JPS6153829A - Offset correcting circuit of a/d converter - Google Patents

Offset correcting circuit of a/d converter

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JPS6153829A
JPS6153829A JP17638884A JP17638884A JPS6153829A JP S6153829 A JPS6153829 A JP S6153829A JP 17638884 A JP17638884 A JP 17638884A JP 17638884 A JP17638884 A JP 17638884A JP S6153829 A JPS6153829 A JP S6153829A
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JP
Japan
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data
offset
converter
converters
input
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JP17638884A
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Japanese (ja)
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Katsuaki Tanaka
田仲 克彰
Mamoru Takekoshi
竹腰 守
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Iwatsu Electric Co Ltd
Original Assignee
Iwatsu Electric Co Ltd
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  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Abstract

PURPOSE:To remove the difference in offset of each A/D converter accurately by converting an input analog signal and a reference voltage into a digital signal alternately through plural parallel A/D converters. CONSTITUTION:When a switch SW20 is at a side (p), the input analog signal from a terminal 40 is inputted to A/D converters 10 and 11 and converted into 180 deg. out-of-phase clocks 1 and 2 having the same period and their outputs are inputted to acquisition memories 14 and 15 in, for example, addressed 0-1023. A switch control circuit 19 is operated with the output of an address counter 18 to place the SW20 at a side (g) and then the reference voltage ER50 is A/D- converted 10 and 11 and stored in addresses 1024-2047 of the memories 14 and 15. When ER=0, data stored in the addresses 1024-2047 of the memories 14 and 15 show offsets of the converters 10 and 11 and a CPU17 subtracts the data in the addresses 1024-2047 from the data in the addresses 0-1023 of the memories 14 and 15 and stores the results in a buffer memory 16, thus making offset corrections.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はアナログ信号をディジタル信号に変換するA/
D変換器におけるオフセットを補正するA/D変換器の
オフセット補正回路に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention is an A/C converting analog signal into a digital signal.
The present invention relates to an offset correction circuit for an A/D converter that corrects offset in a D converter.

とくに2個以上のA/D変換器を用いて各A/D変換器
の速度の2倍以上の速度でアナログ・ディジタル変換(
以下、A/D変換という。)するA/D変換器に関する
In particular, two or more A/D converters are used to perform analog-to-digital conversion (
Hereinafter, this will be referred to as A/D conversion. ) related to an A/D converter.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

A/D変換器の速度を上げたい場合に、A/D変換器を
n個(複数個)用意し、各A/D変換器のサンプリング
周期は同一とし、各サンプリング時間は360/n  
の位相差をもったものとすることによって同一の入力信
号を並列にサンプリングし、A/D変換後に、そのデー
タを順次に直列にすることによって全体としては各A/
D変換器の変換速度のn倍の速さにすることができる。
If you want to increase the speed of the A/D converter, prepare n (multiple) A/D converters, set the sampling period of each A/D converter to be the same, and set each sampling time to 360/n.
By sampling the same input signal in parallel and serializing the data sequentially after A/D conversion, each A/D signal has a phase difference of
The conversion speed can be n times faster than that of the D converter.

これを第5図によシ説明する。第5図(a)は2個のA
/D変換器を用いた場合、すなわち、n = 2の場合
を示すもので、10.11はそれぞれ第1.第2A/D
変換器、40はアナログ信号を入力する入力端子、12
.13はそれぞれ第1.第2 A/D変換器のオフセッ
トを補正するための可変抵抗である。
This will be explained with reference to FIG. Figure 5(a) shows two A
/D converter is used, that is, when n = 2, and 10.11 indicates the first . 2nd A/D
Converter, 40 is an input terminal for inputting an analog signal, 12
.. 13 are the 1st. A variable resistor for correcting the offset of the second A/D converter.

