CN100394491C - 光学存储装置的控制电路及其方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种光学存储装置的控制电路，其具有：一回路相位计算单元，用来依据一伺服***的至少一误差信号计算该伺服***的闭回路相位；以及一***控制单元，耦接至回路相位计算单元，用来依据闭回路相位产生最佳控制参数以进行补偿控制，其中伺服***包含有一循轨伺服控制***或一聚焦伺服控制***，所述补偿控制为径向倾斜控制或聚焦平衡的调整，以及所述最佳控制参数为依据回路相位计算单元计算的多个闭回路相位所决定的至少一最佳控制参数。本发明不需使用除法器，相较于现有技术至少另减少一带通滤波器及一低通滤波器。因此，本发明所需用来计算的组件数量更少，更易于实现。
Description
技术领域
本发明涉及一种光学存储装置(optical storage device)，尤指一种光学存储装置的控制电路及其方法。
背景技术
随着计算器运算速度的提升以及网际网络的兴起，各个领域的使用者对于数据存储的需求与日俱增。各种光盘(optical disc)，例如：数字多用途光盘(Digital Versatile Disc，DVD)......等，由于具备体积轻便、存储容量可观且价格经济等优势，而变得相当普及。因此，对应于这些光盘的光学存储装置(optical storage device)，例如：数字多用途光驱(DVD drive)、数字多用途光盘刻录机(DVD burner)......等，遂成为计算器的标准配备之一。
请参考图1，图1为公开号US 2003/0147315的美国专利申请案所揭露一光学存储装置中空白光盘倾斜控制装置的控制电路的示意图，其中部分组件并未显示于图1。该倾斜控制电路至少具有：一循轨误差信号计算单元10、一回路电平(loop level)计算单元11、一***控制单元12、一径向倾斜(radial tilt)控制单元14、一循轨伺服(tracking servo)单元15。循轨误差信号计算单元10、回路电平计算单元11和循轨伺服单元15，可以用以构成空白光盘的倾斜量测装置。***控制单元12可利用测得的回路电平(loop level)代表倾斜量，并依据测得的回路电平产生一控制参数，以控制光盘1与光学读取头3之间的倾角。该光学存储装置详细的倾角的量测装置如图2所示，其中方框标示的部分即为图1所示的回路电平计算单元11的详细构造。回路电平计算单元11具有：带通滤波器1131与1141、整流器1132与1142以及低通滤波器1133与1143。波形产生器112可产生一波形为弦波的扰动(disturbance)信号，而循轨误差信号计算单元10所产生的输出信号Vt即为公知的循轨误差信号(TE signal)。回路电平计算单元11将循轨误差信号与通过加法器111相加获得的信号分别通过带通滤波器、整流器和低通滤波组件来处理，以分别获得两回路电平信号Vin与Vout。回路电平信号Vout与Vin相除为开回路增益，而开回路增益与倾斜量之间有一相对应关系，所以***控制单元12可依据回路电平信号Vin与Vout取得该回路增益与控制参数的对应关系，以控制光盘1与光学读取头3之间的倾角。
由上述可知，***控制单元12可以取得对应于数个控制参数的回路电平。***控制单元12就依据这些回路电平的大小，于这些控制参数中选择一最佳倾角控制参数。然而，光学存储装置回路增益的计算须要一除法器，所以在实现上较为复杂。
发明内容
因此本发明的目的在于提供一种光学存储装置(optical storagedevice)的控制电路及其方法。
本发明揭露一种光学存储装置的控制电路，其包含有：一伺服***，其具有一循轨伺服控制***或一聚焦伺服控制***，该伺服***包含有：一伺服控制单元，用来进行补偿控制，该补偿控制为径向倾斜控制或聚焦平衡的调整；一回路相位(loop phase)计算单元，耦接至该伺服***，用来依据该伺服***的至少一误差信号计算该伺服***的闭回路相位；以及一***控制单元，耦接至回路相位计算单元与该伺服***，用来依据闭回路相位产生最佳(optimized)控制参数，以通过利用该伺服控制单元进行补偿控制，其中，最佳控制参数是依据回路相位计算单元计算的多个闭回路相位所决定的至少一最佳控制参数。
