JPS6316129B2 - - Google Patents
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- JPS6316129B2 JPS6316129B2 JP55038317A JP3831780A JPS6316129B2 JP S6316129 B2 JPS6316129 B2 JP S6316129B2 JP 55038317 A JP55038317 A JP 55038317A JP 3831780 A JP3831780 A JP 3831780A JP S6316129 B2 JPS6316129 B2 JP S6316129B2
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- JP
- Japan
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- detector
- ray
- diaphragm
- ray tube
- radiation
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Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
- A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/06—Diaphragms
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/08—Auxiliary means for directing the radiation beam to a particular spot, e.g. using light beams
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/40—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4021—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis involving movement of the focal spot
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は物体内の局所吸収の相違を検出するた
めの装置に関するものであつて、本発明装置は検
査期間中に物体に放射線を照射するための平ら
な、扇状X線ビームを発生するためのX線源と、
前記物体を透過した放射線を測定するための多数
の検出素子を含むX線検出器とを具えており、前
記X線源はスリツト状アパーチヤを有するダイヤ
フラムのうしろに配置されているX線管を具える
ものである。
めの装置に関するものであつて、本発明装置は検
査期間中に物体に放射線を照射するための平ら
な、扇状X線ビームを発生するためのX線源と、
前記物体を透過した放射線を測定するための多数
の検出素子を含むX線検出器とを具えており、前
記X線源はスリツト状アパーチヤを有するダイヤ
フラムのうしろに配置されているX線管を具える
ものである。
この種の装置は医用X線診断法に特に好適であ
る。検査中、患者は身体の一部分を平らな、扇状
X線ビームによつて異なる方向から照射し局部的
に透過した放射を測定する。かくして得られた測
定データから患者の身体の一部分の密度分布をコ
ンピユータを用いて計算してその後に例えばテレ
ビジヨンモニタで表示させている。
る。検査中、患者は身体の一部分を平らな、扇状
X線ビームによつて異なる方向から照射し局部的
に透過した放射を測定する。かくして得られた測
定データから患者の身体の一部分の密度分布をコ
ンピユータを用いて計算してその後に例えばテレ
ビジヨンモニタで表示させている。
ドイツ出願公開第2723073号明細書には、上述
した種類の装置について開示されており、この装
置においてはX線源とX線検出器とを検査しよう
とする物体を収容するための中央アパーチヤを含
む回転式保持具に取り付けている。X線源は中央
アパーチヤの一側部に配置させてあり、X線検出
器はその他側部に設けてある。検査中は、この保
持具を中心アパーチヤの回りを回転させてこのア
パーチヤ内に配置させた物体のスライスを異なる
方向から照射する検査されるべきスライスの厚さ
の調整を、X線管の前面に配置させたダイヤフラ
ムのスリツト状アパーチヤの幅を調整して行なう
ことが出来るようになしている。
した種類の装置について開示されており、この装
置においてはX線源とX線検出器とを検査しよう
とする物体を収容するための中央アパーチヤを含
む回転式保持具に取り付けている。X線源は中央
アパーチヤの一側部に配置させてあり、X線検出
器はその他側部に設けてある。検査中は、この保
持具を中心アパーチヤの回りを回転させてこのア
パーチヤ内に配置させた物体のスライスを異なる
方向から照射する検査されるべきスライスの厚さ
の調整を、X線管の前面に配置させたダイヤフラ
ムのスリツト状アパーチヤの幅を調整して行なう
ことが出来るようになしている。
前述した種類の装置において物体のある層を多
数回照射する場合、特にこれら装置が電離箱形の
検出素子を具えている場合には、これらの露光か
ら再生された像に不規則性が生ずる。これら不規
則性は多少きわだつたリング状アーチフアクト
(artefacts)として明らかになる。これらアーチ
フアクトは、検出器の個々の素子が異なる感度を
有していてこれに応じたこれら素子の出力信号の
補正を(再校正を)コンピユータによる計算の際
