KR20170020605A - 멀티 광학 비전 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 멀티 광학 비전 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 대상의 불량을 검출하는 멀티 광학 비전 장치에 관한 것이다. 본 발명은 대상의 불량 검출 시 조명 제어 또는 조명 동기화 없이 명 시야 영상, 암 시야 영상 및 미분시야 영상 등 다수의 광학 특징의 이미지를 한번의 촬상으로 취득할 수 있어 조명 간의 간섭을 최소화하고 상호 보완적인 영상데이터를 사용하여 대상의 불량 검출오류를 낮출 수 있다.

Description

멀티 광학 비전 장치{MULTI OPTIC VISION DEVICE}
본 발명은 멀티 광학 비전 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 대상의 불량을 검출하는 멀티 광학 비전 장치에 관한 것이다.
일반적으로, 카메라를 이용하여 대상을 촬상한 후, 촬상된 영상을 통해 대상의 불량 여부를 판단하는 기술이 다양한 부분에서 시행되고 있다. 예를 들면, 평판디스플레이, 유리 기판, LCD, 차량용 유리 등 많은 산업에서 대상의 이물이나 돌기 등의 불량이 촬상을 통해 검출된다.
많은 산업에서 불량을 촬상하기 위하여 라인 스캔 카메라가 이용되었으며, 빛을 조사하기 위하여 조명장치가 설치되었다. 하지만, 라인 스캔 카메라는 라인의 조명 각도와 라인 스캔 카메라의 각도에 매우 민감하여 회전 축이 조금(0.1도 이상) 불일치할 경우 이미지의 좌우 밝기가 달라지며, 수직 각도가 조금만 변경되더라도 이미지 형상이 달라진다. 또한, 라인 스캔 카메라는 대상의 이미지를 촬상하는 시간과 대상의 이송시간에 맞추어 조명을 정밀하게 점등하여야 하며, 이 세가지 시간이 틀어질 경우 원하는 이미지를 취득하지 못한다.
본 발명의 배경기술은 대한민국 공개특허 제2012-0129547호 (2012.11.28 공개)에 개시되어 있다. 공개특허 제2012-0129547호는 다수 개의 조명을 순차적으로 고속으로 점등하여 멀티 라인 스캔 카메라에 의해 조명에 따른 영상을 얻을 수 있도록 구성된다. 하지만, 공개특허 제2012-0129547호는 광학 각도의 조명 점등과 카메라 촬상 주파수의 동기화가 필요하다. 또한, 공개특허 제2012-0129547호는 멀티 라인 스캔 카메라 및 조명 특성에 따라 동기화 값 변동이 심하고, 고속으로 촬상되는 멀티 라인 스캔 카메라에 상응하여 다수의 조명을 순차적으로 고속 점등을 할 수 있는 컨트롤러가 필요하다.
본 발명은 조명 제어 또는 조명 동기화의 필요 없이 다수의 광학 특징의 이미지를 한 번의 촬상으로 취득할 수 있고, 불량 검출 시 상호 보완적인 영상 데이터를 이용하여 검출 오류를 낮출 수 있는 멀티 광학 비전 장치를 제공하는 것이다.
본 발명은 공간적으로 시간적으로 간소화된 설비로 간단하게 다중 영상을 획득할 수 있고 조명 간의 간섭을 최소화하여 불량 검출 효율을 극대화하는 멀티 광한 비전 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 일 측면에 따르면, 멀티 광학 비전 장치가 개시된다.
본 발명의 실시 예에 따른 멀티 광학 비전 장치는 대상에서 불량은 밝게 보이고 불량의 주변은 어둡게 보이도록 빛을 조사하는 암 시야 조명, 대상에서 불량은 어둡게 보이고 불량의 주변은 밝게 보이도록 빛을 조사하는 명 시야 조명, 대상에서 불량이 입체적으로 보이도록 빛을 조사하는 미분 시야 조명, 암 시야 조명, 명 시야 조명 및 미분 시야 조명이 동시에 각각 빛을 조사한 대상을 연속적으로 촬상하여 촬상 이미지를 생성하는 에어리어 스캔 카메라 및 촬상 이미지를 편집하여 대상의 암 시야 이미지, 명 시야 이미지 및 미분 시야 이미지를 각각 취득하는 제어부를 포함할 수 있다.
본 발명은 대상의 불량 검출 시 조명 제어 또는 조명 동기화 없이 명 시야 영상, 암 시야 영상 및 미분시야 영상 등 다수의 광학 특징의 이미지를 한번의 촬상으로 취득할 수 있다.