所述***控制单元是于多个控制参数中决定对应一光盘上一第一轨道半径的第一最佳控制参数与对应该光盘上一第二轨道半径的第二最佳控制参数，再依据所述第一、第二轨道半径与第一、第二最佳控制参数进行一内插(interpolation)运算或一外插(extrapolation)运算以决定对应一预定轨道半径的最佳控制参数以进行补偿控制。
所述多个闭回路相位具有对应一光盘上一第一轨道半径的多个第一相位与对应该光盘上一第二轨道半径的多个第二相位，所述多个第一相位具有一第一极值，该第一极值是对应多个控制参数中一第一暂定控制参数，且所述控制电路另包含有：一射频信号(RF signal)品质计算单元，耦接于所述***控制单元，用来计算对应第一轨道半径的最佳射频信号品质指标(RF qualityindex)，该最佳射频信号品质指标是对应所述多个控制参数中一第一预定控制参数，其中所述***控制单元是依据第一预定控制参数与第一暂定控制参数来计算一控制参数偏移值，且所述***控制单元是依据所述多个第二相位与控制参数偏移值来决定对应第二轨道半径的最佳控制参数。
所述多个第二相位具有一第二极值，该第二极值是对应所述多个控制参数中一第二暂定控制参数，所述***控制单元是依据第二暂定控制参数与控制参数偏移值来决定对应第二轨道半径的最佳控制参数。
所述第二暂定控制参数等于所述第一暂定控制参数。
所述***控制单元决定第一预定控制参数为对应第一轨道半径的最佳控制参数。
所述最佳射频信号品质指标是对应于部分响应信号噪声比(partialresponse signal-to-noise ratio，PRSNR)、连续振幅边缘(SequencedAmplitude Margin，SAM)或模拟误码率(simulated bit error rate，SBER)。
所述回路相位计算单元另包含有：一信号产生器，用来产生一周期性的扰动信号；至少一运算单元，其为减法器或加法器，该运算单元是用来将周期性的扰动信号输入循轨伺服控制***或聚焦伺服控制***，以将周期性的扰动信号与误差信号相减或相加；以及一相位检测器，用来检测信号产生器产生的周期性的扰动信号与误差信号的相位差，其中该相位差为闭回路相位。
所述相位检测器另包含有：一带通滤波器，耦接至误差检测单元，用来过滤该误差信号以产生一带通滤波信号；一数字化(digitizing)单元，耦接至带通滤波器，用来依据带通滤波信号产生一二元(binary)信号；一异或逻辑运算(esclusive OR，XOR)单元，耦接至数字化单元，用来对扰动信号与二元信号进行一异或运算以产生一脉冲信号；以及一平滑(smooth)滤波器，耦接至异或逻辑运算单元，用来过滤脉冲信号以产生一输出信号，其中该输出信号的电平是对应于所述多个相位中一相位。
本发明亦对应地提供一种光学存储装置的控制方法，其包含有：(a)依据一伺服***的至少一误差信号计算该伺服***的闭回路相位；以及(b)依据该闭回路相位产生最佳(optimized)控制参数以进行补偿控制，其中所述伺服***包含有一循轨伺服控制***或一聚焦伺服控制***，所述补偿控制为径向倾斜(radial tilt)控制或聚焦平衡(focus balance)的调整，以及所述最佳控制参数是依据计算伺服***的闭回路相位的步骤计算的多个闭回路相位所决定的至少一最佳控制参数。
步骤(b)另包含有：于所述多个控制参数中决定对应一光盘上一第一轨道半径的第一最佳控制参数与对应该光盘上一第二轨道半径的第二最佳控制参数；以及依据所述第一、第二轨道半径与第一、第二最佳控制参数进行一内插运算或一外插运算以决定对应一预定轨道半径的最佳控制参数以进行补偿控制。
所述多个相位具有对应一光盘上一第一轨道半径的多个第一相位与对应该光盘上一第二轨道半径的多个第二相位，所述多个第一相位具有一第一极值，该第一极值是对应所述多个控制参数中一第一暂定控制参数，且所述控制方法另包含有：计算对应第一轨道半径的最佳射频信号品质指标，该最佳射频信号品质指标是对应所述多个控制参数中一第一预定控制参数；其中步骤(b)另依据第一预定控制参数与第一暂定控制参数来计算一控制参数偏移值，且依据所述多个第二相位与控制参数偏移值来决定对应第二轨道半径的最佳控制参数。
所述多个第二相位具有一第二极值，该第二极值是对应所述多个控制参数中一第二暂定控制参数，步骤(b)是依据第二暂定控制参数与控制参数偏移值来决定对应第二轨道半径的最佳控制参数。
所述第二暂定控制参数等于所述第一暂定控制参数。