に行なわない場合に生じ得るアーチフアクトに対
応する。しかしながらリング状アーチフアクトは
正確に再校正を行なう装置においても観測され得
るものである。
数回照射する場合、特にこれら装置が電離箱形の
検出素子を具えている場合には、これらの露光か
ら再生された像に不規則性が生ずる。これら不規
則性は多少きわだつたリング状アーチフアクト
(artefacts)として明らかになる。これらアーチ
フアクトは、検出器の個々の素子が異なる感度を
有していてこれに応じたこれら素子の出力信号の
補正を(再校正を)コンピユータによる計算の際
に行なわない場合に生じ得るアーチフアクトに対
応する。しかしながらリング状アーチフアクトは
正確に再校正を行なう装置においても観測され得
るものである。
本発明の目的は前述した欠点を除去した上述し
た種類の装置を提供することにある。この目的の
ため、本発明による装置によれば、前記ダイヤフ
ラムとX線管とを補助検出器によつて制御される
調整部材によつて互いに相対的に移動できるよう
になし、それによつて前記扇状ビームが一定の所
定の領域内の前記X線検出器に常に入射するよう
に前記ダイヤフラムおよび前記X線管を操作中互
いに相対的に常に調整するようになしたことを特
徴とする。
た種類の装置を提供することにある。この目的の
ため、本発明による装置によれば、前記ダイヤフ
ラムとX線管とを補助検出器によつて制御される
調整部材によつて互いに相対的に移動できるよう
になし、それによつて前記扇状ビームが一定の所
定の領域内の前記X線検出器に常に入射するよう
に前記ダイヤフラムおよび前記X線管を操作中互
いに相対的に常に調整するようになしたことを特
徴とする。
本発明はX線管の内側の放射を発生する位置が
操作期間中にシフトするおそれがあるという事実
の認識に基づいて成されたものである。このシフ
トの原因は例えばX線管内の構成成分が熱膨張す
ることにもある。ダイヤフラムをX線管に堅固に
接続させている場合には、X線源はわずかに異な
る方向にX線ビームを放出し、このビームはX線
管のわずかに異なる領域の箇所に入射する。その
ために検出器の出力信号が影響を受け、よつて検
出器の感度が変わつたかのように思われる。これ
ら明らかな感度変化も前述のアーチフアクトの原
因となる。
操作期間中にシフトするおそれがあるという事実
の認識に基づいて成されたものである。このシフ
トの原因は例えばX線管内の構成成分が熱膨張す
ることにもある。ダイヤフラムをX線管に堅固に
接続させている場合には、X線源はわずかに異な
る方向にX線ビームを放出し、このビームはX線
管のわずかに異なる領域の箇所に入射する。その
ために検出器の出力信号が影響を受け、よつて検
出器の感度が変わつたかのように思われる。これ
ら明らかな感度変化も前述のアーチフアクトの原
因となる。
また留意すべき点は、多数の放射源を検査区域
の周囲のある円の円弧上に静止するように配置さ
せ、放射源を順次に作動させることによつて放出
されかつ検査区域を通過する放射を少なくとも2
分の1円にわたり分布させた検出装置によつて測
定するようになした装置にも本発明を使用するこ
とが出来ることである。さらに本発明を、個々の
X線管のアノードが検査区域を半円形状に囲み、
X線のフオーカスをアノード上に電気的にシフト
させるようになした装置にも使用することが出来
る。
の周囲のある円の円弧上に静止するように配置さ
せ、放射源を順次に作動させることによつて放出
されかつ検査区域を通過する放射を少なくとも2
分の1円にわたり分布させた検出装置によつて測
定するようになした装置にも本発明を使用するこ
とが出来ることである。さらに本発明を、個々の
X線管のアノードが検査区域を半円形状に囲み、
X線のフオーカスをアノード上に電気的にシフト
させるようになした装置にも使用することが出来
る。
以下、図面により本発明の実施例につき説明す
る。
る。
第1図に示す装置は支持構体2を具えていて、
この支持構体を基板1に堅固に結合させてあり、
この支持構体上にはフレーム3を水平軸4の回わ
りを回転出来るように軸支する。回転フレーム3
の一端にはX線管5(図には図式的にのみ示して
ある)を収容し、他端には検出器6を載置させ、
これら検出器およびX線管5を回転軸4に対し垂
直に延在している共通面内に位置させている。検
出器6を図の面を経て延在するため円の円弧状に
形成する。この検出器を、例えば電離箱の原理に
従つて、放射を検出する多数の個別の検出素子を
以つて構成し、これら各素子は少なくとも1個の
高電圧電極と1個の信号電極とを具えており、こ
れら電極をX線管5に向けてあり、さらにこれら
電極間には加圧ガス例えばキセノンが存在してお
り、さらにこれら電極には約2000Vの電圧を印加
させるようになつている。
この支持構体を基板1に堅固に結合させてあり、
この支持構体上にはフレーム3を水平軸4の回わ
りを回転出来るように軸支する。回転フレーム3
の一端にはX線管5(図には図式的にのみ示して
ある)を収容し、他端には検出器6を載置させ、
これら検出器およびX線管5を回転軸4に対し垂
直に延在している共通面内に位置させている。検
出器6を図の面を経て延在するため円の円弧状に
形成する。この検出器を、例えば電離箱の原理に
従つて、放射を検出する多数の個別の検出素子を
以つて構成し、これら各素子は少なくとも1個の
高電圧電極と1個の信号電極とを具えており、こ
れら電極をX線管5に向けてあり、さらにこれら
電極間には加圧ガス例えばキセノンが存在してお
り、さらにこれら電極には約2000Vの電圧を印加
させるようになつている。
X線管5と検出器6との間に患者検査テーブル
