TWI632373B - 治具平台 - Google Patents

Abstract

一種治具平台，適用於與一頂針測試治具，頂針測試治具具有一凹部及複數針孔，該些針孔設置於凹部並貫穿頂針測試治具，治具平台包括一底座、複數固定架、一調整平台以及至少一調整元件。底座用以提供頂針測試治具放置。該些固定架分隔設置於底座，該些固定架的上表面用以提供頂針測試治具的凹部的底面接觸。調整平台可活動地設置於該些固定架之間，且調整平台的高度小於該些固定架的高度，複數頂針分別穿設頂針測試治具的該些針孔而露出該些針孔並頂抵調整平台的上表面。調整元件設置於調整平台下方，以連結並調整調整平台的升降。

Description

治具平台

本發明係關於一種治具平台，特別關於與頂針測試治具配合的治具平台。

隨著科技發展，電子產品大量地應用在日常生活中，且在電子產品銷售到市面上之前，會在工廠或檢測單位進行完整的產品測試，特別是針對印刷電路板(Printed Circuit Board，PCB)上的電子元件進行功能測試時，需要藉由各種的測試治具來進行後續的電性測試。

在傳統上，頂針測試治具需針對不同的頂針設計出對應的頂針卡槽，以確保每根頂針在露出頂針測試治具時，皆能使各端部維持在相同的水平高度，最後再將頂針從頂針測試治具背面焊接固定於印刷電路板上。然而，頂針測試治具的卡槽設計與頂針的外型的配合有其專屬性，若更換不同外型的頂針進行功能測試時，原本的頂針測試治具則無法適配，而必須重新製作對應的新頂針測試治具，頂針測試治具與各種頂針的相容性低，造成測試時間延長，測試成本過高。

除此之外，若改用通用型頂針測試治具進行功能測試時，頂針卡槽則須改為通孔來適配不同外型的頂針，雖提高頂針測試治具與各種頂針的相容性，卻無法利用頂針測試治具的頂針卡槽來固定頂針，造成焊接時頂針高低不平的機率提升，使頂針與電子元件於測試時接觸不良，進而影響測試的準確度。

因此，如何解決頂針與印刷電路板焊接時，頂針高低不平的問題，同時又能提升頂針測試治具與各種頂針適配性，實為當前重要課題之一。

有鑑於上述課題，本發明之目的為提供一種治具平台，能與各種頂針測試治具配合，並提升與各種頂針的適配性，同時避免頂針焊接時產生高低不平的的問題，進而優化電子元件的測試效果。

達上述目的，本發明提供一種治具平台，適用於與一頂針測試治具，頂針測試治具具有一凹部及複數針孔，該些針孔設置於凹部並貫穿頂針測試治具，治具平台包括一底座、複數固定架、一調整平台以及至少一調整元件。底座用以提供頂針測試治具放置。該些固定架分隔設置於底座，該些固定架的上表面用以提供頂針測試治具的凹部的底面接觸。調整平台可活動地設置於該些固定架之間，且調整平台的高度小於該些固定架的高度，複數頂針分別穿設頂針測試治具的該些針孔而露出該些針孔並頂抵調整平台的上表面。調整元件設置於調整平台下方，以連結並調整調整平台的升降。

