JPS63166400A - 超音波探触子 - Google Patents

超音波探触子

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Publication number
JPS63166400A
JPS63166400A JP61315375A JP31537586A JPS63166400A JP S63166400 A JPS63166400 A JP S63166400A JP 61315375 A JP61315375 A JP 61315375A JP 31537586 A JP31537586 A JP 31537586A JP S63166400 A JPS63166400 A JP S63166400A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
array
pitch
ultrasonic probe
delay time
vibrators
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61315375A
Other languages
English (en)
Inventor
Isao Uchiumi
勲 内海
Yutaka Matsui
裕 松井
Kinya Takamizawa
高見沢 欣也
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP61315375A priority Critical patent/JPS63166400A/ja
Publication of JPS63166400A publication Critical patent/JPS63166400A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Transducers For Ultrasonic Waves (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
  • Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は超音波診断装置等に使用される超音波の送受信
のための超音波探触子に係り、特に2次元配列振動子を
備えた超音波探触子に関する。
(従来の技術) 超音波診断装置は超音波によって被検体内を走査し、゛
その反射波を検出して断層像を得るものであり、リアル
タイム性と、無侵襲に診断ができるという特長から、急
速に普及している。走査は超音波探触子を機械的に動か
すことにより行なう機械走査と、配列振動子を用いて電
子的な切換えおよび遅延時間の制御により行なう電子走
査とがあるが、走査の高速化と分解能向」二のために電
子走査が主流となっている。電子走査の方式としては、
大きくわけてリニア電子走査とセクタ電子走査とがある
電子走査において走査方向(方位方向)の高分解能化を
図る技術としては、受イd時に被検体内の深さに対応し
た時間に応じて超音波ビームの集束点を順次切換える受
信ダイナミックフォーカス法や、集束点を変えて送受信
を繰返し行ない、集束点付近の画像をつなぎ合せる多段
フォーカス法等がある。また、深さ方向についても超音
波振動子のマツチング層を多層化することにより広帯域
化が図られ、分解能の向上が達成されている。
しかしながら、走査面と垂直の方向、すなわちスライス
方向については、音響レンズによって一点に集束する方
法がとられており、集束点の前後では超音波ビームの幅
が広くなってしまうという問題がある。スライス方向に
は超音波ビームの幅で積分された形で画像が得られるた
め、音響レンズの集束点近傍では良好な画像が得られる
が、超音波ビームの幅が広くなる集束点の前後では像か
ぼけてしまい、細い血管等の微小構造が鮮明に描出され
ないという結果となる。
このような欠点を改答するために、2次元配列振動子を
用い、走査方向に加えてスライス方向にも受信ダイナミ
ックフォーカスや多段フォーカスを適用することにより
、走査方向と同様に分解能を向上させる試みがなされて
いる。
ところが、このような2次元配列振動子を構成するに当
たって、単純に正方形の振動子を組合わせた形にすると
、振動子の総数が非常に多くなり、探触子の製造が困難
となって歩留りを低ドさせるばかりでなく、振動子と電
−r回路とを接続する引出し線の接続作業にも大きな労
力を要する。従って、探触子が高価なものとなってしま
うという問題かある。
(発明が解決しようとする問題点) このように従来2次元配列振動子を有する超音波探触子
では、振動−rの総数が非常に多くなり、実現性に乏し
いという問題があった。
本発明はこのような問題を解決し、振動子数を極力少な
くした2次元配列振動子を備えながら、走査方向は勿論
、スライス方向についても高い分解能が得られる超音波
探触子を提供することを目的とする。
[発明の構成コ (問題点を解決するための手段) 本発明は複数の振動子を直交する第1および第2の方向
に沿って配列してなる2次元配列振動子を備えた超音波