7を配置し、このテーブル上に患者8を載せて回
転軸がこの患者を経てこの患者の長軸に対しほぼ
平行となつて延在するようになす。X線管5には
ダイヤフラム・ハウジング10が取付けてあり、
このハウジングには特にスリツト状アパーチヤを
有するダイヤフラム9を収容させてあり、このア
パーチヤの端縁は図の面に垂直に延在しかつこの
アパーチヤは患者を経て通過して検出器6に入射
する放射ビームを絞る。放射ビーム12の破線1
1で示す中心面は、回転軸4に対し垂直に延在し
ている。このダイヤフラム9によつて絞られたX
線ビームの厚さは一般には回転軸4の領域で3な
いし30mmの量に達する。
7を配置し、このテーブル上に患者8を載せて回
転軸がこの患者を経てこの患者の長軸に対しほぼ
平行となつて延在するようになす。X線管5には
ダイヤフラム・ハウジング10が取付けてあり、
このハウジングには特にスリツト状アパーチヤを
有するダイヤフラム9を収容させてあり、このア
パーチヤの端縁は図の面に垂直に延在しかつこの
アパーチヤは患者を経て通過して検出器6に入射
する放射ビームを絞る。放射ビーム12の破線1
1で示す中心面は、回転軸4に対し垂直に延在し
ている。このダイヤフラム9によつて絞られたX
線ビームの厚さは一般には回転軸4の領域で3な
いし30mmの量に達する。
X線管5と検出器6とによつて形成される系は
支持構体に配置されていてフレーム3を回転させ
る図示されていないモータによつて、回転軸4の
回わりで回転出来る。その場合には患者を多数の
方向から照射し、所定の角度(例えば1゜)にわた
る各回転毎に検出器6の各検出素子が測定値を供
給する。かくして得られた測定値から、検査面1
1での吸収分布をコンピユータ13によつて計算
し、その分布の結果をテレビジヨンモニタ14で
表示させる。
支持構体に配置されていてフレーム3を回転させ
る図示されていないモータによつて、回転軸4の
回わりで回転出来る。その場合には患者を多数の
方向から照射し、所定の角度(例えば1゜)にわた
る各回転毎に検出器6の各検出素子が測定値を供
給する。かくして得られた測定値から、検査面1
1での吸収分布をコンピユータ13によつて計算
し、その分布の結果をテレビジヨンモニタ14で
表示させる。
操作中、X線管5の、放射ビーム12を放出し
かつ第1図に点状に見えるフオーカスすなわち放
出発数点が回転軸4すなわち検査面と平行な方向
にわずかにシフトする場合があり得る。その原因
の1つは例えばX線管の加熱である。X線管の場
合には、慣習上回転アノード式X線管を使用して
おり、このアノード・デイスクの駆動軸は回転軸
4と平行に延在している。このアノード・デイス
クが熱くなると、この駆動軸も熱くなつて膨張
し、従つてX線管のX線放出発散点すなわちフオ
ーカスも軸4と平行に左右のいずれかにわずかに
シフトする。このX線管の発散点とダイヤフラム
9との間の距離がX線管5と検出器6との間の距
離に比べて短かいので(例えば前者の距離は後者
の距離の10分の1程度)、放射ビーム12が入射
する検出器の領域を実質的にさらにシフトさせて
しまう。
かつ第1図に点状に見えるフオーカスすなわち放
出発数点が回転軸4すなわち検査面と平行な方向
にわずかにシフトする場合があり得る。その原因
の1つは例えばX線管の加熱である。X線管の場
合には、慣習上回転アノード式X線管を使用して
おり、このアノード・デイスクの駆動軸は回転軸
4と平行に延在している。このアノード・デイス
クが熱くなると、この駆動軸も熱くなつて膨張
し、従つてX線管のX線放出発散点すなわちフオ
ーカスも軸4と平行に左右のいずれかにわずかに
シフトする。このX線管の発散点とダイヤフラム
9との間の距離がX線管5と検出器6との間の距
離に比べて短かいので(例えば前者の距離は後者
の距離の10分の1程度)、放射ビーム12が入射
する検出器の領域を実質的にさらにシフトさせて
しまう。
第2図は検出器の一部分をX線管5の位置から
見た線図である。放射ビーム12が放射される検
出器6の領域の境界線を第2図に破線121およ
び122で示す。X線の放出発散点が第1図中を
左側または右側へとシフトする場合には、第2図
に示す放射ビームが入射する領域が矢印123ま
たは124の方向にすなわち上側または下側へと
夫々シフトするので、境界線121および122
も同じ方向にシフトする。
見た線図である。放射ビーム12が放射される検
出器6の領域の境界線を第2図に破線121およ
び122で示す。X線の放出発散点が第1図中を
左側または右側へとシフトする場合には、第2図
に示す放射ビームが入射する領域が矢印123ま
たは124の方向にすなわち上側または下側へと
夫々シフトするので、境界線121および122
も同じ方向にシフトする。
本発明は本明細書の頭初に述べたリング状アー
チフアクトがかようなシフトに原因するものであ
るという事実の認識に基づき成されたものであ
る。
チフアクトがかようなシフトに原因するものであ
るという事実の認識に基づき成されたものであ
る。
第2図に大げさに示してあるように、検出器6
の個別の検出素子は同等ではない。電離箱の原理
に従つて作動する検出器においては、個別の検出
素子を構成している電離箱の隔壁は互いに傾斜し
ているおそれがあり、従つて例えば第2図に示す
検出素子61はその底部よりも上部の方が狭く、
検出素子62の上部はその底部よりも広がつてい
る。
の個別の検出素子は同等ではない。電離箱の原理
に従つて作動する検出器においては、個別の検出
素子を構成している電離箱の隔壁は互いに傾斜し
ているおそれがあり、従つて例えば第2図に示す
検出素子61はその底部よりも上部の方が狭く、
