ATE372507T1 - Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der polarisationseigenschaften von licht, das durch ein material emittiert, reflektiert oder durchgelassen wird, durch verwendung eines laser- scan-mikroskops - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der polarisationseigenschaften von licht, das durch ein material emittiert, reflektiert oder durchgelassen wird, durch verwendung eines laser- scan-mikroskops

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ATE372507T1
ATE372507T1 AT01996722T AT01996722T ATE372507T1 AT E372507 T1 ATE372507 T1 AT E372507T1 AT 01996722 T AT01996722 T AT 01996722T AT 01996722 T AT01996722 T AT 01996722T AT E372507 T1 ATE372507 T1 AT E372507T1
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Istvan Pomozi
Georg Weiss
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Zeiss Carl Jena Gmbh
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Families Citing this family (56)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10329360B4 (de) * 2002-07-01 2008-08-28 Canon K.K. Doppelbrechungsmessgerät, Spannungsentfernungseinrichtung, Polarimeter und Belichtungsgerät
US7038848B2 (en) * 2002-12-27 2006-05-02 Olympus Corporation Confocal microscope
US7369234B2 (en) * 2003-02-03 2008-05-06 Rudolph Technologies, Inc. Method of performing optical measurement on a sample
JP2005017282A (ja) * 2003-05-30 2005-01-20 Olympus Corp 受光ユニットおよびそれを含む測定装置
ATE503177T1 (de) 2003-05-30 2011-04-15 Olympus Corp Messvorrichtung umfassend eine lichtaufnahmeeinheit
US7317517B2 (en) * 2003-07-31 2008-01-08 Intel Corporation Birefringence profiler
FR2872287B1 (fr) * 2004-06-28 2007-03-16 Cis Bio Internat Sa Procede d'amelioration de la detection des signaux de fluorescence lors d'un transfert d'energie non radiatif
US7630075B2 (en) * 2004-09-27 2009-12-08 Honeywell International Inc. Circular polarization illumination based analyzer system
US7412175B2 (en) * 2005-06-20 2008-08-12 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Interferometric polarization control
US8098428B2 (en) * 2006-02-02 2012-01-17 National University Corporation NARA Institute of Science and Technology Circular dichroism fluorescent microscope
JP4921090B2 (ja) * 2006-09-25 2012-04-18 株式会社モリテックス 光学異方性パラメータ測定方法及び測定装置
JP5189301B2 (ja) 2007-03-12 2013-04-24 オリンパス株式会社 レーザー走査型顕微鏡
EP1988373A1 (de) * 2007-05-02 2008-11-05 National University of Ireland Galway Vektorielles Polarimetrieverfahren und Vorrichtung zum Analysieren des aus der Interaktion zwischen einem fokussierten Beleuchtungsfeld und einer zu beobachtenden Probe resultierenden dreidimensionalen elektromagnetischen Feldes
HUP0700635A2 (en) * 2007-09-28 2009-05-28 Mta Szegedi Biolog Koezpont Differential-polarizing accessory measuring block for laser scanning microscopes
KR20100010137A (ko) * 2008-07-22 2010-02-01 삼성전기주식회사 프로젝션 디스플레이 장치
JP5877155B2 (ja) 2010-07-26 2016-03-02 オリンパス株式会社 発光プローブを用いて溶液中の希薄粒子を検出する方法
EP2602612A4 (de) 2010-09-10 2018-05-16 Olympus Corporation Optisches analyseverfahren mit optischer messung in mehreren wellenlängenbändern
JP5856962B2 (ja) 2010-09-10 2016-02-10 オリンパス株式会社 単一発光粒子の光強度を用いた光分析方法
WO2012053355A1 (ja) * 2010-10-19 2012-04-26 オリンパス株式会社 単一発光粒子の偏光特性を観測する光分析装置、光分析方法及びそのための光分析用コンピュータプログラム
DE102010049751B4 (de) * 2010-10-29 2020-11-05 "Stiftung Caesar" (Center Of Advanced European Studies And Research) Optischer Strahlteiler zur simultanen Aufnahme eines Z-Stapels auf einem Halbleiterchip, Bausatz zum Aufbau eines optischen Strahlteilers und Lichtmikroskop
EP2631631B1 (de) 2010-11-25 2016-01-20 Olympus Corporation Photometrische analysevorrichtung und photometrisches analyseverfahren unter verwendung von wellenlängeneigenschaften eines aus einem einzigen leuchtenden teilchen emittierten lichts
