CH680882A5 - - Google Patents

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CH680882A5
CH680882A5 CH2863/90A CH286390A CH680882A5 CH 680882 A5 CH680882 A5 CH 680882A5 CH 2863/90 A CH2863/90 A CH 2863/90A CH 286390 A CH286390 A CH 286390A CH 680882 A5 CH680882 A5 CH 680882A5
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CH
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radiation
sensor
sensor elements
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infrared
Prior art date
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CH2863/90A
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English (en)
Inventor
Peter Steiner
David Siegwart
Markus Rechsteiner
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Cerberus Ag
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G08SIGNALLING
    • G08BSIGNALLING OR CALLING SYSTEMS; ORDER TELEGRAPHS; ALARM SYSTEMS
    • G08B29/00Checking or monitoring of signalling or alarm systems; Prevention or correction of operating errors, e.g. preventing unauthorised operation
    • G08B29/02Monitoring continuously signalling or alarm systems
    • G08B29/04Monitoring of the detection circuits
    • G08B29/046Monitoring of the detection circuits prevention of tampering with detection circuits

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Security & Cryptography (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Burglar Alarm Systems (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)

Description

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CH 680 882 A5
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Beschreibung
Die Erfindung betrifft einen Intrusionsdetektor mit einem von einem Gehäuse umschlossenen, wenigstens zwei getrennte strahlungsempfindliche Elemente aufweisenden Sensor, einer optischen Anordnung, welche durch ein infrarotdurchlässiges Fenster des Gehäuses aus wenigstens je einem räumlichen Empfangsbereich für jedes Element eintreffende Infrarot-Strahlung in einem vorgegebenen Spektralbereich auf den Sensor richtet, einer Schaltung zur Alarmsignalgabe bei einer vorbestimmten Änderung der auftreffenden Strahlung, sowie mit einer Infrarot-Strahlungsquelie, die durch das Fenster hindurch und über eine weitere optische Anordnung die Sensorelemente mit unterschiedlicher Intensität bestrahlt, wobei die Schaltung bei einer vorbestimmten relativen Änderung der Bestrahlung der Sensorelemente durch die Strahlungsquelle ein Störungssignal erzeugt.
Ein solcher passiver Infrarot-Intrusionsdetektor ist aus der EP-A 0 189 536 bekannt und dient dazu, ein in einen überwachten Bereich eingedrungenes Objekt, z.B. einen Eindringling, mittels der von diesem ausgesandten Infrarot-Eigenstrahlung zu de-tektieren und über die Auswerteschaltung ein Alarmsignal auszulösen. Zum Schutz der optischen Anordnung und des Sensors vor Beschädigung und Verstaubung, sowie zur unauffälligen Plazierung des Detektors im überwachten Raum, ist das Detektor-Gehäuse in Einstrahlungsrichtung durch ein infrarotdurchlässiges Fenster abgeschlossen, das für die nachzuweisende Strahlung, z.B. die Körperstrahlung eines Menschen, im Wellenlängenbereich von etwa 5-15, speziell von 7-12 Mikrometer durchlässig ist.
Die Funktionsfähigkeit eines solchen Detektors hängt daher von der Infrarot-Durchlässigkeit des Fensters ab. Um den Detektor unwirksam zu machen, wird daher immer wieder versucht, durch Aufbringen einer absorbierenden Schicht auf die Fensteroberfläche das Fenster im ausgewerteten infraroten Spektralbereich undurchlässig zu machen. Es ist relativ einfach, solche Eingriffe fast unsichtbar zu machen, da die meisten dafür brauchbaren Materialien, wie Glas, Haushaltfolien, Haarlack-Spray oder transparente Schutzlacke, etc., zwar langwellige Infrarot-Strahlung absorbieren, im sichtbaren Bereich jedoch transparent sind, und daher ohne genauere Untersuchung kaum zu erkennen sind.