検出素子62の上部はその底部よりも広がつてい
る。
これら不規則性の結果、先ず第一に例えば検出
素子61および62を同一強度の放射に露光さた
場合にもそれら素子の信号が互いにずれてしま
う。しかしながら、この効果は構わない。その理
由は検出素子61および62によつて供給される
測定値を吸収分布の再生の前に検出素子の異なる
各感度に逆比例する校正因子で重み付けを行なつ
て、関連する検出素子を同一強度の放射に露光さ
せた時には再生に対し使用される値が等しくなる
ように、適切な補正を行なうことが出来るからで
ある。
素子61および62を同一強度の放射に露光さた
場合にもそれら素子の信号が互いにずれてしま
う。しかしながら、この効果は構わない。その理
由は検出素子61および62によつて供給される
測定値を吸収分布の再生の前に検出素子の異なる
各感度に逆比例する校正因子で重み付けを行なつ
て、関連する検出素子を同一強度の放射に露光さ
せた時には再生に対し使用される値が等しくなる
ように、適切な補正を行なうことが出来るからで
ある。
しかしながら、放射ビーム12が検出器6上を
シフトすると、同一放射強度において個別の検出
素子によつて供給される測定値も変化する。例え
ば、仮りに境界線121および122によつて示
されている放射が入射する領域を上方へ移動させ
ると、検出素子61の、おそらくは一定の校正因
子で重み付けられた出力信号が小さくなり、他方
検出素子62からのこれに対応する信号は一層大
きくなる。というのは、検出素子61の照射領域
(または電離箱の場合には照射体積)が減少し検
出素子62の照射領域が増大するからである。従
つて検出器上を放射ビームがシフトすることは個
別の検出素子の感度を別々に変化させたと全く同
様な効果を有している。
シフトすると、同一放射強度において個別の検出
素子によつて供給される測定値も変化する。例え
ば、仮りに境界線121および122によつて示
されている放射が入射する領域を上方へ移動させ
ると、検出素子61の、おそらくは一定の校正因
子で重み付けられた出力信号が小さくなり、他方
検出素子62からのこれに対応する信号は一層大
きくなる。というのは、検出素子61の照射領域
(または電離箱の場合には照射体積)が減少し検
出素子62の照射領域が増大するからである。従
つて検出器上を放射ビームがシフトすることは個
別の検出素子の感度を別々に変化させたと全く同
様な効果を有している。
さらに、露光の際中に放射ビームをシフトさせ
ることは照射体積も変化させ、これが再生時に誤
差の原因となる。
ることは照射体積も変化させ、これが再生時に誤
差の原因となる。
前述した両効果とも比較的弱い(例えば素子の
感度が1%以上変化することはほとんどない)け
れども、これら効果が大部分のアーチフアクトの
原因となり、これが再生の際診断の障害となる。
というのは既知の再生方法はかような測定誤差に
著しくクリテイカルに反応するからである。
感度が1%以上変化することはほとんどない)け
れども、これら効果が大部分のアーチフアクトの
原因となり、これが再生の際診断の障害となる。
というのは既知の再生方法はかような測定誤差に
著しくクリテイカルに反応するからである。
この種のアーチフアクトの除去を第3図に示す
装置によつて相当程度行なうことが出来る。第3
図はダイヤフラム・ハウジング10を示してお
り、その前壁および一側壁を省略して示してあ
る。このハウジング10の基板100上に2本の
案内レール101および102が配置されてお
り、これらレールは回転軸4と平行にかつ検査面
に対し垂直に延在している。これら案内レール中
には、水平方向であつてかつ案内レール101お
よび102に対し垂直な方向に延在したアパーチ
ヤ90を有しているダイヤフラム9を移動自在に
配置してある。第1図に示す回転軸4と平行にか
つ検査面と垂直に移動出来るダイヤフラム9には
ネジ筋付きナツト91を定着させてあり、このナ
ツトは基板100に取り付けられたモータ93に
よつて駆動されるシヤフト92と協同するように
なしてある。このモータ93の動作期間中、ナツ
ト91従つてダイヤフラム9を回転方向に応じて
一方または他方の方向へ回転軸4と平行にかつ検
査面に対し垂直に移動させ、よつてダイヤフラム
9によつて絞られたX線ビームを第2図に矢印1
23,124で示す方向へ移動させることが出来
る。
装置によつて相当程度行なうことが出来る。第3
図はダイヤフラム・ハウジング10を示してお
り、その前壁および一側壁を省略して示してあ
る。このハウジング10の基板100上に2本の
案内レール101および102が配置されてお
り、これらレールは回転軸4と平行にかつ検査面
に対し垂直に延在している。これら案内レール中
には、水平方向であつてかつ案内レール101お
よび102に対し垂直な方向に延在したアパーチ
ヤ90を有しているダイヤフラム9を移動自在に
配置してある。第1図に示す回転軸4と平行にか
つ検査面と垂直に移動出来るダイヤフラム9には
ネジ筋付きナツト91を定着させてあり、このナ
ツトは基板100に取り付けられたモータ93に
よつて駆動されるシヤフト92と協同するように
なしてある。このモータ93の動作期間中、ナツ
ト91従つてダイヤフラム9を回転方向に応じて
一方または他方の方向へ回転軸4と平行にかつ検
査面に対し垂直に移動させ、よつてダイヤフラム
9によつて絞られたX線ビームを第2図に矢印1
23,124で示す方向へ移動させることが出来
る。
放出発散点のシフトに起因するX線ビームの検
出器6上でのシフトを、原理的にはモータ93に
よつてダイヤフラム9を発散点と同じ方向にかつ
実質的に同じ程度だけシフトさせることによつて
