JPS61173144A - 導電率測定装置 - Google Patents
導電率測定装置Info
- Publication number
- JPS61173144A JPS61173144A JP61000341A JP34186A JPS61173144A JP S61173144 A JPS61173144 A JP S61173144A JP 61000341 A JP61000341 A JP 61000341A JP 34186 A JP34186 A JP 34186A JP S61173144 A JPS61173144 A JP S61173144A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic field
- conductivity
- circuit
- measuring
- generating means
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 73
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 claims description 72
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 65
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 16
- 230000001965 increasing effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 15
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 13
- 230000008859 change Effects 0.000 description 10
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 9
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 9
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 9
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 230000005672 electromagnetic field Effects 0.000 description 7
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 7
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 6
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 6
- 230000004044 response Effects 0.000 description 6
- 241001465754 Metazoa Species 0.000 description 5
- 230000004323 axial length Effects 0.000 description 5
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 5
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 4
- 235000013372 meat Nutrition 0.000 description 4
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 235000020997 lean meat Nutrition 0.000 description 3
- 238000010606 normalization Methods 0.000 description 3
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 3
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 3
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 3
- 238000005481 NMR spectroscopy Methods 0.000 description 2
- 235000014676 Phragmites communis Nutrition 0.000 description 2
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 239000003302 ferromagnetic material Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 235000015927 pasta Nutrition 0.000 description 2
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
- 235000001270 Allium sibiricum Nutrition 0.000 description 1
- 206010011878 Deafness Diseases 0.000 description 1
- 241001397104 Dima Species 0.000 description 1
- KCXVZYZYPLLWCC-UHFFFAOYSA-N EDTA Chemical compound OC(=O)CN(CC(O)=O)CCN(CC(O)=O)CC(O)=O KCXVZYZYPLLWCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000015429 Mirabilis expansa Nutrition 0.000 description 1
- 244000294411 Mirabilis expansa Species 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 229940079593 drug Drugs 0.000 description 1
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
- 229960001484 edetic acid Drugs 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000003203 everyday effect Effects 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 235000013622 meat product Nutrition 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 235000013536 miso Nutrition 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 229940053390 pretz Drugs 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B5/00—Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons
- A61B5/05—Detecting, measuring or recording for diagnosis by means of electric currents or magnetic fields; Measuring using microwaves or radio waves
- A61B5/053—Measuring electrical impedance or conductance of a portion of the body
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Public Health (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Measurement And Recording Of Electrical Phenomena And Electrical Characteristics Of The Living Body (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の背景
本発明は一般に導電率測定の分野に関するものであり、
更に詳しくは電磁界発生素子が発生する電磁界の中に測
定対象を入れた状態で電磁界発生素子の導電率を測定す
ることによって測定対象の導電率を測定するための新規
で改良された装置に関するものである。
更に詳しくは電磁界発生素子が発生する電磁界の中に測
定対象を入れた状態で電磁界発生素子の導電率を測定す
ることによって測定対象の導電率を測定するための新規
で改良された装置に関するものである。
従来、電磁界の擾乱と測定の手法によって測定対象の導
電率を判定するために多数の方法と装置が提案されてい
る。たとえばバーカー(Hark@r )の米国特許第
3,73よ2≠7号はンレノイド・コイルの発生する電
磁界の中に肉の/包みまたは肉サンプルを入れてコイル
駆動源に対する負荷を測定することによって肉の脂肉対
赤身の比を測定するための装置を対象としている。同様
に、国際特許公報第WO♂/10322乙号として発行
された国際特許出願第P CT/U S♂/100乙Q
2号は断層X線写真法によって物質の選択された体積素
子の画像の作成を対象としている。この方法では、物質
を比較的弱い電磁界の影響下に置き、複数の子め選択さ
れた周波数を加えて出力データを得る。この出力データ
を使って、選択された体積素子の導電性を反映した画像
を発生する。
電率を判定するために多数の方法と装置が提案されてい
る。たとえばバーカー(Hark@r )の米国特許第
3,73よ2≠7号はンレノイド・コイルの発生する電
磁界の中に肉の/包みまたは肉サンプルを入れてコイル
駆動源に対する負荷を測定することによって肉の脂肉対
赤身の比を測定するための装置を対象としている。同様
に、国際特許公報第WO♂/10322乙号として発行
された国際特許出願第P CT/U S♂/100乙Q
2号は断層X線写真法によって物質の選択された体積素
子の画像の作成を対象としている。この方法では、物質
を比較的弱い電磁界の影響下に置き、複数の子め選択さ
れた周波数を加えて出力データを得る。この出力データ
を使って、選択された体積素子の導電性を反映した画像
を発生する。
デーピッド・ビー・コアンク(Daマid B、 Fu
nk )らの米国特許出願第37虐!!λ号(/りr、
!年タ月6日出願)Kは、サンプルの構成要素を非破壊
的に判定する装置、更に詳しくは肉製品サンプルの脂肉
対赤身の比を判定する装置が開示されている。この出願
では磁界発生コイルが開示されている。関心のあるサン
プルを完全にこのコイルの磁界の中に入れ、サンプルが
コイルの中に無い状態と有る状態の両方でコイルの導電
率を測定する。
nk )らの米国特許出願第37虐!!λ号(/りr、
!年タ月6日出願)Kは、サンプルの構成要素を非破壊
的に判定する装置、更に詳しくは肉製品サンプルの脂肉
対赤身の比を判定する装置が開示されている。この出願
では磁界発生コイルが開示されている。関心のあるサン
プルを完全にこのコイルの磁界の中に入れ、サンプルが
コイルの中に無い状態と有る状態の両方でコイルの導電
率を測定する。
次にマイクロコンピュータを使って、コイルから得られ
たインピーダンスまたは導電率の測定結果に基いてす/
デルの脂肉対赤身の比を判定する。
たインピーダンスまたは導電率の測定結果に基いてす/
デルの脂肉対赤身の比を判定する。
本発明は特に人間の生体または大きな動物の生体等の比
較的大きな測定対象の導電率を判定する問題を対象とし
ている。したがって、肉サンプルの脂肉と赤身の測定を
対象とする従来技術の特許とは異なり、本出願が対象と
している測定対象は組成が比較的一様でなく、試験のた
め比較的小さな代表サンプルを物理的に分離することに
適していない。更に、これらの入間や動物の生体は大き
さ、寸法、構成要素の組成や分布が生体を次々に変えて
いくとき一様でなく、シたがって測定対象を次々に試験
のため一様なやシ方で磁界の中に入れることはできない
、、また、上記の特許のいくつかで述べられている無生
物とは異なり、測定対象が試験中に動くことがある。
較的大きな測定対象の導電率を判定する問題を対象とし
ている。したがって、肉サンプルの脂肉と赤身の測定を
対象とする従来技術の特許とは異なり、本出願が対象と
している測定対象は組成が比較的一様でなく、試験のた
め比較的小さな代表サンプルを物理的に分離することに
適していない。更に、これらの入間や動物の生体は大き
さ、寸法、構成要素の組成や分布が生体を次々に変えて
いくとき一様でなく、シたがって測定対象を次々に試験
のため一様なやシ方で磁界の中に入れることはできない
、、また、上記の特許のいくつかで述べられている無生
物とは異なり、測定対象が試験中に動くことがある。
比較的低エネルギーの磁界で得られた比較的簡浪: A
YL率測定値にコンピュータ・エイディラド分析手法
を適用して、測定対象、測定対象の種々の部分の一方ま
たは両方の組成に関する非常に有用な情報を得ることが
できることを本願発明者は発見した。このような比較的
低レベルの試験は専用の場所、シールド等を用意したり
測定対象を傷つける恐れなしに実行できる利点がある。
YL率測定値にコンピュータ・エイディラド分析手法
を適用して、測定対象、測定対象の種々の部分の一方ま
たは両方の組成に関する非常に有用な情報を得ることが
できることを本願発明者は発見した。このような比較的
低レベルの試験は専用の場所、シールド等を用意したり
測定対象を傷つける恐れなしに実行できる利点がある。
これに反して、X線、核磁気共鳴(NMR’)等の多く
の高エネルギー法では、専用の部屋や場所、シールドを
用意しなければならず、また測定対象、装置操作者の両
方に被ばくの危険が生ずることがある。
の高エネルギー法では、専用の部屋や場所、シールドを
用意しなければならず、また測定対象、装置操作者の両
方に被ばくの危険が生ずることがある。
上記の低エネルギーの磁界擾乱法による入間や大きな動
物の測定対象の試験について多数の問題が生じてきた。
物の測定対象の試験について多数の問題が生じてきた。
たとえば従来技術では、正確で再現性のある結果を得る
ためKは測定対象を一様で連続的な磁界の中に完全に入
れなければならないと考えられてきた。これKついては
、磁界擾乱や境界条件等の他の非一様領域では試験結果
に予測不能の変化が生じてしまうことがあると信じられ
てきた。したがって、試験に使用される磁界の軸方向の
長さくしたがってこの磁界を発生するためのコイルの軸
方向の長さ)は測定対象の長さの2倍程度でなければな
らず、その半径も測定対象の最大横寸法に比べてかなり
大きくなければならないと信じられてきた。
ためKは測定対象を一様で連続的な磁界の中に完全に入
れなければならないと考えられてきた。これKついては
、磁界擾乱や境界条件等の他の非一様領域では試験結果
に予測不能の変化が生じてしまうことがあると信じられ
てきた。したがって、試験に使用される磁界の軸方向の
長さくしたがってこの磁界を発生するためのコイルの軸
方向の長さ)は測定対象の長さの2倍程度でなければな
らず、その半径も測定対象の最大横寸法に比べてかなり
大きくなければならないと信じられてきた。
このように軸方向の長さを比較的長くすることにより、
磁界の中心に菫い九測定対象は°コイル等の磁界発生素
子の端で経験するような軸端境界効果をかなり免れるこ
とができる。同様に半径を比較的大きくすることにより
、測定対象を半径方向の磁界のほぼ中心に配置すること
ができ、磁界発生コイルの内表面に比較的近い領域で経
験するような非一様な境界効果を免れることができろ。
磁界の中心に菫い九測定対象は°コイル等の磁界発生素
子の端で経験するような軸端境界効果をかなり免れるこ
とができる。同様に半径を比較的大きくすることにより
、測定対象を半径方向の磁界のほぼ中心に配置すること
ができ、磁界発生コイルの内表面に比較的近い領域で経
験するような非一様な境界効果を免れることができろ。
この点について、円筒形のコイルが使用されてきた。従
来使用されたコイルの寸法はたとえば、その方形のハウ
ジングまたは囲みの長さが約72フイート、高さが約6
フイート、幅が約6フイートとなるようなものであった
。このような寸法の必要条件から、このような装置の組
