BRPI0704754A2 - process and device for continuously measuring the thickness of extruded plastic films - Google Patents

Abstract

PROCESSO E DISPOSITIVO PARA MEDIR CONTINUAMENTE A ESSPESSURA DE FILMES PLáSTICOS EXTRUSADOS. A presente invenção refere-se a um processo e equipamento para medição da espessura de filmes plásticos, de maneira contínua e sem contato, com o uso de um sensor capacitivo. Essa medição pode ser feita de 3 maneiras; com o uso de um anteparo metálico fixo (3), cuja distância até o sensor capacitivo é fixa; outra maneira, é com o uso de um anteparo metálico não-uniforme (6) cuja distância até o sensor capacitivo n~o é fixa ao longo da largura do filme, sendo essa distância medida constantemente por um sensor eddy-current (7). Esta distância medida serve para re-calibraç~o constante da fórmula que relaciona a capacitáncia medida com a espessura do filme. A terceira modalidade de medição é com o uso somente de um sensor capacitivo (8), encostado ou quase encostado ao filme sem o uso de nenhum anteparo metálico.PROCESS AND DEVICE FOR CONTINUOUSLY MEASURING THE THICKNESS OF EXTRUDED PLASTIC MOVIES. The present invention relates to a process and equipment for continuously and non-contacting thickness measurement of plastic films using a capacitive sensor. This measurement can be done in 3 ways; using a fixed metal shield (3), the distance of which to the capacitive sensor is fixed; another way is by using a non-uniform metallic shield (6) whose distance to the capacitive sensor is not fixed along the width of the film, this distance being constantly measured by an eddy-current sensor (7). This measured distance serves for constant re-calibration of the formula relating the measured capacitance to the film thickness. The third mode of measurement is the use of a capacitive sensor (8) only, touching or almost touching the film without the use of any metal shield.