WO2015033514A1 - 照明装置及び構造化照明顕微鏡装置 - Google Patents

照明装置及び構造化照明顕微鏡装置 Download PDF

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WO2015033514A1
WO2015033514A1 PCT/JP2014/004009 JP2014004009W WO2015033514A1 WO 2015033514 A1 WO2015033514 A1 WO 2015033514A1 JP 2014004009 W JP2014004009 W JP 2014004009W WO 2015033514 A1 WO2015033514 A1 WO 2015033514A1
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light beam
light
illumination
lighting device
selection member
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PCT/JP2014/004009
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English (en)
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Inventor
範夫 三宅
Original Assignee
株式会社ニコン
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    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/06—Means for illuminating specimens
    • G02B21/08—Condensers
    • G02B21/082—Condensers for incident illumination only
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/365—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
    • G02B21/367—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes providing an output produced by processing a plurality of individual source images, e.g. image tiling, montage, composite images, depth sectioning, image comparison

Definitions

  • the present invention relates to an illumination device and a structured illumination microscope device.
  • an object to be observed is illuminated with spatially modulated illumination light, and high spatial frequency information exceeding the resolution limit included in the structure of the object to be observed is contributed to the imaging of the microscope optical system.
  • modulated images a plurality of modulated image data (hereinafter referred to as “modulated images”) obtained under different illumination patterns
  • demodulated image data demodulated image data
  • demodulated image data Referred to as “demodulated image” or “super-resolution image”.
  • An object of the present invention is to improve the acquisition efficiency of a plurality of modulated images necessary for generating a super-resolution image (demodulated image).
  • An example of the illuminating device of the present invention includes a branching unit that branches light from a light source into a plurality of light beams, a light beam selection member that selects a part of the light beams from the plurality of light beams, and the selected part of the light beams.
  • An optical system that illuminates an object, and a rotation mechanism that switches the illumination by rotating the light beam selection member, and a rotation axis of the light beam selection member is deviated from a branching center of the plurality of light beams
  • a plurality of selection units for selecting a light beam are provided at predetermined intervals on each circumference of two or more circles provided at positions and centered on the rotation axis.
  • An example of the structured illumination device of the present invention is formed by an example of the illumination device of the present invention, an imaging optical system that forms a modulated image of the object spatially modulated by the interference fringes, and the imaging optical system. And an imaging device that captures the modulated image to generate a modulated image.
  • FIG. 1 is a configuration diagram of a structured illumination microscope apparatus 1.
  • FIG. It is a figure explaining the diffraction grating. It is a figure explaining the 0th-order light shutter 200 and the light beam selection member 18.
  • FIG. It is a figure explaining the function of 15 A of translation mechanisms. It is a timing chart of a prior art example. It is a figure explaining the relationship between the required time t1 and t2.
  • FIG. 1 is a configuration diagram of the structured illumination microscope apparatus 1.
  • the structured illumination microscope apparatus 1 will be described as appropriate when it is used as a total reflection fluorescence microscope (TIRFM: Total Reflection Fluorescence Microscopy).
  • TIRFM is a microscope that observes an extremely thin layer on the surface of a sample (specimen) 5 having fluorescence.
  • the structured illumination microscope apparatus 1 includes a laser unit 100, an optical fiber 11, an illumination optical system 10, an imaging optical system 30, a first image sensor 351, and a second image sensor 352.
  • a control device 39, an image storage / arithmetic device 40, and an image display device 45 are provided.
  • the illumination optical system 10 is an epi-illumination type, and the specimen 5 is illuminated using the objective lens 6 and the dichroic mirror 7 of the imaging optical system 30.
  • the laser unit 100 includes a first laser light source 101, a second laser light source 102, shutters 1031, 1032, a mirror 105, a dichroic mirror 106, and a lens 107.
  • Each of the first laser light source 101 and the second laser light source 102 is a coherent light source, and the emission wavelengths thereof are different from each other.
  • the wavelength ⁇ 1 of the first laser light source 101 is longer than the wavelength ⁇ 2 of the second laser light source 102 ( ⁇ 1> ⁇ 2).
  • the first laser light source 101, the second laser light source 102, and the shutters 1031 and 1032 are driven and controlled by the control device 39, respectively.
  • the optical fiber 11 is composed of, for example, a polarization-preserving single mode fiber in order to guide the laser light emitted from the laser unit 100.
  • the position of the exit end of the optical fiber 11 in the direction of the optical axis O can be adjusted by the position adjusting mechanism 11A.
  • the position adjusting mechanism 11A is driven and controlled by the control device 39.
  • the illumination optical system 10 includes, in order from the emission end side of the optical fiber 11, a collector lens 12, a polarizing plate 23, a light beam branching unit 15, a condensing lens 16, a light beam selecting unit 24, a lens 25, and a field of view.
  • a diaphragm 26, a field lens 27, an excitation filter 28, a dichroic mirror 7, and an objective lens 6 are disposed.
  • the polarization plane of the laser light is preserved before and after the optical fiber 11, so that the polarizing plate 23 is not essential, but the laser light This is effective for maintaining the quality of polarized light.
  • the polarizing plate 23 is essential.
  • the beam splitter 15 includes a diffractive optical element (diffraction grating) 13 and a translation mechanism 15A
  • the beam selector 24 includes a zero-order light shutter 200, a half-wave plate 17, and a beam selector. 18, a rotation mechanism 200 ⁇ / b> A, a rotation mechanism 17 ⁇ / b> A, and a rotation mechanism 18 ⁇ / b> A.
  • the translation mechanism 15A, the rotation mechanism 200A, the rotation mechanism 17A, and the rotation mechanism 18A are driven and controlled by the control device 39.
  • an objective lens 6, a dichroic mirror 7, a barrier filter 31, a second objective lens 32, and a second dichroic mirror 35 are arranged in this order from the sample 5 side.
  • the specimen 5 is, for example, fluorescent cells (cells stained with a fluorescent dye) arranged on a parallel flat glass surface, or fluorescent living cells (moving cells stained with a fluorescent dye) present in a petri dish. ) And so on. In this cell, both the first fluorescent region excited by light of wavelength ⁇ 1 and the second fluorescent region excited by light of wavelength ⁇ 2 are expressed.
  • the first fluorescent region generates the first fluorescence having the center wavelength ⁇ 1 ′ in response to the light having the wavelength ⁇ 1
  • the second fluorescent region generates the second fluorescence having the center wavelength ⁇ 2 ′ in response to the light having the wavelength ⁇ 2.
  • the objective lens 6 is configured as an all immersion type (oil immersion type) objective lens. That is, the gap between the objective lens 6 and the glass of the specimen 5 is filled with the immersion liquid (oil).
  • Each of the first image sensor 351 and the second image sensor 352 is a two-dimensional image sensor composed of a CCD, a CMOS, or the like.
  • an image formed on each of the imaging surface 361 of the first imaging element 351 and the imaging surface 362 of the second imaging element 352. Is captured and an image is generated. Images generated by the first image sensor 351 and the second image sensor 352 are taken into the image storage / arithmetic device 40 via the control device 39. Note that each of the first imaging element 351 and the second imaging element 352 can repeat image generation (imaging) at a predetermined frame period.
  • the frame period (imaging repetition period) of each of the first image sensor 351 and the second image sensor 352 is the image capture time of the image sensor (that is, the time required for charge accumulation and charge readout), the time required for switching the direction of the interference fringes, Among other required times, it is determined by rate limiting, and is, for example, 30 msec, 60 msec, etc. (details will be described later).
  • the control device 39 drives and controls the laser unit 100, the position adjustment mechanism 11A, the translation mechanism 15A, the rotation mechanism 200A, the rotation mechanism 17A, the rotation mechanism 18A, the first image sensor 351, and the second image sensor 352.
  • the image storage / arithmetic unit 40 performs demodulation calculation for each wavelength on the image given via the control unit 39, and stores the calculated image (super-resolution image for each wavelength) in an internal memory (not shown). At the same time, it is sent to the image display device 45.
  • the laser beam (first laser beam) having the wavelength ⁇ 1 emitted from the first laser light source 101 enters the mirror 105 through the shutter 1031, the laser beam is reflected by the mirror 105 and enters the dichroic mirror 106.
  • the laser light having the wavelength ⁇ 2 (second laser light) emitted from the second laser light source 102 enters the beam splitter 106 via the shutter 1032 and is integrated with the first laser light.
  • the first laser beam and the second laser beam emitted from the dichroic mirror 106 enter the incident end of the optical fiber 11 through the lens 107.
  • the light source wavelength can be set to both the long wavelength ⁇ 1 and the short wavelength ⁇ 2.
  • the laser light incident on the incident end of the optical fiber 11 propagates inside the optical fiber 11 to generate a point light source at the output end of the optical fiber 11.
  • the laser light emitted from the point light source is converted into a parallel light beam by the collector lens 12 and enters the diffraction grating 13 via the polarizing plate 23, and then is diffracted light beam of each order (hereinafter referred to as “diffracted light beam group”). Fork.
  • the diffracted light beam group is incident on the condenser lens 16
  • the diffracted light beam group is focused on each position of the pupil conjugate plane 6 ⁇ / b> A ′ by receiving the condensing action of the condenser lens 16.
  • the pupil conjugate plane 6A ′ is the focal position (rear focal position) of the condenser lens 16, and the pupil 6A of the objective lens 6 described later with respect to the field lens 27 and the lens 25 ( ⁇ first-order diffracted light is condensed). Position).
  • the lens 16 is arranged so that the focal position (rear focal position) of the lens 16 coincides with the pupil conjugate plane 6A '.
  • conjugate position includes a position determined by a person skilled in the art in consideration of design requirements such as aberration and vignetting of the objective lens 6, the field lens 27, and the lens 25. .
  • the polarizing plate 23 can be omitted, but it is effective for surely cutting off an extra polarization component. Further, in order to increase the utilization efficiency of the laser light, it is desirable that the axis of the polarizing plate 23 coincides with the polarization direction of the laser light emitted from the optical fiber 11.
  • the diffracted light beams of the respective orders directed toward the pupil conjugate plane 6A ′ enter the light beam selection unit 24 disposed in the vicinity of the pupil conjugate plane 6A ′.
  • the light beam selection unit 24 includes only one pair of diffracted light beams (here, ⁇ 1) among the incident diffracted light beams of each order. (Only the next diffracted light beam) is selectively passed.
  • the ⁇ first-order diffracted light beam that has passed through the light beam selection unit 24 forms a conjugate plane with the diffraction grating 13 near the field stop 26 by the lens 25. Thereafter, each of the ⁇ first-order diffracted light beams is converted into convergent light by the field lens 27, further reflected by the dichroic mirror 7 after passing through the excitation filter 28, and condensed at different positions on the pupil plane 6 ⁇ / b> A of the objective lens 6. To do.
  • Each of the ⁇ first-order diffracted light beams collected on the pupil plane 6A becomes a parallel light beam when emitted from the tip of the objective lens 6 and interferes with each other on the surface of the sample 5 to form interference fringes.
  • This interference fringe is used as structured illumination light.
  • the structured illumination microscope apparatus 1 when used as a TIRFM (total reflection fluorescence microscope), the incident angle when entering the surface of the specimen 5 is the total reflection condition (TIRF condition) which is an evanescent field generation condition. Fulfill.
  • TIR condition total reflection fluorescence microscope
  • the condensing point of the ⁇ first-order diffracted light beam on the pupil plane 6A only needs to be located in a predetermined annular zone located on the outermost periphery of the pupil plane 6A. In this case, an evanescent field due to interference fringes is generated near the surface of the specimen 5.
  • the fluorescence generated in the specimen 5 When the fluorescence generated in the specimen 5 is incident on the objective lens 6, it is converted into parallel light by the objective lens 6, passes through the dichroic mirror 7 and the barrier filter 31, and enters the second dichroic mirror 35.
  • the first fluorescence having the wavelength ⁇ 1 ′ incident on the second dichroic mirror 35 is reflected by the second dichroic mirror 35, and the second fluorescence having the wavelength ⁇ 2 ′ incident on the second dichroic mirror 35 is transmitted through the second dichroic mirror 35.
  • the first fluorescence reflected from the second dichroic mirror 35 forms a modulated image of the first fluorescence region on the imaging surface 361 of the first imaging element 351, and the second fluorescence transmitted through the second dichroic mirror 35 is second A modulated image of the second fluorescent region is formed on the imaging surface 362 of the imaging element 352.
  • the modulated image of the first fluorescent region formed on the imaging surface 361 and the modulated image of the second fluorescent region formed on the imaging surface 362 are individually imaged by the first imaging device 351 and the second imaging device 352, and A modulated image of one fluorescent region and a modulated image of the second fluorescent region are generated.
  • the modulated image of the first fluorescent region and the modulated image of the second fluorescent region are taken into the image storage / calculation device 40 via the control device 39. Further, each of the captured modulated image of the first fluorescent region and the modulated image of the second fluorescent region is subjected to a demodulation operation in the image storage / arithmetic device 40, so that the demodulated image (super solution) of the first fluorescent region is obtained. Image) and a demodulated image (super-resolution image) of the second fluorescent region are generated. These super-resolution images are stored in an internal memory (not shown) of the image storage / arithmetic device 40 and are sent to the image display device 45. As the demodulation operation, for example, a method disclosed in US Pat. No. 8,115,806 is used.
  • FIG. 2A is a view of the diffraction grating 13 as viewed from the direction of the optical axis O, and FIG. 2B shows the positional relationship of the condensing points formed on the pupil conjugate plane by the ⁇ first-order diffracted light beams.