본 발명은 조명 간의 간섭을 최소화하고 상호 보완적인 영상데이터를 사용하여 대상의 불량 검출오류를 낮출 수 있다.
본 발명은 검사설비가 간소화되고 다수의 조명에 대해 다중 영상을 간단하기 획득하므로 공간 또는 시간적으로 매우 효율적이다.
도 1 내지 도 6는 본 발명의 일 실시 예에 따른 멀티 광학 비전 장치를 설명하기 위한 도면들.
도 7 및 도 8은 본 발명의 다른 일 실시 예에 따른 멀티 광학 비전 장치를 설명하기 위한 도면들.
도 9는 본 발명의 일 실시 예에 따른 멀티 광학 비전 장치의 이미지 취득 방법을 설명하기 위한 도면.
도 10 내지 도 12는 본 발명의 일 실시 예에 따른 멀티 광학 비전 장치에서 검출하는 불량들을 설명하기 위한 도면들.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시 예를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 이를 상세한 설명을 통해 상세히 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다. 또한, 본 명세서의 설명 과정에서 이용되는 숫자(예를 들어, 제1, 제2 등)는 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구분하기 위한 식별기호에 불과하다. 또한, 본 명세서에서, 일 구성요소가 다른 구성요소와 "연결된다" 거나 "접속된다" 등으로 언급된 때에는, 상기 일 구성요소가 상기 다른 구성요소와 직접 연결되거나 또는 직접 접속될 수도 있지만, 특별히 반대되는 기재가 존재하지 않는 이상, 중간에 또 다른 구성요소를 매개하여 연결되거나 또는 접속될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 이하, 본 발명의 실시 예를 첨부한 도면들을 참조하여 상세히 설명하기로 한다. 본 발명을 설명함에 있어 전체적인 이해를 용이하게 하기 위하여 도면 번호에 상관없이 동일한 수단에 대해서는 동일한 참조 번호를 사용하기로 한다.
도 1 내지 도 6는 본 발명의 일 실시 예에 따른 멀티 광학 비전 장치를 설명하기 위한 도면들이다.
도 1을 참조하면, 멀티 광학 비전 장치는 이동수단(100)과 조명(200), 에어리어 스캔 카메라(300) 및 제어부(400)를 포함한다.
이동수단(100)은 검사를 위한 대상(110)을 이동시킨다. 이동수단(100)은 평면을 기준으로, 대상(110)을 전후, 좌우 또는 상하로 이동시킬 수 있다. 이동수단(100)은 대상(110)을 고정시키기 위한 고정 수단(미도시)을 더 포함할 수 있다.
조명(200)은 대상(110)의 불량을 정확하게 검출하기 위하여 대상에 빛을 조사한다.
도 2를 참조하면, 조명(200)은 광원부(202), 집광렌즈(204), 투광부(206) 및 난반사 차단 가림판(208)을 포함한다.
광원부(202)는 빛을 생성하며, 예를 들면, LED(Light Emitting Diode)일 수 있다. 광원부(202)는 예를 들면, 광선속(Lx)이 260 플럭스(Flux), CCT 범위가 8300k 및 화각이 125도인 LED일 수 있다.
집광렌즈(204)는 광원부(202)에서 생성된 빛을 미리 설정된 거리에서 집광한다. 집광렌즈(204)는 예를 들면, 80mm 거리에서 빛을 집광할 수 있다.
투광부(206)는 집광된 빛을 대상(110)에 집중하여 조사하도록 빛을 가이드한다.
난반사 차단 가림 판(208)은 빛이 조사 영역에 집중하기 위하여 투광부(206)와 통한 집광렌즈의 부분을 제외한 나머지 부분을 둘러싸 빛을 차단한다. 난반사 차단 가림판(206)은 본 발명에 따른 다수의 조명이 대상에 동시에 빛을 조사하는 경우 각각의 조사 영역에서 빛을 간섭을 방지하여 대상의 불량 검출의 정확도를 더욱 향상 시킬 수 있다.
도 3을 참조하면, 조명(200)은 암 시야 조명(210), 명 시야 조명(220) 및 미분 시야 조명(230)을 포함한다.