探触子において、2次元配列振動rの第1の方向の配列
ピッチおよび第2の方向の配列ピッチのうちの少なくと
も一方を配列方向外側ほど小さくなる不等ピッチとした
ことを特徴とする。
(作用) 配列振動子を使用する場合、遅延時間の制御により電子
的に超音波ビームを集束させる方法がとられるが、その
際に振動子に与えられる遅延時間tdは第2図に示すよ
うに振動子の配列ピッチで量子化され、ある一点Foに
超音波ビームを集束させるための理想的な遅延時間2に
対して、量子化された遅延時間3は配列方向において階
段状の分布を示す。この場合、配列振動子1の隣接する
振動子間の遅延時間差は、この遅延時間差に起因する集
束点F、付近におけるサイドローブレベルが許容値に収
まる範囲内にあればよく、図のように配列振動子1の配
列ピッチが等ピッチの場合は、両端の遅延時間差Δtが
許容範囲内にあればよいが、このようにすると配列方向
両端以外の振動子間の遅延時間差は必要以上に小さいこ
とになる。
配列振動子の配列ピッチを配列方向外側ほど小さくなる
ような不等ピッチとすると、遅延時間差は均等化される
が、この遅延時間差が許容範囲内にある限り問題はなく
、等ピッチの場合とほぼ同、等の超音波ビーム集束性お
よびサイドローブ抑圧性能が得られる。従って、例えば
本発明をリニア電子走査用の超音波探触子に適用した場
合を例にとると、2次元配列振動子の第1の方向の配列
ピンチをAピッチとし、第2の方向の配列ピッチを不ぢ
ピッチとして、第1の方向を走査方向に選ぶことにより
リニア電子走査′:9の電子走査を支障なく行なえると
ともに、第2の方向(スライス方向)について振動子数
が減少することにより、振動その総数か大きく減少する
(実施例) 第1図は本発明の一実施例に係る超音波探触子の概略構
成を示す分解斜視図である。同図において、2次元配列
振動子11は段数の振動子が直交する第1の方向(走査
)j向)Xと、第2の方向(スライスh“向)yに沿っ
て配列されたもので、その配列ピッチは走査ノJ“向X
においては等ピッチ、スライス方向yにおいては配列方
向外側ほど小さくなる不等ピッチとなっている。2次元
配列振動子11は圧電体板と、その一方の面に全曲的に
形成された共通電極および他方の而に形成された各振動
子対応の個別電極により(14成される。この場合、各
振動子間においては個別電極のみか分割されていてしよ
いし、圧電体板もカッティングにより分割されていても
よい。圧電体をカッティングする場合、坤さ方向全体を
カッティングせず、適当な深さまでカッティングするよ
うにしてもよい。
この2次元配列振動子11の例えば個別電極が形成され
た側の面は、バッキング材12に接着され、反対側の而
、例えばJ(通電棒か形成された側の面は音響マツチン
グ層X3か彼覆されている。
音響マツチング層13は単層または多層(1M造からな
り、圧電体と被検体(生体)との音響的なインピーダン
ス整合がとれるように、その音速、厚み。
音響インピーダンス等のパラメータが、規整されている
第3図は2次元配列振動子11のより詳細な構成を示す
平面図である。この例では走査方向Xの素子数を17素
子、スライス方向yの素子数を9素子としている。リニ
ア電子走査を行なう場合は、超音波の1同の送受信毎に
駆動する振動子をX方向に1素子ずつずらせて、所定個
数の振動子を一?ド位として駆動する。その場合、−1
11位として駆動される振動子に対して第2図に示した
ような遅延時間を与えれば、超音波ビームを電子的に集
束することができる。
また、2次元配列振動子1]は走査方向Xについては等
ピッチで配列されているため、この配列ピッチで定まる
一定のステップで正しくリニア電子走査を行なうことが
できる。すなわち、走査方向Xでの振動子の配列ピッチ
が均等でないと、駆動する振動子を1素子ずらせたとき
の超音波ビームの移動量が一定でなくなり、また電子集
束も正しく行なわれないが、配列ピッチが一定であれば
従来と全く変わることなく正しいリニア電子走査が可能
である。
一方、スライス方向yについては超音波ビームを集束す
るために、X方向の中央の振動子y5を中心として対称
的に遅延時間を与えればよいので、互いに対称の位置に
あるylとV9.V2とye。
y3とY7.Y4とyeの各振動子対をそれぞれ電気的
に接続し、電気的には5素子として考えることができる
ここで、第3図においては送受信時において電子集束の
ために与えられる遅延時間の等しい振動子に対し、共通
のハツチング、クロスハツチング等を施すことにより、
各振動子に与える遅延時間が容易に識別できるようにし
ている。また、このときの各振動子に句、えられる遅延
時間tdの走査方向Xおよびスライス方向yの分布を図
においてt dx、  t dyとして示す。これらの
tdx、tdyは、いずれも理想的な遅延時間分布を振
動子の配列ピッチで温子化したものである。
ここで、走査方向Xについては第2図で説明したように
、最も長い遅延時間差(両端の遅延時間差)がサイドロ
ーブレベルか許容値に収まるように設定することで、−
子化誤差は実用に問題とならt鳳くなる。
一方、スライス方向yにおける遅延時間分布tdyの量
子化誤差については、スライス方向yにおける中心から