  • FIG. 2A is a schematic diagram, the structure period of the diffraction grating 13 illustrated in FIG. 2A is not necessarily the same as the actual structure period.
  • the condensing point here is a barycentric position of an area having 80% or more of the maximum intensity. Therefore, the illumination optical system 10 of the present embodiment does not need to collect the light beam until a complete condensing point is formed.
  • the diffraction grating 13 is a diffraction grating having a periodic structure in a plurality of different directions within a plane perpendicular to the optical axis O of the illumination optical system 10.
  • the diffraction grating 13 is a three-way diffraction grating having a periodic structure in each of the first direction V 1 , the second direction V 2 , and the third direction V 3 that are different by 60 °, and the period of these periodic structures is Are common.
  • the material of the diffraction grating 13 is, for example, glass.
  • the periodic structure of the diffraction grating 13 is either a concentration-type periodic structure formed using density (transmittance) or a phase-type periodic structure formed using steps (phase difference).
  • the phase difference type periodic structure is preferable in that the diffraction efficiency of the + 1st order diffracted light is higher.
  • the first diffracted light beam group includes a 0th order diffracted light beam and a ⁇ 1st order diffracted light beam.
  • the ⁇ 1st order diffracted light beam having the same order travels in a symmetric direction with respect to the optical axis O, and 0
  • the next diffracted light beam travels along the optical axis O.
  • the second diffracted light beam group includes a 0th-order diffracted light beam and a ⁇ 1st-order diffracted light beam, and of these, the ⁇ 1st-order diffracted light beams having common orders travel in a symmetric direction with respect to the optical axis O. Then, the 0th-order diffracted light beam travels along the optical axis O.
  • the third diffracted light beam group includes a 0th-order diffracted light beam and a ⁇ 1st-order diffracted light beam, and of these, the ⁇ 1st-order diffracted light beams having common orders travel in a symmetric direction with respect to the optical axis O. Then, the 0th-order diffracted light beam travels along the optical axis O.
  • the ⁇ 1st order diffracted light beam of the first diffracted light beam group, the ⁇ 1st order diffracted light beam of the second diffracted light beam group, and the ⁇ 1st order diffracted light beam of the third diffracted light beam group are converted into the pupil conjugate plane 6A by the condenser lens 16 described above. 'Are condensed at different positions.
  • the condensing points 14d and 14g of the ⁇ first-order diffracted light beams of the first diffracted light beam group are symmetric with respect to the optical axis O, and the arrangement direction of the condensing points 14d and 14g is It corresponds to the first direction V 1.
  • the focal point 14c of ⁇ 1-order diffracted light flux of the second diffracted light beam group, 14f is symmetrical with respect to the optical axis O, the condensing point 14c, the arrangement direction of 14f, corresponding to the second direction V 2 Yes.
  • the distance from the condensing points 14c and 14f of the second diffracted light beam group to the optical axis O is the same as the distance from the condensing points 14d and 14g of the first diffracted light beam group to the optical axis O.
  • the focal point 14b of the ⁇ 1-order diffracted light flux of the third diffracted light flux group, 14e are symmetric with respect to optical axis O, the condensing point 14b, the arrangement direction of the 14e, corresponding to the third direction V 3 Yes.
  • the distance from the condensing points 14b and 14e of the third light beam group to the optical axis O is the same as the distance from the condensing points 14d and 14g of the first diffracted light beam group to the optical axis O.
  • the condensing point 14a of the 0th-order diffracted light beam of each of the first to third diffracted light beam groups is located on the optical axis O.
  • the diffraction grating 13 described above can be translated by a translation mechanism 15A (see FIG. 1) composed of a piezo motor or the like.
  • the direction of translational movement of the diffraction grating 13 by the translation mechanism 15A is a direction perpendicular to the optical axis O of the illumination optical system 10, and is in the first direction V 1 , the second direction V 2 , and the third direction V 3 described above .
  • the direction is non-perpendicular to each.
  • FIG. 3A is a diagram for explaining the zero-order light shutter 200.
  • the 0th-order optical shutter 200 is a spatial filter formed by forming a circular light shielding part 200C on a part of a circular transparent substrate.
  • the light-shielding part 200C of the 0th-order light shutter 200 covers the optical path (condensing point 14a) of the 0th-order diffracted light beam common to the first to third diffracted light beam groups, and the non-light-shielded part (transmission part) of the 0th-order light shutter 200 200B) covers the optical paths (condensing points 14b to 14g) of the ⁇ first-order diffracted light beams of the first to third diffracted light beam groups.
  • the zero-order light shutter 200 can be rotated around a straight line (axis AR) parallel to and away from the optical axis O of the illumination optical system 10 by a rotation mechanism 200A (see FIG. 1). is there.
  • the rotation mechanism 200A includes, for example, a rotation shaft (not shown) that holds the zero-order light shutter 200 and can rotate around the axis AR, and a motor (not shown) that applies a rotation force to the rotation shaft. (Rotary motor). When this motor is driven, the rotation shaft rotates, and the zero-order light shutter 200 rotates about the axis AR.
  • the rotation angle of the 0th-order optical shutter 200 is set to the reference angle (0 °) shown in FIG. 3A
  • the light-shielding portion 200C is inserted into the optical path of the 0th-order diffracted light beam.
  • the rotation angle is set to a predetermined angle (for example, 30 °) that deviates from the reference angle
  • the light shielding portion 200C is deviated from the optical path of the 0th-order diffracted light beam.
  • the rotation angle of the 0th-order light shutter 200 is switched between 0 ° and 30 °, the 0th-order diffracted light beam remains on while the ⁇ 1st-order diffracted light beam of each of the first to third diffracted light beam groups remains on. Only can be turned on / off.
  • the light-shielding portion 200C of the 0th-order light shutter 200 has the first to third diffraction. It is assumed that the optical path of the ⁇ first-order diffracted light beam of each group of light beam groups is not blocked.
  • the zero-order light shutter 200 is a rotatable spatial filter here, the zero-order light shutter 200 may be configured by a slidable spatial filter, a liquid crystal element that is fixedly arranged, or the like. Note that if the orientation of the liquid crystal element is electrically controlled, the refractive index anisotropy of the liquid crystal element can be controlled, so that the liquid crystal element can function as the zero-order light shutter 200.
  • FIG. 3B is a diagram illustrating the light beam selection member 18.
  • the light beam selection member 18 includes a circular opaque substrate (mask substrate), a plurality of circular openings 18a, a plurality of circular openings 18b, a plurality of circular openings 18c, and a plurality of circular openings. It is a spatial filter formed by forming a portion 18d, a plurality of circular openings 18e, a plurality of circular openings 18f, and a plurality of circular openings 18g.
  • the light beam selection member 18 can be rotated by a rotation mechanism 18A (see FIG. 1).
  • the rotation axis of the light beam selection member 18 is parallel to the optical axis O of the illumination optical system 10, and its optical axis. Deviated from O. Incidentally, although the rotation axis of the light beam selection member 18 does not need to coincide with the axis AR of the zero-order optical shutter 200, it is assumed here that it coincides with the axis AR for simplicity.
  • the rotation mechanism 18A includes, for example, a rotation shaft that holds the light beam selection member 18 and is rotatable around the axis AR, and a motor (rotation motor) (not shown) that supplies rotational force to the rotation shaft. And are provided. When this motor is driven, the rotation shaft rotates and the light beam selection member 18 rotates about the axis AR.
  • the axis AR of the luminous flux selecting member 18 if detached thus the axis AR of the luminous flux selecting member 18 from the optical axis O of the illumination optical system 10, the axis of ⁇ 1-order diffracted light beam (convergence point 14d, 14 g) which is branched to the first direction V 1 and distance to the AR, ⁇ 1-order diffracted light beam (convergence point 14c, 14f) which branches in a second direction V 2 and the distance from to the axis AR, ⁇ 1-order diffracted light beam (converging branched in the third direction V 3
  • the distances from the light spots 14b, 14e) to the axis AR can be shifted from each other.
  • ⁇ 1-order diffracted light beam (convergence point 14d, 14 g) which is branched to the first direction V 1 and sweep trajectory drawn in the light beam selecting member 18, ⁇ 1 order diffraction branched in the second direction V 2 light flux (focus point 14c, 14f) and sweep trajectory drawn light beam selecting member 18, the sweep trajectory ⁇ 1-order diffracted light beam (the focal point 14b, 14e) branching the third direction V 3 draws the light beam selecting member 18 Can be separated from each other.
  • the distance to the axis AR is shifted between all the diffracted light beams (all the condensing points 14a to 14d).
  • the trajectories are separated between all the diffracted light beams (all the condensing points 14a to 14d).
  • the trajectory Oa shown in FIG. 3B is the trajectory of the focal point 14a
  • the trajectory Ob is the trajectory of the focal point 14b
  • the trajectory Oc is the trajectory of the focal point 14c
  • the trajectory Od is the focal point.
  • the trajectory Oe is the trajectory of the condensing point 14e
  • the trajectory Of is the trajectory of the condensing point 14f
  • the trajectory Og is the trajectory of the condensing point 14g.
  • 18 openings 18a are arranged at equal intervals with an angular period of 20 °. These 18 openings 18a open the condensing point 14a every time the light beam selection member 18 rotates 20 °.
  • the condensing point 14a can be appropriately shielded by the above-described 0th-order light shutter 200 regardless of the rotation angle of the light beam selection member 18, but in FIG. A state in which light is not shielded by 200 is assumed.
  • openings 18b are arranged at equal intervals with an angular period of 60 °. These six openings 18b open the condensing point 14b every time the light beam selection member 18 rotates 60 °.
  • openings 18c are arranged at equal intervals with an angular period of 60 °. These six openings 18c open the condensing point 14c every time the light beam selection member 18 rotates 60 °.
  • six openings 18d are arranged at equal intervals with an angular period of 60 °. These six openings 18d open the condensing point 14d every time the light beam selection member 18 rotates 60 °.
  • openings 18e are arranged at equal intervals with an angular period of 60 °. These six openings 18e open the condensing point 14e every time the light beam selection member 18 rotates 60 °.
  • openings 18f are arranged at equal intervals with an angular period of 60 °. These six openings 18f open the condensing point 14f every time the light beam selection member 18 rotates 60 °.
  • openings 18g are arranged at equal intervals with an angular period of 60 °. These six openings 18g open the condensing point 14g every time the light beam selection member 18 rotates 60 °.
  • the sizes of the individual openings 18a to 18g are set to sizes corresponding to the spots of the individual condensing points (reference numerals 14a to 14g in FIG. 3).
  • each of the openings (openings 18b to 18g) related to at least the ⁇ 1st-order diffracted light beams is sufficiently large to cope with switching of the light source wavelength or multi-wavelength of the light source.
  • the diffraction angle of the ⁇ 1st-order diffracted light beam in the diffraction grating 13 depends on the light source wavelength, so the height from the optical axis O of the illumination optical system 10 to the condensing points 14b, 14c, 14d, 14e, 14f, and 14g is Depends on the light source wavelength.
  • the light source wavelength is set to ⁇
  • the structural period of the diffraction grating 13 is set to P
  • the focal length of the lens 16 is set to fc
  • the condensing points 14b, 14c, 14d, and 14e from the optical axis O of the illumination optical system 10 are set.
  • 14f, and 14g are represented by D ⁇ 2fc ⁇ / P.
  • the total formation position of the 18 openings 18a around the axis AR, the overall formation position of the 6 openings 18b around the axis AR, and the six openings 18c around the axis AR The total formation position, the total formation position of the six openings 18d around the rotation axis AR, the total formation position of the six openings 18e around the axis AR, and the six around the axis AR.
  • the relationship between the overall formation position of the aperture 18f and the overall formation position of the six openings 18g around the axis AR is that the condensing point simultaneously opened by the light beam selection member 18 is the first direction V.
  • the second direction V 2 , and the third direction V 3 are set so as to be limited only to the condensing points arranged in one direction. It is shown in FIG. 3 (B), focusing point 14d which is arranged in the first direction V 1, 14a, a state in which only 14g is opened.
  • the rotation angle of the light beam selection member 18 around the axis AR is set as ⁇ ′
  • the rotation angle ⁇ ′ of the light beam selection member 18 is 0 °
  • the light beam selection angle ⁇ is 0 ° (the arrangement direction of the condensing points is the first direction V 1 ).
  • the rotation angle ⁇ ′ of the light beam selection member 18 is 20 °
  • the light beam selection angle ⁇ is 60 ° (the arrangement direction of the condensing points is the second direction V 2 ).
  • the rotation angle ⁇ ′ of the light beam selection member 18 is 60 °
  • the light beam selection angle ⁇ is 180 ° (the arrangement direction of the condensing points is the first direction V 1 ).
  • the rotation angle ⁇ ′ of the light beam selection member 18 is 80 °
  • the light beam selection angle ⁇ is 240 ° (the arrangement direction of the condensing points is the second direction V 2 ).
  • the rotation angle ⁇ ′ of the light beam selection member 18 is 100 °
  • the light beam selection angle ⁇ is 300 ° (the arrangement direction of the condensing points is the third direction V 3 ).
  • the branch direction of the selected diffracted light beam is rotated at an angular period of 60 ° only by rotating the light beam selection member 18 around the axis AR at an angular period of 20 ° (that is, at an angular period of 60 °).
  • the direction of the interference fringes can be rotated at an angular period of 60 °.