Bei dem in der EP-A 0 189 536 beschriebenen Detektor kann die Infrarot-Undurchlässigkeit des Fensters, z.B. infolge eines Sabotageversuches, dadurch erkannt und signalisiert werden, dass aussen am Gehäuse eine Infrarot-Strahlungsquelle angebracht ist, die durch das Fenster hindurch über einen Reflektor den Sensor bestrahlt. Bei Verminderung dieser Strahlung wird ein Störungssignal gegeben. Dies gelingt jedoch bei den genannten Detektoren mit Mehrfach- oder Dual-Sensor mit wenigstens zwei getrennten Sensorelementen oder strahlungsempfindlichen Flächen oder Flakes nur unvollkommen und in der Regel rein zufällig infolge von unbeabsichtigten Ungleichmässigkeiten, da die
Elemente paarweise in Differenz- oder Quotientenschaltung betrieben werden. Bei völlig gleicher Bestrahlung zweier Elemente wird daher kein Ausgangssignal erzeugt, und eine Verminderung der Bestrahlung durch die Strahiungsquelle kann nicht festgestellt werden, während zufolge der leicht unterschiedlichen Sichtbereiche der beiden Sensor-eiemente eines Paares ein die Sichtbereiche durchschreitender Eindringling problemlos detektiert wird. Um trotzdem eine sichere Funktionsüberwachung durchführen zu können, ist bei dem bekannten Detektor die Strahlungsquelle bzw. der Reflektor asymmetrisch angeordnet, z.B. ausserhalb der durch die Sensorelemente gebildeten Symmetrie-Ebene. Um eine genügende Differenzbestrahlung zu erhalten, ist jedoch eine relativ grosse Leistung der Strahlungsquelle erforderlich. Die notwendige Präzion der Bestrahlung erfordert zudem eine genaue Justierung der Strahlungsquelle und der optischen Anordnung.
Die Erfindung setzt sich die Aufgabe, die vorstehend angeführten Nachteile des Standes der Technik zu eliminieren, und insbesondere den eingangs genannten Infrarot-Intrusionsdetektor mit Dual-Sensor so zu verbessern, das die Infrarotdurchlässigkeit seines Eintrittsfensters auf einfachere Weise, ohne die Notwendigkeit einer aufwendigen Justierung und mit vermindertem Energieverbrauch überwacht werden kann.
Erfindungsgemäss wird diese Aufgabe dadurch gelöst, dass die weitere optische Anordnung bezüglich der durch die beiden Sensorelemente gebildeten Symmetrieebene derart asymmetrisch ausgebildet und/oder angeordnet ist, dass die Intensität der von der Strahlungsquelle am Ort des Sensors erzeugten Bestrahlung quer zu den Sensorelementen von einem Maximum nach den Seiten graduell abnimmt, und dass die Sensorelemente auf einer Flanke des Intensitätsverlaufes der Bestrahlung liegen.
Als graduelle Abnahme wird hierbei eine gleichsinnige Abnahme entlang einer bestimmten Strecke verstanden, sei es allmählich oder in kleinen Stufen, so dass eine Flanke mit einer gewissen Er-streckung entsteht.
Mit Vorteil kann dazu die weitere optische Anordnung als asphärischer Reflektor ausgebildet sein, der am Ort des Sensors einen quer zur Symmetrieebene verlaufenden länglichen Bestrahlungsfleck mit einer von einem Maximum in der Mitte nach den Seiten allmählich abnehmender Intensität erzeugt, wobei der Reflektor etwas schräg angeordnet ist, so dass die Sensorelemente auf der Flanke des Intensitätsverlaufes zu liegen kommen und unabhängig von einer genauen Justierung des Reflektors zwangsläufig ungleich bestrahlt werden.
Besonders vorteilhaft ist es, eine graduell abnehmende Bestrahlung der Sensorelemente dadurch zu erreichen, dass die weitere optische Anordnung als Segmentspiegel ausgebildet ist, wobei die einzelnen, z.B. angenähert sphärischen Spiegelsegmente jeweils einen Bestrahlungsfleck ensprechend der Form der Strahlungsquelle erzeugen und gegeneinander derart geneigt sind, dass sich die einzelnen Bestrahlungsflecke etwas überschneiden und einen treppenförmigen Bestrahlungsverlauf quer zur
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Symmetrieebene ergeben. Wenn die Stufenbreite kleiner gewählt ist als der Abstand der Sensorelemente, kommen die beiden Sensorelemente zwangsläufig und ohne die Notwendigkeit einer exakten Justierung auf verschiedenen Treppenstufen mit unterschiedlicher Bestrahlungsintensität zu liegen. Da dabei künstlich erzeugte Intensitätsunterschiede benutzt werden, kann die angestrebte Wirkung mit niedriger Leistung der Strahlungsquelle erreicht werden.
