JPS63243259A - セラミツクス極薄膜の製造方法 - Google Patents
セラミツクス極薄膜の製造方法Info
- Publication number
- JPS63243259A JPS63243259A JP7903687A JP7903687A JPS63243259A JP S63243259 A JPS63243259 A JP S63243259A JP 7903687 A JP7903687 A JP 7903687A JP 7903687 A JP7903687 A JP 7903687A JP S63243259 A JPS63243259 A JP S63243259A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- ceramic film
- thin ceramic
- ultra
- thin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 title claims abstract description 23
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 29
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 21
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 21
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims abstract description 8
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 claims abstract 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims abstract 2
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 14
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 10
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims 2
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 6
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052593 corundum Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910001845 yogo sapphire Inorganic materials 0.000 description 5
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 2
- 239000005028 tinplate Substances 0.000 description 2
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 1
- 238000003852 thin film production method Methods 0.000 description 1
- 239000013585 weight reducing agent Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、主として中高音用スピーカーの振動板として
用いるセラミックス極薄膜の製造方法に関する。
用いるセラミックス極薄膜の製造方法に関する。
(従来の技術)
従来、中高音用スピーカーの振動板には、A2Ti等の
金属薄膜が使われていた。
金属薄膜が使われていた。
(発明が解決しようとする問題点)
ところが、近時軽量で剛性の高い材料から成る振動板が
要求されているが、これまで使われているAl、Ti等
の金属薄膜は圧延により製造される為、軽量化には限界
がある。この為、A 1203、TiN等のセラミック
スが考えられるが、セラミックスは従来の研摩技術では
数100μmオーダーまでの研摩が限界であり、数10
μmオーダーの研摩は不可能であり、また任意の形状に
加工することは困難であった。
要求されているが、これまで使われているAl、Ti等
の金属薄膜は圧延により製造される為、軽量化には限界
がある。この為、A 1203、TiN等のセラミック
スが考えられるが、セラミックスは従来の研摩技術では
数100μmオーダーまでの研摩が限界であり、数10
μmオーダーの研摩は不可能であり、また任意の形状に
加工することは困難であった。
(発明の目的)
本発明は、上記諸事情に鑑みなされたもので、数10μ
mオーダーのセラミックス極薄膜を得ることのできる製
造方法を提供することを目的とするものである。
mオーダーのセラミックス極薄膜を得ることのできる製
造方法を提供することを目的とするものである。
(問題点を解決するための手段)
上記問題点を解決するための本発明のセラミックス極薄
膜の製造方法は、エツチング可能な金属基板にメタルマ
スクをセットして所要のパターンを得、次に蒸着、スパ
ッタリング、イオンプレーティング、CVD (化学気
相成長)等により金属基板上にセラミックスの0.1〜
50μmの極薄膜を形成し、然る後エツチングにより金
属基板を除去し、単独のセラミックス極薄膜を得ること
を特徴とするものである。
膜の製造方法は、エツチング可能な金属基板にメタルマ
スクをセットして所要のパターンを得、次に蒸着、スパ
ッタリング、イオンプレーティング、CVD (化学気
相成長)等により金属基板上にセラミックスの0.1〜
50μmの極薄膜を形成し、然る後エツチングにより金
属基板を除去し、単独のセラミックス極薄膜を得ること
を特徴とするものである。
(作用)
上記のように本発明のセラミックス極薄膜の製造方法は
従来のメタルマスクをセットし、真空中における薄膜作