補償して検出器6上の放射ビームの位置を維持さ
せることが出来る。この目的のため、モータを制
御装置95によつて制御ライン94を経て制御す
る。この制御装置は2つの入力ラインを具えてい
て、入力ライン96の信号が入力ライン97の信
号を越えている時にはモータが一方の方向に回転
しかつ入力ライン97の信号が入力ライン96の
信号よりも大きくなつた時には回転方向が逆転す
るようにこの制御装置を構成する。所要に応じ
て、回転数を制御して入力ライン97および96
の信号値が大きくずれた場合にはモータが高速回
転しかつそのずれが小さい時には低速回転するよ
うに構成することも出来る。これら2つの入力信
号間の差が(ほとんど)零値になつた時にモータ
は停止する。
出器6上でのシフトを、原理的にはモータ93に
よつてダイヤフラム9を発散点と同じ方向にかつ
実質的に同じ程度だけシフトさせることによつて
補償して検出器6上の放射ビームの位置を維持さ
せることが出来る。この目的のため、モータを制
御装置95によつて制御ライン94を経て制御す
る。この制御装置は2つの入力ラインを具えてい
て、入力ライン96の信号が入力ライン97の信
号を越えている時にはモータが一方の方向に回転
しかつ入力ライン97の信号が入力ライン96の
信号よりも大きくなつた時には回転方向が逆転す
るようにこの制御装置を構成する。所要に応じ
て、回転数を制御して入力ライン97および96
の信号値が大きくずれた場合にはモータが高速回
転しかつそのずれが小さい時には低速回転するよ
うに構成することも出来る。これら2つの入力信
号間の差が(ほとんど)零値になつた時にモータ
は停止する。
この制御装置の2つの入力ライン96および9
7を2つの測定セル601および602の出力端
子に接続する。この場合、これら測定セルは、そ
れらの2つの中心間を結ぶ線が回転軸と平行に延
在しすなわち測定セル601および602が中心
面すなわち第1図の検査面に対して対称的に配置
されるように、互いに隣接して配置されている。
これら測定セル601および602をビーム通路
中に(患者8およびテーブル7の後側に)位置さ
せてあり、これらセルは好ましくは検出器6の一
部分を形成している。検出器6の検出素子が電離
箱の原理に応じて作動する場合には、これら測定
セル601および602を電離箱とする。これら
電離箱を、1つの電離箱の信号電極を2つの半部
すなわち互いに電気的に分離されておりかつ入力
ライン96および97に接続された各半部に分割
することによつて、簡単に得ることが出来る。こ
の場合、隔壁603をこれら2つの半部間の対称
面に設けて好適である。
7を2つの測定セル601および602の出力端
子に接続する。この場合、これら測定セルは、そ
れらの2つの中心間を結ぶ線が回転軸と平行に延
在しすなわち測定セル601および602が中心
面すなわち第1図の検査面に対して対称的に配置
されるように、互いに隣接して配置されている。
これら測定セル601および602をビーム通路
中に(患者8およびテーブル7の後側に)位置さ
せてあり、これらセルは好ましくは検出器6の一
部分を形成している。検出器6の検出素子が電離
箱の原理に応じて作動する場合には、これら測定
セル601および602を電離箱とする。これら
電離箱を、1つの電離箱の信号電極を2つの半部
すなわち互いに電気的に分離されておりかつ入力
ライン96および97に接続された各半部に分割
することによつて、簡単に得ることが出来る。こ
の場合、隔壁603をこれら2つの半部間の対称
面に設けて好適である。
境界線121および122によつて画成される
検出器の所望の領域を身体8およびテーブル7に
よつて吸収されていない放射に対し露光させる場
合には、測定セル601および602と第1図に
示すX線源5,9との間の身体の区域での吸収が
検査面に対し垂直な方向に急激に変化しないと仮
定すると、これら測定セル601および602の
出力信号は等しい。
検出器の所望の領域を身体8およびテーブル7に
よつて吸収されていない放射に対し露光させる場
合には、測定セル601および602と第1図に
示すX線源5,9との間の身体の区域での吸収が
検査面に対し垂直な方向に急激に変化しないと仮
定すると、これら測定セル601および602の
出力信号は等しい。
X線放出発散点が回転軸と平行に(検査面に対
し垂直に)シフトする場合には、検出器6上の放
射ビーム121,122は反対方向に大きな距離
にわたりシフトし、その場合入力ライン96およ
び97の信号比はモータをスイツチオンさせるよ
うに変化する。このモータはダイヤフラム9を移
動させて測定セル96,97の信号の所定の比従
つて検出器に対する放射ビームの所定位置を回復
する。このように、検査面に対し垂直な方向の放
射ビームが検出器6の同一領域上に常に入射する
ように確実になす制御回路を得る。
し垂直に)シフトする場合には、検出器6上の放
射ビーム121,122は反対方向に大きな距離
にわたりシフトし、その場合入力ライン96およ
び97の信号比はモータをスイツチオンさせるよ
うに変化する。このモータはダイヤフラム9を移
動させて測定セル96,97の信号の所定の比従
つて検出器に対する放射ビームの所定位置を回復
する。このように、検査面に対し垂直な方向の放
射ビームが検出器6の同一領域上に常に入射する
ように確実になす制御回路を得る。
本発明と電離箱の原理に従つて動作する検出素
子を基礎として説明したが、同様に幾何学的条件
および感度に関する限り正確には同等でない他の
検出素子を使用する場合にも同じアーチフアクト
が生じ得る。特に結晶検出器を使用する場合に
は、第4図に示すように測定セル601および6