암 시야 조명(210), 명 시야 조명(220) 및 미분 시야 조명(230)는 빛의 조사 각도 및 대상(110)에서 빛의 반사 각도에 따라 구분되며, 빛을 조사하는 조사 영역이 미리 설정된 간격을 유지하도록 설치된다. 암 시야 조명(210), 명 시야 조명(220) 및 미분 시야 조명(230)는 검사의 대상의 물성에 따라 조사 각도 및 조사 밝기가 달라질 수 있다. 암 시야 조명(210), 명 시야 조명(220) 및 미분 시야 조명(230)는 예를 들면, 스마트 폰의 윈도우 글라스의 인쇄 면을 대상으로 하는 경우, 암 시야 조명(210)은 우측 평면을 기준으로 107도, 명 시야 조명(220)은 우측 평면을 기준으로 53도 및 미분 시야 조명(230)은 우측 평면을 기준으로 165도의 조사 각도를 가질 수 있다. 암 시야 조명(210), 명 시야 조명(220) 및 미분 시야 조명(230)는 예를 들면, 금속 재질을 대상으로 하는 경우, 조명 밝기 값을 스마트 폰의 윈도우 글라스의 인쇄 면을 대상으로 하는 경우보다 1/3로 감소시키고, 암 시야 조명(210)은 우측 평면을 기준으로 112도, 명 시야 조명(220)은 우측 평면을 기준으로 48도 및 미분 시야 조명(230)은 우측 평면을 기준으로 165도의 조사 각도를 가질 수 있다. 암 시야 조명(210), 명 시야 조명(220) 및 미분 시야 조명(230)는 에어리어 스캔 카메라(300)의 화각(Angle of view,　Field of view,　FOV)에 따라 각 조명 간의 설치 위치의 간격이 달라진다. 이는 각 조명이 조사하는 조사 영역의 간격을 유지하여 빛의 간섭을 최소화하기 위함이다. 본 발명에 따른 멀티 광학 비전 장치가 3가지 조명을 포함하는 이유는 조명 제어 또는 조명 동기화 없이 명 시야 영상, 암 시야 영상 및 미분시야 영상 등 다수의 광학 특징의 이미지를 한번의 촬상으로 취득하여 상호 보완적인 영상데이터를 사용하여 대상의 불량 검출의 정확도를 더욱 높이기 위함이다.
이하에서는 도 4 내지 도 6을 참조하여 암 시야 조명(210), 명 시야 조명(220) 및 미분 시야 조명(230) 각각을 설명한다.
도 4를 참조하면, 암 시야 조명(210)은 대상(110)에서 주변은 어둡게 보이고 검출하고자 하는 불량은 밝게 보이도록 빛을 조사한다. 암 시야 조명(210)은 대상의 물성에 따라 조명 각도 및 조명 파장이 달라질 수 있으나, 암 시야 조명(210)은 검출하고자 하는 불량에 대해 난반사가 이루어지도록 조명 각도가 미리 설정된다.
도 5를 참조하면, 명 시야 조명(220)은 대상(110)에서 주변은 밝게 보이고 검출하고자 하는 불량은 어둡게 보이도록 빛을 조사한다. 명 시야 조명(220)은 대상의 물성에 따라 조명 각도 및 조명 파장이 달라질 수 있으나, 명 시야 조명(220)은 검출하고자 하는 불량에 대해 정반사가 이루어지도록 조명 각도가 미리 설정된다.
도 6을 참조하면, 미분 시야 조명(230)은 대상(110)이 전체적으로 밝게 보이고 검출하고자 하는 불량에 음영이 발생하도록 빛을 조사한다. 미분 시야 조명(230)은 대상의 물성에 따라 조명 각도 및 조명 파장이 달라질 수 있으나, 미분 시야 조명(230)은 검출하고자 하는 불량에 대해 빛의 간섭이 일어나 입체적으로 보이도록 조명 각도가 미리 설정된다.