所述步骤(b)另包含有：决定第一预定控制参数为对应第一轨道半径的最佳控制参数。
所述最佳射频信号品质指标是对应于部分响应信号噪声比、连续振幅边缘或模拟误码率。
所述步骤(a)另包含有：产生一周期性的扰动信号；将周期性的扰动信号输入循轨或聚焦伺服控制***；以及检测周期性的扰动信号与误差信号的相位差，其中相位差为闭回路相位。
所述步骤(a)另包含有：(a-0)过滤误差信号以产生一带通滤波信号；(a-1)依据带通滤波信号产生一二元信号；(a-2)对扰动信号与二元信号进行一异或运算以产生一脉冲信号；以及(a-3)过滤脉冲信号以产生一输出信号，其中该输出信号的电平是对应于所述多个相位中一相位。
本发明的装置与方法不需使用除法器，相较于现有技术至少另减少一带通滤波器及一低通滤波器。因此，本发明所需用来计算的组件数量更少，于是更易于实现。
附图说明
图1为公知的光学存储装置中一控制电路的示意图。
图2为图1所示的控制电路的循轨控制回路的示意图。
图3为依据本发明的一光学存储装置的光学读取头的控制电路的示意图。
图4为依据本发明的第一实施例，于图3所示的控制电路中用来量测闭回路相位的组件的示意图。
图5为依据本发明第一实施例，于图3所示的控制电路中用来量测闭回路相位的组件的示意图。
图6为图3所示的回路相位计算单元的示意图。
图7为对应本发明第一实施例的闭回路相位与频率的曲线的示意图。
图8为本发明第一实施例的一可能状况下，闭回路转移函数相位量测电平及射频信号品质指标分别对应于控制参数的两曲线的示意图。
图9依据本发明的光学存储装置的控制方法的流程图。
图10依据本发明的光学存储装置的控制方法的流程图。
图11为依据本发明第二实施例，于图3所示的控制电路中用来量测闭回路相位的组件的示意图。
图12为对应本发明第二实施例的闭回路相位与频率的曲线的示意图。
图13为本发明第二实施例的一可能状况下，闭回路敏感度函数相位量测电平及射频信号品质指标分别对应于控制参数的两曲线的示意图。
1 光盘 3 光学读取头
10 循轨误差信号计算单元 11 回路电平计算单元
12 ***控制单元 14 径向倾斜控制单元
15 循轨伺服单元 111 加法器
112 波形产生器 113、114 电平检测单元
1131、1141 带通滤波器 1132、1142 整流器
1133、1143 低通滤波器 310 光学读取头
312 射频信号检测单元 314 聚焦误差检测单元
316 循轨误差检测单元 320 射频信号品质计算单元
332、432 选择单元 340 回路相位计算单元
350 ***控制单元 360 倾斜控制单元
370 聚焦控制单元 374 聚焦致动器
380 循轨控制单元 386 循轨致动器
410 信号产生器 434、434-1、434-2 运算单元
450 相位检测器 520 伺服控制单元
530 致动器 540 误差检测单元
610 带通滤波器 620 数字化单元
630 异或逻辑运算单元 640 平滑滤波器
具体实施方式
请参考图3，图3为依据本发明的一光学存储装置(optical storage device)的控制电路的示意图，其中该光学存储装置是指用来驱动光盘(optical disc)的装置，例如：数字多用途光驱(DVD drive)、数字多用途光盘刻录机(DVDburner)...等。该控制电路包含有：一光学读取头(optical pickup)310、一射频信号(RF signal)检测单元312、一聚焦误差检测单元314、一循轨误差检测单元316、一射频信号品质计算单元320、一回路相位计算单元340、一***控制单元350、一倾斜(tilt)控制单元360、一聚焦(focusing)控制单元370、与一循轨(tracking)控制单元380。
如图4所示的一第一实施例，该控制电路中的回路相位计算单元340至少包含有：一信号产生器410、选择单元332与432、减法器434-1与434-2、与一相位检测器450，其中减法器434-1与434-2也可采用其它运算单元(如加法器)来实施。***控制单元可以通过选择单元332和432来选择一第一回路或一第二回路。第一回路为一聚焦伺服控制***，其包含有减法器434-1、聚焦控制单元370、聚焦致动器374、聚焦误差检测单元314；而该第二回路为一循轨伺服控制***，其包含有减法器434-2、循轨控制单元380、循轨致动器386、循轨误差检测单元316。依据本实施例，聚焦致动器374与循轨致动器386是设置于图3所示的光学读取头310当中。为了简化说明，图3省略该控制电路的部分组件如信号产生器410、减法器434-1与434-2、聚焦致动器374、循轨致动器386而未予显示。然而，此并非对本发明的限制。