み立て、輸送、試験実施場所での組み立てが難しくなる
。更に、このような装置は試験のためかなシ大きな部屋
または面積を必要とし、試験実施のための別の部屋に簡
単に移したシ輸送したシすることはできない。したがっ
て、このような装置に必要とされる寸法によってその輸
送性と有用性が制限されるとこれまで信じられてきた。
来使用されたコイルの寸法はたとえば、その方形のハウ
ジングまたは囲みの長さが約72フイート、高さが約6
フイート、幅が約6フイートとなるようなものであった
。このような寸法の必要条件から、このような装置の組
み立て、輸送、試験実施場所での組み立てが難しくなる
。更に、このような装置は試験のためかなシ大きな部屋
または面積を必要とし、試験実施のための別の部屋に簡
単に移したシ輸送したシすることはできない。したがっ
て、このような装置に必要とされる寸法によってその輸
送性と有用性が制限されるとこれまで信じられてきた。
前記の特許のいくつかで用いられている手法や装置で生
じる第2の問題は測定対象またはサンプルを完全に磁界
発生コイルの中に入れて7回しか読み取りを行なわない
ため得られるデータまたは情報が比較的少量であるとい
うことである。前記の国際特許公報は付加的な出力デー
タを得るため予め選択された複数の周波数を用いること
を示唆し、またサンプルと磁界との間に相対運動を行な
わせることを示唆した。しかし前述したように、磁界発
生コイルまたは他の機器のヘシでの非一様な境界状態の
予測不能の影響を避けるためサンプル全体を一様な磁界
領域の中に保たなければならないということも信じられ
ていた。したがって人体の試験装置の場合は、サンプル
を磁界に対して動かさなければならないという必要条件
とサンプルを磁界の一様な部分に保たなければならない
という必要条件の両方を満たすためには前に述べたもの
よシ更に大きな装置が必要となる。更に、人体試験用の
装置で複数の周波数を使うと多数の問題が発生する。た
とえば、使用する各周波数について米国の場合には米国
政府の食糧薬品局の承認を得なければならない。このよ
うな承認を得ることはかなシ複雑で費用のかかる手続き
となる。したがって、使用周波数は最少限にすることが
好ましく、測定のため唯一つの周波数を用いることが好
ましい。
じる第2の問題は測定対象またはサンプルを完全に磁界
発生コイルの中に入れて7回しか読み取りを行なわない
ため得られるデータまたは情報が比較的少量であるとい
うことである。前記の国際特許公報は付加的な出力デー
タを得るため予め選択された複数の周波数を用いること
を示唆し、またサンプルと磁界との間に相対運動を行な
わせることを示唆した。しかし前述したように、磁界発
生コイルまたは他の機器のヘシでの非一様な境界状態の
予測不能の影響を避けるためサンプル全体を一様な磁界
領域の中に保たなければならないということも信じられ
ていた。したがって人体の試験装置の場合は、サンプル
を磁界に対して動かさなければならないという必要条件
とサンプルを磁界の一様な部分に保たなければならない
という必要条件の両方を満たすためには前に述べたもの
よシ更に大きな装置が必要となる。更に、人体試験用の
装置で複数の周波数を使うと多数の問題が発生する。た
とえば、使用する各周波数について米国の場合には米国
政府の食糧薬品局の承認を得なければならない。このよ
うな承認を得ることはかなシ複雑で費用のかかる手続き
となる。したがって、使用周波数は最少限にすることが
好ましく、測定のため唯一つの周波数を用いることが好
ましい。
発生する第3の開運は検出装置の安定性の問題である。
この点については、電磁界発生素子すなワチコイル、こ
のコイルの駆動回路、およびコイルの導電率等の電気的
性質を測定するための測定検出回路には利得、応答等に
予測不能の変化が生じる。このような変化はある期間に
わたる測定毎に生じ、また計器毎に、すなわち類似した
構成の複数の試験計器の間でこのような変化が生じる。
のコイルの駆動回路、およびコイルの導電率等の電気的
性質を測定するための測定検出回路には利得、応答等に
予測不能の変化が生じる。このような変化はある期間に
わたる測定毎に生じ、また計器毎に、すなわち類似した
構成の複数の試験計器の間でこのような変化が生じる。
与えろ1tたコイルの導電率等の電気的性質は環境変化
、部品の経年変化等の裡々の要因からの干渉によって時
間の経過とともに変ることがある。同様の要因によって
、コイル等の磁界発生素子の駆動回路の利得等の電気的
特性が変ることがある。
、部品の経年変化等の裡々の要因からの干渉によって時
間の経過とともに変ることがある。同様の要因によって
、コイル等の磁界発生素子の駆動回路の利得等の電気的
特性が変ることがある。
同様に、測定検出回路には多数の電気回路素子や電子回
路素子が含まれ、これらの素子も環境の影響、経年変化
等で利得、スケール係数、応答等が時間とともに変るこ
とがある。したがって、従来は検出器の安定度を確保し
、読取υ値の精度と読取り値の正規化または再現性を確
保することは難しい問題であった。同じ要因により、計
器を変えたとき暁取り値の標準化を行なうことも難しく
なる。多数の計器を使って多数の測定対象からある期間
にわたって得られた結果の統計的妥当性を確保するため
、このような標準化と安定度が重要である。
路素子が含まれ、これらの素子も環境の影響、経年変化
等で利得、スケール係数、応答等が時間とともに変るこ
とがある。したがって、従来は検出器の安定度を確保し
、読取υ値の精度と読取り値の正規化または再現性を確
保することは難しい問題であった。同じ要因により、計
器を変えたとき暁取り値の標準化を行なうことも難しく
なる。多数の計器を使って多数の測定対象からある期間
にわたって得られた結果の統計的妥当性を確保するため
、このような標準化と安定度が重要である。
発明の目的と要約
したがって、本発明の一般的な目的は測定対象の導電率
を測定するだめの新規で改良された装置全提供すること
である。
を測定するだめの新規で改良された装置全提供すること
である。
より特定の目的は上記の目的に従って比較的大きな人間
または動物の生体の導1を率を測定するための装置を提
供することである。
または動物の生体の導1を率を測定するための装置を提
供することである。
関連した目的は上記の目的に従って、この目的の従来の
装置と比べて寸法のかなシ小さな装置を提供することで
ちる。
装置と比べて寸法のかなシ小さな装置を提供することで
ちる。
もう7つの関連した目的は上記の各目的に従って、比較
的低レベルのエネルギーを使い、専用の場所や部屋の準
備を必要としない装置を提供することである。
的低レベルのエネルギーを使い、専用の場所や部屋の準
備を必要としない装置を提供することである。
もう7つの目的は上記の各目的に従って、測定対象の試
験に於いて複数の読取り値またはデータ点を発生するこ
とができる装置を提供することである。
験に於いて複数の読取り値またはデータ点を発生するこ
とができる装置を提供することである。
更にもう7つの目的は上記の各目的に従って、安定度、
正規化、および標準化という従来技術の問題をほぼ解消
し、したがって正確で、標準化され、再現性のよい、す
なわち正規化された読取り値を発生することのできる装
置を提供することである。
正規化、および標準化という従来技術の問題をほぼ解消
し、したがって正確で、標準化され、再現性のよい、す
なわち正規化された読取り値を発生することのできる装
置を提供することである。
上記の各目的を達成するため、導電率測定装置には、所
定内部空間にほぼ一様な磁界を発生するための磁界発生
手段、測定対象の少なくとも一部を上記内部空間に対し
て出し入れするため上記測定対象と上記内部空間との間
の相対運動を生ずるための運動手段、上記磁界発生手段
両端間の導電率を測定するため上記磁界発生手段と結合
された測定手段、ならびに上記測定対象を上記磁界の中
に複数の異なる範囲まで入れた状態で上記磁界発生手段
両端間の導電率の複数の測定値を得るために上記測定対
象を上記内部空間に対して動かしながら上記測定手段に
上記磁界発生手段両端間の導電率を複数回測定させるた
めの制御回路手段が含まれている。
定内部空間にほぼ一様な磁界を発生するための磁界発生
手段、測定対象の少なくとも一部を上記内部空間に対し
て出し入れするため上記測定対象と上記内部空間との間
の相対運動を生ずるための運動手段、上記磁界発生手段
両端間の導電率を測定するため上記磁界発生手段と結合
された測定手段、ならびに上記測定対象を上記磁界の中
に複数の異なる範囲まで入れた状態で上記磁界発生手段
両端間の導電率の複数の測定値を得るために上記測定対
象を上記内部空間に対して動かしながら上記測定手段に
上記磁界発生手段両端間の導電率を複数回測定させるた
めの制御回路手段が含まれている。
新規性があると考えられる本発明の特徴については請求
範囲に明確に記載されている。本発明の構成と動作方法
、ならびに本発明の上記以外の目的と利点はいくつかの
図面を参照した以下の説明により明らかとなる。図面で
類似した参照番号は類似の構成要素を表わす。
範囲に明確に記載されている。本発明の構成と動作方法
、ならびに本発明の上記以外の目的と利点はいくつかの
図面を参照した以下の説明により明らかとなる。図面で
類似した参照番号は類似の構成要素を表わす。
第1図から第3図に於いて、本発明による、測定対象の
導電率を測定するための装置全体を参照番号20で表わ
しである。装置、20にはハウジング22が含ま、れて
いる。ハウジング2.2には$111 定対象2乙を受
け入れるための開放端を有する、はぼ円筒形の室2弘が
形成されている。はぼ円筒形のコイル手段または検出コ
イル2gの形で設けられた磁界発生手段が円筒室2≠の
中に形成された内部空間をほぼ取シ囲んでいる。コイル
2♂は円筒室j4’の中に形成された内部空間にほぼ一
様な磁界を発生するように配置される。
導電率を測定するための装置全体を参照番号20で表わ
しである。装置、20にはハウジング22が含ま、れて
いる。ハウジング2.2には$111 定対象2乙を受
け入れるための開放端を有する、はぼ円筒形の室2弘が
形成されている。はぼ円筒形のコイル手段または検出コ
イル2gの形で設けられた磁界発生手段が円筒室2≠の
中に形成された内部空間をほぼ取シ囲んでいる。コイル
2♂は円筒室j4’の中に形成された内部空間にほぼ一
様な磁界を発生するように配置される。
更に、測定対象2乙と円筒室24Aとの間の相対運動を
実現するための運動手段が設けられている。
実現するための運動手段が設けられている。
図示した実施例では、運動手段は円筒室2弘に対して可
動すなわち滑動可能なようにとう載された往復台30と
この往復台を駆動するための駆動手段IIL乙の形で実
現されている。更に詳しくは、軌道J、21C沿って滑
動できるように往復台30がとう献さf′L:3゜軌道
32は往ゆ台30を滑動可能なようにとう載するため、
円筒室の第1の開放端!夕で基部3!の一部を形成する
。円筒室−24Lの中の同様の軌道3≠はこの軌道32
と一線になっており、軌道32の延長部を形成している
。これにより、往復台30は軌道3IItに沿って滑動
し、円筒室、2≠に出入りすることができる。付加的な
軌道延長部3乙ももう7つの分離された基部3gKのせ
て運ぶことができる。この基部3gは円筒室2≠の反対
側の端の開口≠Oと揃えることができる。
動すなわち滑動可能なようにとう載された往復台30と
この往復台を駆動するための駆動手段IIL乙の形で実
現されている。更に詳しくは、軌道J、21C沿って滑
動できるように往復台30がとう献さf′L:3゜軌道
32は往ゆ台30を滑動可能なようにとう載するため、
円筒室の第1の開放端!夕で基部3!の一部を形成する
。円筒室−24Lの中の同様の軌道3≠はこの軌道32
と一線になっており、軌道32の延長部を形成している
。これにより、往復台30は軌道3IItに沿って滑動
し、円筒室、2≠に出入りすることができる。付加的な
軌道延長部3乙ももう7つの分離された基部3gKのせ
て運ぶことができる。この基部3gは円筒室2≠の反対
側の端の開口≠Oと揃えることができる。
このため、第3図に最もはつきp示されているように往
復台30に水平および垂直のガイド・ホイールすなわち
ローラー142および11t11tが軌道32.3≠お
よび31.VCのるように設けられる。
復台30に水平および垂直のガイド・ホイールすなわち
ローラー142および11t11tが軌道32.3≠お
よび31.VCのるように設けられる。
駆動手段4を乙には細長いテープtoが含まれている。
このテープは後述の結合構造または結合配置によって往
復台30に結合され、測定対象が円筒室2弘に出入りす
るように往復台を双方向く押したり引いたシする。テー
プ乙0を駆動するため電動機ヌ♂が設けられている。し
たがって、往復台30、テープ乙0および電動機≠gを
含む駆動手段11を乙、ならびに結合構造が円筒室に出
入りする方向に測定対象を動かすための運動手段を構成
する。制御盤4’夕には、円筒室に対する軌道32およ
び341に沿った往復台30の運動を始動、制御するた
めの適当な制御器が含まれている。
復台30に結合され、測定対象が円筒室2弘に出入りす
るように往復台を双方向く押したり引いたシする。テー
プ乙0を駆動するため電動機ヌ♂が設けられている。し
たがって、往復台30、テープ乙0および電動機≠gを
含む駆動手段11を乙、ならびに結合構造が円筒室に出
入りする方向に測定対象を動かすための運動手段を構成
する。制御盤4’夕には、円筒室に対する軌道32およ
び341に沿った往復台30の運動を始動、制御するた
めの適当な制御器が含まれている。
次に、第2図および第3図に示すような、往復台30を
駆動するための駆動構造について説明する。電動機4t
♂はスプロケット乙2を介して細長く柔軟なテープ部材
乙Oを駆動する。このテープ乙Oは比較的平らで、寸法
が安定しておシ、シかもスゲロケット乙2で駆動するた
めの孔をそなえた柔軟なテープであることが好ましい。
駆動するための駆動構造について説明する。電動機4t
♂はスプロケット乙2を介して細長く柔軟なテープ部材
乙Oを駆動する。このテープ乙Oは比較的平らで、寸法
が安定しておシ、シかもスゲロケット乙2で駆動するた
めの孔をそなえた柔軟なテープであることが好ましい。
テープ10の先端には、上記の結合構造の一部を形成す
るコネクタまたは継ぎ手ブロック部材乙弘がとう載され
ている。
るコネクタまたは継ぎ手ブロック部材乙弘がとう載され
ている。
はぼ軌道32および3≠と並行に1第1の基部キャビネ
ット3jおよびハウジング2コに沿ってテープ乙Oおよ
びコネクタ・ブロック64tを案内するために細長い軌
道部材またはみそ部材6乙が設けられている。この後者
のみぞまたは案内軌道6乙によって、チーf乙Oがキャ
ビネット3!および22の長手方向に進むときほぼ平坦
な状態に保たれる。更に、テープ貯蔵箱6gが設けられ
ており、全体的に参照番号AOaで示すようにテープ1
0の未使用部分が巻回された状態で貯蔵されている。継
ぎ手構造には相補的な旋回継ぎ手ブロック70が含まれ
ている。ブロック70の一端ヲ部材乙≠で受け、またブ
ロック70は細長いロッド72によって第2の同様の旋
回継ぎ手部材またはブロック74’に結合されている。
ット3jおよびハウジング2コに沿ってテープ乙Oおよ
びコネクタ・ブロック64tを案内するために細長い軌
道部材またはみそ部材6乙が設けられている。この後者
のみぞまたは案内軌道6乙によって、チーf乙Oがキャ
ビネット3!および22の長手方向に進むときほぼ平坦
な状態に保たれる。更に、テープ貯蔵箱6gが設けられ
ており、全体的に参照番号AOaで示すようにテープ1
0の未使用部分が巻回された状態で貯蔵されている。継
ぎ手構造には相補的な旋回継ぎ手ブロック70が含まれ
ている。ブロック70の一端ヲ部材乙≠で受け、またブ
ロック70は細長いロッド72によって第2の同様の旋
回継ぎ手部材またはブロック74’に結合されている。
ブロック7≠も旋回可能なよう罠とう載され、ハンドル
76の同様の旋回運動に応じて旋回するように結合され
ている。ハンドル7乙は操作者が握れるようにハウジン
グまたは基部3jから外側に伸びている。
76の同様の旋回運動に応じて旋回するように結合され
ている。ハンドル7乙は操作者が握れるようにハウジン
グまたは基部3jから外側に伸びている。
このハンドル7乙およびブロック7≠はまた往復台30
のフレーム部材7gの後端または前端と結合されている
。
のフレーム部材7gの後端または前端と結合されている
。
したがって、構成要素70.72.71ILおよび7乙
から成る継ぎ手構造または配置が第2図の位置にある場
合、電動機の回転によってテープ乙Oはハウジング、!
2の方向に駆動される。これKよシ、往復台乙Oは全体
的にその前端または後端からハウジング22の中に引か
れる。ハンドル7乙はピがット♂0を中心として全体的
に旋回する。
から成る継ぎ手構造または配置が第2図の位置にある場
合、電動機の回転によってテープ乙Oはハウジング、!