  • a conventional example will be described for comparison.
  • a unidirectional diffraction grating having a periodic structure extending in a single direction is used as the diffraction grating, and the diffraction grating is rotated at an angular period of 60 ° in order to switch the direction of the interference fringes at an angular period of 60 °.
  • the required time t1 for rotating the direction of the interference fringes by 60 ° is as long as about 80 ms, whereas the charge accumulation time of the image sensor is about 5 ms, for example. For example, it is as short as about 10 to 35 ms.
  • the required time t1 for rotating the direction of the interference fringes by 60 ° is rate-limiting, and it is difficult to shorten the frame period.
  • the rotation angle period of the member for switching the direction of the interference fringes (here, the light beam selection member 181) is suppressed to 20 °, so that the direction of the interference fringes is rotated by 60 °.
  • the required time t2 is significantly shorter than the required time t1 of the conventional example.
  • the area of the triangle OAt1 shown in FIG. 13 corresponds to the rotation amount (60 °) of the diffraction grating in the conventional example, and the area of the triangle OA't2 is the rotation amount (20 °) of the light beam selection member 18 in this embodiment. It corresponds to.
  • FIG. 10 is a diagram for explaining the functions of the polarizing plate 23 and the half-wave plate 17.
  • the polarizing plate 23 and the half-wave plate 17 are used to control the polarization state of the diffracted light beam incident on the sample 5 to S-polarized light. This is because the contrast of the interference fringes can be kept high by controlling the diffracted light beam incident on the specimen 5 to be S-polarized light.
  • the branch direction of the diffracted light flux group selected by the light beam selecting member 18 is the first direction V 1 was, the polarization direction of the diffracted light flux group in FIG. 10 (A)
  • the direction V 1 ′ indicated by the dotted arrow should be taken.
  • the direction V 1 ′ is a direction obtained by rotating the direction V 1 about the optical axis O by 90 °.
  • FIG. 10 (B) when the branch direction of the diffracted light flux group selected by the light beam selecting member 18 is the second direction V 2, the polarization direction of the diffracted light beam group, and FIG. 10 (B)
  • the direction V 2 ′ is a direction obtained by rotating the direction V 2 by 90 ° around the optical axis O.
  • FIG. 10 (C) when the branch direction of the diffracted light flux group selected by the light beam selecting member 18 is the third direction V 3, the polarization direction of the diffracted light flux group, FIG. 10 (C)
  • the direction V 3 ′ indicated by the dotted arrow should be taken.
  • This direction V 3 ′ is a direction obtained by rotating the direction V 3 around the optical axis O by 90 °.
  • the axial direction of the polarizing plate 23 is fixed in a predetermined direction, and the half-wave plate 17 is rotated around the optical axis O by the rotation mechanism 17A (see FIG. 1). .
  • the rotation mechanism 17A includes, for example, a holding member (not shown) that holds the half-wave plate 17 and that can rotate around the optical axis O, and that is formed around the holding member (not shown).
  • a first gear, a second gear (not shown) that meshes with the first gear, and a motor (rotary motor) (not shown) connected to the second gear are provided.
  • the second gear rotates, the rotational force is transmitted to the first gear, and the half-wave plate 17 rotates around the optical axis O.
  • the axial direction of the polarizing plate 23 is fixed to be the same as the direction V 2 ′ as indicated by the white arrow.
  • the polarization direction of the diffracted light beam group at the time of incidence on the half-wave plate 17 is the same as the direction V 2 ′.
  • the direction of the fast axis of the 1/2-wavelength plate 17 As indicated by the solid line arrow, the direction V 2 ′ and the direction V 1 ′ may be set in a bisecting direction.
  • the fast axis of the half-wave plate 17 is a direction in which the amount of phase delay when light polarized in the direction of the axis passes through the half-wave plate 17 is minimized.
  • the branch direction of the diffracted light flux group selected a third direction V 3
  • the direction of the fast axis of the 1/2-wavelength plate 17, in FIG. 10 (C) As indicated by the solid line arrow, the direction V 1 ′ and the direction V 3 ′ may be set in a bisecting direction.
  • the rotation angle of the half-wave plate 17 around the optical axis O is ⁇ ′′
  • the rotation angle ⁇ ′′ is set to 0 °
  • the rotation angle ⁇ ′′ may be set to + 30 °.
  • the rotation mechanism 18A rotates when the rotation angle ⁇ ′ of the light beam selection member 18 is switched from “0 °” to “20 °” to “40 °” with an angle period of 20 °.
  • the mechanism 17A may switch the rotation angle ⁇ ′′ of the half-wave plate 17 from “ ⁇ 30 °” ⁇ “0 °” ⁇ “+ 30 °” with an angular period of 30 °.
  • the time required to switch the rotation angle ⁇ ′′ of the half-wave plate 17 by one angular period (here, 30 °) is less than 5 msec. This is approximately the same as the time required to switch 18 by one angular period (20 ° in this case).
  • the time required for switching the direction of the interference fringes (here, the time required for switching the light beam selection member 18 by one angular period) is suppressed, so It is desirable that the time required for switching the rotation angle of the phase axis by one angular period is also suppressed to the same or less.
  • a fixedly arranged liquid crystal element may be used, and the liquid crystal element may function as the half-wave plate 17. If the orientation of the liquid crystal element is electrically controlled, the refractive index anisotropy of the liquid crystal element can be controlled at high speed, so that the fast axis as a half-wave plate can be rotated at high speed. Incidentally, there are other methods for keeping the diffracted light beam incident on the specimen 5 in S-polarized light (described later).
  • FIG. 11 is a diagram for explaining the function of the translation mechanism 15A.
  • two or more modulation images that are related to interference fringes in the same sample 5 and in the same direction and having different phases of interference fringes may be used.
  • the modulated image generated by the structured illumination microscope apparatus 1 includes a 0th order modulation component, a + 1st order modulation component, ⁇
  • a primary modulation component is included, and these three unknown parameters need to be made known by demodulation calculation.
  • the translation mechanism 15A shifts the phase of the interference fringes, as shown in FIG. 11A, in the direction perpendicular to the optical axis O of the illumination optical system 10 and the first direction V 1 described above.
  • the diffraction grating 13 is shifted in a direction (x direction) that is non-perpendicular to all of the second direction V 2 and the third direction V 3 .
  • the structural period of each of the first direction V 1 , the second direction V 2 , and the third direction V 3 of the diffraction grating 13 is P, and the shift direction (x direction) of the diffraction grating 13 is set.
  • the first direction V 1 is ⁇ 1
  • the shift direction of the diffraction grating 13 (x direction) and the second direction V 2 is ⁇ 2
  • ) is represented by
  • the shift amount L in the x direction of the diffraction grating 13 necessary for setting the phase shift amount of the interference fringes to a desired value ⁇ is the light beam selection direction (first direction V 1 , second direction V 2 , third direction). Any one of V 3 ) and the angle ⁇ formed by the x direction is expressed as in Expression (1).
  • the shift amount L in the x direction of the diffraction grating 13 necessary for setting the phase shift amount ⁇ of the interference fringes to 2 ⁇ is P / (a ⁇ 2 ⁇
  • This is an amount corresponding to a half period of the diffraction grating 13.
  • the phase of the structured illumination light can be shifted by one period only by shifting the diffraction grating 13 by a half period (because the fringe period of the structured illumination light composed of ⁇ first-order diffracted light is the structural period of the diffraction grating 13. Is equivalent to twice.).
  • M is the number of directions of the periodic structure of the diffraction grating 13.
  • the control device 39 acquires data necessary for generating a super-resolution image by executing the following procedures (1) to (5).
  • the control device 39 sets the emission wavelength (light source wavelength) of the laser unit 100 to both of the two wavelengths ⁇ 1 and ⁇ 2. Further, the 0th-order diffracted light beam is turned off by driving the rotation mechanism 200A.
  • the control device 39 drives the rotation mechanisms 18A and 17A to set the rotation angle ⁇ ′ of the light beam selection member 18 to 0 ° and the rotation angle ⁇ ′′ of the half-wave plate 17 Is set to -30 °.
  • the control device 39 drives the translation mechanism 15A to shift the phase of the interference fringes in a plurality of stages, and under each of these phases, the laser unit 100, the first image sensor 351, and the second image sensor. By driving the element 352, a plurality of images are acquired for each wavelength.
  • the control device 39 drives the rotation mechanisms 18A and 17A to change the rotation angle ⁇ ′ of the light beam selection member 18 by + 20 ° and at the same time the rotation angle ⁇ ′′ of the half-wave plate 17 Is changed by + 30 °, and the control device 39 executes step (3) under the setting.
  • the direction switching of the interference fringes can be speeded up, so that the steps (4) and (5) can be speeded up. Therefore, in this embodiment, the acquisition speed of data necessary for super-resolution can be increased.
  • the control device 39 repeats a series of processes consisting of procedures (1) to (5), and the image storage / arithmetic apparatus 40 according to the present embodiment performs a super solution every time the series of processes is completed.
  • An image image may be generated (updated).
  • the series of processing is speeded up, so that the super-resolution image update frequency is also increased.
  • control device 39 may execute the following procedure (1 ') instead of the above-described procedures (1) and (2).
  • the controller 39 drives the rotation mechanisms 18A and 17A to change the rotation angle ⁇ ′ of the light beam selection member 18 by + 20 °, and at the same time, the rotation angle ⁇ of the half-wave plate 17 "Is set to -30 °.
  • the diffracted light beam branching pattern (diffraction grating structure) is set so that a plurality of branching optical paths (a plurality of condensing points) are formed around the optical axis O at an angular period of 60 °.
  • the direction of branching of the diffracted light beam incident on the specimen 5 was switched by rotating the light beam selection member 18 with an angular period of 20 °.
  • the combination of the formation angle period of the branched optical path around the optical axis O (the formation angle period of the condensing point) and the rotation angle period of the light beam selection member 18 around the rotation axis is the latter than the former angle period.
  • the rotation angle period is smaller, other combinations may be set.
  • the formation angle period of the branch optical path around the optical axis O may be 60 °
  • the rotation angle period of the light beam selection member 18 may be 30 °
  • the formation angle period of the branch optical path around the optical axis O is 90 °
  • the rotation angle cycle of the member 18 may be 45 °.
  • a transmissive mask member that is, an opening made of a transmission part and a non-opening part made of a light shielding part
  • a member for selecting a part of the light from a plurality of light fluxes.
  • a reflective mask member that is, a mask member having an opening made of a reflection portion and a non-opening portion made of a light shielding portion
  • the transmittance of the opening and the transmittance of the non-opening are 100% and 0%, respectively, but the transmittance of the opening is higher than that of the non-opening. Higher than 100% and 0%, respectively.
  • the reflectance of the opening and the reflectance of the non-opening are preferably 100% and 0%, respectively. However, the reflectance of the opening is higher than that of the non-opening. Higher than 100% and 0%, respectively.
  • the diffraction grating 13 inserted in the optical path is changed.
  • Switching between the diffraction grating for the TIRF-SIM mode and the diffraction grating for the SIM mode may be performed.
  • the structural period differs between the diffraction grating for the TIRF-SIM mode and the diffraction grating for the SIM mode.
  • the interference fringes projected on the specimen 5 by turning off the 0th-order diffracted light flux are two-beam interference fringes (that is, an example in which the structured illumination microscope apparatus 1 is used in the 2D-SIM mode).
  • the interference fringes projected onto the specimen 5 are changed to the three-beam interference fringes (that is, the structured illumination microscope apparatus 1 is used in the 3D-SIM mode). Is possible.
  • the interference fringes generated by the interference of the three diffracted light beams are spatially modulated not only in the surface direction of the sample 2 but also in the depth direction of the sample 5. Therefore, according to this interference fringe, a super-resolution effect can be obtained also in the depth direction of the specimen 5.
  • a single optical path of the 0th-order diffracted light beam is used to adjust the intensity balance between the 0th-order diffracted light beam and the ⁇ 1st-order diffracted light beam.
  • ND filter neutral density filter
  • a light reducing film may be provided in each of the 18 openings 18 a in the light beam selection member 18.
  • the contents of the demodulation operation to be executed by the image storage / arithmetic apparatus 40 are different between the 2D-SIM mode and the 3D-SIM mode. This is because, in the modulation image generated in the 2D-SIM mode, three components of the fluorescence zero-order modulation component, the fluorescence plus first-order modulation component, and the fluorescence minus first-order modulation component are superimposed.
  • the modulated image generated in the SIM mode includes 5th order of the 0th order modulation component of fluorescence, the 1st order modulation component of fluorescence, the 1st order modulation component of fluorescence, the + 2nd order modulation component of fluorescence, and the 2nd order modulation component of fluorescence This is because the components are superimposed.
  • the number of modulation components to be superimposed on the modulated image is different between the 2D-SIM mode and the 3D-SIM mode, the number of frames of the modulated image to be acquired by the control device 43 is also different.
  • the diffraction grating 13 is shifted in order to shift the phase of the interference fringes.
  • the optical path length difference of the ⁇ first-order diffracted light beams may be changed.
  • the phase plate may be inserted into and removed from at least one of the optical path of the + 1st order diffracted light beam and the optical path of the ⁇ 1st order diffracted light beam.
  • phase plate since the relationship between the thickness of the phase plate and the amount of phase shift differs depending on the wavelength used, a plurality of phase plates with different thicknesses are attached to the turret, and these phase plates are selectively transferred to the optical path according to the light source wavelength. It may be inserted.
