JPWO2006104127A1 - 露光装置、露光装置の製造方法及びマイクロデバイスの製造方法 - Google Patents

露光装置、露光装置の製造方法及びマイクロデバイスの製造方法 Download PDF

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Abstract

投影光学系(PL)を介してマスク(M)に形成されるパターンを感光性基板(P)上に露光する露光装置であって、マスク(M)を保持するマスクステージ(MST)及び投影光学系(PL)の少なくとも一方が搭載される上架台部(26)と、上架台部(26)を支持するとともに、所定の方向に長手方向を有する複数の下架台部(6a)とを備える。

Description

この発明は、液晶表示素子等のフラットパネル表示素子等のマイクロデバイスをリソグラフィ工程で製造するための露光装置、該露光装置の製造方法及び該露光装置を用いたマイクロデバイスの製造方法に関するものである。
現在、液晶表示素子デバイス等の製造においては、マスク上に形成された微細なパターンを感光性基板上に転写するフォトリソグラフィの手法が用いられている。このフォトリソグラフィの手法を用いた製造工程では、マスクが二次元移動するマスクステージに載置されており、そのマスク上に形成されたパターンを、投影光学系を介して二次元移動する基板ステージに載置されている感光剤が塗布された感光性基板上に投影露光する投影露光装置が用いられている。なお、感光性基板は、例えばガラスプレートなどの表面に感光剤が塗布されたものである。従来の露光装置は、図7に示すように、基板ステージ100を搭載する架台部(定盤)102に、マスクステージ104及び投影光学系(図示せず)を搭載する架台部(コラム)106を載せることにより組み立てられていた。
近年、露光装置においては、フラットパネル表示素子用、例えば液晶ディスプレイ用の基板の大型化に伴い、マスク及び基板(ひいてはマスクステージ及び基板ステージ)の大型化、マスクステージ及び基板ステージのストロークの伸長化が進んでいるため、これらマスクステージ及び基板ステージを保持する架台部も大型化している。しかしながら、これら架台部を備える露光装置は運搬する際の道路幅等の事情によりその大きさが制限される。
この発明の課題は、露光本体部の少なくとも一部(例えば、マスクステージと投影光学系の少なくとも一方)及び基板ステージ等を搭載する複数の架台部を有する露光装置、該露光装置の製造方法及び該露光装置を用いたマイクロデバイスの製造方法を提供することである。
本発明の第1の態様に従えば、投影光学系を介してマスクに形成されるパターンを感光性基板上に露光する露光装置であって、前記マスクを保持するマスクステージ及び前記投影光学系の少なくとも一方が搭載される上架台部と、前記上架台部から分離可能に設けられるとともに、所定の方向に長手方向を有し、前記上架台部を支持する複数の下架台部とを備える露光装置が提供される。
本発明の第1の態様によれば、上架台部から分離可能に設けられ、所定の方向に長手方向を有する複数の下架台部を備えているため、下架台部を車両(さらには航空機)に積載し、運搬することができ、かつ大型基板を載置することができる大型の基板ステージを備えた露光装置を提供することができる。
本発明の第2の態様に従えば、投影光学系を介してパターンを感光性基板上に露光する露光装置であって、投影光学系を含む露光本体部の少なくとも一部が設けられる第1架台部(上架台部)と、第1架台部から分離可能に設けられ、それぞれ第1方向を長手方向として延び、かつ投影光学系を挟んで第1方向と交差する第2方向に離れて配置される一対の支持部(中架台部)で第1架台部を支持する第2架台部とを備える露光装置が提供される。
本発明の第2の態様によれば、露光本体部の少なくとも一部が設けられる第1架台部と、第1架台部から分離可能に設けられ、それぞれ第1方向を長手方向として延び、かつ投影光学系を挟んで第1方向と交差する第2方向に離れて配置される一対の支持部で第1架台部を支持する第2架台部を備えているため、それぞれを分離することにより車両(さらには航空機)に積載し、運搬することができる。
本発明の第3の態様に従えば、投影光学系を介してパターンを感光性基板上に露光する露光装置の製造方法であって、感光性基板を保持する基板ステージが搭載される下架台部を設置する下架台部設置工程と、下架台部設置工程により設置された下架台部上に複数の中架台部を設置する中架台部設置工程と、中架台部設置工程により設置された複数の中架台部上に、投影光学系を含む露光本体部の少なくとも一部が搭載される上架台部を設置する上架台部設置工程とを含む露光装置の製造方法が提供される。
本発明の第3の態様によれば、基板ステージが搭載される下架台部上に複数の中架台部を設置し、複数の中架台部上に、投影光学系を含む露光本体部の少なくとも一部が搭載される上架台部を設置するため、運搬可能な大きさの複数の架台部を用いて、大型の感光性基板上への露光が可能な露光装置を製造することができる。
本発明の第4の態様に従えば、上記態様の露光装置、または露光装置の製造方法により製造された露光装置を用いて所定のパターンを感光性基板上に露光する露光工程と、前記露光工程により露光された前記感光性基板を現像する現像工程とを含むマイクロデバイスの製造方法が提供される。
本発明の第4の態様によれば、上記態様の露光装置、または露光装置の製造方向により製造された露光装置を用いてマイクロデバイスを製造しているため、大型の感光性基板上にマスクのパターンを高精度に露光することができ、良好なマイクロデバイスを得ることができる。
本発明は、特に大型の感光性基板、一例としては外径が500mmを超える大きさの感光性基板に対して露光を行う装置、方法に対して有効である。ここで、感光性基板の外径とは感光性基板の一辺もしくは感光性基板の対角線を示している。
この発明の露光装置によれば、複数の架台部を分離して車両に積載し、運搬することができる。これにより、大型基板を載置することができる大型の基板ステージを備えた露光装置を提供することができる。
また、この発明の露光装置に製造方法によれば、基板ステージが搭載される下架台部上に複数の中架台部を設置し、複数の中架台部上に、投影光学系を含む露光本体部の少なくとも一部が搭載される上架台部を設置するため、運搬可能な大きさの複数の架台部を用いて、大型の感光性基板上への露光が可能な露光装置を製造することができる。
また、この発明のマイクロデバイスの製造方法によれば、この発明の露光装置またはこの発明の製造方法により製造された露光装置を用いてマイクロデバイスを製造しているため、大型の感光性基板上にマスクのパターンを高精度に露光することができ、良好なマイクロデバイスを得ることができる。