成法を利用して、セラミックスの極薄膜を作成するので
あるから、軽量で剛性の高いセラミックス極薄膜を容易
に得ることができる。
従来のメタルマスクをセットし、真空中における薄膜作
成法を利用して、セラミックスの極薄膜を作成するので
あるから、軽量で剛性の高いセラミックス極薄膜を容易
に得ることができる。
(実施例)
本発明のセラミックス極薄膜の製造方法の第1実施例を
第1図及び第2図によって説明する。第1図に示す如(
スパッタリング装置1内のテーブル2に、酸、アルカリ
でエツチング可能なAj2、Cu、SUS等の金属、本
例ではC’uより成る縦6(1+m、横60鰭、厚さ0
.05mmより成る基板3をセットし、このCu基板3
上に縦80龍、横80酊の外側形状、直径30龍の内側
形状で厚さ0.1mmの5US314より成る枠状のメ
タルマスク4をセントして所要のパターンを得た。次に
Cu基板3に対向してテーブル5にターゲットとして直
径152.4mm、厚さ5 mmの、l!203板6を
セントし、Cu基板3とAl2O3板6との間隔を90
龍となした後、スパッタリング装置1内を5 xto−
”r o r rまで真空線引きした後1.0×l0−
3T o r rのArガス雰囲気になし、Al2O3
をRF3に−で10時間スパッターして、メタルマスク
4内のCu5板3上のパターンにAl2O3をコーティ
ングして20μmの極薄膜7を形成した。冷却後、スパ
ッタリング装置1内よりCu基板3を取り出し、Cu基
板3上のメタルマスク4を外し、第2図に示す如<Cu
基板3を槽8内のエツチング液9、本例では21に30
分間浸漬し、Cu基板3を溶解除去し、直径30龍、厚
さ20μmの円形の単独のAl2O3極薄膜7を得た。
第1図及び第2図によって説明する。第1図に示す如(
スパッタリング装置1内のテーブル2に、酸、アルカリ
でエツチング可能なAj2、Cu、SUS等の金属、本
例ではC’uより成る縦6(1+m、横60鰭、厚さ0
.05mmより成る基板3をセットし、このCu基板3
上に縦80龍、横80酊の外側形状、直径30龍の内側
形状で厚さ0.1mmの5US314より成る枠状のメ
タルマスク4をセントして所要のパターンを得た。次に
Cu基板3に対向してテーブル5にターゲットとして直
径152.4mm、厚さ5 mmの、l!203板6を
セントし、Cu基板3とAl2O3板6との間隔を90
龍となした後、スパッタリング装置1内を5 xto−
”r o r rまで真空線引きした後1.0×l0−
3T o r rのArガス雰囲気になし、Al2O3
をRF3に−で10時間スパッターして、メタルマスク
4内のCu5板3上のパターンにAl2O3をコーティ
ングして20μmの極薄膜7を形成した。冷却後、スパ
ッタリング装置1内よりCu基板3を取り出し、Cu基
板3上のメタルマスク4を外し、第2図に示す如<Cu
基板3を槽8内のエツチング液9、本例では21に30
分間浸漬し、Cu基板3を溶解除去し、直径30龍、厚
さ20μmの円形の単独のAl2O3極薄膜7を得た。
次に第2実施例を第3図及び第4図によって説明する。
第3図に示す如くスパッタリング装置1内のテーブル2
に、鏡面加工したコーン状の5US314より成る基板
3′をセットし、この基板3′上に外径601Im、内
径20龍、厚さ0.1m(7) S U 5314より
成る環状のメタルマスク4′をセットして所要のパター
ンを得た。次に基板3′に対向してテーブル5にターゲ
ットとして直径152.4+nのTiN板6′をセント
し、基板3′とTiN板6′との間隔を90鶴となした
後、スパッタリング装置1内を5 xto−”r o
r rまで真空線引きした後1.0×10−’T o
r rのArガス雰囲気になし、TiNを500Vで1
0時間スパンターして、メタルマスク4′内の基板3′
上のパターンにTiNをコーティングして30μmの極
薄膜7′を形成した。冷却後スパッタリング装置1内よ
り基板3′を取出し、基板3′上のメタルマスク4′を
外し、第4図に示す如く基板3′を槽8内のエツチング
液9、本例では21に1時間浸漬し、基板3′溶解除去
し、直径20關、高さ20鶴の、厚さ30μmのコーン
形の単独TiN極薄膜7′を得た。
に、鏡面加工したコーン状の5US314より成る基板
3′をセットし、この基板3′上に外径601Im、内
径20龍、厚さ0.1m(7) S U 5314より
成る環状のメタルマスク4′をセットして所要のパター
ンを得た。次に基板3′に対向してテーブル5にターゲ
ットとして直径152.4+nのTiN板6′をセント
し、基板3′とTiN板6′との間隔を90鶴となした
後、スパッタリング装置1内を5 xto−”r o
r rまで真空線引きした後1.0×10−’T o
r rのArガス雰囲気になし、TiNを500Vで1
0時間スパンターして、メタルマスク4′内の基板3′
上のパターンにTiNをコーティングして30μmの極
薄膜7′を形成した。冷却後スパッタリング装置1内よ
り基板3′を取出し、基板3′上のメタルマスク4′を
外し、第4図に示す如く基板3′を槽8内のエツチング
液9、本例では21に1時間浸漬し、基板3′溶解除去
し、直径20關、高さ20鶴の、厚さ30μmのコーン
形の単独TiN極薄膜7′を得た。
こうして得られた第1実施例のAl2O3極薄膜7及び
第2実施例のT i N極薄膜7′は共に軽量で剛性の
高いので中高音用スピーカーの振動板として好適なであ
る。
第2実施例のT i N極薄膜7′は共に軽量で剛性の
高いので中高音用スピーカーの振動板として好適なであ
る。
(発明の効果)
以上の説明で判るように本発明のセラミックス極薄膜の
製造方法によれば、従来不可能だった0、1〜50μm
の膜厚で、所要形状のセラミ・7クスより成る軽量で剛
性の高い中高音用スピーカーの振動板として好適な極薄
膜を容易に得ることができるという効果がある。
製造方法によれば、従来不可能だった0、1〜50μm
の膜厚で、所要形状のセラミ・7クスより成る軽量で剛
性の高い中高音用スピーカーの振動板として好適な極薄
膜を容易に得ることができるという効果がある。
第1図及び第2図は本発明のセラミックス極薄膜の製造
方法の第1実施例の工程を示す図、第3図及び第4図は