アナログ信号が入力端子40に印加され、これが並列に
第1.第2 A/D変換器に印加されると、それぞれク
ロック1およびクロック2によってサンプリングするが
、各クロックは(b)に示すごとく同ており、矢印で示
すサンプリング点でA/D変換した各ディジタル出力を
交互に直列にするならばクロック周波数を2倍に上げた
のと等価に々る。
An analog signal is applied to the input terminal 40, which is connected in parallel to the first . When applied to the second A/D converter, each clock is sampled by clock 1 and clock 2, but each clock is the same as shown in (b), and each A/D converted digital signal is sampled at the sampling point indicated by the arrow. If the outputs are serialized alternately, it is equivalent to doubling the clock frequency.

しかし、この場合には、第1.第2 A/D変換器10
.11の利得と、オフセットが同一であることを要する
。さもなければ、各ディジタル出力を直列にしたときの
ディジタルデータは精度が落ちてし甘い、使用できなく
なるからである。ところが一般には、A/D変換器の利
得の精度およびその安定度は十分に高いものが得られる
ので問題はないが、オンセット電圧は時間が経つにつれ
て、あるいは温度変化などによって、ドリフトするので
その補正が必要となる。
However, in this case, the first. Second A/D converter 10
.. It is necessary that the gain of 11 and the offset be the same. Otherwise, the precision of the digital data obtained when each digital output is serialized will deteriorate and become unusable. However, in general, the accuracy and stability of the gain of the A/D converter are sufficiently high, so there is no problem, but the onset voltage drifts over time or due to temperature changes, so it is not a problem. Correction is required.

このオフセット電圧のドリフトに対しては、使用に先立
って第5図(a)の各可変抵抗12.13を調整するこ
とによってオフセットを除去するという手段をとってい
た。
To deal with this offset voltage drift, a measure has been taken to eliminate the offset by adjusting each of the variable resistors 12 and 13 shown in FIG. 5(a) prior to use.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

しかし、使用に先立って手動で調整することによってオ
フセットを除去しても、時間が経つにつれて、あるいは
周囲温度の変化々とによってドリフトを生ずるので、精
度が失われてしまうという問題があった。そこで本発明
はこのような問題を解決せんとするものである。
However, even if the offset is removed by manual adjustment prior to use, accuracy is lost due to drift over time or due to changes in ambient temperature. Therefore, the present invention aims to solve such problems.

〔問題点を解決するだめの手段〕[Failure to solve the problem]

本発明は、入力端子と並列に接続されたn個のA/I5
変換器との間にスイッチを設け、入力端子に印加された
入力信号をA/D変換する必要性のないとき、またはそ
の必要性の最も少ない短時間の間このスイッチを切換え
て、n個のA/D変換器の入力を接地するか、または所
定の参照電圧を印加しA/D変換するようにした。
The present invention provides n A/I5s connected in parallel with the input terminal.
A switch is provided between the input signal and the converter, and when there is no need to A/D convert the input signal applied to the input terminal, or for a short time when the need is minimal, this switch is switched to The input of the A/D converter was grounded or a predetermined reference voltage was applied to perform A/D conversion.

〔作 用〕[For production]

この接地または所定電圧のA/D変換したデータを比較
することによって各A/D変換器のドリフトを検出し、
差異を知ることができるがら、このドリフトデータをも
とに入力信号をA/D変換したデータの補正を行なえば
、この入力信号のA/D変換とドリフト検出との期間中
にはオフセットがドリフトしないとするならば、n個の
A/D変換器を並列動作せしめることによってn倍の速
度でしかも精度よ< A/D変換をすることができる。
Detect the drift of each A/D converter by comparing the A/D converted data of this ground or predetermined voltage,
Although the difference can be known, if the data obtained by A/D converting the input signal is corrected based on this drift data, the offset will drift during the period of A/D conversion of this input signal and drift detection. If not, by operating n A/D converters in parallel, A/D conversion can be performed n times faster and with greater accuracy.

〔実施例〕〔Example〕

つぎに本発明の一実施例を第1図に示し、詳細に説明す
る。
Next, one embodiment of the present invention is shown in FIG. 1 and will be described in detail.