Die erforderliche Leistung kann noch weiter reduziert werden, indem die Strahlungsquelle als relativ dünne Widerstandsschicht mit geringer Wärmekapazität ausgebildet wird, die eine hochfrequente Modulation der Strahlung und die Erzeugung kurzer Impulse erlaubt.
Die Erfindung wird an Hand der Ausführungsbeispiele in den Figuren naher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 einen Infrarot-Intrusionsdetektor in Perspektive
Fig. 2 die optische Testanordnung eines Detektors und deren Beleuchtungsverteilung,
Fig. 3 die Beleuchtungsverteilung einer anderen optischen Testanordnung, und
Fig. 4 a-c den Intensitätsverlauf dreier optischer Testanordnungen quer zur Symmetrieachse.
Der in Fig. 1 dargestellte passive Infrarot-Intru-sionsdetektor weist ein Gehäuse 1 mit einem in einer Vertiefung 10 der Vorderwand angeordneten Strahlungseintrittsfenster 2, sowie im Inneren einen Infrarotsensor 3 und eine optische Anordnung 4 auf, welche die von einem Eindringling ausgehende, aus wenigstens einem überwachten Sichtfeld auf das Fenster 2 auftreffende Strahlung auf den Sensor 3 richtet oder bündelt. Das Eintrittsfenster 2 ist aus einem zumindest im Wellenlängenbereich der menschlichen Körperstrahlung, d.h. im Bereich um 10 Mikrometer, z.B. zwischen 5 und 15, vorzugsweise 7-12 Mikrometer durchlässigem Material ausgebildet, für andere Wellenlängen, z.B. sichtbares Licht jedoch mit Vorteil, aber nicht notwendigerweise undurchlässig. Z.B. kann das Fenster aus einem geeigneten Kunststoff, aus Spezialglas oder aus Silizium bestehen. Der Sensor 3 ist im gleichen Wellenlängenbereich empfindlich und kann z.B. als py-roelektrischer Sensor ausgebildet sein. Nötigenfalls kann vor dem Sensor 3 ein spezielles Infrarot-Filter zur Absorption anderer Wellenlängen vorgesehen sein.
Die optische Anordnung ist analog im gleichen Spektralbereich reflektierend ausgebildet und weist zweckmässigerweise eine Mehrzahl von Spiegelsegmenten 4.1, 4.2 ... 4.5 auf, mit denen eine analoge Anzahl von Empfangsbereichen für den Sensor erzeugt werden, wie z.B. in US-A 3 703 718 oder US-A 4 058 726 beschrieben.
Der Sensor 3 ist als Dual-Sensor mit zwei nebeneinander beidseits einer Symmetrie-Ebene angeordneten Sensorelementen 8 und 9 ausgebildet, so dass jedes Spiegelsegment 4.1 ... 4.5 ein Paar von Empfangsfeldern bildet, von denen je eines einem der beiden Sensor-Elemente 8, 9 zugeordnet ist. Auch bei einem einstückig ausgebildeten Reflektor
4 entstehen so zwei Sichtfelder. Mit analoger Wirkung können auch mehr als zwei Sensorelemente vorhanden sein. Der Sensor 3 ist an eine geeignete Auswerteschaltung angeschlossen, die spezifisch und selektiv auf Strahlungsänderungen anspricht, wie sie von einem Eindringling erzeugt werden, welcher ein Paar von Empfangsbereichen durchquert. Diese Schaltung kann z.B. eine mit den beiden oder einem Paar von Sensorelementen 8 und 9 verbundenen Differenzschaltung sein, welche nur ein Ausgangssignal abgibt, wenn die Bestrahlung der beiden Sensorelemente 8 und 9 ungleich ist. Ober eine daran angeschlossenen Diskriminatorschaltung wird aber ein Alarmsignal ausgelöst, falls das Sen-sor-Ausgangssignal zwei aufeinander folgende Impulse unterschiedlicher Polarität, d.h. positiv und negativ, aufweist, was für die Bewegung eines Eindringlings durch ein Empfangsbereich-Paar charakteristisch ist.