本発明のセラミックス極薄膜の製造方法の第2実施例の
工程を示す図である。 出願人 田中貴金属工業株式会社 第2図 第4図 7′・・・ 7iN極尋゛狭
方法の第1実施例の工程を示す図、第3図及び第4図は
本発明のセラミックス極薄膜の製造方法の第2実施例の
工程を示す図である。 出願人 田中貴金属工業株式会社 第2図 第4図 7′・・・ 7iN極尋゛狭
Claims (1)
- エッチング可能な金属基板にメタルマスクをセットして
所要のパターンを得、次に蒸着、スパッタリング、イオ
ンプレーティング、CVD(化学気相成長)等により金
属基板上にセラミックスの0.1〜50μmの極薄膜を
形成し、然る後エッチングにより金属基板を除去し単独
のセラミックス極薄膜を得ることを特徴とするセラミッ
クス極薄膜の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7903687A JPS63243259A (ja) | 1987-03-31 | 1987-03-31 | セラミツクス極薄膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7903687A JPS63243259A (ja) | 1987-03-31 | 1987-03-31 | セラミツクス極薄膜の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63243259A true JPS63243259A (ja) | 1988-10-11 |
Family
ID=13678691
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7903687A Pending JPS63243259A (ja) | 1987-03-31 | 1987-03-31 | セラミツクス極薄膜の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63243259A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015151579A (ja) * | 2014-02-14 | 2015-08-24 | 大日本印刷株式会社 | 蒸着マスク装置の製造方法、基板付蒸着マスクおよび積層体 |
JP2019151936A (ja) * | 2019-06-11 | 2019-09-12 | 大日本印刷株式会社 | 蒸着マスク装置の製造方法、基板付蒸着マスクおよび積層体 |
-
1987
- 1987-03-31 JP JP7903687A patent/JPS63243259A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015151579A (ja) * | 2014-02-14 | 2015-08-24 | 大日本印刷株式会社 | 蒸着マスク装置の製造方法、基板付蒸着マスクおよび積層体 |
JP2019151936A (ja) * | 2019-06-11 | 2019-09-12 | 大日本印刷株式会社 | 蒸着マスク装置の製造方法、基板付蒸着マスクおよび積層体 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5241417A (en) | Multi-layered optical filter film and production method thereof | |
GB1208962A (en) | Method of fabricating thin films and membranes | |
US3945902A (en) | Metallized device and method of fabrication | |
GB1509077A (en) | Metallic iris diaphragms for corpuscular beam apparatus and to methods of manufacture of such diaphragms | |
JPS63243259A (ja) | セラミツクス極薄膜の製造方法 | |
US4913789A (en) | Sputter etching and coating process | |
US3895671A (en) | Method of manufacturing a thin sheet of beryllium or an alloy thereof | |
JPS6139344A (ja) | シャドウマスク | |
JPS6146408B2 (ja) | ||
CN110534429B (zh) | 一种超导薄膜及其制备方法 | |
JPS63243258A (ja) | 極薄膜の製造方法 | |
JPS59143498A (ja) | スピ−カ−用振動板およびその製造法 | |
JPS6236089A (ja) | セラミツクス製品の製造方法 | |
JPH0795506B2 (ja) | X線露光用マスクの製造方法 | |
JP2002055461A (ja) | メタルマスクの製造方法 | |
RU2054747C1 (ru) | Способ получения рельефа в диэлектрической подложке | |
JPS62109970A (ja) | 真空蒸着槽内堆積物の除去方法 | |
JPS62245900A (ja) | 電気音響変換器用振動板 | |
JPH01154308A (ja) | 磁気ヘッドのギャップ用絶縁材の製造方法 | |
JPS60186194A (ja) | 電気音響変換器用振動板の製造方法 | |
CN113992175A (zh) | 一种滤波器芯片的简化制备方法 | |
JPH0385100A (ja) | スピーカ用振動板及びその製造法 | |
JPS621533B2 (ja) | ||
Blosch | Industrial Applications of PVD and Electrochemical Processes | |
KR820000815B1 (ko) | 다층막(多層膜) 증착법(蒸眼法) |