에어리어 스캔 카메라(300)는 조명(200)의 각 위치에서 동시에 각각 조사된 대상(110)을 촬상한다. 에어리어 스캔 카메라(300)는 화각에 의해 대상의 촬상 영역이 미리 설정되고, 암 시야 촬상 영역, 명 시야 촬상 영역 및 미분 시야 촬상 영역을 포함한 촬상 이미지를 생성한다. 여기서, 암 시야 촬상 영역, 명 시야 촬상 영역 및 미분 시야 촬상 영역은 각각에 조사된 빛의 간섭을 최소화하기 위하여 미리 설정된 간격을 각각 유지한다. 에어리어 스캔 카메라(300)는 이송수단(100)에 의해 대상이 이동하는 경우 대상의 수직 방향의 상부에 위치하여 미리 설정된 시간 간격으로 연속적으로 대상을 촬상한다. 여기서, 미리 설정된 시간 간격은 대상의 이동 속도 및 대상의 촬상 영역의 크기에 따라 달라질 수 있다. 에어리어 스캔 카메라(300)는 예를 들면, 2048×2048 픽셀 크기의 이미지를 생성할 수 있으며, 짧은 촬상 회수로 대상 전체를 단시간에 촬상할 수 있는 이점이 있다. 또한, 에어리어 스캔 카메라(300)는 라인 스캔 카메라와 같이 라인 조명 각도와 카메라 각도에 민감하지 않으며, 카메라의 촬상 시간과 대상의 이송시간에 따라 조명을 정밀하게 점등할 필요도 없다. 또한, 에어리어 스캔 카메라(300)는 조명의 회전 축에 민감하지 않으므로 평면에 수직 방향으로 고정시키고, 항상 조명이 점등된 상태에서 각 광학 특성 이미지를 취득하므로, 순차적인 조명제어가 필요 없으며, 추가적인 고속 촬상과 동기화된 조명제어를 위한 컨트롤러가 불필요하다.
제어부(400)는 에어리어 스캔 카메라(300)에 촬상 이미지를 편집하여 대상의 암 시야 이미지, 명 시야 이미지 및 미분 시야 이미지를 각각 취득한다. 제어부(400)는 순차적으로 촬상된 대상의 각 이미지에서 암 시야 촬상 영역, 명 시야 촬상 영역 및 미분 시야 촬상 영역을 분리하고, 분리된 암 시야 촬상 영역, 명 시야 촬상 영역 및 미분 시야 촬상 영역 각각을 따로따로 합쳐서 대상의 암 시야 이미지, 명 시야 이미지 및 미분 시야 이미지를 생성한다.
멀티 광학 비전 장치는 생성한 대상의 암 시야 이미지, 명 시야 이미지 및 미분 시야 이미지를 대조 분석하여 대상의 불량을 검출하는 불량 검출부(미도시)를 더 포함할 수 있다.
도 7 및 도 8은 본 발명의 다른 일 실시 예에 따른 멀티 광학 비전 장치를 설명하기 위한 도면들이다.
본 발명의 다른 일 실시 예에 따른 멀티 광학 비전 장치는 도 1 내지 도 6에서 설명한 멀티 광학 비전 장치와 조명(200)의 구성이 다르다는 점을 제외하고 다른 구성 요소는 동일하다. 따라서, 이하에서는 조명(200)에 대해서 중점적으로 설명하기로 한다.
도 7 및 도 8을 참조하면, 본 발명의 다른 일 실시 예에 따른 멀티 광학 비전 장치는 미분시야 조명(230) 및 명암 시야 조명(240)을 포함한다.
미분시야 조명(230)은 대상(110)의 불량에 음영이 발생하도록 빛을 조사한다. 미분 시야 조명(230)은 검출하고자 하는 불량에 대해 빛의 간섭이 일어나 입체감이 보이도록 조명 각도가 미리 설정되며, 예를 들면, 우측 평면을 기준으로 36.3도일 수 있다.
명암 시야 조명(240)은 대상에 대한 명 시야 촬상 이미지를 위한 명 시야 빛과, 대상에 대한 암 시야 촬상 이미지를 위한 암 시야 빛을 대상의 조사 영역을 달리하여 동시에 조사한다. 명암 시야 조명(240)은 집광렌즈(204)의 난반사 빛을 사용 하며, 렌즈에서 빛이 굴절되어 집광 되는 경로와 난반사되어 조사되는 경로를 포함한 이중 경로로 빛을 조사한다. 명암 시야 조명(240)은 난 반사되는 경로를 확보하기 위하여 투광부(206) 및 난반사 차단 가림 판(208)의 구성을 달리할 수 있다.
본 발명의 다른 일 실시 예에 따른 멀티 광학 비전 장치는 명암 시야 조명(240)을 통하여 조명의 수를 줄여 검사 장비의 수 및 비용을 절감할 수 있다.