  • the number of light source wavelengths is 2, but it may be 1 or may be extended to 2 or more.
  • the half-wave plate 17 that can rotate around the optical axis O is used in order to keep the ⁇ first-order diffracted light beam incident on the sample 5 as S-polarized light.
  • a combination of a quarter wave plate and a quarter wave plate that can rotate around the optical axis O may be used.
  • the direction of the fast axis of the fixedly arranged quarter wave plate is set so as to form an angle of 45 ° with respect to the polarization direction of the diffracted light beam incident on the quarter wave plate.
  • the direction of the fast axis of the possible quarter-wave plate is set so as to form an angle of 45 ° with respect to the polarization direction that the diffracted light beam emitted from the quarter-wave plate should have.
  • a combination of ⁇ first-order diffracted light and zero-order diffracted light is used as diffracted light for forming interference fringes (two-beam interference fringes in 2D-SIM mode or three-beam interference fringes in 3D-SIM mode).
  • interference fringes two-beam interference fringes in 2D-SIM mode or three-beam interference fringes in 3D-SIM mode.
  • other combinations may be used.
  • three-beam interference fringe is generated by three diffracted lights having equal intervals of diffraction orders.
  • a combination of zero-order diffracted light, first-order diffracted light, and second-order diffracted light can be used.
  • Combinations of ⁇ 2nd order diffracted light and 0th order diffracted light, combinations of ⁇ 3rd order diffracted light and 0th order diffracted light, and the like can be used.
  • the illumination optical system 10 of any of the above-described examples is configured by an epi-illumination optical system using the objective lens 6, but is not limited thereto, and is a transmission / reflection illumination optical system using a condenser lens instead of the objective lens 6. It may be configured. In this case, the focal point is formed on the pupil plane of the condenser lens.
  • the structured illumination device (illumination optical system 10) of the present embodiment allows a plurality of branched light beams (collected light beams) having different branch directions around a predetermined axis (optical axis O) to be emitted from a light source (laser unit 100).
  • the direction of the interference fringes A branching light beam that includes a rotating mechanism (18A) for switching and moves on the light beam selection member (18) as the light beam selection member (18) rotates, and that contributes to the formation of interference fringes ( One or more selection portions (openings) are formed on each trajectory (sweep trajectories Oa to Og and the like) of the condensing points 14a to 14g and the like.
  • the structured illumination device (illumination optical system 10) of the present embodiment can keep the rotation angle period of the light beam selection member (18) necessary for switching the direction of interference fringes small.
  • a branched light beam that moves on the light beam selection member (18) as the light beam selection member (18) rotates, and forms interference fringes.
  • Two or more selection portions (openings) are formed on each trajectory (sweep trajectory Oa to Og, etc.) of the branched light flux that contributes to.
  • the structured illumination device (illumination optical system 10) of the present embodiment can further reduce the rotation angle period of the light beam selection member (18) required for switching the direction of the interference fringes.
  • the structured illumination device (illumination optical system 10) of the present embodiment, at least two ( ⁇ first-order diffracted light beams) out of a predetermined number of branched light beams selected before switching and a predetermined number selected after switching.
  • the trajectories are separated from each other between at least two of the branched light beams ( ⁇ first-order diffracted light beams).
  • the trajectories are set to be separated from each other among the plurality of branched light beams (condensing points 14b to 14g).
  • the degree of freedom of arrangement of the selection portion (opening) to be formed in the light beam selection member (18) is increased, and the rotation angle period of the light beam selection member (18) can be easily reduced.
  • the structured illumination device (illumination optical system 10) of the present embodiment further includes a phase shift unit (translation mechanism 15A) that shifts the phase of the interference fringes.
  • the structured illumination microscope apparatus (1) of the present embodiment includes an illumination device (illumination optical system 10) of the present embodiment and an imaging element that captures a modulated image that is an image of a sample spatially modulated by interference fringes. 351, 352).
  • the structured illumination microscope apparatus (1) of the present embodiment can efficiently generate a demodulated image.
  • circles are provided corresponding to the plurality of light beams (condensing points 14a to 14g), respectively.
  • the plurality of light beams include a plurality of light beam groups branched in mutually different directions (directions V 1 , V 2 , V 3, etc.). There is only one direction of light beam group, and the object is illuminated with interference fringes from the one direction light beam group.
  • a circle (sweep trajectory) is provided corresponding to each direction (direction V 1 , V 2 , V 3 ) of the plurality of light beam groups.
  • the direction angle period of the plurality of light beam groups around the optical axis of the optical system is the first angle period
  • the formation angle period of the plurality of selection units around the rotation axis is the first angle period.
  • the second angular period is smaller than the period.
  • the first angular period is 60 °, and the second angular period is 20 °.
  • the branch portion is a diffractive optical element.
  • the structured illumination microscope apparatus (1) of the present embodiment together with the illumination apparatus (illumination optical system 10) of the present embodiment, an imaging optical system (30) that forms a modulated image of an object spatially modulated by interference fringes. ) And an image sensor (such as an image sensor 351) that captures a modulated image formed by the imaging optical system and generates a modulated image.