***控制单元350可产生控制信号，以分别通过倾斜控制单元360、聚焦控制单元370、循轨控制单元380所产生的控制电压来控制倾斜致动器(未显示)、聚焦致动器374、循轨致动器386。于是，***控制单元350可通过上述的倾斜致动器、聚焦致动器374、循轨致动器386来控制光学读取头310的倾斜、聚焦、循轨......等运作。***控制单元350可依据回路相位计算单元340所产生的多个闭回路相位，于对应该多个闭回路相位的多个控制参数中决定至少一最佳控制参数，其中回路相位计算单元340是通过其输出信号342将该多个闭回路相位输出至***控制单元350。依据本实施例，***控制单元350可选用的控制参数T为十个控制参数Ti，其中i＝0、1、......、9，而上述的倾斜致动器则依据***控制单元350所决定的一控制参数Ti的大小控制光学读取头310的倾斜角度。***控制单元350可于这十个控制参数T0、T1、......、T9中选择其中之一，并依据该被选择的控制参数通过倾斜控制单元360来进行倾斜补偿控制，以使得光学读取头310达到最佳的运作效能。另外，通过改变聚焦控制单元370的偏差量(offset)可以补偿聚焦的平衡点。依据本实施例，***控制单元350可选用的控制参数U为十个控制参数Ui，其中i＝0、1、......、9。相仿地，***控制单元350可于这十个控制参数U0、U1、......、U9中选择其中之一来补偿聚焦控制单元370的偏差量，以使得光学读取头310达到最佳的运作效能。以下是以控制参数T来说明，控制参数U也可应用于本发明的其它实施例。上述的控制参数Ti的选择则可通过图4所示电路来量测第一与第二回路中的闭回路相位来决定。通过量测一误差信号与信号产生器410所产生的扰动信号412之间的多个闭回路相位，***控制单元350即可依据多个闭回路相位342的大小来进行上述的控制参数Ti的选择。依据本实施例，上述的误差信号可为循轨误差信号TE或聚焦误差信号FE。
依据本发明，一闭回路相位可代表两相位值之间的相位差，也可以代表具有该两相位值的两信号之间的电平差异，即一相位量测电平，其中该相位差的值为该相位量测电平的值乘以一定值(constant value)，所以该相位量测电平实质上就代表该相位差。例如：若该两信号分别为上述的误差信号与扰动信号412，分别具有该两相位，则该相位量测电平就是该误差信号与扰动信号412之间的电平差异。依据本实施例，该多个闭回路相位为多个相位量测电平，皆通过输出信号342来输出，其中每一相位量测电平均为输出信号342的一电平。
图5是选择信号331处于第一或第二状态中的一状态的示意图。当选择信号331处于第一状态时，代表***控制单元350选择量测聚焦伺服控制***的闭回路相位，于是图5所示的减法器434、伺服控制单元520、致动器530、误差检测单元540、误差信号542分别代表图4所示的减法器434-1、聚焦控制单元370、聚焦致动器374、聚焦误差检测单元314、聚焦误差信号FE。当选择信号331处于第二状态时，代表***控制单元350选择量测循轨伺服控制***的闭回路相位，于是图5所示的减法器434、伺服控制单元520、致动器530、误差检测单元540与误差信号542分别代表图4所示的减法器434-2、循轨控制单元380、循轨致动器386、循轨误差检测单元316、循轨误差信号TE。
于本实施例中，扰动信号412是一波形可为一方波的扰动(disturbance)信号，而运算单元434是用来将扰动信号412与误差信号542相减，并将运算结果输出至相位检测器450。另外，相位检测器450可计算误差信号542与扰动信号412之间的多个闭回路相位，并通过输出信号342输出该多个闭回路相位，其中该多个闭回路相位分别对应于光学读取头310的多个控制参数T0、T1、......、T9。也就是说，通过逐一地决定一控制参数Ti来控制光学读取头310，并通过相位检测器450计算对应于每一控制参数Ti的闭回路相位，***控制单元350就可以逐一地取得对应于这十个控制参数T0、T1、......、T9的十个闭回路相位。依据这十个闭回路相位，***控制单元350可于这十个控制参数T0、T1、......、T9中选择一控制参数Tx，并依据控制参数Tx通过倾斜控制单元360来补偿及控制光学读取头310相对于盘片的倾斜角。