10.11は第1.第2 A/D変換器でn = 2の
場合を例示するものである。この両A/D変換器は入力
端子40 に加えられた入力信号(アナログ信号)をス
イッチ20 を通して印加されており、スイッチ20 
をpからqに切換えると所定の参照電圧(ER)  5
0が両A/D変換器に印加されるようになっている。第
1.第2 A/D変換器10.11には第5図の場合と
同様に180の位相差を有する同一周期のクロック1,
2が印加されておりこれによってサンプリングしA/D
変換がなされる。1.4.15はそれぞれ第1.第2 
A/D変換器の出力であるディジタルデータを捕捉し記
憶する、それぞれ、たとえば2048バイトの記憶容量
を有する第1.第2捕捉メモリである。16 はたとえ
ば、2048バイトの記憶容量を有するバッファメモリ
、17はマイクロプロセッサなどからなるCPUで、第
1.第2捕捉メモIJ14..15の内容を計算処理し
てその結果をバッファメモリ16 に格納する。18は
第1.第2捕捉メモ1J14,15の番地を計数し管理
するメモリアドレス・カウンタ、19 はメモリアドレ
ス・カウンタ18 からの信号によってスイッチ20 
を制御するための信号を出すスイッチ制御回路である0 いま、スイッチ20 はp側にあり、入力端子40に加
えられた信号は第1.第2 A/D変換器10.11に
印加されておシ、クロック1,2によ、9 A/D変換
がなされ第1.第2捕捉メモ1J14..15に順次デ
ータが取り込まれる。この様子を第2図を用いて説明す
る。第2図(b)はスイッチ20 の状態を示しており
、スイッチ20 がpにあるときに(a)に示すように
データの取り込みがなされる。
10.11 is the 1st. This example illustrates the case where n=2 in the second A/D converter. An input signal (analog signal) applied to an input terminal 40 is applied to both A/D converters through a switch 20.
When switching from p to q, the predetermined reference voltage (ER) 5
0 is applied to both A/D converters. 1st. The second A/D converter 10.11 has clocks 1 and 1 of the same period with a phase difference of 180 as in the case of FIG.
2 is applied, which causes sampling and A/D
A conversion is made. 1.4.15 are the 1st. Second
The first . A second acquisition memory. 16 is a buffer memory having a storage capacity of 2048 bytes, 17 is a CPU consisting of a microprocessor, etc. Second capture memo IJ14. .. The contents of 15 are calculated and the results are stored in buffer memory 16. 18 is the first. A memory address counter 19 that counts and manages the addresses of the second captured memo 1J14 and 15 is connected to a switch 20 by a signal from the memory address counter 18.
The switch 20, which is a switch control circuit that outputs a signal to control the 1st. 9 A/D conversion is performed by the clocks 1 and 2 applied to the second A/D converter 10.11. Second capture memo 1J14. .. 15, data is sequentially taken in. This situation will be explained using FIG. 2. FIG. 2(b) shows the state of the switch 20. When the switch 20 is in the p position, data is taken in as shown in FIG. 2(a).

このデータの取り込みは第1.第2捕捉メモリのそれぞ
れ0番地〜1023番地(1番地は1ワードを構成し1
バイトから々っている。)にデータが格納されるまで続
けられる。これはこの時点で第1.第2捕捉メモリ14
.15のデータは計2048バイトであり、このデータ
を処理して格納すべきバッファメモリ16 の容量20
48ハイドに等しくなるからである。そこでメモリアド
レス・カウンタ18の出力によりスイッチ制御回路19
が動作してスイッチ20 をq側に切換える。
Importing this data is the first step. Addresses 0 to 1023 of the second acquisition memory (address 1 constitutes 1 word and 1
I get it from my part-time job. ) continues until the data is stored. This is number 1 at this point. Second acquisition memory 14
.. 15 data is a total of 2048 bytes, and the capacity of buffer memory 16 to process and store this data is 20
This is because it is equal to 48 Hyde. Therefore, according to the output of the memory address counter 18, the switch control circuit 19
operates and switches the switch 20 to the q side.