2の方向に駆動される。これKよシ、往復台乙Oは全体
的にその前端または後端からハウジング22の中に引か
れる。ハンドル7乙はピがット♂0を中心として全体的
に旋回する。
操作者はハンドル7乙を上に引いて継ぎ手構造を解放し
、往復台が手動で第2図の位置に戻るようKすることが
できる。簡単に言えば、ピがット10を中心としてハン
ドルを上に旋回すると、ビ?ット?≠による継ぎ手部材
またはブロック部材7弘によシ方向r2の旋回が生じる
ことがわかる。
、往復台が手動で第2図の位置に戻るようKすることが
できる。簡単に言えば、ピがット10を中心としてハン
ドルを上に旋回すると、ビ?ット?≠による継ぎ手部材
またはブロック部材7弘によシ方向r2の旋回が生じる
ことがわかる。
このようKして細長いロッド7、!は継ぎ手70の上部
を引くことによシこれをそのピ?ット点?乙のまわシに
旋回させ、継ぎ手乙≠とのかみ合わせを解放する。
を引くことによシこれをそのピ?ット点?乙のまわシに
旋回させ、継ぎ手乙≠とのかみ合わせを解放する。
次にコイル部材2♂について簡単に説明する。
図示した実施例では、ハウジング22の軸長に沿って間
隔を置いて配置された導電部材でできた複数のほぼ平坦
な環状バンドと7がコイル部材2gに含まれている。こ
れらのバンドはノ・ウノングの上側部分で相互接続され
、・・ウソング2.2 ノ長手方向に沿って軸方向に伸
びた連続的なコイル部材を形成している。隣接した環状
導体相互の間の電気的結合は全体が参照番号♂gで表わ
された比較的短い「クロスオーバー」導体によって行な
われる。しかし、このように形成されたコイル2gを通
る電流の向きは参照番号ざりで示すように隣接した環状
導体部材の端を直接結合することKよって3巻きごとに
反転される。
隔を置いて配置された導電部材でできた複数のほぼ平坦
な環状バンドと7がコイル部材2gに含まれている。こ
れらのバンドはノ・ウノングの上側部分で相互接続され
、・・ウソング2.2 ノ長手方向に沿って軸方向に伸
びた連続的なコイル部材を形成している。隣接した環状
導体相互の間の電気的結合は全体が参照番号♂gで表わ
された比較的短い「クロスオーバー」導体によって行な
われる。しかし、このように形成されたコイル2gを通
る電流の向きは参照番号ざりで示すように隣接した環状
導体部材の端を直接結合することKよって3巻きごとに
反転される。
それぞれの結合点どりは細長い、軸方向に伸びたパス部
材りOおよびり/によって結合される。
材りOおよびり/によって結合される。
これらのパス70およびり/のうち一方には後述する発
振器からの交流信号が通り、他方は地気パスとなる。し
たがって、駆動信号と回路地気はコイル2どの軸長に沿
って結合点rりの/り置きに結合される。これらのパス
タOおよびり/はハウジング22の中間点にとう載され
たハウジンゲタ2で運ばれる本発明の測定回路の回路部
分く伸びている。
振器からの交流信号が通り、他方は地気パスとなる。し
たがって、駆動信号と回路地気はコイル2どの軸長に沿
って結合点rりの/り置きに結合される。これらのパス
タOおよびり/はハウジング22の中間点にとう載され
たハウジンゲタ2で運ばれる本発明の測定回路の回路部
分く伸びている。
一寸第3図も参照して、パス90および57/fi半径
方向に伸びた適当な導体部材932よび′?≠によって
その下のコイル、2gの各結合点♂りに結合されている
ことがわかる。は11 T字形のフレーム部材りjが各
パスタQおよびり/からの導体7g、9りを上向きに通
してI・ウジング72の中にある回路に入れる。ここで
、回路を導電性のねじ山付き部材または?ルトタ6.9
7によって71ウジングタ2に通すことが好ましい。
方向に伸びた適当な導体部材932よび′?≠によって
その下のコイル、2gの各結合点♂りに結合されている
ことがわかる。は11 T字形のフレーム部材りjが各
パスタQおよびり/からの導体7g、9りを上向きに通
してI・ウジング72の中にある回路に入れる。ここで
、回路を導電性のねじ山付き部材または?ルトタ6.9
7によって71ウジングタ2に通すことが好ましい。
再び第2図を暫く参照して、ホーム・ポジション・セン
サー7/およびエンド・ポジション・センサー73が往
復台30の端の位置を検出するため基部3よおよび基部
3rにそれぞれ設けられる。
サー7/およびエンド・ポジション・センサー73が往
復台30の端の位置を検出するため基部3よおよび基部
3rにそれぞれ設けられる。
これらのセンサー7/および73は光電型センサーで構
成することが好ましい。付加的な移動速度センサー7j
を電動!!klA了またはスゲロケット乙コと動作結合
することによシ、その回転速度を検出して往復台30の
移動速度を監視することができる。
成することが好ましい。付加的な移動速度センサー7j
を電動!!klA了またはスゲロケット乙コと動作結合
することによシ、その回転速度を検出して往復台30の
移動速度を監視することができる。
第1図に示すように、図示した実施例ではノーウソング
22の側面から付加的なデスク部材またはテーブル部材
jOを伸ばして、キーメートj4Lおよびビデオ・ディ
スプレーを含む小型コンピュータ端末j2を置くことが
できる。図示した実施例では、円筒室24Aの寸法は長
さ10インチ、直径30イ/チのオーダーとするのが都
合がよい。したがって、ハウジングココ、往復台アセン
ブリとその基台3!(これは分離できる)、ならびに延
長軌道3乙とその基台(これもハウジング22から分離
できる)は余計な空間を占有する必要はない。更に後述
するように、検出コイル2rKよって比較的低エネルイ
ーの磁界が発生するので、特殊な部屋や場所の準備、シ
ールド等は必要でない。
22の側面から付加的なデスク部材またはテーブル部材
jOを伸ばして、キーメートj4Lおよびビデオ・ディ
スプレーを含む小型コンピュータ端末j2を置くことが
できる。図示した実施例では、円筒室24Aの寸法は長
さ10インチ、直径30イ/チのオーダーとするのが都
合がよい。したがって、ハウジングココ、往復台アセン
ブリとその基台3!(これは分離できる)、ならびに延
長軌道3乙とその基台(これもハウジング22から分離
できる)は余計な空間を占有する必要はない。更に後述
するように、検出コイル2rKよって比較的低エネルイ
ーの磁界が発生するので、特殊な部屋や場所の準備、シ
ールド等は必要でない。
次に第弘図には、本発明の特徴がブロック形式で示され
ている。ここでは画定対象2乙は全体が検出コイル2♂
の中、すなわち円筒室λ≠の中に形成された内部空間に
完全に入っているように描かれている。しかし以下の説
明から明らかなように1測定対象を円筒室の中、したが
って大なシ小なりコイルの中に入れることができる。更
に、本発明によって測定対象の導電率の測定を行なうた
め、測定対象を複数の異なる程度に内部空間すなわち円
筒室の中に入れて測定を行なうことが好ましい。
ている。ここでは画定対象2乙は全体が検出コイル2♂
の中、すなわち円筒室λ≠の中に形成された内部空間に
完全に入っているように描かれている。しかし以下の説
明から明らかなように1測定対象を円筒室の中、したが
って大なシ小なりコイルの中に入れることができる。更
に、本発明によって測定対象の導電率の測定を行なうた
め、測定対象を複数の異なる程度に内部空間すなわち円
筒室の中に入れて測定を行なうことが好ましい。
本発明によれば、測定回路手段100は磁界発生手段す
なわちコイル、2J’と電気的に結合されて、その両端
間の導電率を測定する。検出コイル2どの導電率の測定
結果には、その中に測定対象2乙の一部が存在するため
反射導電率が含まれている。
なわちコイル、2J’と電気的に結合されて、その両端
間の導電率を測定する。検出コイル2どの導電率の測定
結果には、その中に測定対象2乙の一部が存在するため
反射導電率が含まれている。
したがって、導電率のうちコイル2gによる部分および
導電率の測定に影響を及ぼす恐れのある測定対象2z以
外の要因を測定結果から除去することによって、測定対
象、2乙のコイル2どの中にある部分の導電率を求める
か計算することができる。
導電率の測定に影響を及ぼす恐れのある測定対象2z以
外の要因を測定結果から除去することによって、測定対
象、2乙のコイル2どの中にある部分の導電率を求める
か計算することができる。
簡単に述べると、測定回路手段には位相検出回路部10
2が含まれておシ、これはコイル2♂と結合されて、測
定対象のコイル内にある部分の反射導電率を含む、検出
コイル2g両端間の導電率を表わす導電率信号を発生す
る。振幅検出回路部IO≠はコイル2gと結合されて、
その両端間のアドミンタンスの蛋幅まfC,は大きさを
検出し、対応する振幅信号を発生する。インピーダンス
位相検出器とインピーダンス振幅検出回路は発振器10
乙からの発振器信号全検出コイル2gに供給する線/θ
gに沿って結合することが好ましい。
2が含まれておシ、これはコイル2♂と結合されて、測
定対象のコイル内にある部分の反射導電率を含む、検出
コイル2g両端間の導電率を表わす導電率信号を発生す
る。振幅検出回路部IO≠はコイル2gと結合されて、
その両端間のアドミンタンスの蛋幅まfC,は大きさを
検出し、対応する振幅信号を発生する。インピーダンス
位相検出器とインピーダンス振幅検出回路は発振器10
乙からの発振器信号全検出コイル2gに供給する線/θ
gに沿って結合することが好ましい。
位相検出器102からの導電率信号と振幅検出器10≠
からの振幅信号を交互に選択するため選択回路手段また
はマルチプレクサ/10が設けられている。マルチプレ
クサまたは選択回路手段/10で選択された信号はアナ
ログ−ディジタル変換器//2を含む出力回路手段に与
えられる。
からの振幅信号を交互に選択するため選択回路手段また
はマルチプレクサ/10が設けられている。マルチプレ
クサまたは選択回路手段/10で選択された信号はアナ
ログ−ディジタル変換器//2を含む出力回路手段に与
えられる。
アナログ−ディジタル゛変換器または出力回路//2は
マルチプレクサまたは選択回路手段/10で選択された
信号をディジタル化し、このディジタル化された信号を
内蔵されたマイクロコンピュータ//≠に送出する。こ
のマイクロコンピュータ//≠には、変換器//、2の
出力信号に応動して測定対象2乙の検出コイルコ?の磁
界内にある部分の導電率を計算するための計算回路手段
が含まれている。前述したように、検出コイル2?の既
知の影響とその両端間で読み取った総導電率に影響を及
ぼす他の余計な要因の既知の影響を除去することにより
、測定対象のコイル2gの中にある部分の導電率を計算
することができる。
マルチプレクサまたは選択回路手段/10で選択された
信号をディジタル化し、このディジタル化された信号を
内蔵されたマイクロコンピュータ//≠に送出する。こ
のマイクロコンピュータ//≠には、変換器//、2の
出力信号に応動して測定対象2乙の検出コイルコ?の磁
界内にある部分の導電率を計算するための計算回路手段
が含まれている。前述したように、検出コイル2?の既
知の影響とその両端間で読み取った総導電率に影響を及
ぼす他の余計な要因の既知の影響を除去することにより
、測定対象のコイル2gの中にある部分の導電率を計算
することができる。
上記のように測定対象のコイル内にある部分の導電率だ
けを判定する7つの方法は「デコ/?リュージョン」処
理を使うものである。簡単に述べると、このようなアコ
/lリュージョンは測定対象以外の要因の影響によって
コイルλg両端間の導電率の読み取シ値に生じる「コン
ゴリュージョン」を考慮に入れるための数学的処理で構
成される。このコンゴリュージョンはコイルxt自体、
コイル用の駆動回路、またはコイル2gの中の磁界に影
響を及ぼす他の環境等の要因によって生じる。簡単に述
べると、測定対象!乙の部分がない状態でのコイル2を
両端間の測定値、および中に既知の基準素子を入れた状
態でのコイル2tの測定[Kよって、コイルの「伝達関
数」を設定することができる。一旦この伝達関数がわか
れば、コイルの中に入れた任意の物体の反射導電率は測
定結果を既知の伝達関数で「デコンg IJニート」ス
ることによって求めることができる。このような処理は
コンピュータが特に良好に実行する。この点については
、内蔵のマイクロコンピュータがこの処理を実行しても
よいし、あるいは前記のコンピュータタλを含む付加的
な「外部」コンピュータを便ってもよい。付加的な外部
コンピュータj2を使うときは、測定対象または測定対
象の種橿の部分の組成に関する他の要因を得るようKこ
(7) コア ヒュータを付加的にプログラミングスル
コともできる。測定対象2乙の測定結果のハードコピー
記録を作成する丸め外部コンピュータ!−にプリンタ/
24tとプロッタ/2乙を付加することもできる。
けを判定する7つの方法は「デコ/?リュージョン」処
理を使うものである。簡単に述べると、このようなアコ
/lリュージョンは測定対象以外の要因の影響によって
コイルλg両端間の導電率の読み取シ値に生じる「コン
ゴリュージョン」を考慮に入れるための数学的処理で構
成される。このコンゴリュージョンはコイルxt自体、
コイル用の駆動回路、またはコイル2gの中の磁界に影
響を及ぼす他の環境等の要因によって生じる。簡単に述
べると、測定対象!乙の部分がない状態でのコイル2を
両端間の測定値、および中に既知の基準素子を入れた状
態でのコイル2tの測定[Kよって、コイルの「伝達関
数」を設定することができる。一旦この伝達関数がわか
れば、コイルの中に入れた任意の物体の反射導電率は測
定結果を既知の伝達関数で「デコンg IJニート」ス
ることによって求めることができる。このような処理は
コンピュータが特に良好に実行する。この点については
、内蔵のマイクロコンピュータがこの処理を実行しても
よいし、あるいは前記のコンピュータタλを含む付加的
な「外部」コンピュータを便ってもよい。付加的な外部
コンピュータj2を使うときは、測定対象または測定対
象の種橿の部分の組成に関する他の要因を得るようKこ
(7) コア ヒュータを付加的にプログラミングスル
コともできる。測定対象2乙の測定結果のハードコピー
記録を作成する丸め外部コンピュータ!−にプリンタ/
24tとプロッタ/2乙を付加することもできる。
更に本発明の7つの特徴によれば、円筒室241によっ
て形成される内部空間の磁界に測定対象を少なくとも1
つの方向に出し入れしながら、磁界発生手段すなわちコ
イル、2fの両端間の導電率を測定回路手段100に複
数回測定させるための制御回路手段が内蔵マイクロコン
ピュータ//4tに含まれる。したがって、測定対象を
円筒室2≠によって形成される内部空間の磁界に複数の
異なる範囲まで入れた状態で、コイル1?両端間の導電
率の複数の測定結果が得られる。前記のことから明らか
なように、測定対象を通じて見た所与の横断面容量の、
導電率したがって組成に関する情報も判定することがで
きる。これは所望の横断面容量が検出コイル2?に入る
直前の導電率読取シ値を所望の横断面容量が検出コイル
2rに入った直後の読取り値と比較することによって行
なうことができる。すなわち、両方の読堰シ値が前述の
通シ「デコンぎりューション」されたものと仮定しし、
後者の読取シ値から前者の読取シ値を実質的に「減算」
することにより、当該横断部分または横断空間の反射導
電率が得られる。
て形成される内部空間の磁界に測定対象を少なくとも1
つの方向に出し入れしながら、磁界発生手段すなわちコ
イル、2fの両端間の導電率を測定回路手段100に複
数回測定させるための制御回路手段が内蔵マイクロコン
ピュータ//4tに含まれる。したがって、測定対象を
円筒室2≠によって形成される内部空間の磁界に複数の
異なる範囲まで入れた状態で、コイル1?両端間の導電
率の複数の測定結果が得られる。前記のことから明らか
なように、測定対象を通じて見た所与の横断面容量の、
導電率したがって組成に関する情報も判定することがで
きる。これは所望の横断面容量が検出コイル2?に入る