上述的相位检测器450的运作说明如下。如图6所示，相位检测器450包含有：一带通滤波器610、一数字化(digitizing)单元620、一异或逻辑运算(exclusive OR，XOR)单元630、与一平滑(smooth)滤波器640。带通滤波器610过滤误差信号542以产生一带通滤波信号611，而数字化单元620依据带通滤波信号611产生一二元(binary)信号621，其中二元信号621具有一高电平与一低电平。于本实施例中，数字化单元620为一截波器(slicer)。异或逻辑运算单元630则对扰动信号412与二元信号621进行一异或运算以产生一脉冲信号631，其中脉冲信号631中一脉冲在一周期内高电平宽度与低电平宽度的差异量即代表扰动信号412与误差信号542之间的相位差。平滑滤波器640可以使用低通滤波器，用以过滤脉冲信号631以产生上述的输出信号342。如前面所述，本实施例的每一相位量测电平均为输出信号342的一电平，尤其为一闭回路转移函数(transfer function)相位量测电平ΔTF，其代表一闭回路转移函数的相位φTF，其中输出信号342的电平等效于扰动信号412与误差信号542之间的相位差取绝对值，如下列方程式所示：
|φTF|＝ΔTF*180°，-180°≤φTF≤0°；
此方程式中的定值180即可用来进行闭回路转移函数相位量测电平ΔTF与闭回路转移函数的相位φTF之间的转换。如此，在本发明的应用上可以使用此闭回路转移函数相位量测电平ΔTF来代表闭回路转移函数的相位φTF取绝对值。
通过如图5所示的各组件的连接方式，对应的闭回路转移函数的相位φTF与频率f的曲线可通过图7来说明。随着***控制单元350依序于控制参数T0、T1、......、T9选用每一控制参数Ti，闭回路转移函数的相位φTF与频率f的曲线起初可以是如图7所示的曲线720，然后会渐渐向右移而变化为如图7所示的曲线710，最后再渐渐向左移回，例如移到曲线720所示的位置。如图7所示，通过扰动信号412的频率fo的虚线分别与曲线710与720交会于点712与722。因此，随着***控制单元350依序于控制参数T0、T1、......、T9选用每一控制参数Ti，前述的闭回路转移函数的相位φTF起初可以是如图7所示的点722，然后会渐渐向上移而变化为如图7所示的点712，最后再渐渐向下移回，例如移到点722所示的位置。上述的回路相位计算单元340所计算的多个闭回路相位(即回路相位计算单元340所计算的多个闭回路转移函数相位量测电平ΔTF)是分别对应于这些逐次变化的曲线(如曲线710与720)与上述虚线互相交会的点(如点712与722)与横轴的距离。
于本实施例中，射频信号品质计算单元320可计算光学存储装置所读取的光盘(optical disc)的数据区的多个射频信号品质指标(RF quality index)QRF，其中这些射频信号品质指标是对应于部分响应信号噪声比(partialresponse signal-to-noise ratio，PRSNR)、连续振幅边缘(SequencedAmplitude Margin，SAM)、模拟误码率(simulated bit error rate，SBER)。通过逐一地决定一控制参数Ti来控制光学读取头310，并通过射频信号品质计算单元320计算对应于每一控制参数Ti的射频信号品质指标，***控制单元350就可以逐一地取得对应于这十个控制参数T0、T1、......、T9的十个射频信号品质指标。依据这十个射频信号品质指标，***控制单元350可于这十个控制参数T0、T1、......、T9中选择一控制参数Ty，并依据控制参数Ty通过倾斜控制单元360来补偿及控制光学读取头310相对于光盘的倾斜角，以使得光学读取头310达到最佳的运作效能。需要留意的是，依据射频信号品质指标QRF所决定的最佳控制参数Ty通常较依据闭回路转移函数相位量测电平ΔTF所决定的最佳控制参数Tx更能使得光学读取头310达到最佳的运作效能。另外，射频信号品质指标QRF是适用于光盘的数据区，而闭回路转移函数相位量测电平ΔTF则均适用于光盘片的数据区与非数据区。因此，对于光盘的一轨道半径r1，***控制单元350可先计算控制参数Tx与Ty之间的偏移值ΔT，然后，对于光盘的一轨道半径r 2，***控制单元350可计算闭回路转移函数相位量测电平ΔTF，再依据闭回路转移函数相位量测电平ΔTF与偏移值ΔT计算对应轨道半径r2的最佳控制参数。