在一實施例中，各該些調整元件為墊片或墊塊，各該些調整元件設置於底座與調整平台之間，使調整平台與底座分離。

在一實施例中，各該些調整元件為螺絲或螺柱，各該些調整元件穿設底座並頂抵調整平台的下表面，各該些調整元件帶動調整平台朝底座或凹部的方向移動。

在一實施例中，調整平台的下表面具有至少一凹孔，凹孔與各該些調整元件對應設置。

在一實施例中，調整平台的上表面與該些固定架的上表面之間的距離為1~5毫米。

在一實施例中，各該些固定架包括至少一磁性元件，與頂針測試治具的至少一磁性元件或至少一金屬件相對應，用以固定頂針測試治具。

在一實施例中，各該些固定架包括至少一卡固結構，卡固結構與頂針測試治具的外形或至少一卡固結構相對應，用以固定頂針測試治具。

在一實施例中，調整平台的上表面為一平面，且調整平台與各該些固定架接觸。

在一實施例中，調整平台朝向該些固定架的表面具有一凸塊結構，而各該些固定架朝向調整平台的表面具有與凸塊結構相對應的一滑槽結構。

在一實施例中，調整平台朝向該些固定架的表面具有一滑槽結構，而各該些固定架朝向調整平台的表面具有與滑槽結構相對應的一凸塊結構。

承上所述，本發明的治具平台是將頂針測試治具放置於底座上，再將複數頂針分別穿設且露出於頂針測試治具的該些針孔，使各頂針頂抵調整平台的上表面以達到各頂針的端部水平對齊的目的。此外，亦可藉由調整元件連結並調整調整平台的升降，以控制並調整各頂針露出的長度。本發明的治具平台可使頂針與印刷電路板焊接時，各頂針高低不平的問題得以獲得解決，使各頂針的端部水平對齊，改善通用型頂針測試治具的缺點，增加頂針測試治具與各種頂針的適配性，進而優化電子元件的測試效果。

1、1a、1b‧‧‧治具平台

11‧‧‧底座

12‧‧‧固定架

121、33‧‧‧磁性元件

13‧‧‧調整平台

131‧‧‧凹孔

14、15‧‧‧調整元件

3、3a、3b‧‧‧頂針測試治具

31‧‧‧凹部

32‧‧‧針孔

4‧‧‧頂針

5、5a、5b‧‧‧印刷電路板

D、D1、D2、D3、D4‧‧‧距離

d、d1、d2、d3、d4‧‧‧長度

圖1為本發明治具平台的側視剖視示意圖。

圖2為本發明治具平台、頂針測試治具與頂針結合的側視剖視示意圖。

圖3A至圖3C為本發明治具平台的操作示意圖。

圖4A及圖4B為本發明的調整元件一實施例的側視剖視示意圖。

圖5A及圖5B為本發明的調整元件另一實施例的側視剖視示意圖。

以下將參照相關圖式，說明依本發明較佳實施例之一種治具平台，其中相同的元件將以相同的參照符號加以說明。

請同時參考圖1、圖2及圖3B，圖1為本發明治具平台的側視剖視示意圖；圖2為本發明治具平台、頂針測試治具與頂針結合的側視剖視示意圖。

本發明提供一種治具平台1，適用於與一頂針測試治具3配 合，其中如圖2所示，頂針測試治具3具有一凹部31及複數針孔32，該些針孔32設置於凹部31並貫穿頂針測試治具3，且一印刷電路板5設置於頂針測試治具3上方。其中，在測試的程序設計上，可使頂針測試治具3的該些針孔32為通孔結構，以提升與各種頂針4的適配性。在此為求圖式簡潔，僅以三個針孔32並列呈現但不以此為限制，實際上可依不同的印刷電路板5的設計，將調整頂針測試治具3上的針孔32數量及排列方式作適度的調整。

治具平台1包括一底座11、複數固定架12、一調整平台13以及至少一調整元件14。底座11用以提供頂針測試治具3放置。該些固定架12分隔設置於底座11上，該些固定架的上表面用以提供頂針測試治具3的凹部31的底面接觸，也就是該些固定架12的上表面抵頂頂針測試治具3的凹部31的底面。調整平台13可活動地設置於該些固定架12之間，其中調整平台13的上表面為一平面，且調整平台13與各該些固定架12接觸。此外，調整平台13的高度小於該些固定架12的高度，複數頂針4分別穿設頂針測試治具3的該些針孔32而露出該些針孔32並頂抵調整平台13的上表面。調整元件14設置於調整平台13下方且位於該些固定架12之間，以連結並調整調整平台13的升降，在此處以兩個調整元件14為例但不以此為限制。藉由調整平台13朝底座11或凹部31的方向移動，進而控制並調整各頂針4露出的長度d。最後，將各頂針4與頂針測試治具3上方的印刷電路板5進行焊接，再將頂針測試治具3進行脫模後，即可完成一測試用的印刷電路板5。