この状態は1024番地〜2047番地の間続き、参照
電圧(ER)50がA/D変換されてその値が第1、第
2捕捉メモリ14.15の各々の1024番地〜204
7番地に記憶される。こ\で参照電圧の値ER= Oす
なわち、スイッチq側が接地されているときは、第1.
第2捕捉メモリ14.15の1024番地〜2047番
地に記憶されたデータは、第1.第2 A/D変換器1
0.11のそれぞれのオフセットの値を表すものである
から、第1.第2捕捉メモリ14゜15のそれぞれの各
2047番地のデータはそれぞれ第1.第2 A/D変
換器10.11のオフセットを表しており、このオフセ
ット値を各O番地〜1023番地の取シ込まれたデータ
からCPU17によって除去し、バッファメモリ16に
記憶せしめる。
This state continues between addresses 1024 and 2047, and the reference voltage (ER) 50 is A/D converted and its value is stored at addresses 1024 and 204 of each of the first and second acquisition memories 14 and 15.
It is stored at address 7. Here, the value of the reference voltage ER=O, that is, when the switch q side is grounded, the first.
The data stored at addresses 1024 to 2047 of the second acquisition memory 14.15 is the same as that of the first acquisition memory 14.15. 2nd A/D converter 1
Since it represents the value of each offset of 0.11, the first . The data at each address 2047 of the second acquisition memory 14 and 15 are stored in the first and second acquisition memories 14 and 15 respectively. This represents the offset of the second A/D converter 10.11, and this offset value is removed by the CPU 17 from the input data at addresses O to 1023 and stored in the buffer memory 16.

この動作によってバッファメモリ16 には、第1捕捉
メモリ14 のO番地〜1023番地および第2捕捉メ
モリ15 の0番地〜1023番地に記憶されたデータ
のオフセット値を補正した計2048ツクイトのデータ
が記憶されることに々る。
As a result of this operation, a total of 2048 pieces of data are stored in the buffer memory 16 by correcting the offset values of the data stored at addresses O to 1023 of the first acquisition memory 14 and addresses 0 to 1023 of the second acquisition memory 15. There are many things to be done.

以上の説明においては、第2図に示すごとく、第1.第
2捕捉メモリのO番地〜1023番地に入力信号のデー
タを取り込み記憶し、1024番・地〜2047番地の
オフセット検出領域における最後の2047 番地のデ
ータをオフセット値を表わすオフセットデータとしてC
PU17で処理したが、1024番地〜2047番地の
いずれの番地のオフセットデータを用いてもよいことは
明らかであろうOすなわち、前記一連の動作の期間中に
は第1.第2A/D変換器のオフセットはドリフトしな
いか、もしくは問題とならない程度に小さいからである
In the above explanation, as shown in FIG. The data of the input signal is captured and stored in addresses O to 1023 of the second acquisition memory, and the data at the last address 2047 in the offset detection area from addresses 1024 to 2047 is used as offset data representing the offset value.
It is clear that offset data at any address from 1024 to 2047 may be used. That is, during the series of operations described above, the 1. This is because the offset of the second A/D converter does not drift or is so small that it does not cause a problem.

参照電圧(ER)50がER= Oの場合を説明しだが
、ERがOでない場合であっても同様である○入力端子
に印加される入力信号が、たとえば、IV〜2Vの間で
変化するものであるときは、このERはEn = Of
あルヨリER= 1.OV iたはER−1,5vに設
定するのがよい。したがって、この参照電圧50の値で
あるERは、Ovを含む正負いずれの値をも設定できる
ようになっている。
Although the case where the reference voltage (ER) 50 is ER=O is explained, the same applies even when ER is not O. ○The input signal applied to the input terminal changes between, for example, IV to 2V. , then this ER is En = Of
Aruyori ER = 1. It is best to set it to OV i or ER-1, 5v. Therefore, ER, which is the value of this reference voltage 50, can be set to either a positive or negative value including Ov.