Der beschriebene Intrusionsdetektor spricht auf die von einer Person emittierte, in bestimmter Weise modulierte Infrarot-Strahlung an. Wird jedoch bei einem Sabotageversuch das Eintrittsfenster 2 des Detektors mit einer infrarot-undurchlässigen, jedoch lichtdurchlässigen Schicht bedeckt, was in Unscharfstellung der Anlage während der Arbeitszeit leicht mit einem geeigneten Spray oder Lack bewerkstelligt werden kann, so kann der Sensor des Detektors keine auswertbare Strahlung mehr empfangen, so dass die Alarmanlage bei Scharfstellung unwirksam ist, ohne dass die Funktionsunfähigkeit und der Sabotageversuch ohne weitere Untersuchung erkannt werden kann.
Zur ständigen Überwachung der Infrarot-Transparenz des Eintrittsfensters 2 und der Funktionsfähigkeit des Detektors ist an der Schulter der Vertiefung 10 der Gehäuse-Vorderwand eine Infrarot-Strahlungsquelle 7 vorgesehen, welche durch das Eintrittsfenster 2 hindurch über eine weitere optische Anordnung 6 den Sensor 3, bzw. dessen Elemente 8 und 9 bestrahlt. Diese Strahlungsquelle 7 ist so ausgebildet und eingerichtet, dass die Infrarotstrahlung mindestens im gleichen Wellenlängenbereich emittiert, wie eine menschliche Person mit einer Körpertemperatur von 37°. Ein hinreichend intensives Testsignal ohne Auftreten von übermässig störender Strahlung anderer Wellenlängen lässt sich z.B. bei Ausbildung als Widerstandselement erreichen, das auf ca. 70° aufgeheizt wird. Um die Infrarotstrahlung des Widerstandelementes 7 besonders gut modulieren zu können, ist es von Vorteil, das Element derart auszubilden, dass dessen Wärmekapazität besonders gering ist. Dies kann z.B. erreicht werden indem als Widerstandelement 7 eine dünne Widerstandsschicht auf einem isolierenden Substrat von etwa 20-100 Mikrometer Dicke verwendet wird. Solche Schichten lassen sich in beliebiger Form, z.B. als Mäandermuster, im Siebdruckverfahren herstellen.
Um bei einem Dualsensor 3 während des Funktionstestes überhaupt ein Ausgangssignal zu erhalten, müssen die beiden Sensorelemente 8 und 9 unterschiedlich von der Strahlungsquelle 7 bestrahlt werden. Es muss eine gewisse Asymmetrie der Anordnung vorgesehen sein. Eine solche Möglichkeit
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ist schematisch in Fig. 2 dargestellt. Hierbei besteht die weitere optische Anordnung 6 aus mehreren, in praktischen Ausführungen etwa vier bis sieben oder neun einzelnen Segment-Spiegein 6.1, 6.2 ... 6.5. Die Strahlungsquelle 7 erzeugt über jedes dieser Segmente 6.1 ... 6.5 in der Ebene des Sensors 3 einen entsprechenden Bestrahlungsfleck B1, B2 ... B5. Die einzelnen Segmente 6.1 ... 6.5 sind nun so ausgerichtet, dass die einzelnen Bestrahlungsflecke B1 ... B5 quer zur Symmetrieebene S der Sensorelemente 8, 9 etwas gegeneinander versetzt sind und sich überschneiden. Dabei ist der Grad der gegenseitigen Versetzung db benachbarter Bestrahlungsflecke höchstens gleich dem Abstand ds der beiden Sensorelemente 8 und 9 gewählt. Ausserdem sind die einzelnen Segmente 6.1, 6.2 ... 6.5 so ausgerichtet und/oder angeordnet, dass das Zentrum der Bestrahlung seitlich, d.h. quer zur Symmetriebene S der Sensorelemente 8, 9 versetzt ist. Dies hat zur Folge, dass die Sensorelemente 8 und 9 auf der Flanke des Intensitätsverlaufes der Bestrahlung zu liegen kommen und automatisch immer eine unterschiedliche Bestrahlung erfahren, die ein hinreichend grosses Testsignal zur Signalgabe bei Ausbleiben der Bestrahlung liefert.
Eine analoge Wirkung lässt sich auch mit einem einteiligen Reflektor anstelle eines Segmentspiegels erzielen. Dazu kann die weitere optische Anordnung 6 als asphärischer Spiegel ausgebildet sein, z.B. als Ellipsoid-Spiegel, wobei der Sensor 3 in der einen Brennweite angebracht ist, so dass die Strahlung in der Symmetrieebene S auf den Sensor fo-kussiert ist, während senkrecht dazu keine starke Bündelung stattfindet, wie in Fig. 3 an Hand der Iso-lux-Kurven zu erkennen ist. Wiederum ist das Bestrahlungsmaximum M gegenüber dem Sensor 3 versetzt und die Sensorelemente 8, 9 liegen auf den Flanken des Bestrahlungsverlaufes, d.h. sie erhalten eine unterschiedliche Bestrahlung.
