BE1003136A3 - Werkwijze en inrichting voor het bepalen van een positie van ten minste een aansluitpen van een elektronische component. - Google Patents
Werkwijze en inrichting voor het bepalen van een positie van ten minste een aansluitpen van een elektronische component. Download PDFInfo
- Publication number
- BE1003136A3 BE1003136A3 BE9000331A BE9000331A BE1003136A3 BE 1003136 A3 BE1003136 A3 BE 1003136A3 BE 9000331 A BE9000331 A BE 9000331A BE 9000331 A BE9000331 A BE 9000331A BE 1003136 A3 BE1003136 A3 BE 1003136A3
- Authority
- BE
- Belgium
- Prior art keywords
- electronic component
- pct
- determining
- lead
- connection
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K13/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
- H05K13/08—Monitoring manufacture of assemblages
- H05K13/081—Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines
- H05K13/0813—Controlling of single components prior to mounting, e.g. orientation, component geometry
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K13/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
- H05K13/08—Monitoring manufacture of assemblages
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
- G01N2021/8829—Shadow projection or structured background, e.g. for deflectometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Operations Research (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Abstract
Werkwijze en inrichting voor het bepalen van een positie ten opzichte van een referentievlak van ten minste één aansluitpen van een elektronische component, waarbij genoemde aansluitpen wordt belicht vanuit een eerste resp. tweede positie zijdelings en buiten het vlak gelegen waarin de elektronische component is opgesteld en waarbij op een beeldvlak een eerste resp. tweede schaduwbeeld wordt gevormd van ten minste een gedeelte van genoemde aansluitpen, welke tweede positie verschillend van genoemde eerste positie is en waarbij genoemd eerste resp. tweede schaduwbeeld gelocaliseerd wordt en hiervoor een derde resp. een vierde positie wordt bepaald en dat uit genoemde derde en vierde positie genoemde positie wordt bepaald.
Priority Applications (8)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
BE9000331A BE1003136A3 (nl) | 1990-03-23 | 1990-03-23 | Werkwijze en inrichting voor het bepalen van een positie van ten minste een aansluitpen van een elektronische component. |
JP3505379A JP2936523B2 (ja) | 1990-03-23 | 1991-03-22 | 電子部品の少なくとも1つのリードの位置を決定する方法及び装置 |
PCT/BE1991/000023 WO1991015104A1 (en) | 1990-03-23 | 1991-03-22 | Method and device for determining a position of at least one lead of an electronic component |
US07/777,366 US5440391A (en) | 1990-03-23 | 1991-03-22 | Method and device for determining a position of at least one lead of an electronic component |
EP91905650A EP0473749B2 (en) | 1990-03-23 | 1991-03-22 | Method and device for determining a position of at least one lead of an electronic component |
AT91905650T ATE133026T1 (de) | 1990-03-23 | 1991-03-22 | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der position von mindestens einer anschlussfahne eines elektronischen bauelements |
DE69116270T DE69116270T3 (de) | 1990-03-23 | 1991-03-22 | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der position von mindestens einer anschlussfahne eines elektronischen bauelements |
KR1019910701663A KR100218756B1 (en) | 1990-03-23 | 1991-11-22 | Method and device for determining a position of at least one lead of an electronic component |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