この発明の実施の形態にかかる露光装置の概略構成を示す図である。 この発明の実施の形態にかかるマスクステージからプレートステージまでの構成を示す斜視図である。 押し当て基準面の構成を示す図である。 この発明の実施の形態にかかる露光装置の製造方法について説明するためのフローチャートである。 実施の形態にかかるマイクロデバイスとしての半導体デバイスの製造方法を示すフローチャートである。 実施の形態にかかるマイクロデバイスとしての液晶表示素子の製造方法を示すフローチャートである。 従来の露光装置のマスクステージからプレートステージまでの概略構成を示す斜視図である。
以下、図面を参照して、この発明の実施の形態にかかる露光装置について説明する。図1は、この実施の形態にかかる露光装置の概略構成を示す図である。なお、以下の説明においては、図1中に示すXYZ直交座標系を設定し、このXYZ直交座標系を参照しつつ各部材の位置関係について説明する。XYZ直交座標系は、X軸及びY軸がプレートPに対して平行となるように設定され、Z軸がプレートPに対して直交する方向に設定されている。図中のXYZ座標系は、実際にはXY平面が水平面に平行な面に設定され、Z軸が鉛直上方向に設定される。また、この実施の形態においてはプレートP(プレートステージPST)を移動させる方向(走査方向)がX軸方向に設定されている。
この露光装置は、図1に示すように、光源及び照明光学系を含む照明光学装置ILを備えている。照明光学装置ILから射出される光束は、所定のパターンが形成されたマスクMを重畳的に照明する。マスクMのパターンを通過した光束は、投影光学系PLを介して、外径が500mmを超える大きさの感光性基板であるプレートP上にマスクMのパターン像を形成する。ここで、外径が500mmを超える大きさとは、一辺若しくは対角線が500mmよりも大きいことをいう。こうして、この露光装置は、XY平面内においてマスクMを載置するマスクステージMSTと、プレートPを載置するプレートステージ(基板ステージ)PSTとを走査方向(X軸方向)に投影光学系PLに対して相対的に同期移動させ、かつプレートステージPSTを二次元的に駆動制御しながらスキャン露光を行うことにより、プレートPの複数の露光領域にそれぞれマスクMのパターンを露光する。そして、プレートP上に複数のフラットパネルディスプレイデバイスが形成される。なお、本実施の形態では、照明光学装置IL、マスクステージMST、及び投影光学系PLによって露光本体部が構成されるが、例えばマスクMの代わりに電子マスク(可変成形マスクとも呼ばれ、例えば非発光型画像表示素子(空間光変調器)の一種であるDMD(Digital Micro-mirror Device)などを含む)を用いる場合はマスクステージMSTが不要となる。また、投影光学系PLは少なくともY軸方向の異なる位置にそれぞれパターン像の投影領域が設定される複数の投影光学モジュールを有するものとしてもよい。
また、この露光装置は、図1に示すように、露光装置本体が設置されているベース上に4つの防振システム(支持部材)4a,4b,4c(図2参照)及び図示しない防振システム(以下、防振システム4dという。)を備えている。図2は、この実施の形態にかかる露光装置のマスクステージMSTからプレートステージPSTまでの概略構成を示す斜視図である。なお、図2においては、投影光学系PLの図示を省略している。
図1及び図2に示すように、防振システム4a,4bは、防振システム4a,4b上に載置されている下架台部6aの長手方向の両端に配置されている。また、図2に示すように、防振システム4c,4dは、防振システム4c,4d上に載置されている下架台部6bの長手方向の両端に配置されている。防振システム4a〜4dは、露光装置を組み立てた後に、後述するエアーガイド12a,12bのねじれを調整することができる。防振システム4a,4bにより支持されている下架台部6aは、−X方向側であって、プレートステージPSTの走査方向と交差する方向(所定の方向、本実施形態ではY軸方向)に下架台部6aの長手方向を有するように配置されている。また、防振システム4c,4dにより支持されている下架台部6bは、+X方向側であって、プレートステージPSTの走査方向と交差する方向(所定の方向)に下架台部6bの長手方向を有するように配置されている。下架台部6a,6bは、長手方向と交差する方向に分離されて配置され、この実施の形態では2つの構造材からなる。下架台部6a,6bは、後述する中架台部22a,22bを介して、上架台部26を支持している。
また、図2に示すように、下架台部6a,6bには、定盤8(ひいては、プレートステージPST)が搭載されている。また、下架台部6a,6b上には、−Y方向側であってX方向に長手方向を有するリニアモータ固定子10aが設置されており、+Y方向側であってX方向に長手方向を有するリニアモータ固定子10bが設置されている。
また、下架台部6a,6b上に搭載されている定盤8上には、プレートステージPSTの走査方向のガイドであるエアーガイド12a,12bを介して、プレートステージPSTの走査方向と交差する方向(非走査方向)のガイドであるエアーガイド14がリニアモータ固定子10aと10bの間に配置されている。エアーガイド14には、プレートステージPSTの走査方向のアクチュエータであるリニアモータ16aがリニアモータ固定子10a側に接続されており、プレートステージPSTの走査方向のアクチュエータであるリニアモータ16bがリニアモータ固定子10b側に接続されている。従って、リニアモータ16a,16bを駆動することによりエアーガイド14(ひいてはプレートステージPST)が走査方向に沿って移動する。
エアーガイド14上には、プレートステージPSTが載置されており、プレートステージPST上のプレートホルダ(図示せず)を介してプレートP(図2においては、図示せず)が吸着保持されている。また、プレートステージPST上には−X方向側に移動鏡18a、リニアモータ固定子10b側に移動鏡18bが設けられており、定盤8上には−X方向側にプレートステージ干渉計20a、後述する中架台部22bの−Y方向側に側面にはプレートステージ干渉計20bが設けられている。プレートステージレーザ干渉計20a,20bから射出されるレーザ光は、移動鏡18a,18bのそれぞれに入射し、移動鏡18a,18bにより反射される。
プレートステージレーザ干渉計20aは、移動鏡18aにより反射されたレーザ光の干渉に基づいて、プレートステージPSTのX軸方向における位置を計測及び制御する。また、プレートステージレーザ干渉計20bは、移動鏡18bにより反射されたレーザ光の干渉に基づいてプレートステージPSTのY軸方向における位置を計測及び制御する。