JP5856983B2 (ja) 2011-01-20 2016-02-10 オリンパス株式会社 単一発光粒子からの光の検出を用いた光分析方法及び光分析装置
EP2669376B1 (de) 2011-01-26 2017-08-16 Olympus Corporation Verfahren zur identifizierung von polymorphismen von nukleinsäuremolekülen
CN103328956B (zh) 2011-01-26 2015-08-12 奥林巴斯株式会社 鉴别核酸分子多态性的方法
WO2012133292A1 (ja) 2011-03-29 2012-10-04 オリンパス株式会社 単一発光粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法並びに光分析用コンピュータプログラム
JP5885738B2 (ja) 2011-04-13 2016-03-15 オリンパス株式会社 単一発光粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法及び光分析用コンピュータプログラム
CN103620389B (zh) 2011-04-18 2016-08-17 奥林巴斯株式会社 目标粒子的定量方法、光分析装置以及光分析用计算机程序
JP6013335B2 (ja) 2011-08-11 2016-10-25 オリンパス株式会社 標的粒子の計数方法
EP2746748B1 (de) 2011-08-15 2017-12-06 Olympus Corporation Fotometrische analysevorrichtung mit erkennung einzelner lichtemittierender partikel, verfahren für fotometrische analyse und computerprogramm für fotometrische analyse
WO2013031439A1 (ja) 2011-08-26 2013-03-07 オリンパス株式会社 単一発光粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法及び光分析用コンピュータプログラム
WO2013031309A1 (ja) 2011-08-26 2013-03-07 オリンパス株式会社 光分析を用いた単一粒子検出装置、単一粒子検出方法及び単一粒子検出用コンピュータプログラム
CN103765194B (zh) 2011-08-30 2016-02-17 奥林巴斯株式会社 目标粒子的检测方法
WO2013031377A1 (ja) 2011-08-30 2013-03-07 オリンパス株式会社 単一発光粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法及び光分析用コンピュータプログラム
CN103930768B (zh) 2011-11-10 2016-05-18 奥林巴斯株式会社 利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序
WO2013121905A1 (ja) 2012-02-17 2013-08-22 オリンパス株式会社 単一粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法及び光分析用コンピュータプログラム
EP2818850B1 (de) 2012-02-22 2016-08-03 Olympus Corporation Verfahren zum nachweis eines zielpartikels
WO2013140890A1 (ja) 2012-03-21 2013-09-26 オリンパス株式会社 標的核酸分子の検出方法
WO2013157283A1 (ja) 2012-04-18 2013-10-24 オリンパス株式会社 標的粒子の検出方法
WO2013157319A1 (ja) 2012-04-18 2013-10-24 オリンパス株式会社 光分析を用いた単一粒子検出装置、単一粒子検出方法及び単一粒子検出用コンピュータプログラム
JP6087751B2 (ja) * 2013-07-05 2017-03-01 株式会社モリテックス 光学異方性パラメータ測定装置、測定方法及び測定用プログラム
WO2015015951A1 (ja) 2013-07-31 2015-02-05 オリンパス株式会社 単一発光粒子検出技術を用いた光学顕微鏡装置、顕微鏡観察法及び顕微鏡観察のためのコンピュータプログラム
US9989454B2 (en) 2013-10-04 2018-06-05 Axometrics, Inc. Method and apparatus for measuring parameters of optical anisotropy
EP3059577A4 (de) 2013-10-07 2017-05-31 Olympus Corporation Fotometrische analysevorrichtung mit erkennung einzelner lichtemittierender partikel, verfahren für fotometrische analyse und computerprogramm für fotometrische analyse
US9689661B2 (en) 2013-12-03 2017-06-27 The General Hospital Corporation Apparatus and method to compensate for input polarization mode variation
CN103940537A (zh) * 2014-04-10 2014-07-23 中国科学院半导体研究所 材料的微区应力测试***
GB201411478D0 (en) * 2014-06-27 2014-08-13 Univ Salford Entpr Ltd Measuring polarisation
TWI542864B (zh) * 2014-12-30 2016-07-21 財團法人工業技術研究院 異向性量測系統、異向性量測方法及其校正方法
US10621454B2 (en) * 2015-06-29 2020-04-14 Beijing Kuangshi Technology Co., Ltd. Living body detection method, living body detection system, and computer program product
GB201515862D0 (en) 2015-09-08 2015-10-21 Univ Southampton Polarisation microscope
JPWO2017098597A1 (ja) 2015-12-09 2018-10-11 オリンパス株式会社 単一発光粒子検出を用いた光分析方法及び光分析装置
EP3538941A4 (de) 2016-11-10 2020-06-17 The Trustees of Columbia University in the City of New York Schnelles hochauflösendes bildgebungsverfahren für grosse proben
JP6351893B1 (ja) * 2018-02-26 2018-07-04 日本分光株式会社 位相差制御装置
JP7432600B2 (ja) * 2018-11-21 2024-02-16 ザ ボード オブ トラスティーズ オブ ザ レランド スタンフォード ジュニア ユニバーシティー 効率的な広視野蛍光寿命顕微鏡法を可能にする電気光学イメージング
CN110261319B (zh) * 2019-06-24 2021-11-16 西安理工大学 基于四次测量Mueller矩阵光谱的装置及测量方法
EP3907492A1 (de) * 2020-05-08 2021-11-10 ETH Zurich Messungen der optischen aktivität mit frequenzmodulation
US20240027186A1 (en) * 2022-07-22 2024-01-25 Onto Innovation Inc. Apparatus to characterize substrates and films