BE9000331A BE1003136A3 (nl) | 1990-03-23 | 1990-03-23 | Werkwijze en inrichting voor het bepalen van een positie van ten minste een aansluitpen van een elektronische component. |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
BE1003136A3 true BE1003136A3 (nl) | 1991-12-03 |
Family
ID=3884728
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
BE9000331A BE1003136A3 (nl) | 1990-03-23 | 1990-03-23 | Werkwijze en inrichting voor het bepalen van een positie van ten minste een aansluitpen van een elektronische component. |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5440391A (nl) |
EP (1) | EP0473749B2 (nl) |
JP (1) | JP2936523B2 (nl) |
KR (1) | KR100218756B1 (nl) |
AT (1) | ATE133026T1 (nl) |
BE (1) | BE1003136A3 (nl) |
DE (1) | DE69116270T3 (nl) |
WO (1) | WO1991015104A1 (nl) |
Families Citing this family (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4209524A1 (de) * | 1992-03-24 | 1993-09-30 | Siemens Ag | Verfahren zur Lageerkennung und/oder Teilungsprüfung und/oder Koplanaritätsprüfung der Anschlüsse von Bauelementen und Bestückkopf für die automatische Bestückung von Bauelementen |
DE9401711U1 (de) * | 1994-02-02 | 1995-06-01 | Kratzer Automatisierung GmbH, 85716 Unterschleißheim | Abbildungsvorrichtung |
DE59500333D1 (de) * | 1994-02-02 | 1997-07-24 | Kratzer Automatisierung Gmbh | Vorrichtung zum abbilden eines dreidimensionalen objekts |
US6072583A (en) * | 1996-12-06 | 2000-06-06 | General Electro Mechanical Corp. | Apparatus and method for detecting mis-oriented fasteners |
US5828449A (en) * | 1997-02-26 | 1998-10-27 | Acuity Imaging, Llc | Ring illumination reflective elements on a generally planar surface |
US6118524A (en) * | 1997-02-26 | 2000-09-12 | Acuity Imaging, Llc | Arc illumination apparatus and method |
US6236747B1 (en) * | 1997-02-26 | 2001-05-22 | Acuity Imaging, Llc | System and method for image subtraction for ball and bumped grid array inspection |
US6201892B1 (en) | 1997-02-26 | 2001-03-13 | Acuity Imaging, Llc | System and method for arithmetic operations for electronic package inspection |
US5943125A (en) * | 1997-02-26 | 1999-08-24 | Acuity Imaging, Llc | Ring illumination apparatus for illuminating reflective elements on a generally planar surface |
US5926557A (en) * | 1997-02-26 | 1999-07-20 | Acuity Imaging, Llc | Inspection method |
JPH11148807A (ja) * | 1997-07-29 | 1999-06-02 | Toshiba Corp | バンプ高さ測定方法及びバンプ高さ測定装置 |
US6064483A (en) * | 1997-08-07 | 2000-05-16 | Siemens Aktiengesellschaft | Device for checking the position the coplanarity and the separation of terminals of components |
US6915007B2 (en) | 1998-01-16 | 2005-07-05 | Elwin M. Beaty | Method and apparatus for three dimensional inspection of electronic components |
US6915006B2 (en) * | 1998-01-16 | 2005-07-05 | Elwin M. Beaty | Method and apparatus for three dimensional inspection of electronic components |
US5917655A (en) * | 1998-04-06 | 1999-06-29 | Motorola, Inc. | Method and apparatus for generating a stereoscopic image |
US6292261B1 (en) | 1998-05-22 | 2001-09-18 | Cyberoptics Corporation | Rotary sensor system with at least two detectors |
US6538750B1 (en) | 1998-05-22 | 2003-03-25 | Cyberoptics Corporation | Rotary sensor system with a single detector |
US5982493A (en) * | 1998-06-02 | 1999-11-09 | Motorola, Inc. | Apparatus and method for acquiring multiple images |
US6243164B1 (en) | 1998-07-13 | 2001-06-05 | Electro Scientific Industries | Method and system for determining lead coplanarity |
DE19962122A1 (de) * | 1998-12-21 | 2000-09-14 | Hottinger Maschb Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Objekterkennung |
US6898333B1 (en) * | 1999-08-06 | 2005-05-24 | Cognex Corporation | Methods and apparatus for determining the orientation of an object in an image |