In den Fig. 4 a, b und c ist der Bestrahlungsverlauf quer zur Symmetrieebene S für verschiedene optische Anordnungen 6 zur Funktionsüberwachung des Detektors, insbesondere dessen Eintrittsfenster wiedergegeben.
Fig. 4a zeigt den Intensitätsverlauf bei Verwendung eines sphärischen Reflektors bei einem vorbekannten Intrusionsdetektor. Hierbei erfolgt eine Fo-kussierung, d.h. eine mehr oder weniger gute Abbildung der Strahlungsquelle 7 in der Ebene des Sensors 3. Die Bestrahlungsintensität B ist in der Mitte relativ gleichmässig und weist an den Rändern einen scharfen Intensitätsabfall auf. Wenn nun das Bestrahlungsmaximum M gegenüber der Symmetrieebene S des Sensorelementes seitlich versetzt ist, so erfahren die beiden Elemente 8 und 9 trotzdem nur eine geringfügig unterschiedliche Bestrahlungsdifferenz dB. Eine grössere Differenz iiesse sich nur erreichen, wenn der Sensor genau auf der Kante zu liegen käme. Dies erforderte jedoch eine sehr genaue und präzise Justierung der Anordnung. Und auch dann lassen sich starke Schwankungen des Ausgangssignales kaum vermeiden, die insbesondere infolge von langsamen und allmählichen Änderungen der Geometrie und durch Temperaturschwankungen auftreten können.
Fig. 4b zeigt dagegen den Intensitätsverlauf bei Verwendung einer asphärischen optischen Anordnung mit einem Bestrahlungsfeld gemäss Fig. 3. Hier fällt die Intensität B' vom Zentrum M allmählich nach den Seiten ab. Wenn der Sensor 3 hierbei auf den schrägen Flanken des Intensitätsverlaufes B' liegt, so ist stets eine Bestrahlungsdifferenz dB' vorhanden, und zwar in einem bestimmten Bereich der Position, d.h. es ist hier keine präzise Justierung oder Nachstellung erforderlich.
Fig. 4b zeigt analog den Intensitätsverlauf B" bei einer Anordnung entsprechend Fig. 2 mit mehreren Spiegelsegmenten. An der Grenze jedes Bestrahlungsfleckes tritt eine sprunghafte Änderung der Intensität auf, die also treppenförmig verläuft. Wenn nun der seitliche Abstand db der Treppenstufen höchstens gleich gross oder kleiner gewählt wird wie der Abstand ds der Sensorelemente 8, 9, so müssen zwangsläufig ausserhalb der Mitte M die beiden Sensorelemente 8 und 9 auf verschiedenen Stufen zu liegen kommen, so dass stets und unabhängig von der Justierung die Bestrahlungsdifferenz dB" mindestens einer Treppenstufe entspricht. Auch hier wird also automatisch sichergestellt, dass ohne die Notwendigkeit einer genauen Justierung und mit optimaler Leistung, d.h. mit möglichst geringem Energiekonsum der Strahlungsquelle 7 eine sichere Funktionsüberwachung des Detektors erreichbar ist.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterentwicklungen sind im Rahmen des Erfindungsgedankens möglich. So kann zur Unterstützung der Asymmetrie der optischen Testanordnung die Strahlungsquelle 7 auch asymmetrisch im Detektor angebracht sein.
Statt einer Reihe von Spiegelsegmenten mit seitlich versetztem Bestrahlungszentrum können die einzelnen Segmente auch auf dasselbe Bestrahlungszentrum ausgerichtet sein, jedoch eine unterschiedliche Krümmung und damit einen verschiedenen Abbildungsmassstab und einen unterschiedlichen Durchmesser der Bestrahlungsflecken aufweisen. Auch hier ergibt sich ein treppenförmi-ger Intensitätsverlauf und eine Bestrahlungsdifferenz.
Die Strahlungsquelle kann anstatt als Widerstandselement z.B. auch Halbleiterbauteil, z.B. als Zener-Diode ausgebildet sein, die auf einem Glas-Substrat montiert ist und in deren Metallgehäuse ein strahlungsdurchlässiges Fenster eingesetzt ist.