本發明的治具平台1可使各頂針4頂抵調整平台13的上表面以達到各頂針4的端部水平對齊的目的，使頂針4與印刷電路板5焊接時，各頂針4高低不平的問題得以獲得解決，使各頂針4的端部彼此水平對齊，改善通用型頂針測試治具3的缺點，增加頂針測試治具3與各種頂針4的適配性，進而優化電子元件的測試效果。

接續將詳細介紹本發明治具平台的操作方式及細部結構，請同時參照圖3A至圖3C，圖3A至圖3C為本發明治具平台的操作示意圖。

如圖3A所示，頂針測試治具3具有一凹部31及複數針孔 32，該些針孔32設置於凹部31並貫穿頂針測試治具3，針孔32是用於引導頂針4深入頂針測試治具3，且於測試的程序設計上，可使該些針孔32為通孔結構，以提升與各種頂針4的適配性。而印刷電路板5設置於頂針測試治具3上方。在此為求圖式簡潔，僅以三個針孔32並列呈現但不以此為限制，實際上可依不同的印刷電路板5的設計，將調整頂針測試治具3上的針孔32數量及排列方式作適度的調整。

在頂針測試治具3組上印刷電路板5後，將兩者一同翻轉180度並放置於治具平台1上，使頂針測試治具3的凹部31的底面接觸該些固定架12的上表面，也就是該些固定架12的上表面抵頂頂針測試治具3的凹部31的底面。其中，各該些固定架12包括至少一磁性元件121，與頂針測試治具3的至少一磁性元件33或至少一金屬件(圖示未示)相對應，用以固定頂針測試治具3在治具平台1上，以利進行後續處理。此外，針對沒有設置磁性元件33或金屬件的頂針測試治具3，可將各該些固定架12設計為包括至少一卡固結構(圖示未示)，固定架12上的卡固結構與頂針測試治具3的外形或頂針測試治具3上的至少一卡固結構(圖示未示)相對應，用以固定頂針測試治具3。具體而言，藉由固定架12上的卡固結構將頂針測試治具3的外形嵌合固定，或是利用固定架12上的卡固結構與頂針測試治具3上的卡固結構的對應卡合，將頂針測試治具3連結並固定在治具平台1上，可利於進行後續處理。

接續如圖3B所示，調整平台13可活動地設置於該些固定架12之間，且調整平台13的高度小於該些固定架12的高度，而調整元件14設置於該些固定架12之間，用以連結並調整調整平台13的升降。在此處調整元件14以兩個螺絲或螺柱為例但不以此為限，調整元件14可為帶動調整平台13升降的相關機構，且各該些調整元件14穿設底座11並頂抵調整平台13的下表面，各該些調整元件14帶動調整平台13朝底座11或凹部31的方向移動。

除此之外，調整平台13的上表面為一平面，且調整平台13與各該些固定架12接觸，且調整平台13與各該些固定架12之間可具有相對應的滑塊、滑槽機構，可增加調整平台13與各該些固定架12之間的組 裝穩固性。其中調整平台13朝向該些固定架12的表面具有一凸塊結構，而各該些固定架12朝向調整平台13的表面具有與凸塊結構相對應的一滑槽結構(圖式未示)。此外，更可依結構的設計，將調整平台13朝向該些固定架12的表面具有一滑槽結構，而各該些固定架12朝向調整平台13的表面具有與滑槽結構相對應的一凸塊結構。藉由調整平台13與各該些固定架12之間可具有相對應的凸塊及滑槽結構，可增加調整平台13與各該些固定架12之間的組裝穩固性，並增加調整平台13於各該些固定架12之間的運動穩定性。因此調整平台13可藉由調整元件14朝底座11或頂針測試治具3的凹部31的方向移動，並於移動的過程中保持調整平台13的上表面的水平度，使調整平台13的上表面與頂針測試治具3的凹部31的底面之間相隔一垂直距離D，此距離D可控制頂針4露出於頂針測試治具3的該些針孔32的長度d。其中，調整平台13的上表面與頂針測試治具3的凹部31的底面之間的距離D為1~5毫米。於實際操作上，該些固定架12的上表面抵頂頂針測試治具3的凹部31的底面，因此調整平台13的上表面與頂針測試治具3的凹部31的底面之間相隔的垂直距離D，等同於調整平台13的上表面與該些固定架12的上表面之間相隔的垂直距離，此距離可控制並計算出頂針4露出於頂針測試治具3的該些針孔32的長度d。此外，調整平台13的上表面與該些固定架12的上表面之間的距離為1~5毫米。