直前の導電率読取シ値を所望の横断面容量が検出コイル
2rに入った直後の読取り値と比較することによって行
なうことができる。すなわち、両方の読堰シ値が前述の
通シ「デコンぎりューション」されたものと仮定しし、
後者の読取シ値から前者の読取シ値を実質的に「減算」
することにより、当該横断部分または横断空間の反射導
電率が得られる。
図示された実施例によれば、「診断」コンピュータを内
蔵コンピュータ//II−と結合することもできる。同
様に1外部コンピュータj2は更に 。
蔵コンピュータ//II−と結合することもできる。同
様に1外部コンピュータj2は更に 。
「選択的」コンピュータ/20等の1つ以上の、遠隔位
置にあるコンピュータと結合することもできる。この7
i的コンピユータ7.20は、別の位置の類似装置と結
合されたコンピュータ52ト”JA似のコンピュータ、
または遠隔位置の「メイン。
置にあるコンピュータと結合することもできる。この7
i的コンピユータ7.20は、別の位置の類似装置と結
合されたコンピュータ52ト”JA似のコンピュータ、
または遠隔位置の「メイン。
フレーム」コンピュータとすることができる。コンピュ
ータ720は装置20から、また恐らく他の位置にある
装置20と類似の他の装置から電話回線等を介して受信
した累積データを格納するために使うこともできる。コ
ンピュータ/20はまたデータ・パンクの形をとって、
コンピュータ52等の現場の外部コンピュータが測定対
象の物理的性質の他の関心のある要素を計算するために
使うこともできる。これはある期間にわたって、複数の
測定対象から収集した実験的データを相関させることに
より行なわれる。このため、外部コンピュータ62に対
して付加的なメモリー/22を設けることもできる。
ータ720は装置20から、また恐らく他の位置にある
装置20と類似の他の装置から電話回線等を介して受信
した累積データを格納するために使うこともできる。コ
ンピュータ/20はまたデータ・パンクの形をとって、
コンピュータ52等の現場の外部コンピュータが測定対
象の物理的性質の他の関心のある要素を計算するために
使うこともできる。これはある期間にわたって、複数の
測定対象から収集した実験的データを相関させることに
より行なわれる。このため、外部コンピュータ62に対
して付加的なメモリー/22を設けることもできる。
本発明のもう1つの特徴によれば、内蔵マイクロコンピ
ュータ1iii−の制御回路手段部は円筒室2IItK
対する測定対象の位置を監視するため運動手段と結合さ
れている。このため、制御回路手段に司期手段を設ける
ことにより、円筒室に対する測定対象の位置を所定間隔
で増加させつつ磁界発生手段またはコイル2gの両端間
の導電率を測定回路100に測定させるようにしている
。
ュータ1iii−の制御回路手段部は円筒室2IItK
対する測定対象の位置を監視するため運動手段と結合さ
れている。このため、制御回路手段に司期手段を設ける
ことにより、円筒室に対する測定対象の位置を所定間隔
で増加させつつ磁界発生手段またはコイル2gの両端間
の導電率を測定回路100に測定させるようにしている
。
図示された実施例では、制御回路手段は電動機制御回路
または電動機回路手段/30t−介して電動機l/L、
rと結合されている。ホーム・デシジョン・セン?−7
7、エンド・ポジション・セン? −73、および移動
速度センサーも運動手段(往復台、電動機、および駆動
装置)と往復台の位置および円筒室2弘に対する往復台
の移動速度を検知するための制御回路手段との中間に結
合される。
または電動機回路手段/30t−介して電動機l/L、
rと結合されている。ホーム・デシジョン・セン?−7
7、エンド・ポジション・セン? −73、および移動
速度センサーも運動手段(往復台、電動機、および駆動
装置)と往復台の位置および円筒室2弘に対する往復台
の移動速度を検知するための制御回路手段との中間に結
合される。
したがって、マイクロコンピュータ//弘の制御回路手
段または制御回路部は2つの位置センサーと速度センサ
ーに応動して、与えられた時点に於ける往復台の円筒室
に対する瞬時相対位置を判定する。これによシ制御回路
手段は往復台30が増分位置にいつ達したかを判定する
。この増分位置で、コイル2g両端間の導電率を測定す
るため測定回路100を起動しなければならない。
段または制御回路部は2つの位置センサーと速度センサ
ーに応動して、与えられた時点に於ける往復台の円筒室
に対する瞬時相対位置を判定する。これによシ制御回路
手段は往復台30が増分位置にいつ達したかを判定する
。この増分位置で、コイル2g両端間の導電率を測定す
るため測定回路100を起動しなければならない。
次に第!rA図および第58図は位相検出回路手段10
2の細部の概略図である。本発明のlっの特徴によれば
位相検出回路手段102VCは、コイル手段または検出
コイル2Irと並列な電気回路として可変抵抗手段また
は可変抵抗/≠0が含まれている。第58図では検出コ
イル2gは等価回路形式でインダクタンス・コイルとし
て表わしであるが、コイル2gの中にある測定対象また
は測定対象の一部は等価回路形式でコイルコアと並列な
電気回路の可変抵抗と可変コンデンサの並列組み合わせ
として表わされている。これに関連して゛、導電性と誘
電性の両方をそなえた測定対象をコイル−2gの磁界の
中に置くと、第!B図に示すように測定対象の反射イン
ピーダンスまたはアドミッタンスが等価回路で全体的に
コイルの両端間に現われる。
2の細部の概略図である。本発明のlっの特徴によれば
位相検出回路手段102VCは、コイル手段または検出
コイル2Irと並列な電気回路として可変抵抗手段また
は可変抵抗/≠0が含まれている。第58図では検出コ
イル2gは等価回路形式でインダクタンス・コイルとし
て表わしであるが、コイル2gの中にある測定対象また
は測定対象の一部は等価回路形式でコイルコアと並列な
電気回路の可変抵抗と可変コンデンサの並列組み合わせ
として表わされている。これに関連して゛、導電性と誘
電性の両方をそなえた測定対象をコイル−2gの磁界の
中に置くと、第!B図に示すように測定対象の反射イン
ピーダンスまたはアドミッタンスが等価回路で全体的に
コイルの両端間に現われる。
図示された実施例では、可変抵抗/l/LoiC感光抵
抗が含まれている。この感光抵抗はLED / 4t2
をも含む回路部品の一部とすることが好ましい。
抗が含まれている。この感光抵抗はLED / 4t2
をも含む回路部品の一部とすることが好ましい。
このような部品FiLEDプアクトロール(vaetr
ol)部品と呼ばれ、たとえば米国ミズーリ州セントル
イス(St、 Louim )のプアクテツク社(Va
etec。
ol)部品と呼ばれ、たとえば米国ミズーリ州セントル
イス(St、 Louim )のプアクテツク社(Va
etec。
Inc、 )から市販されているVTL j Cを使う
ことができる。後述するように、LED/44.2は可
変抵抗または光抵抗111toへの帰還制御ループ内で
復号回路の一部を構成している。
ことができる。後述するように、LED/44.2は可
変抵抗または光抵抗111toへの帰還制御ループ内で
復号回路の一部を構成している。
可変抵抗l弘Oはコンデンサ/!A4Lを介してコイル
2Irと並列な電気回路としてAC結合されている。コ
ンデンサ/4t4Lは抵抗/≠0の一端から励起発振器
からの上記の線10gK伸びている。
2Irと並列な電気回路としてAC結合されている。コ
ンデンサ/4t4Lは抵抗/≠0の一端から励起発振器
からの上記の線10gK伸びている。
もう1つのコンデンサ/IA乙はもう7つの直列接続さ
れた抵抗/弘tを介して可変抵抗/4LOの他端を地気
に結合する。本発明のもう1つの特徴によれば、可変抵
抗/弘Oは更に導電率検出、信号結合はインダクタンス
・コイル/!Oおよび/!2によって行なわれる。イン
ダクタンス・コイル/jOおよび/jコは可変抵抗1t
i−oと第1のコンデンサ/4’4’の結合点および第
2のコンデンサ/≠AKそれぞれ接続されている。抵抗
/≠rは精ぢi抵抗であり、DC結合された導電率検出
回路/j≠に対して適当な零でないDC基準レベルスナ
わちフロア・レベルを設定するために用いられている。
れた抵抗/弘tを介して可変抵抗/4LOの他端を地気
に結合する。本発明のもう1つの特徴によれば、可変抵
抗/弘Oは更に導電率検出、信号結合はインダクタンス
・コイル/!Oおよび/!2によって行なわれる。イン
ダクタンス・コイル/jOおよび/jコは可変抵抗1t
i−oと第1のコンデンサ/4’4’の結合点および第
2のコンデンサ/≠AKそれぞれ接続されている。抵抗
/≠rは精ぢi抵抗であり、DC結合された導電率検出
回路/j≠に対して適当な零でないDC基準レベルスナ
わちフロア・レベルを設定するために用いられている。
したがって、すべての導電率読敗り値は測定コイル2g
と並列接続された可変抵抗/≠Oから得られるので、測
定コイル、2gから直接読み取る場合のドリフト、環境
が変る影響等による問題が防止される。更に、間もなく
明らかとなるように、可変抵抗/≠0およびLED /
11t2は可変抵抗itt。
と並列接続された可変抵抗/≠Oから得られるので、測
定コイル、2gから直接読み取る場合のドリフト、環境
が変る影響等による問題が防止される。更に、間もなく
明らかとなるように、可変抵抗/≠0およびLED /
11t2は可変抵抗itt。
の両端間で得られた読取シ値の安定性と再現性の増大、
すなわち「正規化」のための閉ループ制御系を構成する
。これらの読取り値は測定対象2乙の検出コイルの中に
ある部分の反射導電率も含めて、容易に検出コイル2g
の導電率に関連づけることができる。測定対象2乙の検
出コイルの中にある部分の反射導電率は前述のように後
でデコンボリューションによって判定することができる
。
すなわち「正規化」のための閉ループ制御系を構成する
。これらの読取り値は測定対象2乙の検出コイルの中に
ある部分の反射導電率も含めて、容易に検出コイル2g
の導電率に関連づけることができる。測定対象2乙の検
出コイルの中にある部分の反射導電率は前述のように後
でデコンボリューションによって判定することができる
。
帰還信号または誤差信号を直接作成して読み取ると、読
取シ値が介在する回路の利得、応答等の変動の影響を非
常に受けやすくなり、したがってこのような読取り値を
正規化することも難しくなるという問題があるが、可変
抵抗/≠0の導電率を測定することによシこのような問
題も解消される。
取シ値が介在する回路の利得、応答等の変動の影響を非
常に受けやすくなり、したがってこのような読取り値を
正規化することも難しくなるという問題があるが、可変
抵抗/≠0の導電率を測定することによシこのような問
題も解消される。
位相検出回路手段102VCFi更に1全体を参照番号
/乙0(第5A図)で表わした誤差検出回路手段が含ま
れる。コイル2♂両端間の電気アドミッタンスの位相角
と予め選定された位相角との差を表わす誤差信号を作成
するため、この回路160は線10?で検出コイル2f
と結合されている。
/乙0(第5A図)で表わした誤差検出回路手段が含ま
れる。コイル2♂両端間の電気アドミッタンスの位相角
と予め選定された位相角との差を表わす誤差信号を作成
するため、この回路160は線10?で検出コイル2f
と結合されている。
図示された実施例では、この予め選定された位相角は7
0度の位相角である。すなわち、コイル2gでは電流は
電圧より′?0度だけ遅れる。この70度の位相角は空
心のコイルのインピーダンスまたはアドミッタンスが完
全に誘導性であるものと仮定している。
0度の位相角である。すなわち、コイル2gでは電流は
電圧より′?0度だけ遅れる。この70度の位相角は空
心のコイルのインピーダンスまたはアドミッタンスが完
全に誘導性であるものと仮定している。
次に第7図および第に図について説明する。第7図で測
定コイル2gのインピーダンスまたはアドミッタンスは
3つの要素り、Cおよび凡の並列電気回路で表わされる
。L、C,およびRはそれぞれインダクタンス・コイル
、コンデンサ、および抵抗を表わしている。同様に、コ
イルの中の測定対象または測定対象の一部2乙はコイル
2!rの誘導性素子またはアドミッタンス素子と並列の
デルタCで表わしたコンデ/すとデルタRで表わした抵
抗の並列組み合わせによって表わされる。上記の要素の
正味アドミッタンスはコイル2にの両端子間にYとして
示しである。
定コイル2gのインピーダンスまたはアドミッタンスは
3つの要素り、Cおよび凡の並列電気回路で表わされる
。L、C,およびRはそれぞれインダクタンス・コイル
、コンデンサ、および抵抗を表わしている。同様に、コ
イルの中の測定対象または測定対象の一部2乙はコイル
2!rの誘導性素子またはアドミッタンス素子と並列の
デルタCで表わしたコンデ/すとデルタRで表わした抵
抗の並列組み合わせによって表わされる。上記の要素の
正味アドミッタンスはコイル2にの両端子間にYとして
示しである。
第に図にはフィルのこれらのアドミッタンス素子または
要素が正味アドミッタンス・ベクトルに及ぼす影響が示
されている。図示された実施例のコイルでは、コイル2
♂単独の誘導性素子りのアドミッタンスはほぼ≠Qミリ
モーと測定され、コイル2gの抵抗性素子凡のフンダク
タンスはほぼ/ミリモーと測定され、容量性素子Cのア
ドミッタンスはほぼ/≠ミリモーと測定された。したが
って、コイル2g単独(すなわち、測定対象のど)部分
モ存在していない)のアドミッタンス・ベクトルはほぼ
2 g、 0 、!ミリモーと計算され、位相角は第g
図のYで示すようにマイナスr 7.75’ 7度とな
る。このベクトル解析から明らかとなるように1サング
ル2乙の抵抗素子または導電素子Rおよび誘電素子Cが
付加されると、コイル両端間で測ったアドミッタンス・
ベクトルYの正味長さと相対位相角の両方が更に変化す
る。
要素が正味アドミッタンス・ベクトルに及ぼす影響が示
されている。図示された実施例のコイルでは、コイル2
♂単独の誘導性素子りのアドミッタンスはほぼ≠Qミリ
モーと測定され、コイル2gの抵抗性素子凡のフンダク
タンスはほぼ/ミリモーと測定され、容量性素子Cのア
ドミッタンスはほぼ/≠ミリモーと測定された。したが
って、コイル2g単独(すなわち、測定対象のど)部分
モ存在していない)のアドミッタンス・ベクトルはほぼ
2 g、 0 、!ミリモーと計算され、位相角は第g
図のYで示すようにマイナスr 7.75’ 7度とな
る。このベクトル解析から明らかとなるように1サング
ル2乙の抵抗素子または導電素子Rおよび誘電素子Cが
付加されると、コイル両端間で測ったアドミッタンス・
ベクトルYの正味長さと相対位相角の両方が更に変化す
る。
この点で注意すべきことは、本発明の測定装置の測定対
象には強磁性材料が含まれていないと仮定している。す
べての強磁性材料は測定容積の領域または円筒室2≠か
ら除かれている。したがって、前述の往復台、軌道、ロ
ーラー、駆動チーブ、案内みぞ、および継ぎ手アセンブ
リはすべて非金属材料で作られている。したがって、こ
こでは測定対象は抵抗素子と誘電素子だけで表わされて
いる。
象には強磁性材料が含まれていないと仮定している。す
べての強磁性材料は測定容積の領域または円筒室2≠か
ら除かれている。したがって、前述の往復台、軌道、ロ
ーラー、駆動チーブ、案内みぞ、および継ぎ手アセンブ
リはすべて非金属材料で作られている。したがって、こ
こでは測定対象は抵抗素子と誘電素子だけで表わされて
いる。
誤差検出回路手段/1,0は線1orrtceつてコイ
ルに与えられる電流とコイル両端間の電圧の両方に応動
する。これらから、電圧と電流との間の位相角、したが
ってコイルのアドミッタンスの位相角を求めることがで
きる。誤差検出回路/乙QKは抵抗ブリッジ回路/乙2
が含まれている。プリッツ回路/乙Jの上端は後述する
零位相回路/乙≠を介して線10gに結合され、下端は
地気に結合されている。
ルに与えられる電流とコイル両端間の電圧の両方に応動