02を夫々三角形に形成してこれらを合わせて立
方体を形成する。線121および122によつて
境界が形成された検出器の照射面が検査面に対し
垂直に(回転軸4に対し平行に)シフトする時、
2つの測定セル601および602の出力信号の
比が変化するので、それからダイヤフラム9を移
動させるための制御信号を導出することが出来る
ことが重要である。
子を基礎として説明したが、同様に幾何学的条件
および感度に関する限り正確には同等でない他の
検出素子を使用する場合にも同じアーチフアクト
が生じ得る。特に結晶検出器を使用する場合に
は、第4図に示すように測定セル601および6
02を夫々三角形に形成してこれらを合わせて立
方体を形成する。線121および122によつて
境界が形成された検出器の照射面が検査面に対し
垂直に(回転軸4に対し平行に)シフトする時、
2つの測定セル601および602の出力信号の
比が変化するので、それからダイヤフラム9を移
動させるための制御信号を導出することが出来る
ことが重要である。
測定セル601および602を検出装置の内側
すなわち2つの検出素子間に配置することが出来
る。これら測定セル601および602の出力信
号を加えることによつて、測定セルに対応する領
域における身体の吸収を表わしかつ吸収分布を再
生するために使用出来る信号を得る。好ましく
は、一対の測定セル601および602を検出器
の異なる箇所に配置し、検査面の同一側にある検
出素子の出力信号を加算し、かように得られた和
信号を入力端子96および97へ供給する。かく
して、検査面に対し垂直な方向における不均質な
吸収分布が測定セルの個々の対に与える効果を低
減することが出来る。
すなわち2つの検出素子間に配置することが出来
る。これら測定セル601および602の出力信
号を加えることによつて、測定セルに対応する領
域における身体の吸収を表わしかつ吸収分布を再
生するために使用出来る信号を得る。好ましく
は、一対の測定セル601および602を検出器
の異なる箇所に配置し、検査面の同一側にある検
出素子の出力信号を加算し、かように得られた和
信号を入力端子96および97へ供給する。かく
して、検査面に対し垂直な方向における不均質な
吸収分布が測定セルの個々の対に与える効果を低
減することが出来る。
今までは、X線管中でのX線放出発散点のシフ
トの原因は操作中におけるアノード・デイスクの
加熱にあると説明した。しかしながら、この種の
シフトは回転の際の機械的振動とか弾性変形とか
によつて生じ得るものである。前述したリング状
アーチフアクトを本発明による装置で相当程度ま
で回避する。
トの原因は操作中におけるアノード・デイスクの
加熱にあると説明した。しかしながら、この種の
シフトは回転の際の機械的振動とか弾性変形とか
によつて生じ得るものである。前述したリング状
アーチフアクトを本発明による装置で相当程度ま
で回避する。
第3図に示す実施例においては、ダイヤフラム
を簡単なダイヤフラム板9によつて形成し、放射
ビームの厚さ(ライン121および122間の距
離)をスリツト90の幅によつて決めている。さ
らに互いに相対的に移動出来る2つの部分から成
るダイヤフラムを使用することが出来、その部分
間の距離によつて放射ビームの厚さを決めること
も出来る。その場合、ダイヤフラムを検査面に対
して垂直にすなわちダイヤフラム端縁へ一ユニツ
トとして移動させる必要がある。
を簡単なダイヤフラム板9によつて形成し、放射
ビームの厚さ(ライン121および122間の距
離)をスリツト90の幅によつて決めている。さ
らに互いに相対的に移動出来る2つの部分から成
るダイヤフラムを使用することが出来、その部分
間の距離によつて放射ビームの厚さを決めること
も出来る。その場合、ダイヤフラムを検査面に対
して垂直にすなわちダイヤフラム端縁へ一ユニツ
トとして移動させる必要がある。
第1図は本発明による物体中における局所吸収
の差を決定するための装置を示す線図、第2図は
X線源から見たX線検出器の一部分を示す線図、
第3図は第1図に示す装置の詳細部分を示す線
図、第4図は補助検出器の特殊な実施例を示す線
図である。 1,100…基板、2…支持構体、3…フレー
ム、4…水平軸、5…X線管、6…検出器、7…
検査テーブル、8…患者、9…ダイヤフラム、1
0…ダイヤフラム・ハウジング、11…(ビーム
の)中心面(または検査面)、12…放射ビーム、
13…コンピユータ、14…テレビジヨンモニ
タ、90…アパーチヤ、101,102…案内レ
ール、91…ナツト、92…シヤフト、93…モ
ータ、94…制御ライン、95…制御装置、9
6,97…入力ライン、601,602…測定セ
ル。
の差を決定するための装置を示す線図、第2図は
X線源から見たX線検出器の一部分を示す線図、
第3図は第1図に示す装置の詳細部分を示す線
図、第4図は補助検出器の特殊な実施例を示す線
図である。 1,100…基板、2…支持構体、3…フレー
ム、4…水平軸、5…X線管、6…検出器、7…
検査テーブル、8…患者、9…ダイヤフラム、1
0…ダイヤフラム・ハウジング、11…(ビーム
の)中心面(または検査面)、12…放射ビーム、
13…コンピユータ、14…テレビジヨンモニ
タ、90…アパーチヤ、101,102…案内レ
ール、91…ナツト、92…シヤフト、93…モ
ータ、94…制御ライン、95…制御装置、9
6,97…入力ライン、601,602…測定セ
ル。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 検査期間中に物体に放射線を照射するための
平らな、扇状X線ビームを発生するためのX線源