도 9는 본 발명의 일 실시 예에 따른 멀티 광학 비전 장치의 이미지 취득 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 9를 참조하면, 멀티 광학 비전 장치는 검사 대상이 이송되면 암 시야 조명(210), 명 시야 조명(220) 및 미분 시야 조명(230)에서 빛이 조사된 대상(110)을 연속적으로 촬상한다. 또한, 다른 실시 예에 따르면, 멀티 광학 비전 장치는 미분 시야 조명(230) 및 명암 시야 조명(240)에서 조사된 빛이 조사된 대상(110)을 연속적으로 촬상할 수 있다. 멀티 광학 비전 장치는 암 시야 촬상 영역, 명 시야 촬상 영역 및 미분 시야 촬상 영역을 포함한 촬상 이미지를 생성한다. 여기서, 촬상 이미지의 크기 및 촬상 영역은 에어리어 스캔 카메라(300)의 화각에 의해 미리 설정될 수 있다. 멀티 광학 비전 장치는 N(자연수) 개의 촬상된 이미지를 저장한다. 여기서, N은 에어리어 스캔 카메라(300)의 화각에 의해 미리 설정된 촬상 영역에 따라 달라지며, 대상의 모든 영역의 넓이에 대해 암 시야 촬상 영역의 넓이, 명 시야 촬상 영역의 넓이 또는 미분 시야 촬상 영역의 넓이로 나눈 값일 수 있다. 멀티 광학 비전 장치는 순차적으로 촬상되어 저장된 N개의 이미지에서 암 시야 촬상 영역, 명 시야 촬상 영역 및 미분 시야 촬상 영역을 분리하고, 분리된 암 시야 촬상 영역, 명 시야 촬상 영역 및 미분 시야 촬상 영역 각각을 따로따로 합쳐서 대상의 암 시야 이미지, 명 시야 이미지 및 미분 시야 이미지를 생성한다.
도 10 내지 도 12는 본 발명의 일 실시 예에 따른 멀티 광학 비전 장치에서 검출하는 불량들을 설명하기 위한 도면들이다.
도 10 내지 도 12를 참조하면, 멀티 광학 비전 장치는 대상(110)의 불량 들을 더욱 정확하게 검출할 수 있다. 멀티 광학 비전 장치는 예를 들면, 디스플레이 장치에서 발생할 수 있는 OCA(Optic Clean Adhesive) 불량, 돌기 불량, 표면 이물 불량, 긁힘 불량 및 깨짐 불량 등을 검출할 수 있다.
OCA(Optic Clean Adhesive) 불량(1110)은 윈도우 하단에 부착되는 OCA가 구겨져서 발생하는 불량으로, 미분 시야 데이터를 통하여 검출될 수 있다.
돌기 불량(1120)은 윈도우 상단 유리가 완만하게 돌출하는 불량으로, 이 또한 미분 시야 데이터를 통하여 검출될 수 있다.
표면 이물 불량(1130)은 부유성 이물이 윈도우 위에 붙어 있는 불량으로 명 시야 이미지를 통하여 검출될 수 있다.
긁힘 불량(1140)은 윈도우 표면이 긁힌 형상의 불량으로 암 시야 이미지를 통하여 검출될 수 있다.
깨짐 불량(1150)은 윈도우의 외곽부분이 깨지는 불량으로 명 시야 이미지를 통하여 검출될 수 있다.
본 발명에 따른 멀티 광학 비전 장치는 에어리어 스캔 카메라(300)를 통하여 한 번에 암 시야 이미지, 명 시야 이미지 및 미분 시야 이미지를 생성하고, 상술한 여러 가지 불량들을 암 시야 이미지, 명 시야 이미지 및 미분 시야 이미지를 비교하여 빠르고 정확하게 검출할 수 있다. 예를 들면, 대상의 불량은 광학 설정에 따라 보이는 불량과 안 보이는 불량이 있다. 본 발명은 이러한 불량을 암 시야 이미지, 명 시야 이미지 및 미분 시야 이미지를 비교하여 동시에 판단 가능하다. 예를 들면, 명시야 광학에서는 실제 불량이 아닌 부유성 이물(이는 불량이 아님)은 어둡게 표현하고, 내부에 실제 이물은 밝게 표현하는 특징이 있으며, 이러한 특징을 이용하여 부유성 이물을 제거 가능하다. 즉, 명 시야에 검은 영역 데이터를 다른 암 시야와 미분 시야 위치에 적용하여 다른 광학에서 잘못되게 불량으로 판정하는 것(과검)을 막을 수 있다.