图8为本实施例的一可能状况下，闭回路转移函数相位量测电平ΔTF及射频信号品质指标QRF分别对应于控制参数Ti的两曲线的示意图。***控制单元350记录对应于这十个控制参数T0、T1、......、T9的十个闭回路转移函数相位量测电平ΔTF之后，就取得如图8所示，闭回路转移函数相位量测电平ΔTF与控制参数Ti的对应关系的曲线810，其中对应于控制参数T4的点812是曲线810的各数据点中的最小值。***控制单元350可于这十个控制参数T0、T1、......、T9中选择控制参数T4作为一最佳控制参数Tx。另外，***控制单元350记录对应于这十个控制参数T0、T1、......、T9的十个射频信号品质指标之后，就取得如图8所示曲线820，即射频信号品质指标QRF与控制参数Ti的对应关系，其中对应于控制参数T6的点822是曲线820的各数据点中的最小值。***控制单元350可于这十个控制参数T0、T1、......、T9中选择控制参数T6作为一最佳控制参数Ty。此状况下，上述的偏移值ΔT等于如图8所示横轴的两个横轴单位。于本实施例的一变化例中，若射频信号品质指标QRF的最佳值为最大值(亦即，射频信号品质指标QRF与控制参数Ti的对应关系的曲线凹口向下)，则可将射频信号品质指标QRF的值取负号使其最佳值转换为最小值(亦即，射频信号品质指标QRF与控制参数Ti的对应关系的曲线凹口向上)。
上述实施例的控制方法可通过图9与图10所示的流程图来说明，其中图9的所有步骤910是于图10的步骤910-1与910-2各被执行一次。图9所示的步骤说明如下。
步骤910S：开始。
步骤912：开启信号产生器410。
步骤914：执行步骤916-i与步骤917-i，其中i＝0～(N-1)。
步骤916-i：以控制参数Ti控制光学读取头310。
步骤917-i：记录对应于控制参数Ti的闭回路相位。
步骤918：关闭信号产生器410。
步骤920：寻找最佳闭回路相位(即回路相位计算单元340所计算的多个闭回路转移函数相位量测电平ΔTF的最佳值，于本实施例中为最小值)所对应的控制参数Tx。
步骤922：若FLAG_INIT1＝0，则进入步骤924，否则，进入步骤936。
步骤924：若DATA_AREA＝1，则进入步骤926，否则，进入步骤934，其中本步骤是依据旗标DATA_AREA进行判断，DATA_AREA＝1代表目前读取位置为数据区，DATA_AREA＝0代表目前读取位置为非数据区。
步骤926：寻找最佳射频信号品质指标QRF所对应的控制参数Ty。
步骤928：计算偏移值ΔT，其中ΔT＝Ty-Tx。
步骤930：令T＝Ty。
步骤932：令FLAG_INIT1＝1。
步骤934：令ΔT＝0。
步骤936：令T＝Tx+ΔT。
步骤910E：结束。
另外，图10所示的步骤说明如下。
步骤900S：开始。
步骤904：若FLAG_INIT2＝0，则进入步骤906，否则，进入步骤908。
步骤906：将光学读取头310移至对应于半径r1的一第一位置。
步骤910-1：决定对应于半径r1的最佳控制参数T_r1，其中最佳控制参数T_r1即为本次执行图9所有步骤910之后所得的最佳控制参数T。
步骤940：存储半径r1与最佳控制参数T_r1。
步骤946：将光学读取头310移至对应于半径r2的一第二位置。
步骤910-2：决定对应于半径r2的最佳控制参数T_r2，其中最佳控制参数T_r2即为本次执行图9所有步骤910之后所得的最佳控制参数T。
步骤950：存储半径r2与最佳控制参数T_r2。
步骤952：令FLAG_INIT2＝1。
步骤908：依据半径r1与r2以及最佳控制参数T_r1与T_r2进行一内插(interpolation)运算或一外插(extrapolation)运算，以决定对应一预定轨道半径r的最佳控制参数(即控制参数T的最佳值)。
步骤900E：结束。