する。これらから、電圧と電流との間の位相角、したが
ってコイルのアドミッタンスの位相角を求めることがで
きる。誤差検出回路/乙QKは抵抗ブリッジ回路/乙2
が含まれている。プリッツ回路/乙Jの上端は後述する
零位相回路/乙≠を介して線10gに結合され、下端は
地気に結合されている。
線10にに沿ってコイル2gに与えられる電流を表わす
一対の電圧が変成器/乙gの二次コイル/乙乙の両端に
発生する。変成器/6了の一次コイル/6りは単巻であ
り、これは線10!rと直列のほぼまっすぐな線である
。図示した実施例の二次巻線/6乙は巻数20の線であ
る。二次巻線/6乙の両端はブリッジ回路/乙2の2つ
の中点く結合されて、一対の電圧v2およびv3が作成
される。これらの電圧vコおよびv3はコイル両端間の
電圧とコイル電流に対応する電圧との和を表わし、した
がって電圧と電流との間の位相角、したがってコイル両
端間のアドミッタンスの位相角についての情報を含んで
いる。
一対の電圧が変成器/乙gの二次コイル/乙乙の両端に
発生する。変成器/6了の一次コイル/6りは単巻であ
り、これは線10!rと直列のほぼまっすぐな線である
。図示した実施例の二次巻線/6乙は巻数20の線であ
る。二次巻線/6乙の両端はブリッジ回路/乙2の2つ
の中点く結合されて、一対の電圧v2およびv3が作成
される。これらの電圧vコおよびv3はコイル両端間の
電圧とコイル電流に対応する電圧との和を表わし、した
がって電圧と電流との間の位相角、したがってコイル両
端間のアドミッタンスの位相角についての情報を含んで
いる。
l j MHzの正弦波発振器10乙がコイルコrを駆
動する。したがって、線IO?の電圧、ならびに二次巻
線/乙6の両端に発生する電圧は同じ周期の正弦波であ
る。更に、二次コイル/乙乙の両端の電圧は互いに位相
が丁度/10度ずれている。
動する。したがって、線IO?の電圧、ならびに二次巻
線/乙6の両端に発生する電圧は同じ周期の正弦波であ
る。更に、二次コイル/乙乙の両端の電圧は互いに位相
が丁度/10度ずれている。
動作について説明すると、検出コイル、2fが純抵抗性
であれば、すなわち位相角が0度であれば、その電圧は
その電流と同じ位相になる。したがって、このとき電圧
v2は最大となる。電圧v2のもととなる電流部と電圧
部が同じ位相になるからである。これに反して、電圧v
3は最小となる。
であれば、すなわち位相角が0度であれば、その電圧は
その電流と同じ位相になる。したがって、このとき電圧
v2は最大となる。電圧v2のもととなる電流部と電圧
部が同じ位相になるからである。これに反して、電圧v
3は最小となる。
v3のもととなる二次コイル/乙乙の電圧はそれに流れ
る電流と位相が/ど0度ずれているからである。この電
流はコイル、!?両端間の電圧と同じ位相罠なっている
。しかし、検出コイル2gが純誘導性である場合には、
検出コイル2♂を通る電流は電圧に比べて70度だけ遅
れる。し九がって、二次コイル/乙乙の両端の電圧は検
出コイル、2gの両端間の電圧に対して位相が丁度20
度ずれるので、電圧v3は電圧v2にほぼ等しくなる。
る電流と位相が/ど0度ずれているからである。この電
流はコイル、!?両端間の電圧と同じ位相罠なっている
。しかし、検出コイル2gが純誘導性である場合には、
検出コイル2♂を通る電流は電圧に比べて70度だけ遅
れる。し九がって、二次コイル/乙乙の両端の電圧は検
出コイル、2gの両端間の電圧に対して位相が丁度20
度ずれるので、電圧v3は電圧v2にほぼ等しくなる。
間もなく明らかとなるように1誤着信号は実質的に電圧
v2と電圧v3との差−とされる。したがって、検出コ
イル2ざのアドミッタンスの位相角がほぼ70度と検出
されたとき、誤差信号が最小値に達する。
v2と電圧v3との差−とされる。したがって、検出コ
イル2ざのアドミッタンスの位相角がほぼ70度と検出
されたとき、誤差信号が最小値に達する。
第を図に示すように1図示された実施例のコイルのアド
ミッタンスは純粋に誘導性では−ないので、その位相角
は丁度り0度ではない。したがって、固定コンデンサ/
70と可変コンデンサ/72で構成された零位相回路ま
たは位相調整回路/6弘が@101と抵抗プリツノ回路
/1,2の上端との間に挿入される。線10rの電圧の
位相角が線10♂を流れる電流の位相からほぼ正確にり
0度ずれるように調整コンデンサ/72を調整する。
ミッタンスは純粋に誘導性では−ないので、その位相角
は丁度り0度ではない。したがって、固定コンデンサ/
70と可変コンデンサ/72で構成された零位相回路ま
たは位相調整回路/6弘が@101と抵抗プリツノ回路
/1,2の上端との間に挿入される。線10rの電圧の
位相角が線10♂を流れる電流の位相からほぼ正確にり
0度ずれるように調整コンデンサ/72を調整する。
これは測定対象がない状態で電圧Vλとv3とをほぼ等
しくすることによシ回路/乙Oに対して零誤差または最
小誤差もしくは基準点を設定するために行なわれる。
しくすることによシ回路/乙Oに対して零誤差または最
小誤差もしくは基準点を設定するために行なわれる。
更に詳しく第jAIJを参照して、誤差検出回路手段1
toKは一対のブリッジ信号すなわち電圧v2およびv
3を処理するため、全体を参照番号/7&で表わしたチ
ョッパ安定化回路手段も含まれている。処理された信号
のピーク振幅を検出賦対応するピーク検出信号を発生す
るため、全体を参照番号/71rで表わしたピーク検出
回路手段がチョッパ安定化回路手段に結合されている。
toKは一対のブリッジ信号すなわち電圧v2およびv
3を処理するため、全体を参照番号/7&で表わしたチ
ョッパ安定化回路手段も含まれている。処理された信号
のピーク振幅を検出賦対応するピーク検出信号を発生す
るため、全体を参照番号/71rで表わしたピーク検出
回路手段がチョッパ安定化回路手段に結合されている。
誤差信号を含むこれらのピーク検出信号が全体を参照番
号/10で表わし、一部を第jA図、一部を第jB図に
示した復号回路手段に与えられる。このように作成され
た誤差信号はコイル両端間のアドミッタンスの位相角と
り0度との差を表わす。回路164!によって設定され
るような、空心コイル21のりO度位相角からの変動は
コイル2tの磁界内にあるサンプルの部分の反射アドミ
ッタンスによるものと考えることができる。復号回路手
段は誤差信号に応動して可変抵抗または光抵抗/410
の抵抗値を変えることによシ、検出コイル2rの両端間
で測定したアドミッタンスに予め選定された位相角(す
なわちり0度)に保つ。この点については、前記のLE
D / 1LLuにこの後者の復号回路手段の一部分が
含まれている。
号/10で表わし、一部を第jA図、一部を第jB図に
示した復号回路手段に与えられる。このように作成され
た誤差信号はコイル両端間のアドミッタンスの位相角と
り0度との差を表わす。回路164!によって設定され
るような、空心コイル21のりO度位相角からの変動は
コイル2tの磁界内にあるサンプルの部分の反射アドミ
ッタンスによるものと考えることができる。復号回路手
段は誤差信号に応動して可変抵抗または光抵抗/410
の抵抗値を変えることによシ、検出コイル2rの両端間
で測定したアドミッタンスに予め選定された位相角(す
なわちり0度)に保つ。この点については、前記のLE
D / 1LLuにこの後者の復号回路手段の一部分が
含まれている。
最後に1前述したように可変抵抗の導電率を表わす導電
率信号を作成するため、導電率測定または信号回路手段
/!弘が可変抵抗/≠0IICDC結合さ几ている。し
たがってこの信号は測定対象2乙のコイル2gの中にあ
る部分の反射導電率を含む、検出コイル2g両端間の導
電率を表わす。
率信号を作成するため、導電率測定または信号回路手段
/!弘が可変抵抗/≠0IICDC結合さ几ている。し
たがってこの信号は測定対象2乙のコイル2gの中にあ
る部分の反射導電率を含む、検出コイル2g両端間の導
電率を表わす。
動作については、回路が「零」誤差信号状態にあっても
、可変抵抗/IILOの導電率の公称値を維持するため
ある残留誤差信号電流(「非零」動作点)がLED /
IIt2を励起する。すなわち、閉ループ制御は理想
的な利得すなわち無限大の利得を持つことができないの
で、誤差信号を発生する電圧v2とv3との差がなくて
もある小さな残留駆動信号が存在する。この特徴によシ
、サンプルλ乙またはその一部をコイルに入れたときコ
イル!?両端間の導電率を測定する際の基準点を与える
ための抵抗it、toの測定可能な「残留」導電率が得
られる。すなわち、コイルjfの回路に抵抗/弘0のあ
る公称導電率値を入れた状態で、第!A図および第jB
図の回路は実質的に「平衡」状態すなわち最小誤差信号
状態に達する。したがって、サンプルまたはサングルの
一部をコイル、2fK入れたとき、そのアドミッタンス
の位相角が若干小さくなる。
、可変抵抗/IILOの導電率の公称値を維持するため
ある残留誤差信号電流(「非零」動作点)がLED /
IIt2を励起する。すなわち、閉ループ制御は理想
的な利得すなわち無限大の利得を持つことができないの
で、誤差信号を発生する電圧v2とv3との差がなくて
もある小さな残留駆動信号が存在する。この特徴によシ
、サンプルλ乙またはその一部をコイルに入れたときコ
イル!?両端間の導電率を測定する際の基準点を与える
ための抵抗it、toの測定可能な「残留」導電率が得
られる。すなわち、コイルjfの回路に抵抗/弘0のあ
る公称導電率値を入れた状態で、第!A図および第jB
図の回路は実質的に「平衡」状態すなわち最小誤差信号
状態に達する。したがって、サンプルまたはサングルの
一部をコイル、2fK入れたとき、そのアドミッタンス
の位相角が若干小さくなる。
再び第♂図を参照して説明する。第r図では第7図の要
素デルタRとデルタCがコイルのインピーダンスに及ぼ
す影響が円と矢印/!70のようにベクトルYの端の領
域の若干の拡大図に示されている。デルタRベクトルの
主な影響として、位相角が零の方向に若干減少する。す
なわち、位相角が純粋に誘導性の負の70度の位相角か
ら離れるように動く。関心があるのはサンプルのこの抵
抗成分または導電成分である。この成分は第を図の参照
番号/り2によって示される。サンプルの誘電成分はコ
イルのアドミッタンスと比べて比較的小さいと考えるこ
とができる。したがって、コイルの位相角が!PO度の
位相に充分近く、誘電成分すなわち容量性成分の位相角
が110度ずれている状態で、第r図の参照番号iyt
、tで示すような小さな誘電成分デルタCの主な影響は
正味アドミッタンス・ベクトルYの大きさまたは長さを
小さくすることであることがわかる。
素デルタRとデルタCがコイルのインピーダンスに及ぼ
す影響が円と矢印/!70のようにベクトルYの端の領
域の若干の拡大図に示されている。デルタRベクトルの
主な影響として、位相角が零の方向に若干減少する。す
なわち、位相角が純粋に誘導性の負の70度の位相角か
ら離れるように動く。関心があるのはサンプルのこの抵
抗成分または導電成分である。この成分は第を図の参照
番号/り2によって示される。サンプルの誘電成分はコ
イルのアドミッタンスと比べて比較的小さいと考えるこ
とができる。したがって、コイルの位相角が!PO度の
位相に充分近く、誘電成分すなわち容量性成分の位相角
が110度ずれている状態で、第r図の参照番号iyt
、tで示すような小さな誘電成分デルタCの主な影響は
正味アドミッタンス・ベクトルYの大きさまたは長さを
小さくすることであることがわかる。
導電率ベクトル/72が付加されたことで位相角が変化
すると、電圧v2とv3はある量だけ異なシ、誤差信号
が発生する。後述するように、誤差信号が電流に変換さ
れ、LED/11t、!の残留電流が減少するか減算さ
れ、これKよシ木抵抗/弘0の抵抗値が大きくなる。こ
こで光抵抗it、toは負特性になっている。したがっ
て、回路/!弘が測定する量である光抵抗/弘00導電
率は回路が再び平衡状態に達するまで減少する。これは
コイル2gの中のサンプル部分または測定対象/ljK
よる導電率の正味増加、すなわち導電率ベクトル/り2
すなわちデルタBと同じ量だけ抵抗/4t。
すると、電圧v2とv3はある量だけ異なシ、誤差信号
が発生する。後述するように、誤差信号が電流に変換さ
れ、LED/11t、!の残留電流が減少するか減算さ
れ、これKよシ木抵抗/弘0の抵抗値が大きくなる。こ
こで光抵抗it、toは負特性になっている。したがっ
て、回路/!弘が測定する量である光抵抗/弘00導電
率は回路が再び平衡状態に達するまで減少する。これは
コイル2gの中のサンプル部分または測定対象/ljK
よる導電率の正味増加、すなわち導電率ベクトル/り2
すなわちデルタBと同じ量だけ抵抗/4t。
の導電率が減少しなければならないということを意味す
る。したがって、可変抵抗素子/≠Oの初めと終りの導
電率を比較することによって、それらの間の差を確かめ
ることができる。したがって、この差はサンプル2乙の
コイル2tの中に入れられた部分のアドミッタンスの導
電率成分にほぼ等しくなければならない。
る。したがって、可変抵抗素子/≠Oの初めと終りの導
電率を比較することによって、それらの間の差を確かめ
ることができる。したがって、この差はサンプル2乙の
コイル2tの中に入れられた部分のアドミッタンスの導
電率成分にほぼ等しくなければならない。
次1c第jA図および第jB図の回路を更に詳しく参照
すると、チョッノ9安定化回路手段/7乙は一対の類似
したチョッパ回路200および、!o2で構成されてい
ることがわかる。各チョッ・母回路はツリッジ/乙λか
らの信号v2とv3を交互に選択するように接続されて
いる。補助的なチョッパ制御手段または駆動手段がカウ
ンタまたは分周回路201Aの形で設けられる。このカ
ウンタ204tはコンデンサ20乙および限流可変抵抗
201を介して発振器IO乙からの21賄信号を受信す
るようにAC結合されている。図示された実施例では、
カウンタは/λピットの2進カウンタであシ、そのQ/
2出力は演算増幅器210の非反転入力を駆動するため
に使用される。演算増幅器λlOはその反転入力を限流
可変抵抗201から受ける。したがって、演算増幅器2
10の出力にrOOヘルツのチョッパ信号が発生する。
すると、チョッノ9安定化回路手段/7乙は一対の類似
したチョッパ回路200および、!o2で構成されてい
ることがわかる。各チョッ・母回路はツリッジ/乙λか
らの信号v2とv3を交互に選択するように接続されて
いる。補助的なチョッパ制御手段または駆動手段がカウ
ンタまたは分周回路201Aの形で設けられる。このカ
ウンタ204tはコンデンサ20乙および限流可変抵抗
201を介して発振器IO乙からの21賄信号を受信す
るようにAC結合されている。図示された実施例では、
カウンタは/λピットの2進カウンタであシ、そのQ/
2出力は演算増幅器210の非反転入力を駆動するため
に使用される。演算増幅器λlOはその反転入力を限流
可変抵抗201から受ける。したがって、演算増幅器2
10の出力にrOOヘルツのチョッパ信号が発生する。
演算増幅器210に一対の相補的な出方を設け、それぞ
れのチョッパ回路200および202によってチョッピ
ングを制御するために♂OOヘルツの周i的信号とその
相補的な信号を発生するようKすることが好ましい。こ
れらの互いに相補的な信号は両方のチョッパ回路に与え
られる。この際、チヨッ・4回路200は他方のチョッ
パ回路、20λによる選択とは逆の順序で一対の信号v
、2とv3とを交互に選択するようになっている。
れのチョッパ回路200および202によってチョッピ
ングを制御するために♂OOヘルツの周i的信号とその
相補的な信号を発生するようKすることが好ましい。こ
れらの互いに相補的な信号は両方のチョッパ回路に与え
られる。この際、チヨッ・4回路200は他方のチョッ
パ回路、20λによる選択とは逆の順序で一対の信号v
、2とv3とを交互に選択するようになっている。
ピーク検出回路手段/7gには各チョッパ回路200.