また、−Y方向側の下架台部6a,6b上には、中架台部22aが載置されており、+Y方向側の下架台部6a,6b上には、中架台部22bが載置されている。中架台部22a,22bは、下架台部6a,6bと連結され、かつ下架台部6a,6bと後述する上架台部26を連結している。また、中架台部22a,22bは、下架台部6a,6bの長手方向と交差する方向(X軸方向、所定の方向と交差する方向)に中架台部22a,22bの長手方向を有するように配置されている。即ち、中架台部22aは、−Y方向側であって、中架台部22aの長手方向がプレートステージPSTの走査方向と平行となるように配置されている。また、中架台部22bは、+Y方向側であって、中架台部22bの長手方向がプレートステージPSTの走査方向と平行となるように配置されている。このように、下架台部6a,6bに対して中架台部22a,22bが井形構造で連結され、下架台部6a,6bの上方に中架台部22a,22bで挟まれた空間が形成される。
下架台部6aと中架台部22aとの連結部には、補正用スペーサ(位置調整用の補正部材)24aが設けられており、補正用スペーサ24aは下架台部6aと中架台部22aの加工精度を緩和する機能を有する。補正用スペーサ24aの寸法は、下架台部6a及び中架台部22aの加工時の寸法データに基づいて決定される。同様に、下架台部6aと中架台部22bとの連結部には補正用スペーサ(位置調整用の補正部材)24bが設けられ、下架台部6bと中架台部22aとの連結部には補正用スペーサ(位置調整用の補正部材)24cが設けられ、下架台部6bと中架台部22bとの連結部には図示しない補正用スペーサ(位置調整用の補正部材、以下では補正用スペーサ24dという。)が設けられており、補正用スペーサ24b〜24dは、下架台部6a,6bと中架台部22a,22bの加工精度を緩和する機能を有する。補正用スペーサ24b〜24dの寸法は、下架台部6a,6b及び中架台部22a,22bの加工時の寸法データに基づいて決定される。
また、下架台部6aと中架台部22aとの連結部には、図3の斜線部で示す押し当て基準面25が設けられており、エアキャスタ等を用いて下架台部6aの押し当て基準面25に中架台部22aの対応する面が押し当てられている。下架台部6aと中架台部22bとの連結部、及び下架台部6bと中架台部22a,22bとの連結部にも、押し当て基準面25と同様の押し当て基準面が設けられており、エアキャスタ等を用いて下架台部6a,6bの押し当て基準面に中架台部22a,22bの対応する面が押し当てられている。
また、中架台部22a,22b上には、上架台部26が載置されており、上架台部26は、プレートステージPSTの走査方向と交差する方向(所定の方向)に長手方向を有し、中架台部22a,22bの長手方向と交差して連結されている。上架台部26には、マスクステージMST及び投影光学系PLが搭載されており、上架台部26と下架台部6a,6bとで囲まれた空間の幅が、500mmを超える大きさとなるように構成されている。
また、中架台部22a,22bの間隔は、500mmを超える幅を有している。このように構成することにより、上架台部26と下架台部6a,6bと中架台部22a,22bとで囲まれた空間の幅が、500mmを超える大きさとなり、500mmを超える大きさの基板を載置可能なプレートステージPSTを組み込むことができる。また、中架台部22a,22bの間隔は、プレートPの大きさに対応した空間、またはプレートステージPSTの移動量に対応するような空間が形成されるように設定される。
また、上架台部26と中架台部22aの連結部には補正用シム(位置調整用の補正部材)28a,28bが設けられており、補正用シム28a,28bは、露光装置を組み立てた後に発生する後述するエアーガイド32a,32bのねじれを調整する。即ち、上架台部26と中架台部22aとの間にジャッキを挿入できるように構成されているため、上架台部26と中架台部22aとの組み立て誤差によるエアーガイド32a,32bのねじれを、補正用シム28a,28bにより容易に微調整することができる。同様に、上架台部26及び中架台部22bとの連結部には補正用シム(位置調整用の補正部材)28c及び図示しない補正用シム(位置調整用の補正部材、以下補正用シム28dという。)が設けられており、補正用シム28c,28dは、露光装置を組み立てた後に発生する後述するエアーガイド32a,32bのねじれを調整する。即ち、上架台部26と中架台部22bとの間にジャッキを挿入できるように構成されているため、上架台部26と中架台部22bとの組み立て誤差によるエアーガイド32a,32bのねじれを、補正用シム28c,28dにより容易に微調整することができる。
また、上架台部26と中架台部22a,22bとの連結部には図3の斜線部で示す押し当て基準面25と同様の押し当て基準面が、それぞれ設けられており、エアキャスタ等を用いてそれぞれの押し当て基準面に、上架台部26と中架台部22a,22bとが押し当てられている。
上架台部26上には、−Y方向側にX方向に長手方向を有するマスク用リニアモータ固定子30aが設置されている。また、上架台部26上には、+Y方向側にX方向に長手方向を有するマスク用リニアモータ固定子30bが設置されている。また、上架台部26上には、マスクステージMSTの走査方向(X軸方向)のガイドであるエアーガイド32a,32bを介して図示しないマスクサブステージがリニアモータ固定子30aと30bとの間に載置されている。マスクサブステージには、マスクステージMSTの走査方向と交差する方向(Y軸方向、非走査方向)のアクチュエータである非走査方向リニアモータ34が接続されている。また、非走査方向リニアモータ34にはマスクステージMSTの走査方向のアクチュエータであるマスクサブステージ用リニアモータ36がマスク用リニアモータ固定子30a側に接続されている。従って、マスクサブステージ用リニアモータ36(及び後述するマスク用リニアモータ38a,38b)を駆動することにより、マスクサブステージ及び非走査方向リニアモータ34は、マスクステージMSTと共にマスクステージMSTの走査方向(X軸方向)に沿って移動する。
また、図示しないマスクサブステージ上には、マスクステージMSTが載置されている。マスクステージMSTには、マスクステージMSTの走査方向のアクチュエータであるマスク用リニアモータ38a,38bがマスク用リニアモータ固定子30a側に接続されており、マスクステージMSTの走査方向のアクチュエータである図示しないマスク用リニアモータがマスク用リニアモータ固定子30b側に接続されている。従って、マスク用リニアモータ30a,30b、図示しないマスク用リニアモータ及びマスクサブステージ用リニアモータ36を駆動することによりマスクサブステージ、非走査方向リニアモータ34及びマスクステージMSTが、マスクステージMSTの走査方向(X軸方向)に沿って移動する。