と、前記物体を透過した放射線を測定するための
多数の検出素子を含むX線検出器とを具えてお
り、前記X線源はスリツト状アパーチヤを有する
ダイヤフラムのうしろに配置されているX線管を
具えている物体内の局所吸収分布検出装置におい
て、前記ダイヤフラムと前記X線管とを補助検出
器によつて制御される調整部材によつて互いに相
対的に移動できるようになし、それによつて前記
扇状ビームが一定の所定の領域内の前記X線検出
器に常に入射するように操作期間中前記ダイヤフ
ラムおよび前記X線管を互いに関して常に調整す
るようになしたことを特徴とする物体内の局所吸
収分布検出装置。 2 前記調整部材を、前記平らなX線ビームを横
切る方向に隣接させて配置させた一対の補助検出
器に接続されている2つの入力端子を具えている
制御装置に結合させてあり、放射線ビームが所定
領域内の検出器に入射する場合には前記補助検出
器の出力信号が等しく、そうでない場合にはその
出力信号が等しくないことを特徴とする特許請求
の範囲1項記載の物体内の局所吸収分布検出装
置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2912010A DE2912010C2 (de) | 1979-03-27 | 1979-03-27 | Gerät zur Messung der Absorptionsverteilung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS55129044A JPS55129044A (en) | 1980-10-06 |
JPS6316129B2 true JPS6316129B2 (ja) | 1988-04-07 |
Family
ID=6066564
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3831780A Granted JPS55129044A (en) | 1979-03-27 | 1980-03-27 | Device for detecting partial absorption distribution in body |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4361764A (ja) |
JP (1) | JPS55129044A (ja) |
CA (1) | CA1143482A (ja) |
DE (1) | DE2912010C2 (ja) |
ES (1) | ES489877A1 (ja) |
FR (1) | FR2452718A1 (ja) |
GB (1) | GB2049237B (ja) |
NL (1) | NL8001707A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11276470A (ja) * | 1998-01-20 | 1999-10-12 | General Electric Co <Ge> | 断層撮影システム及びそれ用のシンチレ―タ |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4559639A (en) * | 1982-11-22 | 1985-12-17 | General Electric Company | X-Ray detector with compensation for height-dependent sensitivity and method of using same |
GB2181330B (en) * | 1985-09-26 | 1990-05-09 | Toshiba Kk | X-ray inspection apparatus |
US4991189A (en) * | 1990-04-16 | 1991-02-05 | General Electric Company | Collimation apparatus for x-ray beam correction |
US5131021A (en) * | 1991-06-21 | 1992-07-14 | General Electric Company | Computed tomography system with control and correction of fan beam position |
EP0673623A1 (en) * | 1994-03-24 | 1995-09-27 | Regam Medical Systems Ab | Scanning layer forming radiography |
JP3942142B2 (ja) * | 2000-12-15 | 2007-07-11 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | 放射線断層撮影装置およびその方法 |
WO2003010556A2 (en) | 2001-07-25 | 2003-02-06 | Dentsply International Inc. | Real-time digital x-ray imaging apparatus |
JP3947372B2 (ja) * | 2001-07-25 | 2007-07-18 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | X線ctシステムにおけるアパーチャの位置調整機構およびガントリ装置ならびにその制御方法 |