请同时参阅图11、图12、图13所示的一第二实施例。该第二实施例是与第一实施例近似，其差异说明如下。如图11所示，上述的相位检测器450的输入信号为扰动信号412与运算单元434的输出信号435。本实施例的每一相位量测电平均为相位检测器450的输出信号342的一电平，尤其为一闭回路敏感度函数(sensitivity function)相位量测电平ΔSF，其代表一闭回路敏感度函数的相位φSF。闭回路敏感度函数相位量测电平ΔSF与闭回路敏感度函数的相位φSF(于本实施例中即扰动信号412与输出信号435之间的相位差)之间的关系如下列方程式所示：
φSF＝ΔSF*180°，0°≤φSF≤180°；
此方程式中的定值180即可用来进行闭回路敏感度函数相位量测电平ΔSF与闭回路敏感度函数的相位φSF之间的转换。其中，依据第二实施例的闭回路敏感度函数的相位φSF与频率f的曲线730与740如图12所示。而***控制单元350则依据图13所示闭回路敏感度函数相位量测电平ΔSF与控制参数Ti的对应关系的曲线830中的各数据点的最大值832，以及射频信号品质指标QRF与控制参数Ti的对应关系的曲线840中的各数据点的最大值842，来决定上述的最佳控制参数Tx与Ty。于本实施例的一变化例中，若射频信号品质指标QRF的最佳值为最小值(亦即，射频信号品质指标QRF与控制参数Ti的对应关系的曲线凹口向上)，则可将射频信号品质指标QRF的值取负号使其最佳值转换为最大值(亦即，射频信号品质指标QRF与控制参数Ti的对应关系的曲线凹口向下)。
本发明的好处之一是，本发明的装置与方法所需用来计算闭回路相位的组件数量较公知技术中用来计算回路电平的组件数量更少，并且比公知技术更易于实现。
本发明的另一好处是，本发明的装置与方法于一光盘的数据区可采用对应于部分响应信号噪声比(partial response signal-to-noise ratio，PRSNR)、连续振幅边缘(Sequenced Amplitude Margin，SAM)、或模拟误码率(simulatedbit error rate，SBER)的射频信号品质指标，以补偿依据闭回路相位所产生的最佳控制参数与依据射频信号品质指标所产生的最佳控制参数之间的偏移值。因此，本发明的装置与方法于光盘的非数据区也可精确地运作。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，凡依本发明申请专利范围所做的均等变化与修饰，皆应属本发明专利的涵盖范围。
Claims (18)
1.一种光学存储装置的控制电路，其特征在于，包含：
一伺服***，其具有一循轨伺服控制***或一聚焦伺服控制***，该伺服***包含有：
一伺服控制单元，用来进行补偿控制，该补偿控制为径向倾斜控制或聚焦平衡的调整；
一回路相位计算单元，耦接至该伺服***，用来依据该伺服***的至少一误差信号计算该伺服***的闭回路相位；以及
一***控制单元，耦接至回路相位计算单元与该伺服***，用来依据闭回路相位产生最佳控制参数，以通过利用该伺服控制单元进行补偿控制；
其中，所述回路相位计算单元包括一信号产生器，用来产生一周期性的扰动信号，根据所述扰动信号和所述误差信号计算所述伺服***的闭回路相位，所述最佳控制参数是依据回路相位计算单元计算的多个闭回路相位所决定的至少一最佳控制参数。
2.如权利要求1所述的控制电路，其特征在于，所述***控制单元是于多个控制参数中决定对应一光盘上一第一轨道半径的第一最佳控制参数与对应该光盘上一第二轨道半径的第二最佳控制参数，再依据所述第一、第二轨道半径与第一、第二最佳控制参数进行一内插运算或一外插运算以决定对应一预定轨道半径的最佳控制参数以进行补偿控制。
3.如权利要求1所述的控制电路，其特征在于，所述多个闭回路相位具有对应一光盘上一第一轨道半径的多个第一相位与对应该光盘上一第二轨道半径的多个第二相位，所述多个第一相位具有一第一极值，该第一极值是对应多个控制参数中一第一暂定控制参数，且所述控制电路另包含有：
一射频信号品质计算单元，耦接于所述***控制单元，用来计算对应第一轨道半径的最佳射频信号品质指标，该最佳射频信号品质指标是对应所述多个控制参数中一第一预定控制参数；
其中所述***控制单元是依据第一预定控制参数与第一暂定控制参数来计算一控制参数偏移值，且所述***控制单元是依据所述多个第二相位与控制参数偏移值来决定对应第二轨道半径的最佳控制参数。
4.如权利要求3所述的控制电路，其特征在于，所述多个第二相位具有一第二极值，该第二极值是对应所述多个控制参数中一第二暂定控制参数，所述***控制单元是依据第二暂定控制参数与控制参数偏移值来决定对应第二轨道半径的最佳控制参数。