また、マスクステージMST上には、マスクホルダ(図示せず)を介してマスクM(図2においては、図示せず)が吸着保持されている。また、マスクステージMSTの−X方向側の側面には、図示しない2つの移動鏡が設けられており、2つの移動鏡には、マスクステージレーザ干渉計40a,40bから射出されるレーザ光がそれぞれ入射し、入射したレーザ光は2つの移動鏡により反射される。マスクステージレーザ干渉計40a,40bは、2つの移動鏡により反射されたレーザ光の干渉に基づいてマスクステージMSTのX軸方向における位置を計測及び制御する。
また、マスクステージMST上には、マスクステージレーザ干渉計40cがリニアモータ固定子30b側に設けられている。また、マスクレーザ干渉計40cから射出されるレーザ光は、固定鏡42に入射する。固定鏡42は、マスク用リニアモータ固定子30bを挟んでマスクステージMSTに対向する位置にマスク用リニアモータ固定子30bの長手方向(X軸方向)に沿って設置されている。マスクステージレーザ干渉計40cは、固定鏡42により反射されたレーザ光の干渉に基づいてマスクステージMSTのY軸方向における位置を計測及び制御する。
次に、この実施の形態にかかる露光装置の製造方法について説明する。図4は、この実施の形態にかかる露光装置の製造方法について説明するためのフローチャートである。
まず、プレートPが保持されているプレートステージPSTが搭載される下架台部6a,6bを設置する(ステップS10、下架台部設置工程)。具体的には、下架台部6a,6bをプレートステージPSTの走査方向と交差する方向(Y軸方向)にその長手方向を有するように設置する。
次に、ステップS10において設置された下架台部6a,6b上に中架台部22a,22bを設置する(ステップS11、中架台部設置工程)。具体的には、中架台部22a,22bをプレートステージPSTの走査方向(X軸方向)にその長手方向を有するように設置し、中架台部22a,22bの長手方向と下架台部6a,6bの長手方向とを交差させて中架台部22a,22bと下架台部6a,6bとを連結する。連結の際には、連結部材で締結する。連結部材としては、ボルト等を用いてもよく、接着、熔接などをするようにしてもよい。
次に、ステップS11において設置された中架台部22a,22b上に、マスクMを保持するマスクステージMST及び投影光学系PLが搭載される上架台部26を設置する(ステップS12、上架台部設置工程)。具体的には、上架台部26をプレートステージPSTの走査方向と交差する方向(Y軸方向)にその長手方向を有するように設置し、上架台部26の長手方向と中架台部22a,22bの長手方向とを交差させて上架台部26と中架台部22a,22bとを連結する。
この実施の形態にかかる露光装置によれば、プレートステージの走査方向と交差する方向に長手方向を有する2つの下架台部を備え、下架台部の長手方向と交差する方向に長手方向を有する2つの中架台部を備え、中架台部の長手方向と交差する方向に長手方向を有する上架台部を備えているため、架台部を運搬可能な大きさにすることができ、かつ500mmを超える大きさの大型の感光性基板を載置することができる大型の基板ステージを備えた露光装置を提供することができる。
また、下架台部と中架台部との連結部に位置調整用の補正部材としての補正用スペーサを備え、中架台部と上架台部との連結部に位置調整用の補正部材としての補正用シムを備え、各架台部の連結部に押し当て基準面を備えているため、架台部を分割することにより生じる組立て精度の低下を防止することができ、高い露光精度を確保することができる。従って、高い露光精度を有する露光装置により良好に露光を行うことができる。
また、この実施の形態にかかる露光装置に製造方法によれば、プレートステージを支持する下架台部を設置でき、下架台部上に中架台部を設置でき、中架台部上にマスクステージ及び投影光学系を支持する上架台部を高精度に設置することができ、運搬可能な大きさの複数の架台部を備え、かつ大型の感光性基板上への露光が可能な露光装置を製造することができる。
なお、この実施の形態にかかる露光装置においては、2つの下架台部を備えているが、3つ以上の下架台部を備えるようにしてもよい。この場合においては、3つ以上の下架台部のうち少なくとも2つと中架台部とが連結されるようにする。さらに、下架台部は複数ではなく1つのみでもよい。この場合、複数の下架台部を備える露光装置に比べて重量が増大し得るので、例えばハニカム構造を採用して下架台部の軽量化を図るようにしてもよい。また、この実施の形態にかかる露光装置においては、2つの中架台部を備えているが、3つ以上の中架台部を備えるようにしてもよい。この場合においては、3つ以上の中架台部のうち少なくとも2つと上架台部とが連結されるようにする。また、例えばハニカム構造を採用して複数の中架台部の軽量化を図るようにしてもよい。
また、この実施の形態にかかる露光装置においては、上架台部にマスクステージ及び投影光学系の両方を搭載するものとしたが、マスクステージ及び投影光学系の一方のみを上架台部に搭載するものとしてもよいし、あるいはマスクステージ及び投影光学系と異なる、露光本体部の一部(例えば、照明光学系の少なくとも一部など)を上架台部に搭載するものとしてもよい。また、例えばハニカム構造を採用して上架台部の軽量化を図るようにしてもよい。さらに、前述の下架台部と同様に、複数の中架台部の長手方向と交差する方向を長手方向とする複数の上架台部を設けることとしてもよい。この場合、マスクステージが載置される定盤を複数の上架台部に設けてもよい。
また、この実施の形態にかかる露光装置においては、4つの支持部材としての防振システムを備えているが、3つまたは5つ以上の防振システムを備えるようにしてもよい。
上述の実施の形態にかかる露光装置では、照明光学装置によってマスク(レチクル)を照明し(照明工程)、投影光学系を用いてマスクに形成された転写用のパターンを感光性基板に露光する(露光工程)ことにより、マイクロデバイス(半導体素子、撮像素子、液晶表示素子、薄膜磁気ヘッド等)を製造することができる。以下、上述の実施の形態の露光装置を用いて感光性基板としてのプレート等に所定の回路パターンを形成することによって、マイクロデバイスとしての半導体デバイスを得る際の手法の一例につき図5のフローチャートを参照して説明する。