寸だ第1.第2 A/D変換器10.11のオフセット
データは雑音などを含んでいることがあり、第1、第2
捕捉メモ’J14,15 のそれぞれの複数ワードに記
憶された雑音を含んだオフセットデータのそれぞれの平
均値を、CPU17で演算することによって得て、雑音
を除去された正しいオフセットデータを得ることができ
る。
Dimensions 1st. The offset data of the second A/D converter 10.11 may contain noise etc.
The CPU 17 calculates the average value of the noise-containing offset data stored in each of the plural words of the captured memo 'J14, J15, thereby obtaining correct offset data from which the noise has been removed. .

第1図に示した回路の入力端子40と第1.第2A/D
変換器10.11との間には、A/D変換器としての機
能を高めるだめに、第3図に示すような入力回路を用い
ることができる。こ\で41.42 はアナログ信号を
印加する入力端子、22〜25はスイッチ、32〜37
はバッファアンプであり、バッファアンプ36.37 
 の出力はそれぞれ第1図に示す第1.第2 A/D変
換器に接続されている。
The input terminal 40 of the circuit shown in FIG. 2nd A/D
In order to enhance the function as an A/D converter, an input circuit as shown in FIG. 3 can be used between the converters 10 and 11. Here, 41.42 is an input terminal for applying an analog signal, 22 to 25 are switches, and 32 to 37
is a buffer amplifier, and buffer amplifier 36.37
The output of 1. is shown in FIG. 1, respectively. Connected to the second A/D converter.

こヌで、スイッチ22〜25がいずれもp側にあるとき
、入力端子41および42に印加された2つの入力信号
を第1.第2 A/D変換器でそれぞれ独立にA/D変
換する2チヤンネルのA/D変換器として動作する。2
チヤンネル独立して動作させたいときはバッファメモリ
16 の記憶容量を4096ハイトとしてもよい。
In this case, when the switches 22 to 25 are all on the p side, the two input signals applied to the input terminals 41 and 42 are switched to the first. The second A/D converter operates as a two-channel A/D converter that performs A/D conversion independently. 2
If it is desired to operate the channels independently, the storage capacity of the buffer memory 16 may be set to 4096 heights.

スイッチ22がp側、スイッチ24がp側、スイッチ2
5がq側にあるときは入力端子41に印加された信号の
みが第1.第2 A/D変換器でA/D変換さ渇から、
第1図において説明したように2倍の高速A/D変換が
可能となる。
Switch 22 is on the p side, switch 24 is on the p side, switch 2
5 is on the q side, only the signal applied to the input terminal 41 is on the q side. From the A/D conversion in the second A/D converter,
As explained in FIG. 1, twice the high speed A/D conversion is possible.

この場合入力信号が通るバッファアンプ32,36゜3
4、37のオフセットやその変動であるドリフトも第1
.第2 A/D変換器10.11  のオフセットやド
リフトと同時に検出され補正される。
In this case, the buffer amplifier 32, 36°3 through which the input signal passes
4, 37 offset and its fluctuation, drift, are also the first
.. The offset and drift of the second A/D converter 10.11 are detected and corrected at the same time.

スイッチ23がp側、スイッチ24がq側、スイッチ2
5がp側の場合も前記の場合、すなわち入力端子41に
印加された入力信号が第1.第2 A/D変換器10.
11でA/D変換される場合と同様に入力端子42に印
加された信号が2倍の速度でA/D変換されることにな
る。この場合には第1.第2捕捉メモ1J14,15か
らバッファメモリ16 へのオフセットデータの処理後
のデータの転送の順序は、前記の場合とは逆に第2捕捉
メモリ15 の記憶デ一夕から始められる。
Switch 23 is on the p side, switch 24 is on the q side, switch 2
5 is on the p side, the above case also applies, that is, the input signal applied to the input terminal 41 is the first. Second A/D converter 10.
Similarly to the case where the signal is A/D converted in step 11, the signal applied to the input terminal 42 is A/D converted at twice the speed. In this case, the first. The order of data transfer from the second acquisition memory 1J14, 15 to the buffer memory 16 after processing the offset data starts with the storage data of the second acquisition memory 15, contrary to the previous case.