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4306809A (en) * 1979-03-26 1981-12-22 The Board Of Regents Of The University Of Nebraska Polarimeter
US5257092A (en) * 1990-06-27 1993-10-26 Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha Apparatus for measuring polarization and birefringence
JPH063594A (ja) * 1992-06-18 1994-01-14 Nikon Corp コンフォーカルレーザ走査微分干渉顕微鏡
US5457536A (en) * 1994-04-04 1995-10-10 California Institute Of Technology Polarization modulation laser scanning microscopy
JPH08160305A (ja) * 1994-12-08 1996-06-21 Nikon Corp レーザー走査顕微鏡
DE19680643T1 (de) * 1995-06-30 1997-07-24 Furukawa Electric Co Ltd Verfahren und Vorrichtung zur Messung und Bestimmung des Polarisationszustands, der Polarisationseigenschaften und der Polarisationsmodendispersion
DE19626261A1 (de) * 1995-06-30 1997-01-02 Nikon Corp Beobachtungsvorrichtung
US6025917A (en) * 1996-09-24 2000-02-15 Laboratory Of Molecular Biophotonics Polarization characteristic measuring method and apparatus
FR2755254B1 (fr) * 1996-10-25 1999-01-15 Centre Nat Rech Scient Composant optique de modulation, polarimetre et ellipsometre de mueller comprenant un tel composant optique, procede de calibrage de cet ellipsometre et procede de mesure ellipsometrique
US6134011A (en) * 1997-09-22 2000-10-17 Hdi Instrumentation Optical measurement system using polarized light
JPH1195114A (ja) * 1997-09-24 1999-04-09 Olympus Optical Co Ltd 走査型光学顕微鏡装置
US6097488A (en) * 1998-06-22 2000-08-01 Princeton University Method and apparatus for measuring micro structures, anisotropy and birefringence in polymers using laser scattered light
AU6381500A (en) * 1999-07-27 2001-02-13 Colorado School Of Mines Parallel detecting, spectroscopic ellipsometers/polarimeters
US6356036B1 (en) * 2000-12-01 2002-03-12 Laser Diagnostic Technologies, Inc. System and method for determining birefringence of anterior segment of a patient's eye

Also Published As

Publication number Publication date
JP2004514129A (ja) 2004-05-13
EP1334339B8 (de) 2007-12-26
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EP1334339B1 (de) 2007-09-05
DE60130356D1 (de) 2007-10-18
HU226937B1 (en) 2010-03-29
US20030058442A1 (en) 2003-03-27
HU0004571D0 (de) 2001-02-28
DE60130356T2 (de) 2008-05-08
WO2002040953A1 (en) 2002-05-23
HUP0004571A2 (hu) 2002-07-29
US6856391B2 (en) 2005-02-15

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