先ず、図5のステップS301において、1ロットのプレート上に金属膜が蒸着される。次のステップS302において、その1ロットのプレート上の金属膜上にフォトレジストが塗布される。その後、ステップS303において、上述の実施の形態の露光装置を用いて、マスク上のパターンの像がその投影光学系を介して、その1ロットのプレート上の各ショット領域に順次露光転写される。その後、ステップS304において、その1ロットのプレート上のフォトレジストの現像が行われた後、ステップS305において、その1ロットのプレート上でレジストパターンをマスクとしてエッチングを行うことによって、マスク上のパターンに対応する回路パターンが、各プレート上の各ショット領域に形成される。その後、更に上のレイヤの回路パターンの形成等を行うことによって、半導体素子等のデバイスが製造される。上述の半導体デバイス製造方法によれば、基板上にマスクの微細なパターンを高精度に露光することができ、良好な半導体デバイスを得ることができる。
また、上述の実施の形態の露光装置では、プレート(ガラス基板)上に所定のパターン(回路パターン、電極パターン等)を形成することによって、マイクロデバイスとしての液晶表示素子を得ることもできる。以下、図6のフローチャートを参照して、このときの手法の一例につき説明する。図6において、パターン形成工程S401では、上述の実施形態の露光装置を用いてマスクのパターンを感光性基板(レジストが塗布されたガラス基板等)に転写露光する、所謂光リソグラフィー工程が実行される。この光リソグラフィー工程によって、感光性基板上には多数の電極等を含む所定パターンが形成される。その後、露光された基板は、現像工程、エッチング工程、レジスト剥離工程等の各工程を経ることによって、基板上に所定のパターンが形成され、次のカラーフィルター形成工程S402へ移行する。
次に、カラーフィルター形成工程S402では、R(Red)、G(Green)、B(Blue)に対応した3つのドットの組がマトリックス状に多数配列されたり、またはR、G、Bの3本のストライプのフィルターの組を複数水平走査線方向に配列したカラーフィルターを形成する。そして、カラーフィルター形成工程S402の後に、セル組み立て工程S403が実行される。セル組み立て工程S403では、パターン形成工程S401にて得られた所定パターンを有する基板、およびカラーフィルター形成工程S402にて得られたカラーフィルター等を用いて液晶パネル(液晶セル)を組み立てる。
セル組み立て工程S403では、例えば、パターン形成工程S401にて得られた所定パターンを有する基板とカラーフィルター形成工程S402にて得られたカラーフィルターとの間に液晶を注入して、液晶パネル(液晶セル)を製造する。その後、モジュール組み立て工程S404にて、組み立てられた液晶パネル(液晶セル)の表示動作を行わせる電気回路、バックライト等の各部品を取り付けて液晶表示素子として完成させる。上述の液晶表示素子の製造方法によれば、大型基板上にマスクの微細なパターンを高精度に露光することができ、良好な液晶表示素子を得ることができる。
以上のように、この発明の露光装置、露光装置の製造方法及びマイクロデバイスの製造方法は、液晶表示素子等のフラットパネル表示素子等の大型のマイクロデバイスをリソグラフィ工程で製造するのに適している。

Claims (31)

  1. 投影光学系を介してマスクに形成されるパターンを感光性基板上に露光する露光装置であって、
    前記マスクを保持するマスクステージ及び前記投影光学系の少なくとも一方が搭載される上架台部と、
    前記上架台部から分離可能に設けられ、所定の方向に長手方向を有するとともに、前記上架台部を支持する複数の下架台部と、
    を備えることを特徴とする露光装置。
  2. 前記上架台部と前記下架台部とを連結するとともに、前記所定の方向と交差する方向に長手方向を有する複数の中架台部を備えることを特徴とする請求項1記載の露光装置。
  3. 前記上架台部は、前記所定の方向に長手方向を有し、前記複数の中架台部の長手方向と交差して連結されることを特徴とする請求項2記載の露光装置。
  4. 前記上架台部は、前記複数の中架台部のうちの少なくとも2つと連結されることを特徴とする請求項2または請求項3記載の露光装置。
  5. 前記複数の中架台部は、前記複数の下架台部のうち少なくとも2つと連結されることを特徴とする請求項2乃至請求項4の何れか一項に記載の露光装置。
  6. 前記上架台部及び前記下架台部と前記中架台部とを連結する連結部に、位置調整用の補正部材を備えることを特徴とする請求項2乃至請求項5の何れか一項に記載の露光装置。
  7. 前記上架台部及び前記下架台部と前記中架台部とを連結する連結部は、それぞれ押し当て基準面を有することを特徴とする請求項2乃至請求項6の何れか一項に記載の露光装置。
  8. 前記下架台部には、前記感光性基板を保持する基板ステージが搭載されることを特徴とする請求項1乃至請求項7の何れか一項に記載の露光装置。
  9. 前記下架台部は、少なくとも4つの支持部材で支持されることを特徴とする請求項1乃至請求項8の何れか一項に記載の露光装置。
  10. 前記上架台部と前記複数の下架台部とで囲まれた空間の幅は、500mmを超える大きさであることを特徴とする請求項1乃至請求項9の何れか一項に記載の露光装置。
  11. 投影光学系を介してパターンを感光性基板上に露光する露光装置であって、
    前記投影光学系を含む露光本体部の少なくとも一部が設けられる第1架台部と、
    前記第1架台部から分離可能に設けられ、それぞれ第1方向を長手方向として延び、かつ前記投影光学系を挟んで前記第1方向と交差する第2方向に離れて配置される一対の支持部で前記第1架台部を支持する第2架台部と、
    を備えることを特徴とする露光装置。
  12. 前記第1架台部は、前記露光本体部のうち少なくとも前記投影光学系が設けられることを特徴とする請求項11記載の露光装置。
  13. 前記露光本体部は、マスクを保持するマスクステージを含み、前記第1架台部は、前記マスクステージ及び前記投影光学系の少なくとも一方が設けられることを特徴とする請求項11記載の露光装置。
  14. 前記投影光学系と前記感光性基板とを走査方向に相対移動して、前記パターンを前記感光性基板に露光し、前記第1方向は、前記走査方向ほぼ平行であることを特徴とする請求項11乃至請求項13の何れか一項に記載の露光装置。
  15. 前記第1架台部は、前記第2方向を長手方向とすることを特徴とする請求項11乃至請求項14の何れか一項に記載の露光装置。