한편, 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 광학 비전 장치의 이미지 취득 방법은 다양한 전자적으로 정보를 처리하는 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 저장 매체에 기록될 수 있다. 저장 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 저장 매체에 기록되는 프로그램 명령은 본 발명을 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 소프트웨어 분야 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 저장 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체(magnetic media), CD-ROM, DVD와 같은 광 기록 매체(optical media), 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical media) 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 또한 상술한 매체는 프로그램 명령, 데이터 구조 등을 지정하는 신호를 전송하는 반송파를 포함하는 광 또는 금속선, 도파관 등의 전송 매체일 수도 있다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 전자적으로 정보를 처리하는 장치, 예를 들어, 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상술한 하드웨어 장치는 본 발명의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시 예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
100: 이송 수단
200: 조명
210: 암 시야 조명
220: 명 시야 조명
230: 미분 시야 조명
240: 명암 시야 조명
300: 에어리어 스캔 카메라
400: 제어부

Claims (10)

  1. 대상에서 불량은 밝게 보이고 상기 불량의 주변은 어둡게 보이도록 빛을 조사하는 암 시야 조명;
    상기 대상에서 상기 불량은 어둡게 보이고 상기 불량의 주변은 밝게 보이도록 빛을 조사하는 명 시야 조명;
    상기 대상에서 상기 불량이 입체적으로 보이도록 빛을 조사하는 미분 시야 조명;
    상기 암 시야 조명, 상기 명 시야 조명 및 상기 미분 시야 조명이 동시에 각각 빛을 조사한 대상을 연속적으로 촬상하여 촬상 이미지를 생성하는 에어리어 스캔 카메라;
    상기 촬상 이미지를 편집하여 상기 대상의 암 시야 이미지, 명 시야 이미지 및 미분 시야 이미지를 각각 취득하는 제어부를 포함하는 멀티 광학 비전 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 암 시야 조명, 상기 명 시야 조명 및 상기 미분 시야 조명은 상기 대상에 빛을 조사하는 각도에 따라 구분되며, 상기 대상에서 각각의 빛을 조사하는 조사 영역이 미리 설정된 간격을 유지하도록 설치되는 멀티 광학 비전 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 각각의 빛을 조사하는 조사 영역 및 상기 간격 중 적어도 하나는 상기 에어리어 스캔 카메라의 화각에 따라 미리 설정되는 멀티 광학 비전 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 암 시야 조명, 상기 명 시야 조명 및 상기 미분 시야 조명은 상기 대상의 물성에 따라 빛을 조사하는 각도 및 빛의 조사 밝기가 달라지는 멀티 광학 비전 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 암 시야 조명, 상기 명 시야 조명 및 상기 미분 시야 조명 중 적어도 하나는
    빛을 생성하는 광원부;
    생성한 상기 빛을 집광하는 집광 렌즈;
    집광된 상기 빛을 집중하여 조사하는 투광부; 및
    상기 빛을 집중시켜 다른 조명에서 조사된 빛과의 간섭을 방지하는 난반사 차단 가림 판을 포함하는 멀티 광학 비전 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 에어리어 스캔 카메라는 각각 미리 설정된 간격을 가지는 암 시야 촬상 영역, 명 시야 촬상 영역 및 미분 시야 촬상 영역을 포함하는 촬상 이미지를 N(자연수) 개 생성하는 멀티 광학 비전 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    검사를 위한 대상을 이동시키는 이송 수단을 더 포함하되,
    상기 N은 상기 이송 수단에 의해 이송되는 대상의 이동 속도 및 상기 에어리어 스캔 카메라의 화각에 의해 미리 설정된 촬상 영역에 따라 달라지는 멀티 광학 비전 장치.
  8. 제6항에 있어서,
    상기 제어부는 상기 N개의 촬상 이미지에서 암 시야 촬상 영역, 명 시야 촬상 영역 및 미분 시야 촬상 영역을 각각 분리하고, 분리된 암 시야 촬상 영역, 명 시야 촬상 영역 및 미분 시야 촬상 영역을 각각 합쳐서 대상의 암 시야 이미지, 명 시야 이미지 및 미분 시야 이미지를 생성하는 멀티 광학 비전 장치.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 암 시야 조명 및 상기 명 시야 조명은
    하나의 조명으로 통합되어 다른 각도의 굴절을 통하여 대상에 이중 경로로 조사 영역을 달리하여 동시에 빛을 조사하는 멀티 광학 비전 장치.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 대상의 암 시야 이미지, 명 시야 이미지 및 미분 시야 이미지를 대조 분석하여 상기 대상의 불량을 검출하는 불량 검출부를 더 포함하는 멀티 광학 비전 장치.
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