FI107192B (fi) * | 1999-11-09 | 2001-06-15 | Outokumpu Oy | Menetelmä elektrodin pinnanlaadun tarkistamiseksi |
US6792674B2 (en) * | 2000-04-28 | 2004-09-21 | Hitachi High-Tech Instruments Company, Ltd. | Apparatus for mounting electronic components |
US7985577B2 (en) * | 2003-04-30 | 2011-07-26 | Recology, Inc. | Systems and processes for treatment of organic waste materials with a biomixer |
US7755376B2 (en) * | 2005-10-12 | 2010-07-13 | Delta Design, Inc. | Camera based pin grid array (PGA) inspection system with pin base mask and low angle lighting |
US7551272B2 (en) * | 2005-11-09 | 2009-06-23 | Aceris 3D Inspection Inc. | Method and an apparatus for simultaneous 2D and 3D optical inspection and acquisition of optical inspection data of an object |
US7535560B2 (en) * | 2007-02-26 | 2009-05-19 | Aceris 3D Inspection Inc. | Method and system for the inspection of integrated circuit devices having leads |
KR20100121512A (ko) * | 2008-02-11 | 2010-11-17 | 넥스트 홀딩즈 리미티드 | 광학 터치스크린용 멀티 터치 시나리오를 해결하는 시스템 및 방법 |
US9885671B2 (en) * | 2014-06-09 | 2018-02-06 | Kla-Tencor Corporation | Miniaturized imaging apparatus for wafer edge |
US9645097B2 (en) | 2014-06-20 | 2017-05-09 | Kla-Tencor Corporation | In-line wafer edge inspection, wafer pre-alignment, and wafer cleaning |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1988008512A1 (en) * | 1987-04-22 | 1988-11-03 | Mct Synerception, Inc. | Non-contact high resolution displacement measurement technique |
EP0301255A1 (de) * | 1987-07-30 | 1989-02-01 | Siemens Aktiengesellschaft | 3D-Lageerkennung von Bauelementeanschlüssen für die automatische Bestückung |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4435837A (en) * | 1981-03-05 | 1984-03-06 | President And Fellows Of Harvard College | Pattern recognition and orientation system |
US4507557A (en) * | 1983-04-01 | 1985-03-26 | Siemens Corporate Research & Support, Inc. | Non-contact X,Y digitizer using two dynamic ram imagers |
GB8401088D0 (en) * | 1984-01-16 | 1984-02-15 | Marconi Avionics | Position determination |
DE3431616A1 (de) * | 1984-08-28 | 1986-03-06 | Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH, 8012 Ottobrunn | Messvorrichtung zur bestimmung der relativlage zweier koerper |
US4728195A (en) * | 1986-03-19 | 1988-03-01 | Cognex Corporation | Method for imaging printed circuit board component leads |
US4777360A (en) * | 1986-11-24 | 1988-10-11 | Carner Jr Don C | Umbra/penumbra detector |
JPS63262852A (ja) † | 1987-04-21 | 1988-10-31 | Tdk Corp | 電子部品リ−ドの浮き検出装置 |
US4873651A (en) * | 1987-04-21 | 1989-10-10 | Case Western Reserve University | Method and apparatus for reconstructing three-dimensional surfaces from two-dimensional images |
US5008555A (en) * | 1988-04-08 | 1991-04-16 | Eaton Leonard Technologies, Inc. | Optical probe with overlapping detection fields |
SE463724B (sv) * | 1989-05-09 | 1991-01-14 | Atlas Copco Constr & Mining | Bearbetningsverktyg foer tunnelborrningsmaskin |
EP0425722A1 (de) † | 1989-10-31 | 1991-05-08 | Siemens Aktiengesellschaft | Anordnung zur Lageerkennung von Anschlussbeinchen |
-
1990
- 1990-03-23 BE BE9000331A patent/BE1003136A3/nl not_active IP Right Cessation
-
1991
- 1991-03-22 AT AT91905650T patent/ATE133026T1/de not_active IP Right Cessation
- 1991-03-22 JP JP3505379A patent/JP2936523B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1991-03-22 EP EP91905650A patent/EP0473749B2/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-03-22 WO PCT/BE1991/000023 patent/WO1991015104A1/en active IP Right Grant
- 1991-03-22 US US07/777,366 patent/US5440391A/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-03-22 DE DE69116270T patent/DE69116270T3/de not_active Expired - Fee Related