  16. 前記第2架台部は、前記一対の支持部から分離可能に設けられ、前記第2方向を長手方向として延び、かつ前記感光性基板を保持する基板ステージが載置される下架台部を含むことを特徴とする請求項11乃至請求項15の何れか一項に記載の露光装置。
  17. 前記第2架台部は、前記第1方向に離れて配置される一対の前記下架台部で前記一対の支持部を支持することを特徴とする請求項16記載の露光装置。
  18. 前記第2架台部は、前記一対の支持部から分離可能に設けられ、前記第2方向を長手方向として延び、かつ前記第1方向に離れて配置される複数の下架台部を含むことを特徴とする請求項11乃至請求項15の何れか一項に記載の露光装置。
  19. 前記第2架台部は、前記下架台部上に長手方向が前記第1方向と一致して配置される定盤を含み、前記感光性基板を保持する基板ステージが前記定盤上に載置されることを特徴とする請求項17または請求項18記載の露光装置。
  20. 前記第2架台部は、前記一対の支持部によって前記投影光学系が配置される空間を規定することを特徴とする請求項11乃至請求項19の何れか一項に記載の露光装置。
  21. 前記感光性基板は、外径が500mmを超える大きさであることを特徴とする請求項1乃至請求項20の何れか一項に記載の露光装置。
  22. 投影光学系を介してパターンを感光性基板上に露光する露光装置の製造方法であって、
    前記感光性基板を保持する基板ステージが搭載される下架台部を設置する下架台部設置工程と、
    前記下架台部設置工程により設置された前記下架台部上に複数の中架台部を設置する中架台部設置工程と、
    前記中架台部設置工程により設置された前記複数の中架台部上に、前記投影光学系を含む露光本体部の少なくとも一部が搭載される上架台部を設置する上架台部設置工程と、
    を含むことを特徴とする露光装置の製造方法。
  23. 前記複数の中架台部は、前記下架台部上でそれぞれ長手方向が第1方向と一致し、かつ前記投影光学系を挟んで前記第1方向と交差する第2方向に離れて配置されることを特徴とする請求項22記載の露光装置の製造方法。
  24. 前記上架台部は、前記複数の中架台部上でその長手方向が前記第2方向と一致して配置されることを特徴とする請求項22または請求項23記載の露光装置の製造方法。
  25. 前記下架台部は、前記第2方向と長手方向が一致し、かつ前記第1方向に離れて複数配置されることを特徴とする請求項22乃至請求項24の何れか一項に記載の露光装置の製造方法。
  26. 前記基板ステージは、前記下架台部上に長手方向が前記第1方向と一致して配置される定盤上に載置されることを特徴とする請求項25記載の露光装置の製造方法。
  27. 前記露光本体部のうちマスクを保持するマスクステージ及び前記投影光学系の少なくとも一方が前記上架台部に設けられることを特徴とする請求項22乃至請求項26の何れか一項に記載の露光装置の製造方法。
  28. 前記感光性基板は、外径が500mmを超える大きさであることを特徴とする請求項22乃至請求項27の何れか一項に記載の露光装置の製造方法。
  29. 請求項1乃至請求項21の何れか一項に記載の露光装置を用いて所定のパターンを感光性基板上に露光する露光工程と、
    前記露光工程により露光された前記感光性基板を現像する現像工程と、
    を含むことを特徴とするマイクロデバイスの製造方法。
  30. 請求項22乃至請求項28の何れか一項に記載の露光装置の製造方法により製造された露光装置を用いて所定のパターンを感光性基板上に露光する露光工程と、
    前記露光工程により露光された前記感光性基板を現像する現像工程と、
    を含むことを特徴とするマイクロデバイスの製造方法。
  31. 前記感光性基板上に複数のフラットパネルディスプレイデバイスが形成されることを特徴とする請求項29または請求項30記載のマイクロデバイスの製造方法。
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Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5190678B2 (ja) * 2008-04-30 2013-04-24 株式会社リコー ローラ間距離調節方法、現像ギャップ調節方法、ローラ装置、作像装置、プロセスカートリッジ、画像形成装置
US8659746B2 (en) 2009-03-04 2014-02-25 Nikon Corporation Movable body apparatus, exposure apparatus and device manufacturing method
TW201100975A (en) * 2009-04-21 2011-01-01 Nikon Corp Moving-object apparatus, exposure apparatus, exposure method, and device manufacturing method
US8395758B2 (en) * 2009-05-15 2013-03-12 Nikon Corporation Exposure apparatus and device manufacturing method
US20110042874A1 (en) 2009-08-20 2011-02-24 Nikon Corporation Object processing apparatus, exposure apparatus and exposure method, and device manufacturing method
CN102483580B (zh) 2009-08-20 2015-04-01 株式会社尼康 物体处理装置、曝光装置及曝光方法、以及元件制造方法
US8699001B2 (en) * 2009-08-20 2014-04-15 Nikon Corporation Object moving apparatus, object processing apparatus, exposure apparatus, object inspecting apparatus and device manufacturing method
US20110141448A1 (en) * 2009-11-27 2011-06-16 Nikon Corporation Substrate carrier device, substrate carrying method, substrate supporting member, substrate holding device, exposure apparatus, exposure method and device manufacturing method