  • the structured illumination microscope apparatus (1) of the present embodiment further includes a calculation unit (image storage / calculation apparatus 40) that generates a demodulated image of an object based on the modulated image generated by the image sensor.
  • a calculation unit image storage / calculation apparatus 40
  • DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Structured illumination microscope apparatus, 100 ... Laser unit, 11 ... Optical fiber, 10 ... Illumination optical system, 30 ... Imaging optical system, 351 ... 1st image sensor, 352 ... 2nd image sensor, 39 ... Control apparatus, DESCRIPTION OF SYMBOLS 40 ... Image memory

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Abstract

　超解像画像（復調画像）の生成に必要な複数の変調画像の取得効率を向上させるために、本発明の構造化照明装置は、光源からの光を複数の光束に分岐する分岐部と、前記複数の光束から一部の光束を選択する光束選択部材と、選択された前記一部の光束で物体を照明する光学系と、前記光束選択部材を回動させることにより前記照明を切り換える回動機構とを有し、前記光束選択部材の回動軸は、前記複数の光束の分岐中心から外れた位置に設けられ、前記回動軸を中心とする２以上の円の各周上には、光束を選択する選択部が所定の間隔で複数設けられている。

Description

照明装置及び構造化照明顕微鏡装置
　本発明は、照明装置及び構造化照明顕微鏡装置に関する。
　生体標本などの被観察物を超解像観察するための手法に、被観察物の構造の空間周波数を照明光で変調する手法がある（特許文献１を参照）。
　この手法では、空間変調された照明光で被観察物を照明し、被観察物の構造に含まれる解像限界を超える高い空間周波数の情報を、顕微鏡光学系の結像に寄与させる。また、空間照明のパターンを切り替え、互いに異なる照明パターンの下で得られた複数の変調像のデータ（以下、「変調画像」と称す。）へ演算を施すことにより、復調像のデータ（以下、「復調画像」又は「超解像画像」と称す。）を取得する。
米国再発行特許発明第３８３０７号明細書
　本発明は、超解像画像（復調画像）の生成に必要な複数の変調画像の取得効率を向上させることを目的とする。
　本発明の照明装置の一例は、光源からの光を複数の光束に分岐する分岐部と、前記複数の光束から一部の光束を選択する光束選択部材と、選択された前記一部の光束で物体を照明する光学系と、前記光束選択部材を回動させることにより前記照明を切り換える回動機構とを有し、前記光束選択部材の回動軸は、前記複数の光束の分岐中心から外れた位置に設けられ、前記回動軸を中心とする２以上の円の各周上には、光束を選択する選択部が所定の間隔で複数設けられている。
　本発明の構造化照明装置の一例は、本発明の照明装置の一例と、前記干渉縞で空間変調された前記物体の変調像を形成する結像光学系と、前記結像光学系により形成された前記変調像を撮像して変調画像を生成する撮像素子とを備える。
構造化照明顕微鏡装置１の構成図である。 回折格子１３を説明する図である。 ０次光シャッタ２００、光束選択部材１８を説明する図である。 θ’＝０°における光束選択部材１８を説明する図である。 θ’＝２０°における光束選択部材１８を説明する図である。 θ’＝４０°における光束選択部材１８を説明する図である。 θ’＝６０°における光束選択部材１８を説明する図である。 θ’＝８０°における光束選択部材１８を説明する図である。 θ’＝１００°における光束選択部材１８を説明する図である。 偏光板２３及び１／２波長板１７の機能を説明する図である。 並進機構１５Ａの機能を説明する図である。 従来例のタイミングチャートである。 所要時間ｔ１、ｔ２の関係を説明する図である。
　［第１実施形態］
　以下、本発明の第１実施形態として構造化照明顕微鏡装置を説明する。
　先ず、構造化照明顕微鏡装置の構成を説明する。
　図１は、構造化照明顕微鏡装置１の構成図である。以下では構造化照明顕微鏡装置１を全反射蛍光顕微鏡（ＴＩＲＦＭ：Total Internal Reflection Fluorescence  Microscopy）として使用する場合も適宜併せて説明する。ＴＩＲＦＭは、蛍光性を有した試料（標本）５の表面の極めて薄い層を観察する顕微鏡である。
　先ず、構造化照明顕微鏡装置１の構成を説明する。
　図１に示すとおり構造化照明顕微鏡装置１には、レーザユニット１００と、光ファイバ１１と、照明光学系１０と、結像光学系３０と、第１撮像素子３５１と、第２撮像素子３５２と、制御装置３９と、画像記憶・演算装置４０と、画像表示装置４５とが備えられる。なお、照明光学系１０は落射型であり、結像光学系３０の対物レンズ６及びダイクロイックミラー７を利用して標本５の照明を行う。
　レーザユニット１００には、第１レーザ光源１０１、第２レーザ光源１０２、シャッタ１０３１、１０３２、ミラー１０５、ダイクロイックミラー１０６、レンズ１０７が備えられる。第１レーザ光源１０１及び第２レーザ光源１０２の各々は可干渉光源であって、互いの出射波長は異なる。ここでは、第１レーザ光源１０１の波長λ１は、第２レーザ光源１０２の波長λ２よりも長いと仮定する（λ１＞λ２）。これらの第１レーザ光源１０１、第２レーザ光源１０２、シャッタ１０３１、１０３２は、それぞれ制御装置３９によって駆動・制御される。
　光ファイバ１１は、レーザユニット１００から射出したレーザ光を導光するために、例えば、偏波面保存型のシングルモードファイバによって構成される。光軸Ｏの方向における光ファイバ１１の出射端の位置は、位置調整機構１１Ａによって調節可能である。この位置調整機構１１Ａは、制御装置３９によって駆動・制御される。
　照明光学系１０には、光ファイバ１１の出射端側から順に、コレクタレンズ１２と、偏光板２３と、光束分岐部１５と、集光レンズ１６と、光束選択部２４と、レンズ２５と、視野絞り２６と、フィールドレンズ２７と、励起フィルタ２８と、ダイクロイックミラー７と、対物レンズ６とが配置される。
　なお、光ファイバ１１として偏波面保存型のシングルモードファイバを使用した場合は、光ファイバ１１の前後でレーザ光の偏波面が保存されるので、偏光板２３は非必須であるが、レーザ光の偏光の品質を保つためには有効である。一方、光ファイバ１１としてマルチモードファイバを使用した場合、偏光板２３は必須である。
　光束分岐部１５には、回折光学素子（回折格子）１３と、並進機構１５Ａとが備えられ、光束選択部２４には、０次光シャッタ２００と、１／２波長板１７と、光束選択部材１８と、回動機構２００Ａと、回動機構１７Ａと、回動機構１８Ａとが備えられる。なお、並進機構１５Ａ、回動機構２００Ａ、回動機構１７Ａ、回動機構１８Ａは、制御装置３９によって駆動・制御される。
　結像光学系３０には、標本５の側から順に、対物レンズ６と、ダイクロイックミラー７と、バリアフィルタ３１と、第２対物レンズ３２と、第２ダイクロイックミラー３５と、が配置される。
　標本５は、例えば、平行平板状のガラス表面に配置された蛍光性の細胞（蛍光色素で染色された細胞）や、シャーレ内に存在する蛍光性の生体細胞（蛍光色素で染色された動く細胞）などの細胞である。この細胞には、波長λ１の光によって励起される第１蛍光領域と、波長λ２の光によって励起される第２蛍光領域との双方が発現している。
　なお、第１蛍光領域は、波長λ１の光に応じて中心波長λ１’の第１蛍光を発生させ、第２蛍光領域は、波長λ２の光に応じて中心波長λ２’の第２蛍光を発生させる。
　構造化照明顕微鏡装置１がＴＩＲＦＭ（全反射蛍光顕微鏡）として使用される場合、対物レンズ６は、全液浸型（油浸型）の対物レンズとして構成される。つまり、対物レンズ６と標本５のガラスとの間隙は、浸液（油）で満たされる。
　第１撮像素子３５１、第２撮像素子３５２の各々は、ＣＣＤやＣＭＯＳ等からなる二次元の撮像素子である。第１撮像素子３５１、第２撮像素子３５２の各々は、制御装置３９によって駆動されると、第１撮像素子３５１の撮像面３６１、第２撮像素子３５２の撮像面３６２の各々に形成された像を撮像し、画像を生成する。これら第１撮像素子３５１、第２撮像素子３５２の各々が生成した画像は、制御装置３９を介して画像記憶・演算装置４０へと取り込まれる。なお、第１撮像素子３５１、第２撮像素子３５２の各々は、所定のフレーム周期で画像生成（撮像）を繰り返すことが可能である。第１撮像素子３５１、第２撮像素子３５２の各々のフレーム周期（撮像の繰り返し周期）は、撮像素子の撮像時間（すなわち電荷蓄積及び電荷読出に要する時間）、干渉縞の方向切り換えに要する時間、その他の所要時間のうち、律速によって定められ、例えば３０ｍｓｅｃ、６０ｍｓｅｃなどである（詳細は後述）。
　制御装置３９は、レーザユニット１００、位置調整機構１１Ａ、並進機構１５Ａ、回動機構２００Ａ、回動機構１７Ａ、回動機構１８Ａ、第１撮像素子３５１、第２撮像素子３５２を駆動制御する。
　画像記憶・演算装置４０は、制御装置３９を介して与えられた画像に対して波長毎に復調演算を施し、演算後の画像（波長毎の超解像画像）を不図示の内部メモリに格納すると共に、画像表示装置４５へ送出する。
　次に、構造化照明顕微鏡装置１におけるレーザ光の振る舞いを説明する。
　第１レーザ光源１０１から射出した波長λ１のレーザ光（第１レーザ光）は、シャッタ１０３１を介してミラー１０５へ入射すると、ミラー１０５を反射し、ダイクロイックミラー１０６へ入射する。一方、第２レーザ光源１０２から射出した波長λ２のレーザ光（第２レーザ光）は、シャッタ１０３２を介してビームスプリッタ１０６へ入射し、第１レーザ光と統合される。ダイクロイックミラー１０６から射出した第１レーザ光及び第２レーザ光は、レンズ１０７を介して光ファイバ１１の入射端に入射する。
　なお、制御装置３９は、レーザユニット１００のシャッタ１０３１、１０３２を制御することにより、光ファイバ１１の入射端に入射するレーザ光の波長（＝光源波長）を、長い波長λ１と短い波長λ２との間で切り替えたり、光源波長を長い波長λ１と短い波長λ２との双方に設定したりすることができる。
　光ファイバ１１の入射端に入射したレーザ光は、光ファイバ１１の内部を伝搬して光ファイバ１１の出射端に点光源を生成する。その点光源から射出したレーザ光は、コレクタレンズ１２によって平行光束に変換され、偏光板２３を介して回折格子１３へ入射すると、各次数の回折光束（以下、「回折光束群」と称す。）に分岐される。この回折光束群は、集光レンズ１６に入射すると、集光レンズ１６の集光作用を受けて瞳共役面６Ａ’の各位置に集光する。
　ここで、瞳共役面６Ａ’は、集光レンズ１６の焦点位置（後ろ側焦点位置）であって、フィールドレンズ２７及びレンズ２５に関して後述する対物レンズ６の瞳６Ａ（±１次回折光が集光する位置）と共役な位置のことである。この瞳共役面６Ａ’にレンズ１６の焦点位置（後ろ側焦点位置）が一致するように、レンズ１６は配置されている。なお、「共役な位置」の概念には、当業者が対物レンズ６、フィールドレンズ２７、レンズ２５の収差、ビネッティング等の設計上必要な事項を考慮して決定した位置も含まれるものとする。
　また、光ファイバ１１から射出したレーザ光は基本的に直線偏光しているので、偏光板２３は、省略することも可能であるが、余分な偏光成分を確実にカットするために有効である。また、レーザ光の利用効率を高めるため、偏光板２３の軸は、光ファイバ１１から射出したレーザ光の偏光方向に一致していることが望ましい。
　さて、瞳共役面６Ａ’に向かった各次数の回折光束は、瞳共役面６Ａ’の近傍に配置された光束選択部２４へ入射する。
　ここで、構造化照明顕微鏡装置１がＴＩＲＦＭ（全反射蛍光顕微鏡）として利用される場合、光束選択部２４は、入射した各次数の回折光束のうち、１対の回折光束のみ（ここでは±１次回折光束のみ）を選択的に通過させる。
　光束選択部２４を通過した±１次回折光束は、レンズ２５によって視野絞り２６付近で回折格子１３と共役な面を形成する。その後、±１次回折光束の各々は、フィールドレンズ２７により収束光に変換され、さらに励起フィルタ２８を経てからダイクロイックミラー７で反射し、対物レンズ６の瞳面６Ａ上の互いに異なる位置に集光する。
　瞳面６Ａ上に集光した±１次回折光束の各々は、対物レンズ６の先端から射出される際には平行光束となり、標本５の表面で互いに干渉し、干渉縞を形成する。この干渉縞が、構造化照明光として使用される。
　また、構造化照明顕微鏡装置１がＴＩＲＦＭ（全反射蛍光顕微鏡）として利用される場合、標本５の表面に入射する際の入射角度は、エバネッセント場の生成条件である全反射条件（ＴＩＲＦ条件）を満たす。
　ＴＩＲＦ条件を満たすためには、瞳面６Ａにおける±１次回折光束の集光点は、瞳面６Ａの最外周に位置する所定の輪帯状領域に位置していればよい。この場合、標本５の表面近傍には、干渉縞によるエバネッセント場が生起する。
　このような干渉縞により標本５を照明すると、干渉縞の周期構造と標本５上の蛍光領域の周期構造との差に相当するモアレ縞が現れるが、このモアレ縞においては、蛍光領域の高周波数の構造が元の周波数より低周波数側にシフトしているため、この構造を示す蛍光は、元の角度よりも小さい角度で対物レンズ６へ向かうことになる。よって、干渉縞により標本５を照明すると、蛍光領域の高周波数の構造情報までもが対物レンズ６によって伝達される。