一方向に数えた振動子数をn(この場合はn−5)とし
、この中心から端部まての配列振動子の長さをLとした
とき、中心から1番1」の振動子の配列方向(X方向)
における長さy+を次のように設定することによって最
小にすることかできる。
Yi = (i ・L2/n)”’ =(i−ya215)l/ま たたし、y a−y 1(i−5)、  y b = 
y 1(i=4)、−。
y O−y i(+−1)である。これは2次元配列振
動子11をスライス方向yについてフレネル分割してい
ることに相当する。このようにすることにより、スライ
ス方向yについても、振動子の配列ピッチが不等ピッチ
でありながら量子化誤差が小さく、サイトローブも抑圧
された電子集束を行なうことができる。なお、このスラ
イス方向yにおいては、走査方向Xと異なり、超音波ビ
ームのリニア電子走査を行なわないため、振動子の配列
ピッチを不等ピッチとしても何ら問題がないことは言う
までもない。
次に、本発明の他の実施例を説明する。第4図に示す実
施例は、第1図の実施例に示した超音波探触子の音響マ
ツチング層13の−Lに、さらに音響レンズ14を接着
固定したものである。この音響レンズ14は例えば図の
ようなシリンドリカル状であり、スライス方向yにおい
てのみ集束性をtjfつ。
このような音響レンズ14を設けると、スライス方向y
における電子集束のためにX方向に並ぶ振動子に対して
相対的に与える最大の遅延時間(遅延時間差)は、超音
波の集束点を音響レンズ14により決まる集束点から所
望の位置まで移動させるに必要な値であれはよい。従っ
て、音響レンズ14を併用しない場合に比へ、X方向に
おける振動子の分割数を少なくすることが可能となり、
振動子の総数をさらに減らすことができる。
第5図は第4図ように音響レンズを使用せず、2次元配
列娠動子11の振動子配列面をスライス方向に関して凹
面とし、凹面の曲率の中心に超音波ビームを集束させる
ようにしたものである。この場合、バッキング材12に
ついても図のように2次元配列撮動子]1の形状に合せ
て凹面状とすることが望ましい。なお、第5図では音響
マツチング層は省略している。
次に、本発明を2次元アレイを用いた電子セクタ用超音
波探触子に適用した実施例について第6図および第7図
を参照して説明する。
第7図は従来技術によるセクタ電子走査用超音波探触子
の例を示したもので、正方形の振動子を組合イっせた2
次元アレイ振動子21の走査方向Xにおいては、セクタ
走査に必要な遅延時間23と電子集束に必要な遅延時間
22を加えた遅延時間24か振動子のX方向の間隔で量
子化され、階段状の遅延時間25かX方向の配列振動子
に与えられている。この状態で超音波の送受信を行なう
と、超音波ビームはセクタ走査に必要な遅延時間23で
決まるノボ向に偏向される。走査方向Xと直交するスラ
イス方向yについては、電子集束に必要な遅延時間22
が振動子のyノボ向の間隔て量子化され、階段状の遅延
時間26がX方向の配列振動子に与えられる。
これに対し、第6図は本発明の実施例による2次元アレ
イ振動子27を用いたセクタ電子走査用超音波探触子を
示したもので、X方向の理想的な遅延時間24に対する
量子化された遅延時間28の量子化誤差30(斜線部分
)は、第7図に示したものよりも明らかに少なくなって
いる。これはX方向についても同様である。
この結果から、本発明によれば素子数が同じ場合、遅延
時間の量子化誤差を減少させることかできる。実際にセ
クタ電子走査を行なう場合、素子数はX方向、X方向と
も数十分割されるが、−1−記遅延時間の量子化誤差を
従来例と同等にすれば、素子数はより減少することにな
る。
[発明の効果] 本発明によれば、2次元配列振動子の第1の方向の配列
ピッチおよび第2の方向の配列ピッチのうちの少なくと
も一ツノ゛を配列方向外側ほど小さくなる不等ピッチと
することにより、走査方向およびスライス方向のいずれ
においても超音波ビームの集束性およびサイドローブ抑
圧特性に優れ、高い分解能か得られなから、振動子の総
数が大きく減少する。従って、本発明によると超音波探
触子の製造か容易となり、歩留りも向上することによっ
て、超音波探触子の低価格化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係る超音波探触子の(11
4成を>f<す分解斜視図、第2図は配列振動rを用い
た電r−集束法を説明するための図、第3図は同実施例
における2次)じ配列振動子の詳細をボす図、第4図お
よび第5図は本発明の他の実施例に係る超音波探触子の
構成を示す分解斜視図、第6図は本発明の他の実施例に
係る超音波探触子の構成を示す図、第7図は従来技術に
よる2次元配列振動子を用いたセクタ電子走査用超音波
探触子の構成を示す図である。 11・・・2次元配列振動子、12・・・バッキング材
、13・・・音響マツチング層、14・・・音響レンズ
、X・・・走査方向、y・・・スライス方向、22〜2
6゜28〜30・・・遅延時間を示す曲線。 出願人代理人 弁理士 鈴汀武彦 (足量方旬) 第1区 dl 第2図 第4図 (L正方1句) 第5図