実際のA/D変換は、入力信号に対する観測の基準点と
なるトリガ信号によってはじめてスタートして捕捉メモ
リの0番地からデータを記憶するのみならず、そのよう
な観測の基準点以前の状態をも観測しだい場合があり、
このよう々場合について第4図により説明する。
Actual A/D conversion starts with a trigger signal that serves as a reference point for observation of the input signal, and not only stores data from address 0 of the acquisition memory, but also stores the state before such observation reference point. Depending on the observation,
Such a case will be explained with reference to FIG.

第4図(a)は、トリガ信号によってA/D変換を開始
し第1.第2捕捉メモlJ1.4.15の0番地からデ
ータを記憶していく場合を示している。この場合はすで
に説明したように、第1.第2浦捉メモリ14、.1.
5の各O番地〜1023番地(1024バイト)のデー
タがバッファメモリ16(204,8バイト)の記憶容
量を満たすことに々るから、1024番地〜2047番
地の図中の斜線部分はオフセット検出領域として利用で
きるから、このうちの任意の番地たとえば2047番゛
地のオフセットデータを用いることができる。
In FIG. 4(a), A/D conversion is started by a trigger signal and the first . This shows a case where data is stored starting from address 0 of the second capture memory lJ1.4.15. In this case, as already explained, the first. The second Ura capture memory 14, . 1.
Since the data at each address O to 1023 (1024 bytes) of 5 often fills the storage capacity of the buffer memory 16 (204,8 bytes), the shaded area in the figure from addresses 1024 to 2047 is the offset detection area. Therefore, the offset data of any address among these, for example, address 2047, can be used.

第4図(b)〜(d)はA/D変換中にトリガ信号が印
加された場合で、この場合にはトリガ点以前の信号も観
測が可能である。(b)の場合トリガ点の前の1番地か
らm −1番地までを観測しだい場合、たとえば1=1
28番地でm=1152番地である場合(rn −l=
 1024 )にはm番地から2047番地の間をオフ
セット検出領域として用いると好都合である。同様にし
て(c)はl−512番地、m = 1536番咄の場
合であシ、(d)は1=896番地、m=1920番池
の場合である。(b)〜(d)の場合には、0番地から
a−1番地のデータは使用されない丑\となるから、こ
の場合には、0番地から1−1  番地の間もオフセッ
ト検出領域として使用することが可能である。
FIGS. 4(b) to 4(d) show cases where a trigger signal is applied during A/D conversion, and in this case, signals before the trigger point can also be observed. In case (b), as soon as the area from address 1 to m −1 in front of the trigger point is observed, for example, 1=1
If m=1152 at address 28 (rn −l=
1024), it is convenient to use the area between address m and address 2047 as the offset detection area. Similarly, (c) is the case where address l-512 and m = 1536th address, and (d) is the case where 1 = address 896 and m = 1920th address. In the cases of (b) to (d), the data from address 0 to a-1 is not used, so in this case, the data from address 0 to address 1-1 is also used as an offset detection area. It is possible to do so.

