装置的信号的极性，并输出移动偏移的方向。
12.根据权利要求9的倾斜校正控制部件，其特征在于，所述倾斜控制装置比较所述阶跃扰动生成装置生成的两个极性的扰动的极性与来自所述差平均装置的信号的极性，并输出移动偏移的方向。
13.一种调节物镜的倾斜的方法，其特征在于包括：
将平均偏移分量添加在施加到倾斜校正线圈的校正量上；
将两个极性的阶跃扰动添加到该添加的偏移分量的中心值上；
检测对应于所述两个极性的阶跃扰动的再现的输出的包络或最大值和最小值；
计算在所述检测的对应于所述两个极性的阶跃扰动的包络或最大值和最小值之间的差的平均值；以及
控制偏移分量的偏移量，以将阶跃扰动改变时的包络或最大值和最小值之间的差减小到指定值。
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