Vor der Strahlungsquelle 7 kann an der Schulter der Vertiefung 10 der Gehäuse-Vorderwand eine optisch wirksame, z.B. linsenförmige Abdeckung vorgesehen sein, welche die Strahlung aus einem grossen Raumwinkel auf die Testoptik 6 bündelt und somit die Leistungsaufnahme weiter reduziert.
Die Strahlungsquelle 7 kann auch hinter der Schulter der Vertiefung 7 angebracht sein, wobei die Schulter zumindest im Bereich der Strahlungsquelle 7 für Infrarotstrahlung transparent ausgeführt ist, z.B. aus Polyäthylen. Damit gibt es keinerlei Elemente, die an der Gehäuse-Aussenseite hervorspringen oder an dieser montiert sind. Da das Fenster 2 ohnehin im Gehäuse versenkt ist, besteht ein optimaler Schutz vor unerwünschten Manipula-
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tionen. Es versteht sich, dass das Fenster auch als Fresnel-Optik ausgebildet sein kann. Am Rand des Fensters gegenüber der Strahlungsquelie kann hinter der Schulter ein weiterer Umlenkspiegel vorgesehen sein. Auch in der Randpartie des Fensters im Bereich von Quelle und Spiegel können Fresnel-Op-tiken angebracht sein, die in den Test-Strahlengang einbezogen sind. Dabei ist von besonderem Vorteil, dass die Strahlung mehrfach durch das Fenster tritt und die Strahlung auf einen ganzen Bereich aufgefächert ist, so dass nicht nur ein einzelner Punkt des Fensters überwacht wird, sondern die gesamte Fenster-Oberfläche.
Da auf die beschriebene Art im wesentlichen nur das Eintrittsfenster des Detektors in optimaler Weise überwacht wird, jedoch nicht der Raum direkt vor dem Detektor, wo ebenfalls eine strahlungsabschir-mende Abschirmung zur Unwirksammachung des Detektors angebracht werden könnte, ist es von besonderem Vorteil, zusätzlich eine Überwachungsvorrichtung am Detektor vorzusehen, die auch eine Abschirmung in einer bestimmten Distanz vor dem Fenster festzustellen vermag. Als besonders vorteilhaft für diesen Zweck hat sich eine zusätzliche Ultraschall-Überwachungsanlage, mit aus wenigstens einem Ultraschall-Emitter US1 und US2, sowie einem Ultraschall-Empfänger US3 erwiesen. Durch diese wird vor dem Fenster 2 ein Ultraschallfeld aufgebaut, das durch jede Abschirmung vor dem Fenster geändert wird. Eine bestimmte Schalldruck- oder Schalllaufzeitänderung kann daher als Anzeichen der unerlaubten Anbringung einer Abschirmung ausgewertet werden. Die Verwendung von Ultraschall im Frequenzbereich von etwa 25 kHz ist dabei besonders vorteilhaft, da dieser ähnliche Ausbreitungseigenschaften hat, wie Infrarot von etwa 10 Mikrometer Wellenlänge, d.h. lichtdurchlässige, aber infrarot-undurchlässige Abschirmungen lassen sich mittels Ultraschall erkennen.
Der Ultraschall-Empfänger US3 kann zusätzlich zum Erkennen einer Bewegung vor dem Detektor mittels Auswertung einer Doppier-Frequenzverschiebung des vom Emitter US1 ausgesandten Ultraschalles in an sich bekannter Weise dienen. Diese Bewegungsauswertung kann jedoch auch periodisch abwechselnd mit der Schallfeld-Auswertung zum Erkennen einer allfälligen Abschirmung vorgenommen werden.
Durch die Kombination eines passiven Infrarotdetektors mit einem Ultraschalldetektor lässt sich also ein optimal wirksamer, spezifisch und selektiv auf einen Eindringling ansprechender, jedoch weitgehend sabotage- und überlistungssicherer lntru-sionsdetektor schaffen.