當調整平台13的上表面與頂針測試治具3的凹部31的底面之間的距離D調整完成時，將複數頂針4分別穿設固定於治具平台1上的頂針測試治具3及印刷電路板5，藉由貫穿頂針測試治具3的該些針孔32引導頂針4深入頂針測試治具3並頂抵調整平台13的上表面。此時，露出於該些針孔32的頂針4受限於調整平台13的上表面與頂針測試治具3的凹部31的底面之間的距離D，使得露出於該些針孔32的頂針4長度d等於調整平台13的上表面與頂針測試治具3的凹部31的底面之間的距離D，藉此頂針4的露出長度d得以控制。藉由調整平台13朝底座11或凹部31的方向移動，控制並調整各頂針4露出的長度d後，再將頂針4與印刷電路板5進行焊接。

最後，如圖3C所示，當各頂針4與頂針測試治具3上方的 印刷電路板5完成焊接後，再將頂針測試治具3進行脫模，即可完成一具有測試電性功能的印刷電路板5。

接續請同時參照圖4A至圖5B，圖4A及圖4B為本發明的調整元件一實施例的側視剖視示意圖，圖5A及圖5B為本發明的調整元件另一實施例的側視剖視示意圖。

圖4A及圖4B所示的各該些調整元件14為螺絲或螺柱，在此以一螺絲或螺柱為例，但其數量及排列方式不以此為限。各該些調整元件14穿設底座11並頂抵調整平台13的下表面，各該些調整元件14帶動調整平台13朝底座11或凹部31的方向移動，藉此控制調整平台13的上表面與頂針測試治具3a的凹部31的底面之間的距離D1、D2及露出於頂針測試治具3a的該些針孔32的頂針4長度d1、d2。更進一步說明，圖4A所示的調整平台13設置並接觸於底座11的上表面，此時調整平台13的上表面與頂針測試治具3a的凹部31的底面之間的距離D1為最大值，同時露出於頂針測試治具3a的該些針孔32的頂針4長度d1亦為最大值。而圖4B為調整元件14帶動調整平台13朝頂針測試治具3a的凹部31的方向移動，此時調整平台13的上表面與頂針測試治具3a的凹部31的底面之間的距離D2慢慢縮小，同時露出於該些針孔32的頂針4長度d2隨之漸漸變短。此外，本實施例的調整元件14更可依據印刷電路板5a所需露出的頂針4長度d1、d2設計，任意調整調整平台13與頂針測試治具3a的凹部31的底面之間的距離D1、D2，進而控制並調整各頂針4露出的長度d1、d2。其中調整平台13的上表面與頂針測試治具3a的凹部31的底面之間的距離D1、D2界於1~5毫米的範圍內。此外，調整平台13的下表面更可具有至少一凹孔131，凹孔131與各該些調整元件14對應設置，藉由凹孔131的設置，可使螺絲或螺柱於帶動調整平台13升降的過程中，可提升調整平台13運動穩定性。

圖5A及圖5B所示的各該些調整元件15為墊片或墊塊，在此以兩墊片或墊塊為例，但其數量、厚度及排列方式不以此為限。各該些調整元件15設置於底座11與調整平台13之間，使調整平台13與底座11分離，藉此控制調整平台13的上表面與頂針測試治具3b的凹部31的底面 之間的距離D3、D4及露出於頂針測試治具3b的該些針孔32的頂針4長度d3、d4。更進一步說明，圖5A所示的調整平台13設置並接觸於底座11的上表面，此時調整平台13的上表面與頂針測試治具3b的凹部31的底面之間的距離D3為最大值，同時露出於頂針測試治具3b的該些針孔32的頂針4長度d3亦為最大值。而圖5B為各該些調整元件15設置於底座11與調整平台13之間，使調整平台13與底座11分離，並使調整平台13的上表面與頂針測試治具3b的凹部31的底面之間的距離D4減少，同時露出於該些針孔32的頂針4長度d4亦隨之變短。此外，本實施例的調整元件15更可依據印刷電路板5b所需的頂針4長度d3、d4設計，任意調整墊片或墊塊的厚度，進而控制調整平台13與頂針測試治具3b的凹部31的底面之間的距離D3、D4以及各頂針4露出的長度d。其中調整平台13的上表面與頂針測試治具3b的凹部31的底面之間的距離D3、D4界於1~5毫米的範圍內。