　標本５で発生した蛍光は、対物レンズ６に入射すると、対物レンズ６で平行光に変換された後、ダイクロイックミラー７及びバリアフィルタ３１を透過し、第２ダイクロイックミラー３５へ入射する。第２ダイクロイックミラー３５へ入射した波長λ１’の第１蛍光は、第２ダイクロイックミラー３５を反射し、第２ダイクロイックミラー３５へ入射した波長λ２’の第２蛍光は、第２ダイクロイックミラー３５を透過する。
　第２ダイクロイックミラー３５を反射した第１蛍光は、第１撮像素子３５１の撮像面３６１上に第１蛍光領域の変調像を形成し、第２ダイクロイックミラー３５を透過した第２蛍光は、第２撮像素子３５２の撮像面３６２上に第２蛍光領域の変調像を形成する。
　撮像面３６１に形成された第１蛍光領域の変調像、撮像面３６２に形成された第２蛍光領域の変調像は、第１撮像素子３５１、第２撮像素子３５２によって個別に画像化され、第１蛍光領域の変調画像と、第２蛍光領域の変調画像とが生成される。
　第１蛍光領域の変調画像と、第２蛍光領域の変調画像とは、制御装置３９を介して画像記憶・演算装置４０へと取り込まれる。さらに、取り込まれた第１蛍光領域の変調画像と、第２蛍光領域の変調画像との各々には、画像記憶・演算装置４０において復調演算が施され、第１蛍光領域の復調画像（超解像画像）と、第２蛍光領域の復調画像（超解像画像）とが生成される。そして、これらの超解像画像は、画像記憶・演算装置４０の内部メモリ（図示せず）に記憶されるとともに、画像表示装置４５へと送出される。なお、復調演算としては、例えば、米国特許８１１５８０６号明細書に開示された方法が用いられる。
　次に、回折格子１３を詳しく説明する。
　図２（Ａ）は、回折格子１３を光軸Ｏの方向から見た図であり、図２（Ｂ）は、±１次回折光束が瞳共役面に形成する集光点の位置関係を示す図である。なお、図２（Ａ）は模式図であるため、図２（Ａ）に示した回折格子１３の構造周期は実際の構造周期と同じとは限らない。また、ここでいう集光点とは、最大強度の８割以上の強度を有する領域の重心位置のことである。そのため、本実施形態の照明光学系１０は、完全な集光点が形成されるまで光束を集光する必要はない。
　図２（Ａ）に示すように、回折格子１３は、照明光学系１０の光軸Ｏと垂直な面内において互いに異なる複数方向にかけて周期構造を有した回折格子である。ここでは、回折格子１３は、６０°ずつ異なる第１方向Ｖ１、第２方向Ｖ２、第３方向Ｖ３の各々にかけて周期構造を有した３方向回折格子であって、それら周期構造の周期は共通であると仮定する。
　なお、回折格子１３の材質は、例えばガラスである。また、回折格子１３の周期構造は、濃度（透過率）を利用して形成された濃度型の周期構造、または段差（位相差）を利用して形成された位相型の周期構造の何れであってもよいが、位相差型の周期構造の方が＋１次回折光の回折効率が高いという点で好ましい。
　このような回折格子１３に入射した平行光束は、第１方向Ｖ１にかけて分岐した第１回折光束群と、第２方向Ｖ２にかけて分岐した第２回折光束群と、第３方向Ｖ３にかけて分岐した第３回折光束群とに変換される。
　第１回折光束群には、０次回折光束及び±１次回折光束が含まれ、このうち互いの次数が共通である±１次回折光束は、光軸Ｏに関して対称な方向に進行し、０次回折光束は、光軸Ｏに沿って進行する。
　同様に、第２回折光束群には、０次回折光束及び±１次回折光束が含まれ、このうち互いの次数が共通である±１次回折光束は、光軸Ｏに関して対称な方向に進行し、０次回折光束は、光軸Ｏに沿って進行する。
　同様に、第３回折光束群には、０次回折光束及び±１次回折光束が含まれ、このうち互いの次数が共通である±１次回折光束は、光軸Ｏに関して対称な方向に進行し、０次回折光束は、光軸Ｏに沿って進行する。
　これら第１回折光束群の±１次回折光束、第２回折光束群の±１次回折光束、第３回折光束群の±１次回折光束は、前述した集光レンズ１６により、瞳共役面６Ａ’の互いに異なる位置に集光される。
　そして、図２（Ｂ）に示すように、第１回折光束群の±１次回折光束の集光点１４ｄ、１４ｇは、光軸Ｏに関して対称であり、集光点１４ｄ、１４ｇの配列方向は第１方向Ｖ１に対応している。
　また、第２回折光束群の±１次回折光束の集光点１４ｃ、１４ｆは、光軸Ｏに関して対称であり、集光点１４ｃ、１４ｆの配列方向は、第２方向Ｖ２に対応している。なお、第２回折光束群の集光点１４ｃ、１４ｆから光軸Ｏまでの距離は、第１回折光束群の集光点１４ｄ、１４ｇから光軸Ｏまでの距離と同じである。
　また、第３回折光束群の±１次回折光束の集光点１４ｂ、１４ｅは、光軸Ｏに関して対称であり、集光点１４ｂ、１４ｅの配列方向は、第３方向Ｖ３に対応している。なお、第３光束群の集光点１４ｂ、１４ｅから光軸Ｏまでの距離は、第１回折光束群の集光点１４ｄ、１４ｇから光軸Ｏまでの距離と同じである。
　また、図２（Ｂ）に示すように、第１～第３回折光束群の各群の０次回折光束の集光点１４ａは、光軸Ｏ上に位置する。
　そして、以上の回折格子１３は、ピエゾモータ等からなる並進機構１５Ａ（図１参照）によって並進移動が可能である。並進機構１５Ａによる回折格子１３の並進移動の方向は、照明光学系１０の光軸Ｏと垂直な方向であって、前述した第１方向Ｖ１、第２方向Ｖ２、第３方向Ｖ３の各々に対して非垂直な方向である。この方向に回折格子１３が並進移動すると、干渉縞の位相がシフトする（詳細は後述。）。
　次に、０次光シャッタ２００を詳しく説明する。
　図３（Ａ）は、０次光シャッタ２００を説明する図である。図３（Ａ）に示すとおり０次光シャッタ２００は、円形の透明基板の一部に円形の遮光部２００Ｃを形成してなる空間フィルタである。
　０次光シャッタ２００の遮光部２００Ｃは、第１～第３回折光束群に共通する０次回折光束の光路（集光点１４ａ）をカバーし、０次光シャッッタ２００の非遮光部（透過部２００Ｂ）は、第１～第３回折光束群の各群の±１次回折光束の光路（集光点１４ｂ～１４ｇ）をカバーする。
　この０次光シャッタ２００は、回動機構２００Ａ（図１参照）により、照明光学系１０の光軸Ｏと平行、かつその光軸Ｏから離れた直線（軸ＡＲ）の周りに回動可能である。
　なお、回動機構２００Ａには、例えば、０次光シャッタ２００を保持し、かつ軸ＡＲの周りに回転可能な不図示の回動軸と、その回動軸へ回転力を与える不図示のモータ（回転モータ）とが備えられる。このモータが駆動されると、回転軸が回転し、０次光シャッタ２００が軸ＡＲの周りに回転する。
　０次光シャッタ２００の回動角が図３（Ａ）に示した基準角度（０°）に設定されると、遮光部２００Ｃが０次回折光束の光路に挿入され、０次光シャッタ２００の回動角が基準角度から外れた所定角度（例えば３０°）に設定されると、遮光部２００Ｃが０次回折光束の光路から外れる。
　したがって、０次光シャッタ２００の回動角を０°と３０°との間で切り換えれば、第１～第３回折光束群の各群の±１次回折光束をオンしたまま０次回折光束のみをオン／オフすることができる。
　但し、０次光シャッタ２００の回動角が基準角度（０°）、所定角度（３０°）の何れである場合にも、０次光シャッタ２００の遮光部２００Ｃは、第１～第３回折光束群の各群の±１次回折光束の光路を遮ることは無いものとする。
　また、ここでは０次光シャッタ２００を回動可能な空間フィルタとしたが、スライド可能な空間フィルタや、固定配置された液晶素子などで０次光シャッタ２００を構成してもよい。なお、液晶素子の配向を電気的に制御すれば、液晶素子の屈折率異方性を制御することができるので、液晶素子を０次光シャッタ２００として機能させることができる。
　次に、光束選択部材１８を詳しく説明する。
　図３（Ｂ）は、光束選択部材１８を説明する図である。図３（Ｂ）に示すとおり光束選択部材１８は、円形の不透明基板（マスク用基板）に、複数の円形開口部１８ａ、複数の円形開口部１８ｂ、複数の円形開口部１８ｃ、複数の円形開口部１８ｄ、複数の円形開口部１８ｅ、複数の円形開口部１８ｆ、複数の円形開口部１８ｇを形成してなる空間フィルタである。
　この光束選択部材１８は、回動機構１８Ａ（図１参照）によって回動可能であり、光束選択部材１８の回動軸は、照明光学系１０の光軸Ｏと平行であって、その光軸Ｏから外れている。因みに、光束選択部材１８の回動軸は、０次光シャッタ２００の軸ＡＲと一致している必要はないが、ここでは簡単のため軸ＡＲと一致していると仮定する。
　なお、回動機構１８Ａには、例えば、光束選択部材１８を保持し、かつ軸ＡＲの周りに回転可能な回動軸と、その回動軸へ回動力を与える不図示のモータ（回転モータ）とが備えられる。このモータが駆動されると回転軸が回転し、光束選択部材１８が軸ＡＲの周りに回転する。
　また、このように光束選択部材１８の軸ＡＲを照明光学系１０の光軸Ｏから外しておけば、第１方向Ｖ１に分岐した±１次回折光束（集光点１４ｄ、１４ｇ）から軸ＡＲまでの距離と、第２方向Ｖ２に分岐した±１次回折光束（集光点１４ｃ、１４ｆ）から軸ＡＲまでの距離と、第３方向Ｖ３に分岐した±１次回折光束（集光点１４ｂ、１４ｅ）から軸ＡＲまでの距離とを、互いにずらすことができる。
　このようにすれば、第１方向Ｖ１に分岐した±１次回折光束（集光点１４ｄ、１４ｇ）が光束選択部材１８に描く掃引軌道と、第２方向Ｖ２に分岐した±１次回折光束（集光点１４ｃ、１４ｆ）が光束選択部材１８に描く掃引軌道と、第３方向Ｖ３に分岐した±１次回折光束（集光点１４ｂ、１４ｅ）が光束選択部材１８に描く掃引軌道とを、互いに分離することができる。
　ここでは、軸ＡＲまでの距離が全ての回折光束（全ての集光点１４ａ～１４ｄ）の間でずれていると仮定する。この場合、全ての回折光束（全ての集光点１４ａ～１４ｄ）の間で軌道が分離される。
　図３（Ｂ）に示した軌道Ｏａは集光点１４ａの軌道であり、軌道Ｏｂは集光点１４ｂの軌道であり、軌道Ｏｃは集光点１４ｃの軌道であり、軌道Ｏｄは集光点１４ｄの軌道であり、軌道Ｏｅは集光点１４ｅの軌道であり、軌道Ｏｆは集光点１４ｆの軌道であり、軌道Ｏｇは集光点１４ｇの軌道である。
　光束選択部材１８の軌道Ｏａ上には、１８個の開口部１８ａが２０°の角度周期で等間隔に配置されている。これら１８個の開口部１８ａは、光束選択部材１８が２０°回動する度に集光点１４ａを開放する。なお、この集光点１４ａは、光束選択部材１８の回動角に拘らず、前述した０次光シャッタ２００によって適宜に遮光することが可能であるが、図３（Ｂ）では０次光シャッタ２００によって遮光されていない状態を想定した。
　光束選択部材１８の軌道Ｏｂ上には、６個の開口部１８ｂが６０°の角度周期で等間隔に配置されている。これら６個の開口部１８ｂは、光束選択部材１８が６０°回動する度に集光点１４ｂを開放する。
　光束選択部材１８の軌道Ｏｃ上には、６個の開口部１８ｃが６０°の角度周期で等間隔に配置されている。これら６個の開口部１８ｃは、光束選択部材１８が６０°回動する度に集光点１４ｃを開放する。
　光束選択部材１８の軌道Ｏｄ上には、６個の開口部１８ｄが６０°の角度周期で等間隔に配置されている。これら６個の開口部１８ｄは、光束選択部材１８が６０°回動する度に集光点１４ｄを開放する。
　光束選択部材１８の軌道Ｏｅ上には、６個の開口部１８ｅが６０°の角度周期で等間隔に配置されている。これら６個の開口部１８ｅは、光束選択部材１８が６０°回動する度に集光点１４ｅを開放する。
　光束選択部材１８の軌道Ｏｆ上には、６個の開口部１８ｆが６０°の角度周期で等間隔に配置されている。これら６個の開口部１８ｆは、光束選択部材１８が６０°回動する度に集光点１４ｆを開放する。
　光束選択部材１８の軌道Ｏｇ上には、６個の開口部１８ｇが６０°の角度周期で等間隔に配置されている。これら６個の開口部１８ｇは、光束選択部材１８が６０°回動する度に集光点１４ｇを開放する。
　また、個々の開口部１８ａ～１８ｇのサイズは、個々の集光点（図３の符号１４ａ～１４ｇ）のスポット相当のサイズに設定される。
　但し、少なくとも±１次回折光束に関係する開口部（開口部１８ｂ～１８ｇ）の各々のサイズは、光源波長の切り換え又は光源の多波長化に対処できるよう十分な大きさを有しているものとする。なぜなら、回折格子１３における±１次回折光束の回折角度は光源波長に依存するので、照明光学系１０の光軸Ｏから集光点１４ｂ、１４ｃ、１４ｄ、１４ｅ、１４ｆ、１４ｇまでの高さは光源波長に依存する。因みに、光源波長をλとおき、回折格子１３の構造周期をＰとおき、レンズ１６の焦点距離をｆｃとおくと、照明光学系１０の光軸Ｏから集光点１４ｂ、１４ｃ、１４ｄ、１４ｅ、１４ｆ、１４ｇまでの高さＤは、Ｄ∝２ｆｃλ／Ｐで表される。
　また、軸ＡＲの周りにおける１８個の開口部１８ａの全体の形成位置と、軸ＡＲの周りにおける６個の開口部１８ｂの全体の形成位置と、軸ＡＲの周りにおける６個の開口部１８ｃの全体の形成位置と、回転軸ＡＲの周りにおける６個の開口部１８ｄの全体の形成位置と、軸ＡＲの周りにおける６個の開口部１８ｅの全体の形成位置と、軸ＡＲの周りにおける６個の開口部１８ｆの全体の形成位置と、軸ＡＲの周りにおける６個の開口部１８ｇの全体の形成位置との関係は、光束選択部材１８によって同時に開放される集光点が、第１方向Ｖ１、第２方向Ｖ２、第３方向Ｖ３の何れか１方向に配列された集光点のみに制限されるように設定されている。図３（Ｂ）に示したのは、第１方向Ｖ１に配列した集光点１４ｄ、１４ａ、１４ｇのみが開放された様子である。
　以下、軸ＡＲの周りにおける光束選択部材１８の回動角をθ’とおき、図４に示すような回動角θ’をθ’＝０°とおく。また、光束選択部材１８によって開放される集光点の配列方向を光軸Ｏ周りの角度で表し、それを「光束選択角度θ」と称すると共に、図４に示すような光束選択角度θをθ＝０°とおく。
　先ず、図４に示すとおり、光束選択部材１８の回動角θ’が０°であるとき、光束選択角度θは０°となる（集光点の配列方向は第１方向Ｖ１）。
　次に、図５に示すとおり、光束選択部材１８の回動角θ’が２０°であるとき、光束選択角度θは６０°となる（集光点の配列方向は第２方向Ｖ２）。
　次に、図６に示すとおり、光束選択部材１８の回動角θ’が４０°であるとき、光束選択角度θは１２０°となる（集光点の配列方向は第３方向Ｖ３）。
　次に、図７に示すとおり、光束選択部材１８の回動角θ’が６０°であるとき、光束選択角度θは１８０°となる（集光点の配列方向は第１方向Ｖ１）。
　次に、図８に示すとおり、光束選択部材１８の回動角θ’が８０°であるとき、光束選択角度θは２４０°となる（集光点の配列方向は第２方向Ｖ２）。
　次に、図９に示すとおり、光束選択部材１８の回動角θ’が１００°であるとき、光束選択角度θは３００°となる（集光点の配列方向は第３方向Ｖ３）。