202が選択した信号を受けるように結合された正ピー
ク検出器!7.2と負ピーク検出器2/!、tが含まれ
ている。回路2/ユおよび27≠はチョッパ回路、20
0によって選択された信号の正ピークおよびチョッパ回
路202によって選択された信号の負ピークに対応する
それぞれのピーク検出出力信号を作成する。検出された
これらの正と負のピークは加算増幅器2/乙(第18図
参照)の入力で組み合わせられ、すなわち加算されて、
組み合わせピーク検出信号が形成される。この組み合わ
せピーク検出信号は全体が参照番号220で表わされた
チョッパ復号回路手段に与えられる。このチョッパ復号
回路手段220は復号回路手段/♂Oの一部を構成して
いる。
202が選択した信号を受けるように結合された正ピー
ク検出器!7.2と負ピーク検出器2/!、tが含まれ
ている。回路2/ユおよび27≠はチョッパ回路、20
0によって選択された信号の正ピークおよびチョッパ回
路202によって選択された信号の負ピークに対応する
それぞれのピーク検出出力信号を作成する。検出された
これらの正と負のピークは加算増幅器2/乙(第18図
参照)の入力で組み合わせられ、すなわち加算されて、
組み合わせピーク検出信号が形成される。この組み合わ
せピーク検出信号は全体が参照番号220で表わされた
チョッパ復号回路手段に与えられる。このチョッパ復号
回路手段220は復号回路手段/♂Oの一部を構成して
いる。
前記の説明から明らかなように1上記回路全体を通じた
誤差11j定の安定度向上ならびに変動、利得係数等の
影響を受けにくくすることはこのチョッパ安定化誤差検
出法を使うことによって達成される。電圧v、2および
v3はチョツA200および202から成る各集積回路
パッケージの2つの半パッケージにそれぞれ与えられる
ので、たとえば前位の回路部品によって生じたオフセッ
ト、スプリアス信号等はほぼ相殺される。各チョッパ回
路200または202の片方の半分の部品の偏差、ドリ
フト等は他の半分とほぼ同じであり、したがって半回路
相互の間のチョッピングすなわち交替の間に相殺される
。チョッパ回路200および202はたとえばゼネラル
エレクトリック社インターシル部門(Gen5ral
Electric Company Int@rsil
Diマ1mlam )から市販されているIHj3≠l
型のそノリシックRF/ビデオ・スイッチで構成するこ
とが好ましい。
誤差11j定の安定度向上ならびに変動、利得係数等の
影響を受けにくくすることはこのチョッパ安定化誤差検
出法を使うことによって達成される。電圧v、2および
v3はチョツA200および202から成る各集積回路
パッケージの2つの半パッケージにそれぞれ与えられる
ので、たとえば前位の回路部品によって生じたオフセッ
ト、スプリアス信号等はほぼ相殺される。各チョッパ回
路200または202の片方の半分の部品の偏差、ドリ
フト等は他の半分とほぼ同じであり、したがって半回路
相互の間のチョッピングすなわち交替の間に相殺される
。チョッパ回路200および202はたとえばゼネラル
エレクトリック社インターシル部門(Gen5ral
Electric Company Int@rsil
Diマ1mlam )から市販されているIHj3≠l
型のそノリシックRF/ビデオ・スイッチで構成するこ
とが好ましい。
加算増幅器2/l、の加算または組み合わせのピーク検
出信号出力は前記の回路によって与えられるあるDC基
準レベルの方形波信号となり、その振幅は電圧v2とv
3との差すなわち「誤差」電圧または誤差信号に正比例
する。この後の、組み合わせピーク検出「正味」誤差信
号は増幅器コl乙で増幅された後、コンデンサ222を
介してチヨツ・母復号回路部220KAC結合されてい
る。このAC結合された信号は零DC基準レベルの同じ
方形波信号となる。すなわち、方形波の正ピークまたは
負ピークの振幅は加算増幅器2/乙で作られた方形波の
ピークからピークの振幅の半分となる。この信号は第1
の増幅器、224’で更に増幅され、反転単一利得増幅
器!2乙で反転される。
出信号出力は前記の回路によって与えられるあるDC基
準レベルの方形波信号となり、その振幅は電圧v2とv
3との差すなわち「誤差」電圧または誤差信号に正比例
する。この後の、組み合わせピーク検出「正味」誤差信
号は増幅器コl乙で増幅された後、コンデンサ222を
介してチヨツ・母復号回路部220KAC結合されてい
る。このAC結合された信号は零DC基準レベルの同じ
方形波信号となる。すなわち、方形波の正ピークまたは
負ピークの振幅は加算増幅器2/乙で作られた方形波の
ピークからピークの振幅の半分となる。この信号は第1
の増幅器、224’で更に増幅され、反転単一利得増幅
器!2乙で反転される。
増幅器2λ≠および2コ乙の出力はアナログ・スイッチ
回路221の各スイッチに与えられる。
回路221の各スイッチに与えられる。
図示された実施例では、アナログ・スイッチ回路2 j
f d LF /3333型のアナログ・スイッチで
構成される。アナログ・スイッチ2λgの2つのスイッ
チは演算増幅器コlOからの相補的なチョッパ制御信号
のl′:)Kよって駆動される。したがって、上記の回
路部品222.2.24t、2.26および22gはチ
ョッパや復号手段220を構成する。
f d LF /3333型のアナログ・スイッチで
構成される。アナログ・スイッチ2λgの2つのスイッ
チは演算増幅器コlOからの相補的なチョッパ制御信号
のl′:)Kよって駆動される。したがって、上記の回
路部品222.2.24t、2.26および22gはチ
ョッパや復号手段220を構成する。
このチョッパ復号手段!20は加算手段すなわち増幅器
2/乙KAC結合され、組み合わせピーク検出信号のA
C成分に応動して、対応する復号信号を発生する。
2/乙KAC結合され、組み合わせピーク検出信号のA
C成分に応動して、対応する復号信号を発生する。
このようにスイッチング回路221はもう7つのスイッ
チング回路またはチョッパ回路を構成する。このチョッ
パ回路はチョッパ制御手段からの相補的信号の7つによ
って駆動されるように結合され、また増幅器2.2弘お
よび22乙でそれぞれ与えられる組み合わせピーク検出
信号とその反転信号のいずれかを選択するように結合さ
れている。
チング回路またはチョッパ回路を構成する。このチョッ
パ回路はチョッパ制御手段からの相補的信号の7つによ
って駆動されるように結合され、また増幅器2.2弘お
よび22乙でそれぞれ与えられる組み合わせピーク検出
信号とその反転信号のいずれかを選択するように結合さ
れている。
これはチョッパ安定化回路によって処理された信号を復
号し、したがって回路2.2Irはこの目的のためこれ
と同期して駆動される。このようにして、スイッチング
回路221の信号出力は前述したような加算増幅器2/
乙で作られた方形波の組み合わせピーク検出信号に比例
したDCレベルすなわち復号結果の誤差電圧となる。
号し、したがって回路2.2Irはこの目的のためこれ
と同期して駆動される。このようにして、スイッチング
回路221の信号出力は前述したような加算増幅器2/
乙で作られた方形波の組み合わせピーク検出信号に比例
したDCレベルすなわち復号結果の誤差電圧となる。
この復号結果の誤差信号は積分増幅回路230に与えら
れる。本発明によれば、この積分増幅回路、l! 30
14 LED /μ!を駆動するため積分帰還制御を与
えて、可変抵抗/4LOの導電率をy4整する。
れる。本発明によれば、この積分増幅回路、l! 30
14 LED /μ!を駆動するため積分帰還制御を与
えて、可変抵抗/4LOの導電率をy4整する。
重要なことであるが、このような積分制御配置によって
、可変抵抗/≠0は誤差信号の時間累積値によって駆動
されるので、第jA図および第より図の回路の平衡状態
に達してほぼ維持される。この平衡状態で、回路/j≠
が可変抵抗/IAOの導電率をムリ定し、この導電率を
使って前述したように測定対象2乙の検出コイル2どの
中にある部分の導電率が計算される。
、可変抵抗/≠0は誤差信号の時間累積値によって駆動
されるので、第jA図および第より図の回路の平衡状態
に達してほぼ維持される。この平衡状態で、回路/j≠
が可変抵抗/IAOの導電率をムリ定し、この導電率を
使って前述したように測定対象2乙の検出コイル2どの
中にある部分の導電率が計算される。
再び暫くの間第jA図を参照して、積分増幅回路、23
0は出力を電圧−電流変換回路232に供給する。変換
回路232はLED /≠コとともに復号回路手段/ざ
0の最後の部分を形成する。この電圧−電流変換回路に
は演算増幅器−311t、PNPトランジスタ23乙、
およびダイオード23gが含まれている。トラン・ゾス
タ;36のコレクタ電極FiLED /≠1に結果の誤
差電流信号を供給する。
0は出力を電圧−電流変換回路232に供給する。変換
回路232はLED /≠コとともに復号回路手段/ざ
0の最後の部分を形成する。この電圧−電流変換回路に
は演算増幅器−311t、PNPトランジスタ23乙、
およびダイオード23gが含まれている。トラン・ゾス
タ;36のコレクタ電極FiLED /≠1に結果の誤
差電流信号を供給する。
このようにして、第jA図および第58図の位相検出回
路の制御ループが完成する。
路の制御ループが完成する。
選択回路またはマルチプレクサl10Viアナログ・ス
イッチで構成され、これもLF/3333型とすること
が好ましい。このスイッチは前に述べたように位相検出
回路702の出力信号と後述する増幅検出回路101I
Lの出力信号の両方を受けるように接続されている。位
相検出回路の出力は可変抵抗/弘0を通る電流に対応す
る電流信号で構成される。この電流は演算増幅器!弘O
を介してスイッチング回路/10の7つの入力に結合さ
れている。演算増幅器2≠0はこの電流を前述のインダ
クタンス・コイル/!λを介して受ける。
イッチで構成され、これもLF/3333型とすること
が好ましい。このスイッチは前に述べたように位相検出
回路702の出力信号と後述する増幅検出回路101I
Lの出力信号の両方を受けるように接続されている。位
相検出回路の出力は可変抵抗/弘0を通る電流に対応す
る電流信号で構成される。この電流は演算増幅器!弘O
を介してスイッチング回路/10の7つの入力に結合さ
れている。演算増幅器2≠0はこの電流を前述のインダ
クタンス・コイル/!λを介して受ける。
インダクタンス・コイル/!0は可変抵抗/≠Oの反対
側の端KDCDC基準電圧える。このDC基準電圧は演
算増幅器24t2から与えられる。演算増幅器24L2
はアナログ−ディジタル(A/D )変換回路//2か
らの基準電圧出力を受けるように結合されている。図示
された実施例では、この≠変換回路はADC♂0AG−
/j聾の72ピツトψ変換器で構成されている。■変換
器//2は選択手段またはスイッチング回路I10によ
って選択された信号をもう7つの演算増幅器2tAtJ
tを介して受ける。
側の端KDCDC基準電圧える。このDC基準電圧は演
算増幅器24t2から与えられる。演算増幅器24L2
はアナログ−ディジタル(A/D )変換回路//2か
らの基準電圧出力を受けるように結合されている。図示
された実施例では、この≠変換回路はADC♂0AG−
/j聾の72ピツトψ変換器で構成されている。■変換
器//2は選択手段またはスイッチング回路I10によ
って選択された信号をもう7つの演算増幅器2tAtJ
tを介して受ける。
もう7つの同様の演算増幅器コ11を乙は入力AMPL
、 INで振幅検出回路104tから振幅信号を受けて
、この信号をスイッチング回°路/10に与える。スイ
ッチング回路/10に於けるこの2つの信号の一方また
は他方の選択は内蔵マイクロコンピュータによって制御
される。この内置マイクロコンピュータは選択制御信号
をスイッチ/10の5ELECT人力に与える。回路/
10をスイッチングするためのもう7つの制御信号はワ
ンショット回路または単安定マルチバイブレータ回路2
!OKよって与えられる。ワンショットはマイクロコン
ピュータ//≠からトリが−(TRG )入力を受けて
、出力端子0UTKVDyR換器//λに対する第1の
制御・やルス出カを発生し、Q2出方に第2制御信号を
発生する。この後の方の制御信号はトランジスタ2!2
を介してスイッチング回路/10の制御入力に結合され
ている。
、 INで振幅検出回路104tから振幅信号を受けて
、この信号をスイッチング回°路/10に与える。スイ
ッチング回路/10に於けるこの2つの信号の一方また
は他方の選択は内蔵マイクロコンピュータによって制御
される。この内置マイクロコンピュータは選択制御信号
をスイッチ/10の5ELECT人力に与える。回路/
10をスイッチングするためのもう7つの制御信号はワ
ンショット回路または単安定マルチバイブレータ回路2
!OKよって与えられる。ワンショットはマイクロコン
ピュータ//≠からトリが−(TRG )入力を受けて
、出力端子0UTKVDyR換器//λに対する第1の
制御・やルス出カを発生し、Q2出方に第2制御信号を
発生する。この後の方の制御信号はトランジスタ2!2
を介してスイッチング回路/10の制御入力に結合され
ている。
次に第4図を参照して、前に示したような検出回路10
II−が線10♂に沿って配置されている。
II−が線10♂に沿って配置されている。
線70どけ発振回路10乙の出力をコイル2♂へ伝える
。発振回路10乙も第4図の概略回路図に示されてhる
。次に振幅検出回路104tにはそれぞれダイオード、
2乙0と26!を含む正ピーク検出部と負ピーク検出部
が含まれている。これらのピーク検出器は発振信号の正
と負のピークを判定するために結合されている。測定対
象2乙のある部分がコイル2gの中にあってもなくても
、発振信号は回路内のコイル2♂の存在に影響されるか
らである。このため、ツェナー・ダイオードとすること
が好ましい各ダイオートコ乙0および2乙コは発振器出
力(O20,OUT )の信号をそれぞれの分圧抵抗2
乙4Lおよびλ6乙を介してサンプリフ fする。これ
らの分圧抵抗を振幅調整(AMPL ADJ )または
振幅零調整として使って、検出コイル2♂の中に測定対
象のどの部分も存在しないときに回路10≠の出力(A
MPL、OUT )に所望の信号レベルを得ることがで
きる。
。発振回路10乙も第4図の概略回路図に示されてhる
。次に振幅検出回路104tにはそれぞれダイオード、
2乙0と26!を含む正ピーク検出部と負ピーク検出部
が含まれている。これらのピーク検出器は発振信号の正
と負のピークを判定するために結合されている。測定対
象2乙のある部分がコイル2gの中にあってもなくても
、発振信号は回路内のコイル2♂の存在に影響されるか
らである。このため、ツェナー・ダイオードとすること
が好ましい各ダイオートコ乙0および2乙コは発振器出
力(O20,OUT )の信号をそれぞれの分圧抵抗2
乙4Lおよびλ6乙を介してサンプリフ fする。これ
らの分圧抵抗を振幅調整(AMPL ADJ )または
振幅零調整として使って、検出コイル2♂の中に測定対
象のどの部分も存在しないときに回路10≠の出力(A
MPL、OUT )に所望の信号レベルを得ることがで
きる。
回路104Lの正および負の検出部分は演算増幅器26
gの反転入力の加算結合点に結合される。
gの反転入力の加算結合点に結合される。
演算増幅器2乙どの出力は回路70≠の出力(AMPL
、 OUT )を形成する。この出力は第jB図の演算
増幅器2411.の非反転入力(AMPL、 IN)に
与えられる。正ピーク検出器はまた発振回路10乙に対
する自動利得制御(AGC)帰還回路の一部を形成する
。このAGC回路には演算増幅器または比較器270も
含まれている。この比較器、270の反転入力には正ピ
ーク検出回路の出力が結合され、非反転入力には正!ボ
ルト電圧i、il整器272から与えられるDC基準電
圧が結合されている。
、 OUT )を形成する。この出力は第jB図の演算
増幅器2411.の非反転入力(AMPL、 IN)に
与えられる。正ピーク検出器はまた発振回路10乙に対
する自動利得制御(AGC)帰還回路の一部を形成する
。このAGC回路には演算増幅器または比較器270も
含まれている。この比較器、270の反転入力には正ピ
ーク検出回路の出力が結合され、非反転入力には正!ボ
ルト電圧i、il整器272から与えられるDC基準電
圧が結合されている。
再び暫く第よA図を参照して、前述の変成器/AIVC
は温度調整手段すなわち全体が参照番号210で表わさ
れた回路が設けられている。この調整回路には演算増幅
器2♂コが含まれている。
は温度調整手段すなわち全体が参照番号210で表わさ
れた回路が設けられている。この調整回路には演算増幅
器2♂コが含まれている。
変成器76どの温度が予め選定された比較的狭い範囲内
にとどまるように変成器/乙♂の温度を調整するため演
算増幅器2g2は回路内でサーミスタ型加熱素子214
tと結合されている。
にとどまるように変成器/乙♂の温度を調整するため演
算増幅器2g2は回路内でサーミスタ型加熱素子214
tと結合されている。
第12図のグラフは一連の測定点をつないで得られた曲
線2L?0および2り2を示し、本発明の装置で典型的
な測定対象を試験した結果を表わしている。前に述べた
ように、これらの複数のill定点に対応する測定値の
採取は往復台の円筒室への出入りの動きと同期している
。これにより、円筒室内のコイル2gが発生する磁界の
中に測定対象を複数の異なる範囲まで入れた状態で、測
定対象の複数の読取り値が得られる。詳しくは、これら
の曲@2デOおよび2デ2はそれぞれ第58図の演算増
幅器コ4L0の出力と第6図の振幅検出回路/θ≠の演
算増幅器21.1の出力に結合された一対の類似した電
圧計のふれを表わすデータ点をプロットしたものである
。前に述べたように演算増幅器コ≠Oの出力は可変抵抗
/≠00導電率を表わし、位相検出回路102の出力を
構成している。
線2L?0および2り2を示し、本発明の装置で典型的
な測定対象を試験した結果を表わしている。前に述べた
ように、これらの複数のill定点に対応する測定値の
採取は往復台の円筒室への出入りの動きと同期している
。これにより、円筒室内のコイル2gが発生する磁界の
中に測定対象を複数の異なる範囲まで入れた状態で、測
定対象の複数の読取り値が得られる。詳しくは、これら
の曲@2デOおよび2デ2はそれぞれ第58図の演算増
幅器コ4L0の出力と第6図の振幅検出回路/θ≠の演
算増幅器21.1の出力に結合された一対の類似した電
圧計のふれを表わすデータ点をプロットしたものである
。前に述べたように演算増幅器コ≠Oの出力は可変抵抗
/≠00導電率を表わし、位相検出回路102の出力を
構成している。
演算増幅器26にの出力は振幅検出回路10IAの振幅
出力信号を表わす。
出力信号を表わす。
前に述べたように、測定対象または測定対象の検出コイ
ル2どの磁界の中Vc6る部分の誘電成分の影響は振幅
検出回路を使うととくよって測定から除くことができる
。この回路はほぼ、測定対象2乙の一部を入れたときの
信号変化の大きさ、したがってコイル2にのアドミッタ