綜上所述，本發明的治具平台是將頂針測試治具與印刷電路板結合後，翻轉180度後再將兩者共同放置於底座上，再讓複數頂針分別穿設且露出於頂針測試治具的該些針孔，使各頂針頂抵調整平台的上表面以達到各頂針的端部水平對齊的目的。此外，藉由調整元件連結並調整調整平台的升降，以此控制調整平台的上表面與頂針測試治具的凹部的底面之間的距離及露出於頂針測試治具的該些針孔的頂針長度。

本發明的治具平台可使頂針與印刷電路板焊接時，各頂針高低不平的問題得以獲得解決，使各頂針的端部彼此水平對齊，改善通用型頂針測試治具的缺點，增加頂針測試治具與各種頂針的適配性，進而優化電子元件的測試效果。

以上所述僅為舉例性，而非為限制性者。任何未脫離本發明之精神與範疇，而對其進行之等效修改或變更，均應包含於後附之申請專利範圍中。

Claims (10)

1. 一種治具平台，適用於與一頂針測試治具，該頂針測試治具具有一凹部及複數針孔，該些針孔設置於該凹部並貫穿該頂針測試治具，且一印刷電路板設置於該頂針測試治具的上方，該治具平台包括：一底座，用以提供該頂針測試治具放置；複數固定架，分隔設置於該底座，該些固定架的上表面用以提供該頂針測試治具的該凹部的底面接觸；一調整平台，可活動地設置於該些固定架之間，且該調整平台的高度小於該些固定架的高度，複數頂針分別穿設該印刷電路板與該頂針測試治具的該些針孔而露出該些針孔並頂抵該調整平台的上表面，且該些頂針固接於該印刷電路板上；以及至少一調整元件，設置於該調整平台下方，以連結並調整該調整平台的升降。
2. 如申請專利範圍第1項所述的治具平台，其中各該些調整元件為墊片或墊塊，各該些調整元件設置於該底座與該調整平台之間，使該調整平台與該底座分離。
3. 如申請專利範圍第1項所述的治具平台，其中各該些調整元件為螺絲或螺柱，各該些調整元件穿設該底座並頂抵該調整平台的下表面，各該些調整元件帶動該調整平台朝該底座或該凹部的方向移動。
4. 如申請專利範圍第3項所述的治具平台，其中該調整平台的下表面具有至少一凹孔，該凹孔與各該些調整元件對應設置。
5. 如申請專利範圍第1項所述的治具平台，其中該調整平台的上表面與該些固定架的上表面之間的距離為1~5毫米。
6. 如申請專利範圍第1項所述的治具平台，其中各該些固定架包括至少一磁性元件，與該頂針測試治具的至少一磁性元件或至少一金屬件相對應，用以固定該頂針測試治具。
7. 如申請專利範圍第1項所述的治具平台，其中各該些固定架包括至少一卡固結構，該卡固結構與該頂針測試治具的外形或至少一卡固結構相對應，用以固定該頂針測試治具。
8. 如申請專利範圍第1項所述的治具平台，其中該調整平台的上表面為一平面，且該調整平台與各該些固定架接觸。
9. 如申請專利範圍第1項所述的治具平台，其中該調整平台朝向該些固定架的表面具有一凸塊結構，而各該些固定架朝向該調整平台的表面具有與該凸塊結構相對應的一滑槽結構。
10. 如申請專利範圍第1項所述的治具平台，其中該調整平台朝向該些固定架的表面具有一滑槽結構，而各該些固定架朝向該調整平台的表面具有與該滑槽結構相對應的一凸塊結構。