このオフセット検出領域は、スイッチ20.22゜23
が高速動作の可能なものであるならば1つの番地であっ
ても可能である。
This offset detection area is the switch 20.22°23
If it is capable of high-speed operation, it is possible to use only one address.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上の説明から明らか々ように、本発明はn個A/D変
換器を並列して用い、サンプリングを同一周期で位相の
み360/nずらしたタイミングで行う場合、各A/D
変換器およびバッファアンプのオフセットの差異を簡単
にかつ正確に除去できるから、個々のA/D変換器のA
/D変換速度のn倍の速さでしかも高精度にA/D変換
することができるという極めて大きな特徴を有するもの
である。
As is clear from the above description, in the case where n A/D converters are used in parallel and sampling is performed at the same period with a phase shift of 360/n, each A/D converter is
Since offset differences between converters and buffer amplifiers can be easily and accurately removed, the A of each A/D converter can be
It has an extremely significant feature of being able to perform A/D conversion at a speed n times faster than the A/D conversion speed and with high precision.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例を示す回路構成図、第2図は
第1図を説明するだめの図、第3図は本発明に用いられ
る入力回路を示す図、第4図は本発明の応用動作を説明
するだめの図、第5図は従来例を説明するだめの図であ
る。 10、11・・・第1.第2 A/D変換器、14..
15・・・第1.第2捕捉メモリ、16・バッファメモ
リ、17・・・CPU、1.8・・・メモリアドレスφ
カウンタ、19・・スイッチ制御回路、20.22〜2
5・・・スイッチ、32〜37・・・バッファアンプ、
40〜42・・・入力端子、50・・・参照電圧。
FIG. 1 is a circuit configuration diagram showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram for explaining FIG. 1, FIG. 3 is a diagram showing an input circuit used in the present invention, and FIG. FIG. 5 is a diagram for explaining the applied operation of the invention, and FIG. 5 is a diagram for explaining the conventional example. 10, 11... 1st. 2nd A/D converter, 14. ..
15... 1st. 2nd acquisition memory, 16・Buffer memory, 17...CPU, 1.8...Memory address φ
Counter, 19...Switch control circuit, 20.22-2
5...Switch, 32-37...Buffer amplifier,
40-42...Input terminal, 50...Reference voltage.