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)複数の振動子を直交する第1および第2の方向に
    沿って配列してなる2次元配列振動子を備えた超音波探
    触子において、前記2次元配列振動子の第1の方向の配
    列ピッチおよび第2の方向の配列ピッチのうちの少なく
    とも一方を配列方向外側ほど小さくなる不等ピッチとし
    たことを特徴とする超音波探触子。
  2. (2)2次元配列振動子の第1の方向の配列ピッチをほ
    ぼ等ピッチとし、第2の方向の配列ピッチを配列方向外
    側ほど小さくなる不等ピッチとしたことを特徴とする特
    許請求の範囲第1項記載の超音波探触子。
  3. (3)第1の方向は電子走査の走査方向であり、第2の
    方向はスライス方向であることを特徴とする特許請求の
    範囲第1項または第2項記載の超音波探触子。
  4. (4)第2の方向において集束性を持つ音響レンズを2
    次元配列振動子の前面に配置したことを特徴とする特許
    請求の範囲第1項、第2項または第3項記載の超音波探
    触子。
  5. (5)2次元配列振動子の配列面を第2の方向に関して
    凹面としたことを特徴とする特許請求の範囲第1項、第
    2項、第3項または第4項記載の超音波探触子。
  6. (6)2次元配列振動子の第2の方向において中心から
    対象位置にある振動子対を電気的に接続したことを特徴
    とする特許請求の範囲第1項、第2項、第3項、第4項
    または第5項記載の超音波探触子。
JP61315375A 1986-12-26 1986-12-26 超音波探触子 Pending JPS63166400A (ja)

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JP61315375A JPS63166400A (ja) 1986-12-26 1986-12-26 超音波探触子

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JPS63166400A true JPS63166400A (ja) 1988-07-09

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4879430B2 (ja) * 1999-09-17 2012-02-22 株式会社日立メディコ 超音波探触子及びそれを用いた超音波診断装置
CN111227820A (zh) * 2020-02-21 2020-06-05 孙磊 多维通道传感器的胎心检测传感器矩阵、胎心检测设备

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4879430B2 (ja) * 1999-09-17 2012-02-22 株式会社日立メディコ 超音波探触子及びそれを用いた超音波診断装置
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