US20110244396A1 (en) 2010-04-01 2011-10-06 Nikon Corporation Exposure apparatus, exchange method of object, exposure method, and device manufacturing method
US8598538B2 (en) 2010-09-07 2013-12-03 Nikon Corporation Movable body apparatus, object processing device, exposure apparatus, flat-panel display manufacturing method, and device manufacturing method
JP6035670B2 (ja) 2012-08-07 2016-11-30 株式会社ニコン 露光方法、フラットパネルディスプレイの製造方法、及びデバイス製造方法、並びに露光装置
EP2759735B1 (de) * 2013-01-29 2016-06-15 Integrated Dynamics Engineering GmbH Stationäres Schwingungsisolationssystem sowie Verfahren zur Regelung eines Schwingungsisolationssystems
WO2015147319A1 (ja) 2014-03-28 2015-10-01 株式会社ニコン 移動体装置、露光装置、フラットパネルディスプレイの製造方法、デバイス製造方法、及び移動体駆動方法
CN108139694B (zh) 2015-09-30 2021-08-03 株式会社尼康 曝光装置、曝光方法以及平面显示器制造方法
KR102633248B1 (ko) 2015-09-30 2024-02-02 가부시키가이샤 니콘 노광 장치 및 노광 방법, 그리고 플랫 패널 디스플레이 제조 방법
US10268121B2 (en) 2015-09-30 2019-04-23 Nikon Corporation Exposure apparatus and exposure method, and flat panel display manufacturing method
JP6958355B2 (ja) * 2015-09-30 2021-11-02 株式会社ニコン 露光装置、フラットパネルディスプレイの製造方法、及びデバイス製造方法
WO2017057539A1 (ja) 2015-09-30 2017-04-06 株式会社ニコン 露光装置及び露光方法、並びにフラットパネルディスプレイ製造方法
CN108139680B (zh) 2015-09-30 2021-12-07 株式会社尼康 曝光装置、曝光方法、平面显示器的制造方法、及元件制造方法
CN112415863B (zh) 2015-09-30 2023-05-23 株式会社尼康 曝光装置、平面显示器的制造方法、组件制造方法、及曝光方法
KR20180059861A (ko) 2015-09-30 2018-06-05 가부시키가이샤 니콘 이동체 장치, 노광 장치, 플랫 패널 디스플레이의 제조 방법, 및 디바이스 제조 방법, 그리고 물체의 이동 방법
CN108139677B (zh) * 2015-09-30 2021-06-22 株式会社尼康 曝光装置、平面显示器之制造方法、以及元件制造方法
KR102318643B1 (ko) 2016-09-30 2021-10-27 가부시키가이샤 니콘 이동체 장치, 이동 방법, 노광 장치, 노광 방법, 플랫 패널 디스플레이의 제조 방법, 그리고 디바이스 제조 방법
JP6760389B2 (ja) 2016-09-30 2020-09-23 株式会社ニコン 移動体装置、移動方法、露光装置、露光方法、フラットパネルディスプレイの製造方法、並びにデバイス製造方法
CN109791365B (zh) 2016-09-30 2021-07-23 株式会社尼康 移动体装置、移动方法、曝光装置、曝光方法、平板显示器的制造方法、以及元件制造方法
CN112965345B (zh) 2016-09-30 2023-05-16 株式会社尼康 移动体装置、曝光装置、平板显示器的制造方法
CN110114725B (zh) 2016-09-30 2021-09-17 株式会社尼康 搬运装置、曝光装置、平板显示器的制造方法、以及元件制造方法
KR102291688B1 (ko) 2016-09-30 2021-08-19 가부시키가이샤 니콘 노광 장치, 플랫 패널 디스플레이의 제조 방법, 디바이스 제조 방법, 및 노광 방법

Family Cites Families (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4803712A (en) * 1987-01-20 1989-02-07 Hitachi, Ltd. X-ray exposure system
US5614988A (en) 1993-12-06 1997-03-25 Nikon Corporation Projection exposure apparatus and method with a plurality of projection optical units
US6989647B1 (en) * 1994-04-01 2006-01-24 Nikon Corporation Positioning device having dynamically isolated frame, and lithographic device provided with such a positioning device
US5528118A (en) * 1994-04-01 1996-06-18 Nikon Precision, Inc. Guideless stage with isolated reaction stage
JPH08111371A (ja) * 1994-10-06 1996-04-30 Canon Inc 投影露光装置
JP3221823B2 (ja) * 1995-11-24 2001-10-22 キヤノン株式会社 投影露光装置およびこれを用いた露光方法ならびに半導体製造方法
JPH09289155A (ja) * 1996-04-19 1997-11-04 Nikon Corp 走査型露光装置
KR100471461B1 (ko) * 1996-05-16 2005-07-07 가부시키가이샤 니콘 노광방법및노광장치