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)入力信号が印加される入力手段と、2以上の数で
あるn個のA/D変換器と、前記A/D変換器の出力を
捕捉し記憶するn個の捕捉メモリと前記n個のA/D変
換器を動作させるための同一周期で360°/nの位相
差をもつクロックを発生するクロック発生器とを具備す
るアナログ・ディジタル変換手段において、前記入力手
段が、前記入力信号と零ボルトを含む参照電圧とを切換
えて前記n個のA/D変換器に並列に印加し、前記参照
電圧をA/D変換することによって前記n個のA/D変
換器のオフセットデータを得て、前記入力信号をA/D
変換して得られた入力データを前記オフセットデータに
もとづき補正することを特徴とするA/D変換器のオフ
セット補正回路。
(1) An input means to which an input signal is applied, n A/D converters whose number is 2 or more, n capture memories that capture and store the outputs of the A/D converters, and the n and a clock generator that generates a clock having the same period and a phase difference of 360°/n for operating the A/D converters, wherein the input means is configured to convert the input signal into and a reference voltage including zero volts are switched and applied in parallel to the n A/D converters, and the reference voltage is A/D converted to obtain offset data of the n A/D converters. and convert the input signal into an A/D
An offset correction circuit for an A/D converter, characterized in that input data obtained by conversion is corrected based on the offset data.
(2)前記捕捉メモリに前記入力データおよび前記オフ
セットデータを記憶せしめて、前記入力データを前記オ
フセットデータにもとづき補正し、補正データをバッフ
ァメモリに順次記憶せしめる特許請求の範囲第1項記載
のA/D変換器のオフセット補正回路。
(2) A according to claim 1, wherein the input data and the offset data are stored in the acquisition memory, the input data is corrected based on the offset data, and the correction data is sequentially stored in a buffer memory. /D converter offset correction circuit.
(3)前記入力手段が、n個の入力端子をもち、前記n
個の入力端子に印加されたn個の入力信号をそれぞれ前
記n個のA/D変換器に印加することのできる特許請求
の範囲第1項記載のA/D変換器のオフセット補正回路
(3) The input means has n input terminals, and the n
2. The offset correction circuit for an A/D converter according to claim 1, which is capable of applying n input signals applied to the n input terminals to the n A/D converters, respectively.
(4)前記入力手段が、前記入力データの必要とされな
い期間において前記参照電圧を前記n個のA/D変換器
に印加することを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
のA/D変換器のオフセット補正回路。
(4) The A/D converter according to claim 1, wherein the input means applies the reference voltage to the n A/D converters during a period when the input data is not required. Converter offset correction circuit.
(5)前記オフセットデータを前記n個の捕捉メモリの
すくなくとも1ワード以上に記憶せしめる特許請求の範
囲第1項記載のA/D変換器のオフセット補正回路。
(5) The offset correction circuit for an A/D converter according to claim 1, wherein the offset data is stored in at least one word or more of the n acquisition memories.
(6)前記オフセットデータを記憶せしめる前記n個の
捕捉メモリの番地が、最後の1番地を使用するものであ
る特許請求の範囲第1項記載のA/D変換器のオフセッ
ト補正回路。
(6) The offset correction circuit for an A/D converter according to claim 1, wherein the last address of the n acquisition memories for storing the offset data is used.
(7)前記n個の捕捉メモリのそれぞれの複数ワードに
記憶されたオフセットデータのそれぞれの平均値を得て
、前記オフセットデータとする特許請求の範囲第1項記
載のA/D変換器のオフセット補正回路。
(7) An offset of an A/D converter according to claim 1, wherein the average value of each of the offset data stored in a plurality of words of each of the n acquisition memories is obtained and used as the offset data. correction circuit.
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6472465A (en) * 1987-09-14 1989-03-17 Furukawa Battery Co Ltd Manufacture of expanded metal type electrode grating substrate
JPH02305027A (en) * 1989-05-18 1990-12-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd A/d converter
US6417469B1 (en) 1998-06-25 2002-07-09 Omron Corporation Illuminated push button switch
JP2005311742A (en) * 2004-04-22 2005-11-04 Nec Electronics Corp Semiconductor integrated circuit device
US7161514B2 (en) 2001-10-26 2007-01-09 Agilent Technologies, Inc. Calibration method for interleaving an A/D converter
JP2011147063A (en) * 2010-01-18 2011-07-28 Yokogawa Electric Corp Analog-to-digital conversion apparatus
JP2013051495A (en) * 2011-08-30 2013-03-14 Denso Corp Signal processing device

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS51128254A (en) * 1975-04-30 1976-11-09 Mitsubishi Electric Corp Analog-digital converter
JPS55130229A (en) * 1979-03-30 1980-10-08 Mitsubishi Electric Corp Analog-digital converter

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS51128254A (en) * 1975-04-30 1976-11-09 Mitsubishi Electric Corp Analog-digital converter
JPS55130229A (en) * 1979-03-30 1980-10-08 Mitsubishi Electric Corp Analog-digital converter

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6472465A (en) * 1987-09-14 1989-03-17 Furukawa Battery Co Ltd Manufacture of expanded metal type electrode grating substrate
JPH02305027A (en) * 1989-05-18 1990-12-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd A/d converter
US6417469B1 (en) 1998-06-25 2002-07-09 Omron Corporation Illuminated push button switch
US7161514B2 (en) 2001-10-26 2007-01-09 Agilent Technologies, Inc. Calibration method for interleaving an A/D converter
DE10249864B4 (en) * 2001-10-26 2011-08-11 Verigy (Singapore) Pte. Ltd. Calibration procedure for an interleaving A / D converter
JP2005311742A (en) * 2004-04-22 2005-11-04 Nec Electronics Corp Semiconductor integrated circuit device
JP2011147063A (en) * 2010-01-18 2011-07-28 Yokogawa Electric Corp Analog-to-digital conversion apparatus
JP2013051495A (en) * 2011-08-30 2013-03-14 Denso Corp Signal processing device

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