　したがって、本実施形態では、光束選択部材１８を軸ＡＲの周りに２０°の角度周期で回動させるだけで、選択される回折光束の分岐方向を６０°の角度周期で回動させること（つまり干渉縞の方向を６０°の角度周期で回動させること）ができる。
　ここで、比較のために従来例を説明する。従来例では、回折格子として、単一方向にかけて周期構造を有する１方向回折格子を用い、干渉縞の方向を６０°の角度周期で切り換えるために、その回折格子を６０°の角度周期で回動させていた。図１２に示すとおり、干渉縞の方向を６０°だけ回動させるための所要時間ｔ１は約８０ｍｓと長いのに対して、撮像素子の電荷蓄積時間は例えば約５ｍｓ、撮像素子の電荷読出時間は例えば約１０～３５ｍｓと短い。このため従来例では、撮像素子のフレーム周期を定める際に、干渉縞の方向を６０°だけ回動させるための所要時間ｔ１が律速となり、フレーム周期を短くすることが難しかった。
　しかしながら、本実施形態では、干渉縞の方向を切り換えるための部材（ここでは光束選択部材１８１）の回動角度周期が２０°に抑えられるので、干渉縞の方向を６０°だけ回動させるための所要時間ｔ２は、従来例の所要時間ｔ１よりも大幅に短くなる。図１３に示した三角形ＯＡｔ１の面積は、従来例における回折格子の回動量（６０°）に相当し、三角形ＯＡ’ｔ２の面積は、本実施形態における光束選択部材１８の回動量（２０°）に相当する。本実施形態の所要時間ｔ２は、三角形ＯＡ’ｔ２の面積が三角形ＯＡｔ１の面積の１／３になるような時間である（但し、従来例の回折格子の光軸周りの慣性モーメントと本実施形態の光束選択部材１８の軸ＡＲの周りの慣性モーメントとは等しいと仮定した。）。よって、本実施形態の所要時間ｔ２は、従来例の所要時間ｔ１の１／３よりは長いものの、従来例の所要時間ｔ１より格段に短い（例えば、ｔ２＝５ｍｓｅｃである。）。したがって、本実施形態では、その所要時間が短くなった分だけ撮像素子のフレーム周期を短くすることもできる。
　次に、偏光板２３及び１／２波長板１７の機能を詳しく説明する。
　図１０は、偏光板２３及び１／２波長板１７の機能を説明する図である。
　偏光板２３及び１／２波長板１７は、標本５へ入射する回折光束の偏光状態をＳ偏光に制御するために使用される。標本５へ入射する回折光束をＳ偏光に制御すれば、干渉縞のコントラストを高く維持することができるからである。
　先ず、図１０（Ａ）に示すとおり、光束選択部材１８で選択される回折光束群の分岐方向が第１方向Ｖ１であるときには、その回折光束群の偏光方向は、図１０（Ａ）に点線矢印で示した方向Ｖ１’とされるべきである。方向Ｖ１’は、方向Ｖ１を光軸Ｏ周りに９０°だけ回転させた方向である。
　次に、図１０（Ｂ）に示すとおり、光束選択部材１８で選択される回折光束群の分岐方向が第２方向Ｖ２であるときには、その回折光束群の偏光方向は、図１０（Ｂ）に点線矢印で示した方向Ｖ２’とされるべきである。方向Ｖ２’は、方向Ｖ２を光軸Ｏ周りに９０°だけ回転させた方向である。
　次に、図１０（Ｃ）に示すとおり、光束選択部材１８で選択される回折光束群の分岐方向が第３方向Ｖ３であるときには、その回折光束群の偏光方向は、図１０（Ｃ）に点線矢印で示した方向Ｖ３’とされるべきである。この方向Ｖ３’は、方向Ｖ３を光軸Ｏ周りに９０°だけ回転させた方向である。
　そこで、本実施形態では、偏光板２３の軸方向を、予め決められた方向に固定し、１／２波長板１７を回動機構１７Ａ（図１参照）によって光軸Ｏの周りに回動させる。
　なお、回動機構１７Ａには、例えば、１／２波長板１７を保持し、かつ光軸Ｏの周りに回転可能な不図示の保持部材と、その保持部材の周りに形成された不図示の第１の歯車と、第１の歯車に噛み合う不図示の第２の歯車と、第２の歯車に連結された不図示のモータ（回転モータ）とが備えられる。このモータが駆動されると第２の歯車が回転し、その回転力が第１の歯車へと伝達され、１／２波長板１７が光軸Ｏの周りに回転する。
　ここでは、偏光板２３の軸方向を、白抜き矢印で示すとおり方向Ｖ２’と同じに固定する。この場合、１／２波長板１７へ入射する時点における回折光束群の偏光方向は、方向Ｖ２’と同じになる。
　よって、図１０（Ａ）に示すとおり、選択される回折光束群の分岐方向が第１方向Ｖ１であるときには、１／２波長板１７の進相軸の方向は、図１０（Ａ）に実線矢印で示すとおり、方向Ｖ２’と方向Ｖ１’とを二等分する方向に設定されればよい。なお、1／２波長板１７の進相軸とは、その軸の方向に偏光した光が１／２波長板１７を通過するときの位相遅延量が最小となるような方向のことである。
　また、図１０（Ｂ）に示すとおり、選択される回折光束群の分岐方向が第２方向Ｖ２であるときには、１／２波長板１７の進相軸の方向は、図１０（Ｂ）に実線矢印で示すとおり、方向Ｖ２’と同じに設定されればよい。
　また、図１０（Ｃ）に示すとおり、選択される回折光束群の分岐方向が第３方向Ｖ３であるときには、１／２波長板１７の進相軸の方向は、図１０（Ｃ）に実線矢印で示すとおり、方向Ｖ１’と方向Ｖ３’とを二等分する方向に設定されればよい。
　したがって、光軸Ｏ周りにおける１／２波長板１７の回動角をθ”とおき、分岐方向が第１方向Ｖ１であるときにおける回動角θ”をθ”＝－３０°とおくと、分岐方向が第２方向第１方向Ｖ２であるとき（図１０（Ｂ））には回動角θ”を０°に設定し、分岐方向が第３方向Ｖ３であるとき（図１０（Ｃ））には回動角θ”を＋３０°に設定すればよい。
　すなわち、本実施形態では、回動機構１８Ａが光束選択部材１８の回動角θ’を２０°の角度周期で「０°」→「２０°」→「４０°」と切り換える際に、回動機構１７Ａは１／２波長板１７の回動角θ”を３０°の角度周期で「－３０°」→「０°」→「＋３０°」と切り換えればよい。
　なお、本実施形態では、１／２波長板１７の回動角θ”を１角度周期（ここでは３０°）だけ切り換えるために必要な時間は５ｍｓｅｃ未満と仮定する。この時間は、光束選択部材１８を１角度周期（ここでは２０°）だけ切り換えるために必要な時間とほぼ同等である。
　上述したとおり本実施形態では、干渉縞の方向を切り換えるために必要な時間（ここでは光束選択部材１８を１角度周期だけ切り換えるために必要な時間）を抑えたので、１／２波長板の進相軸の回動角を１角度周期だけ切り換えるために必要な時間も、それと同等以下に抑えられることが望ましい。
　そのために例えば、回動可能な１／２波長板１７の代わりに、固定配置された液晶素子を使用し、その液晶素子を１／２波長板１７として機能させてもよい。液晶素子の配向を電気的に制御すれば、液晶素子の屈折率異方性を高速に制御することができるので、１／２波長板としての進相軸を高速に回転させることができる。因みに、標本５に入射する回折光束群をＳ偏光に保つための方法は他にもある（後述）。
　次に、並進機構１５Ａ（図１参照）の機能を詳しく説明する。
　図１１は、並進機構１５Ａの機能を説明する図である。
　先ず、上述した復調演算には、例えば、同一の標本５かつ同一方向の干渉縞に関する変調画像であって、干渉縞の位相の異なる２枚以上の変調画像が使用される可能性がある。なぜなら、構造化照明顕微鏡装置１が生成する変調画像には、標本５の蛍光領域の構造のうち、干渉縞により空間周波数の変調された構造情報である０次変調成分、＋１次変調成分、－１次変調成分が含まれており、それら３つの未知パラメータを復調演算で既知とする必要があるからである。
　そこで、並進機構１５Ａは、干渉縞の位相をシフトするために、図１１（Ａ）に示すように、照明光学系１０の光軸Ｏと垂直な方向であって、前述した第１方向Ｖ１、第２方向Ｖ２、第３方向Ｖ３の全てに対して非垂直な方向（ｘ方向）にかけて回折格子１３をシフトさせる。
　但し、干渉縞の位相を所望のシフト量φだけシフトさせるのに必要な回折格子１３のシフト量Ｌは、光束選択部２４による光束選択方向（＝選択される回折光束群の分岐方向）が第１方向Ｖ１であるときと、第２方向Ｖ２であるときと、第３方向Ｖ３であるときとでは、同じとは限らない。
　図１１（Ｂ）に示すとおり、回折格子１３の第１方向Ｖ１、第２方向Ｖ２、第３方向Ｖ３の各々の構造周期をＰとおき、回折格子１３のシフト方向（ｘ方向）と第１方向Ｖ１とのなす角をθ１とおき、回折格子１３のシフト方向（ｘ方向）と第２方向Ｖ２とのなす角をθ２とおき、回折格子１３のシフト方向（ｘ方向）と第３方向Ｖ３とのなす角をθ３とおくと、光束選択方向が第１方向Ｖ１であるときに必要な回折格子１３のｘ方向のシフト量Ｌ１は、Ｌ１＝φ×Ｐ／（ａ×４π×｜ｃｏｓθ１｜）で表され、光束選択方向が第２方向Ｖ２であるときに必要な回折格子１３のｘ方向のシフト量Ｌ２は、Ｌ２＝φ×Ｐ／（ａ×４π×｜ｃｏｓθ２｜）で表され、光束選択方向が第３方向Ｖ３であるときに必要な回折格子１３のｘ方向のシフト量Ｌ３は、Ｌ３＝φ×Ｐ／（ａ×４π×｜ｃｏｓθ３｜）で表される。
　すなわち、干渉縞の位相シフト量を所望の値φとするために必要な回折格子１３のｘ方向のシフト量Ｌは、光束選択方向（第１方向Ｖ１、第２方向Ｖ２、第３方向Ｖ３の何れか）とｘ方向とのなす角θにより式（１）のとおり表される。
　Ｌ＝φ×Ｐ／（ａ×４π×｜ｃｏｓθ｜）　…（１）
　因みに、干渉縞の位相シフト量φを２πとするために必要な回折格子１３のｘ方向のシフト量Ｌは、Ｐ／（ａ×２×｜ｃｏｓθ｜）となる。これは、回折格子１３の半周期に相当する量である。つまり、回折格子１３を半周期分シフトさせるだけで、構造化照明光の位相を１周期分シフトできる（なぜなら、±１次回折光からなる構造化照明光の縞周期は、回折格子１３の構造周期の２倍に相当する。）。
　但し、ａ＝１（Ｍ＝１、２のとき）、ａ＝２（Ｍ＝３のとき）である。Ｍは、回折格子１３が有する周期構造の方向数である。
　次に、制御装置３９の動作手順を説明する。
　制御装置３９は、以下の手順（１）～（５）を実行することにより、超解像画像を生成するのに必要なデータを取得する。
　（１）制御装置３９は、レーザユニット１００の出射波長（光源波長）を、２種類の波長λ１、λ２の双方に設定する。また、回動機構２００Ａを駆動することにより、０次回折光束をオフする。
　（２）制御装置３９は、回動機構１８Ａ、１７Ａを駆動することにより、光束選択部材１８の回動角θ’を０°に設定すると共に、１／２波長板１７の回動角θ”を－３０°に設定する。
　（３）制御装置３９は、並進機構１５Ａを駆動することにより、干渉縞の位相を複数段階にシフトさせると共に、それら位相の各々の下で、レーザユニット１００、第１撮像素子３５１、第２撮像素子３５２を駆動することにより、複数枚の画像を波長毎に取得する。
　（４）制御装置３９は、回動機構１８Ａ、１７Ａを駆動することにより、光束選択部材１８の回動角θ’を＋２０°だけ変化させると共に、１／２波長板１７の回動角θ”を＋３０°だけ変化させる。そして制御装置３９は、その設定下で手順（３）を実行する。
　（５）回動機構１８Ａ、１７Ａを駆動することにより、光束選択部材１８の回動角θ’を＋２０°だけ変化させると共に、１／２波長板１７の回動角θ”を＋３０°だけ変化させる。そして制御装置３９は、その設定下で手順（３）を実行する（以上、手順（５））。
　上述したとおり本実施形態では、干渉縞の方向切り換えを高速化できるので、手順（４）、（５）を高速化することができる。したがって、本実施形態では、超解像に必要なデータの取得速度を高めることができる。
　なお、本実施形態の制御装置３９は、手順（１）～（５）からなる一連の処理を繰り返し、本実施形態の画像記憶・演算装置４０は、その一連の処理が完了する度に超解像画像の生成（更新）を行ってもよい。上述したとおり本実施形態では一連の処理が高速化されるので、超解像画像の更新頻度も高まる。
　但し、一連の処理を繰り返す場合、２回目以降の処理では、制御装置３９は上述した手順（１）、（２）の代わりに以下の手順（１’）を実行すればよい。
　（１’）制御装置３９は、回動機構１８Ａ、１７Ａを駆動することにより、光束選択部材１８の回動角θ’を＋２０°だけ変化させると共に、１／２波長板１７の回動角θ”を－３０°に設定する。
　［第１実施形態の補足］
　なお、上述した実施形態では、光軸Ｏ周りに６０°の角度周期で複数の分岐光路（複数の集光点）が形成されるように回折光束の分岐パターン（回折格子の構造）を設定し、光束選択部材１８を２０°の角度周期で回動させることにより標本５へ入射する回折光束の分岐方向を切り換えた。
　しかし、光軸Ｏ周りにおける分岐光路の形成角度周期（集光点の形成角度周期）と、回動軸周りにおける光束選択部材１８の回動角度周期との組み合わせは、前者の角度周期よりも後者の回動角度周期の方が小さいのであれば、他の組み合わせに設定されてもよい。例えば、光軸Ｏ周りにおける分岐光路の形成角度周期を６０°、光束選択部材１８の回動角度周期を３０°としてもよく、光軸Ｏ周りにおける分岐光路の形成角度周期を９０°、光束選択部材１８の回動角度周期を４５°としてもよい。
　また、上述した実施形態では、複数の光束から一部の光束を選択する部材（光束選択部材）として、透過型のマスク部材（つまり、透過部からなる開口部と遮光部からなる非開口部とを有したマスク部材）を使用したが、反射型のマスク部材（つまり、反射部からなる開口部と遮光部からなる非開口部とを有したマスク部材）を使用してもよい。
　また、透過型のマスク部材において、開口部の透過率、非開口部の透過率は、それぞれ１００％、０％であることが望ましいが、開口部の透過率の方が非開口部の透過率よりも高ければ、それぞれ１００％、０％から外れていてもよい。
　また、反射型のマスク部材において、開口部の反射率、非開口部の反射率は、それぞれ１００％、０％であることが望ましいが、開口部の反射率の方が非開口部の反射率よりも高ければ、それぞれ１００％、０％から外れていてもよい。
　また、上述した実施形態では、光軸Ｏから集光点までの高さを、ＴＩＲＦＭに適した高さと、ＳＩＭに適した高さとの間で切り替えるために、光路に挿入される回折格子１３を、ＴＩＲＦ－ＳＩＭモード用の回折格子と、ＳＩＭモード用の回折格子との間で切り替えてもよい。ＴＩＲＦ－ＳＩＭモード用の回折格子と、ＳＩＭモード用の回折格子との間では、互いの構造周期が異なる。
　また、上述した実施形態では、０次光回折光束をオフして標本５へ投影する干渉縞を２光束干渉縞とした（すなわち、構造化照明顕微鏡装置１を２Ｄ－ＳＩＭモードで使用する例を説明した）が、０次光回折光束をオンすれば、標本５へ投影する干渉縞を３光束干渉縞とすること（すなわち、構造化照明顕微鏡装置１を３Ｄ－ＳＩＭモードで使用すること）も可能である。
　このように、３つの回折光束の干渉（３光束干渉）によって生成される干渉縞は、標本２の表面方向だけでなく、標本５の深さ方向にも空間変調されている。よって、この干渉縞によると、標本５の深さ方向にも超解像効果を得ることができる。