JP3266515B2 (ja) * 1996-08-02 2002-03-18 キヤノン株式会社 露光装置、デバイス製造方法およびステージ装置
JPH1054932A (ja) * 1996-08-08 1998-02-24 Nikon Corp 投影光学装置及びそれを装着した投影露光装置
JPH1089403A (ja) * 1996-09-10 1998-04-07 Nikon Corp 防振装置
US6490025B1 (en) * 1997-03-17 2002-12-03 Nikon Corporation Exposure apparatus
JPH1116820A (ja) * 1997-06-27 1999-01-22 Nikon Corp 露光方法及び装置
AU9095798A (en) * 1997-09-19 1999-04-12 Nikon Corporation Stage device, a scanning aligner and a scanning exposure method, and a device manufactured thereby
JPH11274031A (ja) * 1998-03-20 1999-10-08 Canon Inc 露光装置およびデバイス製造方法ならびに位置決め装置
JPH11295901A (ja) * 1998-04-10 1999-10-29 Nikon Corp 露光装置
JPH11315883A (ja) * 1998-04-30 1999-11-16 Canon Inc 除振装置、露光装置およびデバイス製造方法
JP2000047390A (ja) * 1998-05-22 2000-02-18 Nikon Corp 露光装置およびその製造方法
JP2000021702A (ja) * 1998-06-30 2000-01-21 Canon Inc 露光装置ならびにデバイス製造方法
EP1143492A4 (en) * 1998-09-03 2004-06-02 Nikon Corp EXPOSURE APPARATUS AND METHOD, DEVICE AND METHOD FOR PRODUCING SAID APPARATUS
JP2001297960A (ja) * 2000-04-11 2001-10-26 Nikon Corp ステージ装置および露光装置
EP1160628B1 (en) * 2000-06-02 2007-07-18 ASML Netherlands B.V. Lithographic projection apparatus with a supporting assembly
JP2002082445A (ja) * 2000-07-07 2002-03-22 Nikon Corp ステージ装置及び露光装置
US6774981B1 (en) * 2000-09-08 2004-08-10 Nikon Corporation Modular exposure apparatus with removable optical device and improved isolation of the optical device
JP2002289515A (ja) * 2000-12-28 2002-10-04 Nikon Corp 製品の製造方法、露光装置の製造方法、露光装置、及びデバイス製造方法
WO2002065519A1 (fr) * 2001-02-13 2002-08-22 Nikon Corporation Dispositif de support, procede de support, dispositif d'exposition et procede de production des dispositifs
US6538720B2 (en) * 2001-02-28 2003-03-25 Silicon Valley Group, Inc. Lithographic tool with dual isolation system and method for configuring the same
US6529260B2 (en) * 2001-05-03 2003-03-04 Nikon Corporation Lifting support assembly for an exposure apparatus
JP2004012903A (ja) * 2002-06-07 2004-01-15 Fuji Photo Film Co Ltd 露光装置
JP4269610B2 (ja) * 2002-09-17 2009-05-27 株式会社ニコン 露光装置及び露光装置の製造方法
JP4378938B2 (ja) * 2002-11-25 2009-12-09 株式会社ニコン 露光装置、及びデバイス製造方法
US6870600B2 (en) * 2003-01-13 2005-03-22 Nikon Corporation Vibration-attenuation devices and methods using pressurized bellows exhibiting substantially zero lateral stiffness
TWI338323B (en) * 2003-02-17 2011-03-01 Nikon Corp Stage device, exposure device and manufacguring method of devices
KR20060009957A (ko) * 2003-05-27 2006-02-01 가부시키가이샤 니콘 노광 장치 및 디바이스의 제조 방법
EP1660942A2 (en) * 2003-08-27 2006-05-31 Koninklijke Philips Electronics N.V. Method of forming optical images, a control circuit for use with this method, apparatus for carrying out said method and process for manufacturing a device using said method
EP1513018A1 (en) * 2003-09-04 2005-03-09 ASML Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method

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