- 1991-11-22 KR KR1019910701663A patent/KR100218756B1/ko not_active IP Right Cessation
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1988008512A1 (en) * | 1987-04-22 | 1988-11-03 | Mct Synerception, Inc. | Non-contact high resolution displacement measurement technique |
EP0301255A1 (de) * | 1987-07-30 | 1989-02-01 | Siemens Aktiengesellschaft | 3D-Lageerkennung von Bauelementeanschlüssen für die automatische Bestückung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69116270T3 (de) | 1999-07-08 |
EP0473749A1 (en) | 1992-03-11 |
DE69116270D1 (de) | 1996-02-22 |
JPH04506886A (ja) | 1992-11-26 |
EP0473749B1 (en) | 1996-01-10 |
KR100218756B1 (en) | 1999-09-01 |
JP2936523B2 (ja) | 1999-08-23 |
US5440391A (en) | 1995-08-08 |
WO1991015104A1 (en) | 1991-10-03 |
ATE133026T1 (de) | 1996-01-15 |
DE69116270T2 (de) | 1996-09-05 |
EP0473749B2 (en) | 1998-12-16 |
KR920702189A (ko) | 1992-08-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
BE1003136A3 (nl) | Werkwijze en inrichting voor het bepalen van een positie van ten minste een aansluitpen van een elektronische component. | |
DE68916373D1 (de) | Bestückungs- und ausziehvorrichtung für gedruckte schaltungen für elektronische anordnungen. | |
DE69128755D1 (de) | Systemzustandssteuergerät für elektronische Bildverarbeitungssysteme | |
NL186353C (nl) | Inrichting voor het afbeelden van een maskerpatroon op een substraat voorzien van een opto-elektronisch detektiestelsel voor het bepalen van een afwijking tussen het beeldvlak van een projektielenzenstelsel en het substraatvlak. | |
FR2691817B1 (fr) | Procede et carte electronique pour le developpement d'un circuit integre. | |
DE68918380D1 (de) | Gehäuse für integrierte Schaltungen mit Kühlvorrichtung. | |
DE3750285D1 (de) | Gerät zur Untersuchung einer elektronischen Vorrichtung in fester Baugruppe. | |
DE69321501D1 (de) | Kühlvorrichtung für Bauteile mit elektronischen Schaltungen | |
DE3873792D1 (de) | Elektronische bildverarbeitung. | |
DE59103371D1 (de) | Gehäuse für eine elektronische schaltung. | |
IT8219597A0 (it) | Apparecchio di comando su uno strumento musicale elettronico provvisto di almeno un sintetizzatore. | |
DE69205078D1 (de) | Verbindungstechnik für elektronische Vorrichtungen. | |
DE69100782D1 (de) | Elektronische Verbindungsvorrichtung. | |
DE69018668D1 (de) | Elektro-optisches Inspektionsgerät für gedruckte Leiterplatten mit darauf montierten Bauelementen. | |
GB2350503A (en) | Dynamic bias circuitry utilizing early voltage clamp and translinear techniques | |
DE69102691D1 (de) | Belüftungsvorrichtung für einen elektronischen Schrank. | |
NL1000454C2 (nl) | Inrichting voor het bepalen van de richting en snelheid van een luchtstroom. | |
KR940023335A (ko) | 프린트 배선기판 반송장치 및 반송방법 | |
FR2549338B1 (fr) | Appareil de montage automatique d'un element de circuit electronique sur une plaquette a circuits imprimes | |
FR2712998B1 (fr) | Simulateur de bus numériques intégré dans un système de test automatique de boîtiers électroniques embarqués sur avion. | |
DE3863400D1 (de) | Versteifungsvorrichtung fuer einen elektronikschrank. | |
ATE322665T1 (de) | Verfahren und apparat für die dreidimensionale inspektion von elektronischen komponenten | |
ES8604710A1 (es) | Metodo de montar componentes electronicos en una placa de circuito impreso | |
DE69104248D1 (de) | Elektromigrationsüberwachungseinrichtung für integrierte Schaltungen. | |
FR2684236B1 (fr) | Dispositif de connexion de circuit integre. |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RE | Patent lapsed |
Owner name: ICOS VISION SYSTEMS N.V. Effective date: 19960331 |