EP1551302B1 (en) | 2002-07-25 | 2012-02-08 | Gendex Corporation | Real-time digital x-ray imaging apparatus and method |
JP2007151806A (ja) * | 2005-12-05 | 2007-06-21 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X線ct撮像方法およびx線ct装置 |
WO2008075267A2 (en) * | 2006-12-19 | 2008-06-26 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Device and method for imaging an object |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4048505A (en) * | 1974-07-17 | 1977-09-13 | E M I Limited | Radiography |
US4031396A (en) * | 1975-02-28 | 1977-06-21 | General Electric Company | X-ray detector |
DE2609626A1 (de) * | 1976-03-09 | 1977-09-15 | Philips Patentverwaltung | Strahlennachweisvorrichtung |
US4200799A (en) * | 1976-07-15 | 1980-04-29 | Tokyo Shibaura Electric Co., Ltd. | Tomographing device |
US4143273A (en) * | 1977-04-11 | 1979-03-06 | Ohio-Nuclear, Inc. | Variable collimator |
JPS5438789A (en) * | 1977-09-02 | 1979-03-23 | Hitachi Medical Corp | Tomography |
NL7711285A (nl) * | 1977-10-14 | 1979-04-18 | Philips Nv | Onderzoekinrichting voor het bepalen van lokale absorptiewaarden in een vlak van een lichaam. |
US4200800A (en) * | 1977-11-03 | 1980-04-29 | American Science & Engineering, Inc. | Reduced dose CT scanning |
-
1979
- 1979-03-27 DE DE2912010A patent/DE2912010C2/de not_active Expired
-
1980
- 1980-03-19 CA CA000347975A patent/CA1143482A/en not_active Expired
- 1980-03-24 GB GB8009860A patent/GB2049237B/en not_active Expired
- 1980-03-24 NL NL8001707A patent/NL8001707A/nl not_active Application Discontinuation
- 1980-03-25 ES ES489877A patent/ES489877A1/es not_active Expired
- 1980-03-26 FR FR8006751A patent/FR2452718A1/fr active Granted
- 1980-03-27 JP JP3831780A patent/JPS55129044A/ja active Granted
-
1981
- 1981-08-12 US US06/292,317 patent/US4361764A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11276470A (ja) * | 1998-01-20 | 1999-10-12 | General Electric Co <Ge> | 断層撮影システム及びそれ用のシンチレ―タ |
JP4508305B2 (ja) * | 1998-01-20 | 2010-07-21 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 断層撮影システム及びそれ用のシンチレータ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS55129044A (en) | 1980-10-06 |
CA1143482A (en) | 1983-03-22 |
GB2049237A (en) | 1980-12-17 |
FR2452718A1 (fr) | 1980-10-24 |
FR2452718B1 (ja) | 1983-11-18 |
DE2912010A1 (de) | 1980-10-09 |
GB2049237B (en) | 1983-02-16 |
NL8001707A (nl) | 1980-09-30 |
DE2912010C2 (de) | 1987-04-16 |
US4361764A (en) | 1982-11-30 |
ES489877A1 (es) | 1980-09-16 |
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