Claims (1)

  1. Patentansprüche
    1. Infrarot-Intrusionsdetektor mit einem von einem Gehäuse (1) umschlossenen, wenigstens zwei getrennte strahlungsempfindliche Elemente (8, 9) aufweisenden Sensor (3), einer optischen Anordnung (4), welche durch ein infrarot-durchlässiges Fenster (2) aus wenigstens je einem räumlichen Empfangsbereich für jedes Element eintreffende Infrarot-Strahlung in einem vorgegebenen Spektralbereich auf den Sensor richtet, einer Schaltung zur Alarmsignalgabe bei einer vorbestimmten Änderung der auftreffenden Strahlung, sowie mit einer Infrarot-Strahlungsquelle (7), die durch das Fenster (2) hindurch und über eine weitere optische Anordnung
    (6) die Sensorelemente (8, 9) mit unterschiedlicher Intensität bestrahlt, wobei die Schaltung bei einer vorbestimmten relativen Änderung der Bestrahlung der Sensorelemente (8, 9) durch die Strahlungsquelle ein Störungssignal erzeugt, dadurch gekennzeichnet, dass die weitere optische Anordnung (6) bezüglich der durch die beiden Sensorelemente (8, 9) gebildete Symmetrieebene (S) derart asymmetrisch ausgebildet und/oder angeordnet ist, dass die Intensität (B', B") der von der Strahlungsquelle
    (7) am Ort des Sensors erzeugten Bestrahlung quer zu den Sensorelementen (8, 9) von einem Maximum (M) nach den Seiten graduell abnimmt und dass die Sensorelemente (8, 9) auf einer Flanke des Intensitätsverlaufes (B', B") der Bestrahlung liegen.
    2. Detektor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die weitere optische Anordnung als asphärischer Reflektor (6) ausgebildet ist, welcher die Strahlung der Strahlungsquelle (7) nur der in Richtung der Symmetrieebene (S) der Sensorelemente (8, 9) wenigstens angenähert fokussiert, während die Bestrahlung (B') senkrecht zur Symmetrieebene (S) vom Zentrum (M) mit geringerer Fo-kussierung allmählich abnimmt, wobei die beiden Sensorelemente (8, 9) auf einer Flanke mit abnehmender Bestrahlungs-Intensität liegen.
    3. Detektor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die weitere optische Anordnung mehrere Spiegelsegmente (6.1, 6.2 ... 6.5) aufweist, welche am Ort des Sensors (3) je einen Bestrahlungsfleck (B1, B2 ... B5) erzeugt, wobei die Bestrahlungsflecke quer zur Symmetrieebene (S) der Sensorelemente (8, 9) gegeneinander versetzt sind und sich wenigstens teilweise überschneiden, so dass die Betrahlungs-Intensität (B") vom Zentrum (M) treppenförmig abnimmt und die Sensorelemente (8, 9) auf verschiedenen Treppenstufen liegen.
    4. Detektor nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Breite (db) der Treppenstufen des Bestrahlungsverlaufes (B") quer zur Symmetrieebene (S) höchstens gleich dem Abstand (ds) der beiden Sensorelemente (8, 9) ist.
    5. Detektor nach einem der Ansprüche 1-4, dadurch gekennzeichnet, dass das Fenster (2) in einer Vertiefung (10) des Gehäuses (1) und die Strahlungsquelle (7) an einer Schulter dieser Vertiefung angebracht ist.
    6. Detektor nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Strahlungsquelle (7) hinter der Schulter der Vertiefung (10) im Inneren des Gehäuses angebracht ist, wobei die Schulter wenigstens vor der Strahlungsquelle (7) für Infrarotstrahlung durchlässig ausgebildet ist.
    7. Detektor nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Schulter der Vertiefung zumindest am Ort der Strahlungsquelie (7) als optisch wirksame Anordnung ausgebildet ist.
    8. Detektor nach einem der Ansprüche 1-7, dadurch gekennzeichnet, dass die Strahlungsquelle
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    (7) als Dünnschichtwiderstand auf einem isolierenden Substrat (7.1) ausgebildet ist.
    g. Detektor nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass vor dem Dünnschichtwiderstand (7) eine dessen Strahlung bündelnde, infrarot-durchlässige Fresnel-Linse (7.2) angeordnet ist.
    10. Detektor nach einem der Ansprüche 1-9, dadurch gekennzeichnet, dass das Gehäuse (1) wenigstens einen Ultraschall-Emitter (US1, US2) und wenigstens einen Ultraschall-Empfänger (US3) aufweist, die vor dem Fenster (2) ein Ultraschallfeld aufbauen, und dass die Auswerteschaltung bei einer vorbestimmten Änderung des Schallfeldes ein Signal abgibt.
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