5.如权利要求4所述的控制电路，其特征在于，所述第二暂定控制参数等于所述第一暂定控制参数。
6.如权利要求3所述的控制电路，其特征在于，所述***控制单元决定第一预定控制参数为对应第一轨道半径的最佳控制参数。
7.如权利要求3所述的控制电路，其特征在于，所述最佳射频信号品质指标是对应于部分响应信号噪声比、连续振幅边缘或模拟误码率。
8.如权利要求1所述的控制电路，其特征在于，所述回路相位计算单元另包含有：
至少一运算单元，其为减法器或加法器，该运算单元是用来将周期性的扰动信号输入循轨伺服控制***或聚焦伺服控制***，以将周期性的扰动信号与误差信号相减或相加；以及
一相位检测器，用来检测信号产生器产生的周期性的扰动信号与误差信号的相位差，其中该相位差为闭回路相位。
9.如权利要求8所述的控制电路，其特征在于，所述相位检测器另包含有：
一带通滤波器，耦接至误差检测单元，用来过滤误差信号以产生一带通滤波信号；
一数字化单元，耦接至带通滤波器，用来依据带通滤波信号产生一二元信号；
一异或逻辑运算单元，耦接至数字化单元，用来对扰动信号与二元信号进行一异或运算以产生一脉冲信号；以及
一平滑滤波器，耦接至异或逻辑运算单元，用来过滤脉冲信号以产生一输出信号，其中该输出信号的电平是对应于所述多个相位中一相位。
10.一种光学存储装置的控制方法，其特征在于，包含有：
(a)依据包含有一循轨伺服控制***或一聚焦伺服控制***的伺服控制***的至少一误差信号计算该伺服***的闭回路相位；以及
(b)产生一周期性的扰动信号，根据所述扰动信号和所述误差信号计算所述伺服***的闭回路相位，依据闭回路相位产生最佳控制参数以进行补偿控制；
其中所述补偿控制为径向倾斜控制或聚焦平衡的调整，以及所述最佳控制参数是依据步骤(a)计算的多个闭回路相位所决定的至少一最佳控制参数。
11.如权利要求10所述的控制方法，其特征在于，步骤(b)另包含有：
于所述多个控制参数中决定对应一光盘上一第一轨道半径的第一最佳控制参数与对应该光盘上一第二轨道半径的第二最佳控制参数；以及
依据所述第一、第二轨道半径与第一、第二最佳控制参数进行一内插运算或一外插运算以决定对应一预定轨道半径的最佳控制参数以进行补偿控制。
12.如权利要求10所述的控制方法，其特征在于，所述多个相位具有对应一光盘上一第一轨道半径的多个第一相位与对应该光盘上一第二轨道半径的多个第二相位，所述多个第一相位具有一第一极值，该第一极值是对应所述多个控制参数中一第一暂定控制参数，且所述控制方法另包含有：
计算对应第一轨道半径的最佳射频信号品质指标，该最佳射频信号品质指标是对应所述多个控制参数中一第一预定控制参数；
其中步骤(b)另依据第一预定控制参数与第一暂定控制参数来计算一控制参数偏移值，且依据所述多个第二相位与该控制参数偏移值来决定对应第二轨道半径的最佳控制参数。
13.如权利要求12所述的控制方法，其特征在于，所述多个第二相位具有一第二极值，该第二极值是对应所述多个控制参数中一第二暂定控制参数，步骤(b)是依据第二暂定控制参数与控制参数偏移值来决定对应第二轨道半径的最佳控制参数。
14.如权利要求13所述的控制方法，其特征在于，所述第二暂定控制参数等于所述第一暂定控制参数。
15.如权利要求12所述的控制方法，其特征在于，所述步骤(b)另包含有：
决定第一预定控制参数为对应第一轨道半径的最佳控制参数。
16.如权利要求10所述的控制方法，其特征在于，所述最佳射频信号品质指标是对应于部分响应信号噪声比、连续振幅边缘或模拟误码率。
17.如权利要求10所述的控制方法，其特征在于，所述步骤(a)另包含有：
将周期性的扰动信号输入循轨伺服控制***或聚焦伺服控制***；以及
检测周期性的扰动信号与误差信号的相位差，其中相位差为闭回路相位。
18.如权利要求10所述的控制方法，其特征在于，所述步骤(a)另包含有：
(a-0)过滤误差信号以产生一带通滤波信号；
(a-1)依据带通滤波信号产生一二元信号；
(a-2)对扰动信号与二元信号进行一异或运算以产生一脉冲信号；以及
(a-3)过滤脉冲信号以产生一输出信号，其中该输出信号的电平是对应于所述多个相位中一相位。
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