　但し、構造化照明顕微鏡装置１を３Ｄ－ＳＩＭモードで使用する場合には、０次回折光束と±１次回折光束との間の強度バランスを調整するために、例えば０次回折光束の単独光路へ減光フィルタ（ＮＤフィルタ）を配置することが望ましい。これを実現するためには、例えば、光束選択部材１８における１８個の開口部１８ａの各々に減光膜を設けてもよい。
　また、２Ｄ－ＳＩＭモードと３Ｄ－ＳＩＭモードとの間では、画像記憶・演算装置４０が実行すべき復調演算の内容が異なる。なぜなら、２Ｄ－ＳＩＭモードで生成される変調画像には、蛍光の０次変調成分、蛍光の＋１次変調成分、蛍光の－１次変調成分の３成分が重畳されているのに対して、３Ｄ－ＳＩＭモードで生成される変調画像には、蛍光の０次変調成分、蛍光の＋１次変調成分、蛍光の－１次変調成分、蛍光の＋２次変調成分、蛍光の－２次変調成分の５成分が重畳されているからである。
　また、２Ｄ－ＳＩＭモードと３Ｄ－ＳＩＭモードとの間では、変調画像に重畳する変調成分の数が異なるので、制御装置４３が取得すべき変調画像のフレーム数なども異なる。
　また、上述した実施形態では、干渉縞の位相をシフトさせるために回折格子１３をシフトさせたが、回折格子１３をシフトさせる代わりに、±１次回折光束の光路長差を変化させてもよい。その場合は、例えば、＋１次回折光束の光路と－１次回折光束の光路との少なくとも一方に対して位相板を挿脱させてもよい。
　但し、位相板の厚さと位相シフト量との関係は、使用波長によって異なるので、厚さの異なる複数の位相板をターレットに装着し、それらの位相板を光源波長に応じて選択的に光路へ挿入してもよい。
　また、上述した実施形態では、光源波長の数を２としたが、１としてもよく、また、２以上に拡張してもよい。
　また、上述した実施形態では、標本５に入射する±１次回折光束をＳ偏光に保つために、光軸Ｏの周りを回動可能な１／２波長板１７を使用したが、固定配置された１／４波長板と光軸Ｏの周りを回動可能な１／４波長板との組み合わせを使用してもよい。
　その場合、固定配置された１／４波長板の進相軸の方向は、その１／４波長板に入射する回折光束の偏光方向に対して４５°の角度を成すように設定され、回動可能な１／４波長板の進相軸の方向は、その１／４波長板を射出する回折光束が有するべき偏光方向に対して４５°の角度を成すように設定される。
　但し、回動可能な１／４波長板を使用する場合、その１／４波長板を６０°の角度周期で回動させる必要があるので、干渉縞の方向切り換え速度をより高めるためには、回動可能な１／４波長板よりも回動可能な１／２波長板（回動角度周期は３０°）を使用するか、或いは、波長板の代わりに固定配置された液晶素子（進相軸の方向は電気制御）を使用することが望ましい。
　また、上述した実施形態では、干渉縞（２Ｄ－ＳＩＭモードの２光束干渉縞又は３Ｄ－ＳＩＭモードの３光束干渉縞）を形成するための回折光として、±１次回折光及び０次回折光の組み合わせを用いたが、他の組み合わせを用いてもよい。３光束干渉縞を形成するためには、回折次数の間隔が等間隔な３つの回折光による３光束干渉を生起させればよいので、例えば、０次回折光、１次回折光、２次回折光の組み合わせ、±２次回折光及び０次回折光の組み合わせ、±３次回折光及び０次回折光の組み合わせ、などを用いることが可能である。
　なお、上述した何れかの例の照明光学系１０は、対物レンズ６による落射照明光学系で構成されたが、これに限られず、対物レンズ６に代えてコンデンサレンズによる透過・反射照明光学系で構成されてもよい。その場合、集光点が形成されるのは、コンデンサレンズの瞳面である。
　［実施形態のまとめ］
　以上、本実施形態の構造化照明装置（照明光学系１０）は、光源（レーザユニット１００）からの射出光束を所定の軸（光軸Ｏ）の周りで分岐方向が異なる複数の分岐光束（集光点１４ａ～１４ｇなど）に分岐する分岐部（回折格子１３）と、複数の分岐光束のうち、所定の分岐方向の所定数の分岐光束（集光点１４ｄ、１４ｇなど）のみを選択する所定数の選択部（開口部）からなる組を少なくとも１組有した光束選択部材（１８）と、選択された所定数の分岐光束による干渉縞を標本（５）に形成する光学系（集光レンズ２５、フィールドレンズ２７、対物レンズ６）と、光学系の光軸から外れた軸（ＡＲ）の周りに光束選択部材（１８）を回動させ、選択される所定数の分岐光束の組み合わせを切り換えることにより、干渉縞の方向を切り換える回動機構（１８Ａ）とを備え、光束選択部材（１８）の回動に伴って光束選択部材（１８）上を移動する分岐光束であって、干渉縞の形成に寄与する分岐光束（集光点１４ａ～１４ｇなど）の各軌跡（掃引軌道Ｏａ～Ｏｇなど）上には、１以上の選択部（開口部）が形成されている。
　したがって、本実施形態の構造化照明装置（照明光学系１０）は、干渉縞の方向切り換えに必要な光束選択部材（１８）の回動角度周期を、小さく抑えることが可能である。
　また、本実施形態の構造化照明装置（照明光学系１０）では、光束選択部材（１８）の回動に伴って光束選択部材（１８）上を移動する分岐光束であって、干渉縞の形成に寄与する分岐光束の各軌跡（掃引軌道Ｏａ～Ｏｇなど）上には、２以上の選択部（開口部）が形成されている。
　したがって、本実施形態の構造化照明装置（照明光学系１０）は、干渉縞の方向切り換えに必要な光束選択部材（１８）の回動角度周期を、更に小さく抑えることが可能である。
　また、本実施形態の構造化照明装置（照明光学系１０）では、切り換え前に選択される所定数の分岐光束のうち少なくとも２つ（±１次回折光束）と、切り換え後に選択される所定数の分岐光束のうち少なくとも２つ（±１次回折光束）との間では、軌跡が互いに分離されている。
　また、本実施形態の構造化照明装置（照明光学系１０）では、複数の分岐光束（集光点１４ｂ～１４ｇ）の間で軌跡が互いに分離されるように設定されている。
　したがって、光束選択部材（１８）に形成すべき選択部（開口部）の配置自由度が高められ、光束選択部材（１８）の回動角度周期を小さく抑えることが容易になる。
　また、本実施形態の構造化照明装置（照明光学系１０）では、複数の分岐光束（集光点１４ａ～１４ｇ）には、光軸（Ｏ）周りに第１角度周期で分岐した複数の分岐光束（集光点１４ｂ～１４ｇ）が含まれ、回動の角度周期は、第１角度周期よりも小さい第２角度周期である。
　したがって、光束選択部材（１８）の回動角度周期は、複数の分岐光束（集光点１４ｂ～１４ｇ）の分岐角度周期より小さい。
　例えば、本実施形態の構造化照明装置（照明光学系１０）において、第１の角度周期が６０°であり、第２の角度周期が２０°であるならば、光束選択部材（１８）の回動角度周期は、複数の分岐光束（集光点１４ｂ～１４ｇ）の分岐角度周期の１／３となる。
　また、本実施形態の構造化照明装置（照明光学系１０）は、干渉縞の位相をシフトさせる位相シフト部（並進機構１５Ａ）を更に備える。
　また、本実施形態の構造化照明顕微鏡装置（１）は、本実施形態の照明装置（照明光学系１０）と、干渉縞で空間変調された標本の画像である変調画像を撮像する撮像素子（３５１、３５２）とを備える。
　また、本実施形態の構造化照明顕微鏡装置（１）は、変調画像に基づき標本の復調画像を生成する演算手部（画像記憶・演算装置４０）を更に備える。
　したがって、本実施形態の構造化照明顕微鏡装置（１）は、復調画像の生成を効率的に行うことができる。
　［第２のまとめ］
　以下、別の視点で本実施形態を説明する。
　本実施形態の照明装置（照明光学系１０）は、光源（レーザユニット１００）からの光を複数の光束（集光点１４ａ～１４ｇなど）に分岐する分岐部（回折格子１３など）と、複数の光束から一部の光束（集光点１４ｄ、１４ｇなど）を選択する光束選択部材（１８）と、選択された一部の光束で物体（標本５）を照明する光学系（集光レンズ２５、フィールドレンズ２７、対物レンズ６など）と、光束選択部材を回動させることにより照明を切り換える回動機構（１８Ａ）とを有し、光束選択部材の回動軸（軸ＡＲ）は、複数の光束の分岐中心（光軸Ｏ）から外れた位置に設けられ、回動軸を中心とする２以上の円（掃引軌道Ｏｂ、Ｏｃなど）の各周上には、光束を選択する選択部（開口部）が所定の間隔で複数設けられる。
　また、本実施形態の照明装置（照明光学系１０）では、２以上の円（掃引軌道Ｏｂ、Ｏｃなど）の各周上には、光束を選択する選択部（開口部）と光束を選択しない非選択部（遮光部）とが交互に設けられている。
　また、本実施形態の照明装置（照明光学系１０）では、複数の光束（集光点１４ａ～１４ｇ）それぞれに対応して円（掃引軌道Ｏａ～Ｏｇ）が設けられている。
　また、複数の光束には、互いに異なる方向（方向Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３など）に分岐した複数の光束群が含まれ、複数の光束群のうち一部の光束として選択されるのは１方向の光束群のみであり、物体は、１方向の光束群による干渉縞で照明される。
　また、複数の光束群の少なくとも２方向（方向Ｖ１，Ｖ２など）それぞれに対応して円（掃引軌道）が設けられている。
　また、複数の光束群の各方向（方向Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３）それぞれに対応して円（掃引軌道）が設けられている。
　また、光学系の光軸を中心とした複数の光束群の方向角度周期は、第１の角度周期であり、回動軸を中心とした複数の選択部の形成角度周期は、第１の角度周期よりも小さい第２の角度周期である。
　また、第１の角度周期は６０°であり、第２の角度周期は２０°である
　また、分岐部は、回折光学素子である。
　また、本実施形態の照明装置（照明光学系１０）は、干渉縞の位相をシフトさせる位相シフト部（並進機構１５Ａ）を更に備える。
　また、本実施形態の構造化照明顕微鏡装置（１）は、本実施形態の照明装置（照明光学系１０）と、干渉縞で空間変調された物体の変調像を形成する結像光学系（３０）と、結像光学系により形成された変調像を撮像して変調画像を生成する撮像素子（撮像素子３５１など）とを備える。
　また、本実施形態の構造化照明顕微鏡装置（１）は、撮像素子により生成された変調画像に基づき物体の復調画像を生成する演算部（画像記憶・演算装置４０）を更に備える。
　［その他］
　なお、上述の各実施形態の要件は、適宜組み合わせることができる。また、一部の構成要素を用いない場合もある。また、法令で許容される限りにおいて、上述の各実施形態及び変形例で引用した装置などに関する全ての公開公報及び米国特許の開示を援用して本文の記載の一部とする。
　１…構造化照明顕微鏡装置、１００…レーザユニット、１１…光ファイバ、１０…照明光学系、３０…結像光学系、３５１…第１撮像素子、３５２…第２撮像素子、３９…制御装置、４０…画像記憶・演算装置、４５…画像表示装置、１２…コレクタレンズ、２３…偏光板、１５…光束分岐部、１６…集光レンズ、２４…光束選択部、２５…レンズ、２６…視野絞り、２７…フィールドレンズ、２８…励起フィルタ、７…ダイクロイックミラー、６…対物レンズ、５…標本、１７…１／２波長板、１８…光束選択部材、１７Ａ…回動機構、１８Ａ…回動機構、２００…０次光シャッタ、２００Ａ…回動機構、１５Ａ…並進機構

Claims (12)

  1. 　光源からの光を複数の光束に分岐する分岐部と、
    　前記複数の光束から一部の光束を選択する光束選択部材と、
    　選択された前記一部の光束で物体を照明する光学系と、
    　前記光束選択部材を回動させることにより前記照明を切り換える回動機構とを有し、
    　前記光束選択部材の回動軸は、前記複数の光束の分岐中心から外れた位置に設けられ、
    　前記回動軸を中心とする２以上の円の各周上には、光束を選択する選択部が所定の間隔で複数設けられている
    　ことを特徴とする照明装置。
  2. 　請求項１に記載の照明装置において、
    　前記複数の光束それぞれに対応して前記円が設けられている
    　ことを特徴とする照明装置。
  3. 　請求項２に記載の照明装置において、
    　前記２以上の円の各周上には、光束を選択する選択部と光束を選択しない非選択部とが交互に設けられている
    　ことを特徴とする照明装置。
  4. 　請求項１に記載の照明装置において、
    　前記複数の光束には、互いに異なる方向に分岐した複数の光束群が含まれ、
    　前記複数の光束群のうち前記一部の光束として選択されるのは１方向の光束群のみであり、
    　前記物体は、前記１方向の光束群による干渉縞で照明される
    　ことを特徴とする照明装置。
  5. 　請求項４に記載の照明装置において、
    　前記複数の光束群の少なくとも２方向それぞれに対応して前記円が設けられている
    　ことを特徴とする照明装置。
  6. 　請求項４に記載の照明装置において、
    　前記複数の光束群の各方向それぞれに対応して前記円が設けられている
    　ことを特徴とする照明装置。
  7. 　請求項４～請求項６の何れか一項に記載の照明装置において、
    　前記光学系の光軸を中心とした前記複数の光束群の方向角度周期は、第１の角度周期であり、
    　前記回動軸を中心とした複数の前記選択部の形成角度周期は、前記第１の角度周期よりも小さい第２の角度周期である
    　ことを特徴とする照明装置。
  8. 　請求項７に記載の照明装置において、
    　前記第１の角度周期は６０°であり、
    　前記第２の角度周期は２０°である
    　ことを特徴とする照明装置。
  9. 　請求項４～請求項８の何れか一項に記載の照明装置において、
    　前記分岐部は、
    　回折光学素子である
    　ことを特徴とする照明装置。
  10. 　請求項４～請求項９の何れか一項に記載の照明装置において、
    　前記干渉縞の位相をシフトさせる位相シフト部を更に備える
    　ことを特徴とする照明装置。
  11. 　請求項４～請求項１０の何れか一項に記載の照明装置と、
    　前記干渉縞で空間変調された前記物体の変調像を形成する結像光学系と、
    　前記結像光学系により形成された前記変調像を撮像して変調画像を生成する撮像素子と、
    　を備えたことを特徴とする構造化照明顕微鏡装置。
  12. 　請求項１１に記載の構造化照明顕微鏡装置において、
    　前記撮像素子により生成された前記変調画像に基づき前記物体の復調画像を生成する演算部を更に備える
    　ことを特徴とする構造化照明顕微鏡装置。
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