ンス変化の大きさにだけ応動する。前に第g図について
述べたように、位相角が純誘導性すなわち負のり0度の
角度に充分近い状態で、アドミッタンスの誘電性成分す
なわち容量成分が比較的小さく変化した場合、その結果
として主としてアドミッタンス・ベクトルの長さまたは
大きさが変化すると考えることができる。したがって、
回路10≠はアドミッタンスの変化の大きさと相関関係
にある発振信号の変化の大きさにだけ応動する。前に述
べたように第g図に示す導電率すなわち抵抗の変化/り
2の結果、主として位相角が変化し、コイル二gのアド
ミッタンス・ベクトルの振幅または大きさKは殆んど影
響を及ぼさない。
ル2どの磁界の中Vc6る部分の誘電成分の影響は振幅
検出回路を使うととくよって測定から除くことができる
。この回路はほぼ、測定対象2乙の一部を入れたときの
信号変化の大きさ、したがってコイル2にのアドミッタ
ンス変化の大きさにだけ応動する。前に第g図について
述べたように、位相角が純誘導性すなわち負のり0度の
角度に充分近い状態で、アドミッタンスの誘電性成分す
なわち容量成分が比較的小さく変化した場合、その結果
として主としてアドミッタンス・ベクトルの長さまたは
大きさが変化すると考えることができる。したがって、
回路10≠はアドミッタンスの変化の大きさと相関関係
にある発振信号の変化の大きさにだけ応動する。前に述
べたように第g図に示す導電率すなわち抵抗の変化/り
2の結果、主として位相角が変化し、コイル二gのアド
ミッタンス・ベクトルの振幅または大きさKは殆んど影
響を及ぼさない。
前記の回路によって得られた読取シ値を更に正規化する
ため、基準回路λり≠も使用されている。
ため、基準回路λり≠も使用されている。
この回路は既知容量値のコンデンサ2り2と既知抵抗値
の並列抵抗29gで構成されている。これらの素子はリ
ード・スイッチ300を使うことKよって選択的に回路
に入れたり切ったシすることができる。リード・スイッ
チ300はマイクロコンピュータ/l≠の基準イネーブ
ル(プ厨超都)出力によって選択的に起動されるように
接続されている。したがって、マイクロコンピュータは
回路に入れたこれらの既知の、すなわち基準の標準素子
2り6および291に応じて振幅検出回路IO’l−か
ら得られた読取υ値を使うことにより、測定対象に応じ
てこの回路の動作中に得られた読取り値を正規化するこ
とができる。この基準回路22弘は更に位相検出回路1
02の読取り値を正規化したシ、希望する場合は時々λ
つの回路の継続的な正確な動作を単にチェックしたシす
るために使うこともできる。
の並列抵抗29gで構成されている。これらの素子はリ
ード・スイッチ300を使うことKよって選択的に回路
に入れたり切ったシすることができる。リード・スイッ
チ300はマイクロコンピュータ/l≠の基準イネーブ
ル(プ厨超都)出力によって選択的に起動されるように
接続されている。したがって、マイクロコンピュータは
回路に入れたこれらの既知の、すなわち基準の標準素子
2り6および291に応じて振幅検出回路IO’l−か
ら得られた読取υ値を使うことにより、測定対象に応じ
てこの回路の動作中に得られた読取り値を正規化するこ
とができる。この基準回路22弘は更に位相検出回路1
02の読取り値を正規化したシ、希望する場合は時々λ
つの回路の継続的な正確な動作を単にチェックしたシす
るために使うこともできる。
次に第りA図および第7B図の概略回路図は本発明の一
実施によるマイクロコンピュータ回路//4’の詳細を
示している。マイクロプロセッサまたはマイクロコンピ
ュータ310はl0IB;A−2型の集積回路マイクロ
プロセッサ(LLP)である。
実施によるマイクロコンピュータ回路//4’の詳細を
示している。マイクロプロセッサまたはマイクロコンピ
ュータ310はl0IB;A−2型の集積回路マイクロ
プロセッサ(LLP)である。
このマイクロアロセッサまたはコンピュータ310はg
、!ss型の入力/出力(Ilo )エキス・ぐンダ3
/2を介してい変換器//、2の/二ビットの出力を受
けるように接続されている。この/λビットの情報を交
換する72個の端子は最下位ピット(LSB )と最上
位ピッ) (MSB )について表示しである。
、!ss型の入力/出力(Ilo )エキス・ぐンダ3
/2を介してい変換器//、2の/二ビットの出力を受
けるように接続されている。この/λビットの情報を交
換する72個の端子は最下位ピット(LSB )と最上
位ピッ) (MSB )について表示しである。
I10エキスパンダ3/2は全体を参照番号3/弘で表
わした一組の端子で制御ノ9ネルともインターフェイス
している。第2の同様のI10エキス・ぐンダ3/乙も
!26!r型となっているが、これはマイクロコンピュ
ータ310と前記の診断コンピュータ//J−との間の
インタ7エイスの役目を果す。
わした一組の端子で制御ノ9ネルともインターフェイス
している。第2の同様のI10エキス・ぐンダ3/乙も
!26!r型となっているが、これはマイクロコンピュ
ータ310と前記の診断コンピュータ//J−との間の
インタ7エイスの役目を果す。
第x o r7oエキスパンダ3/lILはまた、全体
を参照番号3/jで表わした3つのr−)および全体を
参照番号3/7で表わした直列接続されたトランジスタ
を介して第1/図の回路とインターフェイスし、往復台
駆動用の電動機11tトの動作を制御する。電動機運転
のため(RUN )と時計方向の回転と反時計方向の回
転のため(CWとCCW)別別の制御器が設けられてい
る。
を参照番号3/jで表わした3つのr−)および全体を
参照番号3/7で表わした直列接続されたトランジスタ
を介して第1/図の回路とインターフェイスし、往復台
駆動用の電動機11tトの動作を制御する。電動機運転
のため(RUN )と時計方向の回転と反時計方向の回
転のため(CWとCCW)別別の制御器が設けられてい
る。
もう7つの入力/出力回路3/IVCは、汎用同期送信
器/受信器(UART ) 、およびインテル(Int
@l )社のg2jI型プログラマブル通信インターフ
ェイスが含まれている。このインターフェイスまたは送
信/受信回路3/!rはマイクロコンピュータ310と
第≠図を参照して説明した外部コンピュータj2との間
のインターフェイスの役目を果す。
器/受信器(UART ) 、およびインテル(Int
@l )社のg2jI型プログラマブル通信インターフ
ェイスが含まれている。このインターフェイスまたは送
信/受信回路3/!rはマイクロコンピュータ310と
第≠図を参照して説明した外部コンピュータj2との間
のインターフェイスの役目を果す。
マイクロアロセッサによる前記の回路の選択と制御はデ
マルチブレフサ回路320とカウンタ回路322によっ
て行なわれる。図示された実施例では、デマルチブレフ
サ320は71AS//3g″聾の7つの/−gデマル
チブレフサであシ、カウンタ322は123≠型の3偏
入シ/乙ビット2進カウンタである。
マルチブレフサ回路320とカウンタ回路322によっ
て行なわれる。図示された実施例では、デマルチブレフ
サ320は71AS//3g″聾の7つの/−gデマル
チブレフサであシ、カウンタ322は123≠型の3偏
入シ/乙ビット2進カウンタである。
回路図の左上部で全体をHOME END RATEと
表わした入力で、ホーム・ポジション・センサー7/、
エンド・ポジション・センサー73、および移動速度セ
ンサー7よが第り図のiイクロコンビユ−夕回路に結合
されている。演算増幅器32’Aを含むインターフェイ
ス回路が速度センサー人力に対して設けられ、その出力
がカウンタ3λ2のクロック入力(CLK )に与えら
れる。
表わした入力で、ホーム・ポジション・センサー7/、
エンド・ポジション・センサー73、および移動速度セ
ンサー7よが第り図のiイクロコンビユ−夕回路に結合
されている。演算増幅器32’Aを含むインターフェイ
ス回路が速度センサー人力に対して設けられ、その出力
がカウンタ3λ2のクロック入力(CLK )に与えら
れる。
メモリー容量は複数のメモリー素子330゜332.3
31Aおよび336の形で与えられる。
31Aおよび336の形で与えられる。
図示された実施例では、メモリー330は27/、2g
型の/ l、K XS’ EPROMであり、これは紫
外線消去可能で電気的fログラミング可能な読出専用記
憶である。メモリー332は、271乙型の2KX♂ス
タテイツク・ランダム・アクセス・メモリー(RAM)
で構成される。残りのメモリー33≠および33乙はと
もに2/ざ6型のfKX♂構成の集積擬似スタティック
・ランダム・アクセス・メモリー(iRAM)で構成さ
れている。
型の/ l、K XS’ EPROMであり、これは紫
外線消去可能で電気的fログラミング可能な読出専用記
憶である。メモリー332は、271乙型の2KX♂ス
タテイツク・ランダム・アクセス・メモリー(RAM)
で構成される。残りのメモリー33≠および33乙はと
もに2/ざ6型のfKX♂構成の集積擬似スタティック
・ランダム・アクセス・メモリー(iRAM)で構成さ
れている。
全体が参照番号33♂で表わされた複数の多入力ブート
回路が所望の構成でメモリーをマイクロプロセッサ31
0と結合するために用いられる。
回路が所望の構成でメモリーをマイクロプロセッサ31
0と結合するために用いられる。
このため、ジャン・−一接続左して多数の接続が図示さ
れておシ、これによりマイクロコンピュータ回路のメモ
リー構成の選択に融通性が得られる。
れておシ、これによりマイクロコンピュータ回路のメモ
リー構成の選択に融通性が得られる。
714S373型の付加的なバッファ回路3410もマ
イクロプロセッサ310のアドレス線とメそリー回路の
いくつかのアドレス線との間に用いられている。
イクロプロセッサ310のアドレス線とメそリー回路の
いくつかのアドレス線との間に用いられている。
第1O図にはビデオ・インターフェイス回路が示されて
・おシ、これは外部コンピュータ!コと前に第弘図を参
照して説明したビデオ・ディスプレイjAとの間に用い
ることができる。簡単に述べると、この回路は?0弘り
HWiのlチップ・マイクロコンピュータ回路330を
使っている。プログラマブル・ビデオ制御回路3よ2も
設けられておF)、13J−2型とすることが好ましい
。このビデオ・インターフェイス回路に適したメモリー
としてメモ+7−35 !が設けられておシ、図示した
実施例ではこれは前記のメモリー 372と同様、2/
/乙型の、2K)IRA!v!で構成することが好まし
い。最後KXざt4s4!1を型で構成されたキャラク
タ・ジェネレータROM 3乙!が用いられ、マイクロ
コンピュータ3J−0と制御回路3!20両方にインタ
ーフェイスしている。それぞれの直列ビデオ信号と/ン
ク信号は制御回路3j2とキャラクタ。
・おシ、これは外部コンピュータ!コと前に第弘図を参
照して説明したビデオ・ディスプレイjAとの間に用い
ることができる。簡単に述べると、この回路は?0弘り
HWiのlチップ・マイクロコンピュータ回路330を
使っている。プログラマブル・ビデオ制御回路3よ2も
設けられておF)、13J−2型とすることが好ましい
。このビデオ・インターフェイス回路に適したメモリー
としてメモ+7−35 !が設けられておシ、図示した
実施例ではこれは前記のメモリー 372と同様、2/
/乙型の、2K)IRA!v!で構成することが好まし
い。最後KXざt4s4!1を型で構成されたキャラク
タ・ジェネレータROM 3乙!が用いられ、マイクロ
コンピュータ3J−0と制御回路3!20両方にインタ
ーフェイスしている。それぞれの直列ビデオ信号と/ン
ク信号は制御回路3j2とキャラクタ。
ノエネレータROM 3 !r乙からHP 、2.r
00ダイオード3j了および3乙01ダイオード362
および36μ、ならびにトランジスタ3乙乙(PNP
)および3乙f (NPN )を介して送出される。
00ダイオード3j了および3乙01ダイオード362
および36μ、ならびにトランジスタ3乙乙(PNP
)および3乙f (NPN )を介して送出される。
第1/図に示すように、電動機駆動インターフェイス回
路も設けられている。電動機駆動インターフェイス回路
にはホーム・リレーおよびメジャー・リレー3fOおよ
び3♂2が含まれている。
路も設けられている。電動機駆動インターフェイス回路
にはホーム・リレーおよびメジャー・リレー3fOおよ
び3♂2が含まれている。
これらのリレーは電動機制御回路/30を介して電動機
≠どの動作を制御する。それぞれのリレーはフリップフ
ロップ回路3♂≠から制御される。
≠どの動作を制御する。それぞれのリレーはフリップフ
ロップ回路3♂≠から制御される。
図示された実施例では、フリップフロップ回路314L
は≠0/3B型の2個入りDフリップ70ツブで構成さ
れる。フリッゾフロップ3g≠ハホーム・IJL/J♂
Oとメジャー・リレー3f2(7)いずれかを選択する
ためマイクロコンピュータによって制御される。ホーム
・センサー、エンド・センサー、および速度センサーは
第1/図の電動機回路に対してHOME 、 END
、およびRATEと表示された入力をそれぞれそなえて
おシ、またそこから第りA図の左上隅に同様に表示され
た第7図のマイクロコンピュータ回路に直結されている
。
は≠0/3B型の2個入りDフリップ70ツブで構成さ
れる。フリッゾフロップ3g≠ハホーム・IJL/J♂
Oとメジャー・リレー3f2(7)いずれかを選択する
ためマイクロコンピュータによって制御される。ホーム
・センサー、エンド・センサー、および速度センサーは
第1/図の電動機回路に対してHOME 、 END
、およびRATEと表示された入力をそれぞれそなえて
おシ、またそこから第りA図の左上隅に同様に表示され
た第7図のマイクロコンピュータ回路に直結されている
。
以上、本発明の特定実施例について詳細に図示し説明し
てきたが、本発明の広汎な側面から逸脱することなく糧
々の側面で本発明の変更や変形を行なうことができるこ
とは当業者には明らかである。これらの変更や変形のい
くつかは日常的な技術や設計の問題であり、他のものは
検討しさえすれば明らかとなるものである。このように
1本発明の範囲は特定の実施例やここで説明した特定の
構成によって限定されるべきでなく、請求の範囲および
それと同等のものによって規定すべきである。したがっ
て、請求範囲は本発明の趣旨と範囲に合致するこのよう
な変更や変形をすべて包含するように記載されている。
てきたが、本発明の広汎な側面から逸脱することなく糧
々の側面で本発明の変更や変形を行なうことができるこ
とは当業者には明らかである。これらの変更や変形のい
くつかは日常的な技術や設計の問題であり、他のものは
検討しさえすれば明らかとなるものである。このように
1本発明の範囲は特定の実施例やここで説明した特定の
構成によって限定されるべきでなく、請求の範囲および
それと同等のものによって規定すべきである。したがっ
て、請求範囲は本発明の趣旨と範囲に合致するこのよう
な変更や変形をすべて包含するように記載されている。
アウトゲートコンピュータ!コおよびボードマイクロコ
ンピュータ//≠および特にそのマイクロコンピュータ
部分またはマイクロゾロセッサ部分310を操作するた
めのプログラムの7例を以下のページ(付表)に掲載す
る。
ンピュータ//≠および特にそのマイクロコンピュータ
部分またはマイクロゾロセッサ部分310を操作するた
めのプログラムの7例を以下のページ(付表)に掲載す
る。
以下余白
第1図は本発明による装置の透視図である。第2図は第
1図の装置の、一部を切シ取りた拡大側立面図である。 第3図は第1図および第2図の装置の拡大し喪前両立面
図であり、一部は断面を示している。第弘図は本発明の
装置の概略ブロック図である。第jA図および第J″B
図は共同して本発明の位相積出回路部を示した概略回路
図である。 第6図は本発明の発振−振暢検出回路部の概略回路図で
ある。第7図は本発明の検出コイルとコイルの中にちる
測定対象のインピーダンスを示す概略等価回路図である
。第r図は第7図のインピーダンス素子の等価アドミッ
タンスのグラフ表示である。第7A図および第り3図は
共同して本発明のマイクロコンピュータ回路部の概略回
路図である。第70図は本発明の装置のビデオ・インタ
ーフェイス回路部の概略回路図である。第11図は本発
明の電動機駆動インターフェイス回路の概略回路図であ
る。第1コ図は本発明の装置を使って測定した測定対象
の導電率測定値をグラフ表示したもDである。 符号の圧倒 !≠・・・円筒室、2乙・・・測定対象、2g・・・検
出コイル、30・・・往復台、≠6・・・駆動手段、≠
ど・・・電動機、100・・・測定回路手段、102・
・・位相検出回路部、10tA・・・振幅検出回路部、
//≠・・・内蔵マイクロコンピュータ。
1図の装置の、一部を切シ取りた拡大側立面図である。 第3図は第1図および第2図の装置の拡大し喪前両立面
図であり、一部は断面を示している。第弘図は本発明の
装置の概略ブロック図である。第jA図および第J″B
図は共同して本発明の位相積出回路部を示した概略回路
図である。 第6図は本発明の発振−振暢検出回路部の概略回路図で
ある。第7図は本発明の検出コイルとコイルの中にちる
測定対象のインピーダンスを示す概略等価回路図である
。第r図は第7図のインピーダンス素子の等価アドミッ
タンスのグラフ表示である。第7A図および第り3図は
共同して本発明のマイクロコンピュータ回路部の概略回
路図である。第70図は本発明の装置のビデオ・インタ
ーフェイス回路部の概略回路図である。第11図は本発
明の電動機駆動インターフェイス回路の概略回路図であ
る。第1コ図は本発明の装置を使って測定した測定対象
の導電率測定値をグラフ表示したもDである。 符号の圧倒 !≠・・・円筒室、2乙・・・測定対象、2g・・・検
出コイル、30・・・往復台、≠6・・・駆動手段、≠
ど・・・電動機、100・・・測定回路手段、102・
・・位相検出回路部、10tA・・・振幅検出回路部、
//≠・・・内蔵マイクロコンピュータ。
Claims (5)
- (1)導電率測定装置に於いて、測定対象を受け入れる
ための少なくとも1つの開放端を有する室、上記室の中
にほぼ一様な磁界を発生するための磁界発生手段、上記
測定対象が上記室に出入りするように上記測定対象と上
記室との間の相対運動を生ずるための運動手段、上記磁
界発生手段の両端間の導電率を測定するために上記磁界
発生手段と電気的に結合された測定回路手段、ならびに
上記測定対象を上記室の中に複数の異なる範囲まで入れ
た状態で上記磁界発生手段の両端間の導電率の複数の測
定値を得る様に上記測定対象を少なくとも1つの方向で
上記室に対して出し入れしながら上記測定回路手段に上
記磁界発生手段両端間の導電率を複数回測定させるため
の制御回路手段を含む事を特徴とする導電率測定装置。 - (2)導電率測定装置に於いて、所定内部空間内にほぼ
一様な磁界を発生するための磁界発生手段、測定対象の
少なくとも一部を上記内部空間に対して出し入れするた
め上記測定対象と上記所定内部空間との間の相対運動を
生ずるための運動手段、上記磁界発生手段の両端間の導
電率を測定するため上記磁界発生手段と結合された測定
手段、ならびに上記測定対象の異なる部分を上記内部空
間の中に入れた状態で上記磁界発生手段両端間の導電率
の複数の測定値を得る様に上記測定対象を上記内部空間
に対して相対的に動かしている間に上記測定手段に上記
磁界発生手段両端間の導電率を複数回測定させるための
制御回路手段を含む事を特徴とする導電率測定装置。 - (3)導電率測定方法に於いて、測定対象を受け入れる
ため少なくとも1つの開放端を有する室を設ける事、上
記室の中にほぼ一様な磁界を発生する事、上記測定対象
を動かして上記室に出し入れするため上記測定対象と上
記室との間の相対運動を発生する事、ならびに上記測定
対象を上記室の中に複数の異なる範囲まで入れた状態で
上記磁界両端間の導電率の複数の測定値を得る様に上記
測定対象を少なくとも1つの方向に動かして上記室に出
し入れしながら上記磁界両端間の導電率を複数回測定す
る事を含む事を特徴とする導電率測定方法。 - (4)導電率測定方法に於いて、所定内部空間内にほぼ
一様な磁界を発生する事、測定対象の少なくとも一部を
動かして上記内部空間に出し入れするため上記測定対象
と上記所定内部空間との間の相対運動を発生する事、な
らびに上記測定対象の異なる部分を上記内部空間の中に
入れた状態で上記磁界両端間の導電率の複数の測定値を
得る様に上記測定対象を上記内部空間に対して動かして
いる間に上記磁界両端間の導電率を複数回測定する事を
含む事を特徴とする導電率測定方法。 - (5)導電率測定装置に於いて、測定対象を受け入れる
ため少なくとも1つの開放端をそなえた室、上記室の中
にほぼ一様な磁界を発生するための磁界発生手段、なら
びに上記磁界発生手段両端間の導電率を測定するため上
記磁界発生手段と電気的に結合された測定回路手段が含
まれており、上記磁界発生手段の内部に位置した上記測
定対象の部分の反射導電率を含む上記磁界発生手段両端
間の導電率を表わす導電率信号を作るため上記磁界発生
手段と結合された位相検出回路手段が上記測定回路手段
に含まれる事、ならびに上記磁界発生手段両端間の電気
アドミッタンスの振幅を表わす振幅信号を作るため更に
上記磁界発生手段と結合された振幅検出回路手段が上記
測定回路手段に含まれる事を特徴とする導電率測定装置
。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/689,597 US4727330A (en) | 1985-01-07 | 1985-01-07 | Method and apparatus for measuring the electrical conductivity of a subject |
US689597 | 1985-01-07 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61173144A true JPS61173144A (ja) | 1986-08-04 |
JP2544908B2 JP2544908B2 (ja) | 1996-10-16 |
Family
ID=24769131
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61000341A Expired - Lifetime JP2544908B2 (ja) | 1985-01-07 | 1986-01-07 | 導電率測定装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4727330A (ja) |
EP (1) | EP0206440B1 (ja) |
JP (1) | JP2544908B2 (ja) |
CA (1) | CA1245722A (ja) |
DE (1) | DE3678496D1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009516177A (ja) * | 2005-11-14 | 2009-04-16 | リハイトン エレクトロニクス | シート伝導度/シート抵抗測定システム |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4864282A (en) * | 1986-10-21 | 1989-09-05 | Sasson Toeg | Method and apparatus for detecting or measuring the presence of humans or biological organism |
US5167160A (en) * | 1991-06-05 | 1992-12-01 | Agmed, Inc. | Positioning device for presenting samples for electromagnetic analysis |
CA2095398C (en) * | 1993-05-03 | 2001-06-12 | Kalyan Ghosh | System for detecting human presence in hazardous situations |
DE4433104C1 (de) * | 1994-09-16 | 1996-05-02 | Fraunhofer Ges Forschung | Einrichtung zur Messung mechanischer Eigenschaften von biologischem Gewebe |
US5691640A (en) * | 1995-11-17 | 1997-11-25 | Ramsey Technology, Inc. | Forced balance metal detector |
US6507662B1 (en) | 1998-09-11 | 2003-01-14 | Quid Technologies Llc | Method and system for biometric recognition based on electric and/or magnetic properties |
US6343140B1 (en) | 1998-09-11 | 2002-01-29 | Quid Technologies Llc | Method and apparatus for shooting using biometric recognition |
US6300736B1 (en) * | 1999-04-09 | 2001-10-09 | Melexis Nv | Low pin count DC-motor integrated drive circuit |
US6228404B1 (en) | 2000-02-11 | 2001-05-08 | Excel Corporation | Method and apparatus for determining the lean content of meat products |
US6380790B1 (en) * | 2000-02-11 | 2002-04-30 | President And Fellows Of Harvard College | Integrator topplogy for continuous integration |
US8207748B2 (en) * | 2004-08-11 | 2012-06-26 | Lehighton Electronics, Inc. | Device and handling system for measurement of mobility and sheet charge density |
US8725245B2 (en) | 2006-08-14 | 2014-05-13 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Resonant coil for measuring specimen condition |
CN102681570A (zh) * | 2011-03-18 | 2012-09-19 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 饮水机控制电路及控制方法 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CA637973A (en) * | 1962-03-13 | M. Irwin Emmett | Induced flux method and apparatus for testing metals | |
CH419670A (de) * | 1965-01-22 | 1966-08-31 | Lonza Werke Elektro Chemische | Verfahren zur Untersuschung nichtmagnetischer Stoffe |
US3478263A (en) * | 1967-09-27 | 1969-11-11 | Rudolf G Hentschel | Wide frequency range eddy current testing instrument |
US3676772A (en) * | 1970-08-18 | 1972-07-11 | Nasa | Metallic intrusion detector system |
US3735247A (en) * | 1971-10-04 | 1973-05-22 | Emme Comp | Method and apparatus for measuring fat content in animal tissue either in vivo or in slaughtered and prepared form |
FR2195021B1 (ja) * | 1972-08-03 | 1976-01-23 | Commissariat A En Atomique Fr | |
GB2004374A (en) * | 1977-09-19 | 1979-03-28 | Smiths Industries Ltd | Apparatus for detecting the presence of discontinuities in the flow of fluid flow-lines |
US4411270A (en) * | 1978-11-20 | 1983-10-25 | Damadian Raymond V | Apparatus and method for nuclear magnetic resonance scanning and mapping |
GB2055206B (en) * | 1979-07-31 | 1983-11-16 | Yeda Res & Dev | Detection of tumors |
US4493039A (en) * | 1980-05-06 | 1985-01-08 | President And Directors Of Georgetown University | Apparatus and method for image reproduction of materials using their magnetic and electric properties |
US4450405A (en) * | 1980-07-14 | 1984-05-22 | The Boeing Company | Alloy testing apparatus using eddy current conductivity probe |
US4496907A (en) | 1982-05-06 | 1985-01-29 | Dickey-John Corporation | Method and apparatus for non-destructively determining ingredients of a sample |
GB2140564B (en) * | 1983-05-23 | 1986-10-22 | Central Electr Generat Board | Cable corrosion monitor |
-
1985
- 1985-01-07 US US06/689,597 patent/US4727330A/en not_active Expired - Lifetime
-
1986
- 1986-01-03 EP EP86300013A patent/EP0206440B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-01-03 DE DE8686300013T patent/DE3678496D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1986-01-06 CA CA000499016A patent/CA1245722A/en not_active Expired
- 1986-01-07 JP JP61000341A patent/JP2544908B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009516177A (ja) * | 2005-11-14 | 2009-04-16 | リハイトン エレクトロニクス | シート伝導度/シート抵抗測定システム |
US8428706B2 (en) | 2005-11-14 | 2013-04-23 | Austin Blew | Sheet conductance/resistance measurement system |
US8996103B2 (en) | 2005-11-14 | 2015-03-31 | Lehighton Electronics, Inc. | Sheet conductance/resistance measurement system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4727330A (en) | 1988-02-23 |
JP2544908B2 (ja) | 1996-10-16 |
EP0206440B1 (en) | 1991-04-03 |
CA1245722A (en) | 1988-11-29 |
EP0206440A3 (en) | 1987-10-14 |
EP0206440A2 (en) | 1986-12-30 |
DE3678496D1 (de) | 1991-05-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS61173144A (ja) | 導電率測定装置 | |
US4881025A (en) | Frequency dependent identification of materials | |
US8493054B2 (en) | Calibration of non-contact voltage sensors | |
US3757773A (en) | External field electromagnetic flow sensor-artery | |
CN106030257A (zh) | 多相流量计 | |
US4496907A (en) | Method and apparatus for non-destructively determining ingredients of a sample | |
Hu et al. | Control rod position measurement by two-electrode capacitance sensor in nuclear heating reactor | |
US3464002A (en) | Low q test coils for magnetic field sensing | |
US20070052412A1 (en) | Magnetic-field-measuring device | |
JP2007535677A (ja) | Nmr重量測定検査システムのためのrfプローブ装置 | |
CN109470311B (zh) | 一种双隐蔽探针式粮仓用粮食多参数rf在线检测装置及检测方法 | |
Cui et al. | Development of electromagnetic tomography system using LCR meter | |
Bera et al. | A modified Schering bridge for measurement of the dielectric parameters of a material and the capacitance of a capacitive transducer | |
George et al. | Detailed study on error characteristics of core-less hall-effect current transducer | |
JPS5960363A (ja) | 無線周波数電力レベル測定装置 | |
US2343520A (en) | Method of measuring moisture | |
US2923880A (en) | Apparatus for impedance measurements | |
JP4119605B2 (ja) | 導体の交流等価直列抵抗を測定するシステム | |
Grandi et al. | A magnetic field transducer based on closed-loop operation of magnetic sensors | |
US3534253A (en) | Magnetic wheatstone bridge means and means for adjusting the real and imaginary reluctance components of said bridge legs | |
Pohodylo et al. | PC-based devices for immittance control of multidimensional objects | |
Bartiromo et al. | Implementing a simple vectorial bridge with a digital oscilloscope | |
Kolin et al. | Determination of arterial blood flow by percutaneously introduced flow sensors in an external magnetic field, II. Implementation of the method in vivo | |
US3488577A (en) | Asymmetric orthogonal coil susceptibility meter | |
Heard | Bevatron Beam Induction Electrodes |